技术总结
本实用新型涉及自动化检测工装技术领域，公开了一种调节式晶元片检测头组件，包括探针座，探针座的上端中心设有凹腔，凹腔底部设有若干探针定位通孔，探针定位通孔内设有探针，凹腔的内壁上设有环形阶梯面，环形阶梯面上设有线路板，凹腔的开口端设有端盖，端盖的上侧面中心设有螺杆，端盖的正上方设有连接座，连接座的底板上设有螺套，螺杆穿过螺套，螺套的侧面设有锁止螺栓，螺杆的上端设有调节轮，端盖上还设有与螺杆平行的导向杆，导向杆的上端穿过连接座的底板形成滑动连接，连接座的顶部设有连接柱。本实用新型能适用于自动检测设备，安装调节方便，可极大提高检测效率；同时自身密封性能好，防水防尘性能好，稳定性好。
技术研发人员：何佳
受保护的技术使用者：普铄电子（上海）有限公司
文档号码：201620794239
技术研发日：2016.07.26
技术公布日：2017.01.25