1.集成电路引脚共面度检测及修调辅助装置，用于对集成电路引脚360°共面度检测和辅助修调，包括弓形悬臂架(6)、基础平台(4)、检测平台(3)和垂直移动与夹紧机构，其特征是；
所述弓形悬臂架(6)的底部固定基础平台(4)，所述基础平台(4)上表面为圆形凹槽，所述检测平台(3)通过中间导向柱镶嵌于圆形凹槽的中心位置；所述检测平台(3)相对于基础平台(4)上表面平行，所述检测平台(3)相对于基础平台(4)实现水平方向360°旋转；
所述弓形悬臂架(6)的横梁上设置螺纹通孔，所述垂直移动与夹紧机构穿过螺纹通孔；垂直移动与夹紧机构的底部固定芯片，所述检测平台(3)的上表面为光学镜面；调整所述垂直移动与夹紧机构的高度使芯片放置与光学镜面上，所述芯片与检测平台(3)共轴旋转，通过对芯片引脚及其对应引脚的像的位置，实现对集成电路引脚共面度检测及修调。
2.根据权利要求1所述的集成电路引脚共面度检查及修调辅助装置，其特征在于，所述垂直移动与夹紧机构包括旋转螺母(1)、螺纹柱(5)、定位套筒(2)和芯片固定凸台(9)，所述螺纹柱(5)依次穿过旋转螺母(1)、螺纹通孔以及定位套筒(2)，通过上部法兰(7)将旋转螺母(1)固定在横梁上表面，所述定位套筒(2)通过内部法兰(8)固定于横梁下表面，所述螺纹柱(5)底部固定芯片固定凸台(3)；
当旋动旋转螺母(1)时，通过螺纹咬合，带动螺纹柱(5)向上或向下移动，使其调整芯片与光学镜面的距离。
3.根据权利要求2所述的集成电路引脚共面度检查及修调辅助装置，其特征在于，所述芯片固定凸台(3)的上部为球形结构，球头经所述螺纹柱(5)底部伸入，并采用顶丝对称穿过螺纹柱(5)顶在芯片固定凸台的凹槽上，使芯片固定凸台(3)固定在螺纹柱(5)底部。
4.根据权利要求2所述的集成电路引脚共面度检查及修调辅助装置，其特征在于，所述定位套筒(2)上设有通孔，当调整螺纹柱(5)高度后，通过顶丝穿过通孔固定螺纹柱(5)。
5.根据权利要求2所述的集成电路引脚共面度检查及修调辅助装置，其特征在于，所述定位套筒(2)、检测平台(3)、基础平台(4)、上部法兰(7)、内部法兰(8)和芯片固定凸台(9)以及弓形悬臂架(6)的材料均为铝合金材料。
6.根据权利要求2所述的集成电路引脚共面度检查及修调辅助装置，其特征在于，所述旋转螺母(1)和螺纹柱(5)的材料为黄铜。
7.根据权利要求2所述的集成电路引脚共面度检查及修调辅助装置，其特征在于，所述芯片固定凸台(9)下表面粘接聚四氟乙烯材料。
8.根据权利要求1所述的集成电路引脚共面度检查及修调辅助装置，其特征在于，所述光学镜面的边缘为麻面结构。