技术领域本实用新型属于表面质量检查设备领域，具体的是检测电子元件表面缺陷的装置。
背景技术：
随着电子科技技术的进步，对电子元件表面质量的要求越来越高。对于表面有缺陷的电子元件，更加其缺陷的大小，会有不同的处理方式。如表面脏污，会进行清洗；表面有小划痕，可以进行打磨；表面划痕过大，可能需要报废等；且根据表面脏污的范围，也会有不同的清洗方式。然而，现有的电子元件表面缺陷的检测通常是利用照相机拍摄出电子元件的表面情况的照片，然后通过拍摄出的照片来判断电子元件的表面质量。然后，表面有划痕和表面脏污在照片中的表现及其相似，这时，容易将表面脏污的情况归类为表面有划痕的产品，对其进行表面缺陷修复或者报废。且，对于表面缺陷的大小，通常通过肉眼观察，或者用尺比量，然而，照相机拍摄出的照片上所显示的表面缺陷的大小和实际情况相差甚远，因此，通常造成错误的处理方式。
技术实现要素：
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种检测电子元件表面缺陷的装置，能准确反应电子元件表面缺陷的尺寸。本实用新型采用的技术方案是：检测电子元件表面缺陷的装置，包括支座，可拆卸安装于支座的光源、放大镜和摄像镜头，所述光源、放大镜和摄像镜头由下至上依次布置；在光源下方设有电子元件检测台，所述电子元件检测台包括与支座可拆卸连接的反射本体，在反射本体上设有垂直贯穿反射本体的方形通孔，所述方形通孔的四个内壁上均安装有平面镜，所述平面镜的镜面由下至上向外延伸；在通孔正下方设有安装于支座的检测平台，所述检测平台的四周标有刻度，所述刻度在平面镜的反射范围内。进一步的，所述通孔的上端大于通孔的下端。进一步的，所述支座包括左立板、右立板和底座，所述左立板和右立板的一端与底座固定连接；所述电子元件检测台的反射本体一侧与左立板螺栓连接，另一侧与右立板螺栓连接。本实用新型的有益效果是：检测电子元件表面缺陷的装置，通过平面镜反射电子元件侧面的情况给放大镜，通过摄像镜头拍摄出经过放大镜放大后电子元件的表面缺陷和放置电子元件的检测平台四周的刻度，可明确表面缺陷的尺寸大小，根据尺寸大小确定修复方案，避免了修复的盲目性。附图说明图1为本实用新型结构图。图2为图1的A-A剖视图。图中，支座1、左立板11、右立板12、底座13、放大镜2、反射本体3、通孔4、平面镜5、检测平台6、刻度61、光源7、摄像镜头8、电子元件100。具体实施方式下面结合附图和实施例对本实用新型做进一步的说明。本说明书所表示方位的“上”和“下”均以图1为准。检测电子元件表面缺陷的装置，如图1和图2所示，包括支座1，可拆卸安装于支座1的光源7、放大镜2和摄像镜头8，所述光源7、放大镜2和摄像镜头8由下至上依次布置；在光源7下方设有电子元件检测台，所述电子元件检测台包括与支座1可拆卸连接的反射本体3，在反射本体3上设有垂直贯穿反射本体3的方形通孔4，所述方形通孔4的四个内壁上均安装有平面镜5，所述平面镜5的镜面由下至上向外延伸；在通孔4正下方设有安装于支座1的检测平台6，所述检测平台6的四周标有刻度61，所述刻度61在平面镜5的反射范围内。摄像镜头8用于拍摄电子元件100表面缺陷，光源7为摄像镜头8的工作提供所需的光亮环境，放大镜2用于放大电子元件100的表面情况，使摄像镜头8能清晰的拍摄到电子元件100的表面缺陷，因此，光源7、放大镜2和摄像镜头8由下至上依次布置，并且电子元件检测台位于光源7下方。由于将电子元件100直接置于光源7下，摄像镜头8只能拍摄到电子元件100正面的情况，无法观察到电子元件100侧面的情况，因此，电子元件检测台包括反射本体3，在反射本体3上设有垂直贯穿反射本体3的方形通孔4，所述方形通孔4的四个内壁上均安装有平面镜5，平面镜5的镜面由下至上向外延伸。平面镜5的镜面由下至上向外延伸所诉的“外”是以通孔4为准，向通孔4以外的区域为“外”。为了明确缺陷的大小，因此，在通孔4正下方设有安装于支座1的检测平台6，检测平台6四周标有刻度61，所述刻度61在平面镜5的反射范围内。通过摄像镜头8拍摄出电子元件100的表面缺陷和检测平台6四周的刻度61，可明确表面缺陷的尺寸大小，根据尺寸大小确定修复方案，避免了修复的盲目性。在上述实施方式中，通孔4可以两端大小相等。但是，若通孔4两端大小相等，平面镜5的镜面倾斜安装不便。进一步的，所述通孔4的上端大于通孔4的下端。如此，选择常规的平面镜5粘贴在通孔4的内壁上即可，安装方便。为了便于支撑放大镜2和电子元件检测台，优选的，所述支座1包括左立板11、右立板12和底座13，所述左立板11和右立板12的一端与底座13固定连接；所述电子元件检测台的反射本体3一侧与左立板11螺栓连接，另一侧与右立板12螺栓连接。反射本体3夹持于左立板11和右立板12之间，避免了反射本体3滑落，损坏平面镜5，而螺栓连接简单方便。