一种适用于小尺寸线材和薄板样品金相制样的辅助夹具的制作方法

本实用新型涉及金属材料研磨制样领域，特别涉及一种适用于小尺寸线材和薄板样品金相制样的辅助夹具。

背景技术：

随着材料的发展研究越来重要，形状各异的材料样品也被搬上实验台。金相试样的制备技术直接影响金相实验结构的可靠度和工作效率，是研究材料及相关领域专业人员最基本的重要技能。对于一些小尺寸样品，必须采用镶嵌或者胶粘，然后再进行磨制、抛光。为了观察样品横截面，镶嵌时必须保证横截面竖立，而小尺寸样品往往无法自行竖立，需要辅助块固定。如采用热镶嵌，压制过程也会导致样品发生倾斜，且这种方法不适用于不允许加热的试样、较软或熔点较低的金属材料；而冷镶嵌所用的树脂导电性差，不利于样品进行电镜观察，且倒入镶嵌树脂同样会引起样品倾斜。而对于薄板磨面较大的样品，更易产生磨面不平的问题。其次，无论冷镶嵌、热镶嵌，制备的样品一旦取下来，若想再次对同一个样品进行金相制备或观察，就必须重新镶嵌，这就造成耗材和时间浪费，且效率低下。

中国专利号201420502419.2和201120541173.6分别公布了适用于薄片状金相试样的夹具，这两种夹具均针对一些很薄样品金相制样，操作也简便，但是对薄带样品未必能够保证磨面水平；且对一些小尺寸圆柱状细长样品虽能够夹持住，但易滑动，产生磨面不平现象。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种适用于小尺寸线材和薄板样品金相制样的辅助夹具，不仅结构简单，而且能够稳定夹持小尺寸试样。

本实用新型的技术方案在于：一种适用于小尺寸线材和薄板样品金相制样的辅助夹具，包括上部呈半圆柱状的第一模块和第二模块，所述第一模块和第二模块的相对面上设置有相配合用于夹紧样品的网纹状夹持面，第一模块和第二模块的下部设置有用于锁紧第一模块和第二模块的锁紧机构，所述第一模块和第二模块上还套置有箍紧模块。

进一步地，所述锁紧机构包括设置于第一模块和第二模块下部的延伸凸部，所述第一模块和第二模块的延伸凸部上沿径向对应设置有一对螺栓孔，所述螺栓孔内分别穿设有锁紧螺栓，并经锁紧螺母锁紧。

进一步地，所述箍紧模块包括一C型箍体，所述C型箍体的开口两端分别设置有向外延伸的连接板，所述连接板上分别设置有螺栓孔，所述螺栓孔内穿设有第二锁紧螺栓，并经第二锁紧螺母锁紧。

与现有技术相比较，本发明具有以下优点：①该夹具磨制金相样品时受力均匀，不易出现磨面不平整现象；②不仅适用于小尺寸线材样品，还适用于不同形状的薄片状样品；③夹具夹持面为网纹面，具有优良的夹持作用，保证线材磨面与轴线严格垂直。④适用于不同尺寸的样品，可重复使用，且结构简单、拆装方便，大大节省了镶嵌和试验时间，提高了工作效率。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的第一模块的结构示意图；

图3为本实用新型的夹紧线材样品的结构示意图；

图4为本实用新型的夹紧薄板样品的结构示意图；

图5为本实用新型夹具表面粘有薄板样品的结构示意图；

图中：1-第一模块 2-第二模块 3-网纹状夹持面 4-延伸凸部 5-锁紧螺栓 6-螺栓孔 7-线材样品 8-薄板样品 20-箍紧模块 21-连接板 22-第二锁紧螺栓。

具体实施方式

为让本实用新型的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图，作详细说明如下，但本实用新型并不限于此。

参考图1至图5

一种适用于小尺寸线材和薄板样品金相制样的辅助夹具，包括上部呈半圆柱状的第一模块1和第二模块2，所述第一模块和第二模块的相对面上设置有相配合用于夹紧样品的网纹状夹持面3，第一模块和第二模块的下部设置有用于锁紧第一模块和第二模块的锁紧机构，所述第一模块和第二模块上还套置有用于箍紧第一、第二模块上部的箍紧模块20，以便箍紧模块与锁紧机构将第一、第二模块锁紧，防止样品滑脱。

本实施例中，所述锁紧机构包括设置于第一模块和第二模块下部的延伸凸部4，所述第一模块和第二模块的延伸凸部上沿径向间隔且对应设置有一对螺栓孔6，所述螺栓孔内分别穿设有锁紧螺栓5，并经锁紧螺母锁紧。

本实施例中，所述箍紧模块包括一C型箍体，所述C型箍体的开口两端分别设置有向外延伸的连接板21，所述连接板上分别设置有螺栓孔，所述螺栓孔内穿设有第二锁紧螺栓22，并经第二锁紧螺母锁紧。

该辅助夹具的使用方法：

1、对于小尺寸线材样品7，制样时，将样品放到第一、第二模块间，根据样品尺寸大小，预留出要打磨的厚度，调整锁紧螺钉并旋紧，将样品夹持在网纹面之间，然后将箍紧模块套在外围。对于薄板样品8，先将第一、第二模块用螺钉拧紧，再将样品用502胶粘在下底面，然后将箍紧模块套在外围进行组装。手持箍紧模块在砂纸上打磨。磨完一号砂纸时，换下一号更细砂纸时，要转动90°角，使新、旧磨痕垂直，以消除之前的磨痕。如此反复直到样品截面与第一、第二模块底面在同一水平面；

2、对于硬度较大的样品或者需要机械抛光的样品可对样品施加一定的压力使样品与砂纸/抛光布紧密接触，保证样品面平整；对于硬度较小的样品可借助第一、第二模块本身的重力对样品试压来磨制；

3、第一、第二模块上表面是平整面，所以不管是常规的金相显微镜，还是倒置式金相显微镜，样品打磨后，都能够方便进行金相观察；

4、进行扫描电镜观察时，小尺寸线材或者板带状样品，可以直接将夹具一起放入电镜室，保证样品观察面与电子束的垂直关系。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，凡依本实用新型申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本实用新型的涵盖范围。