1.一种TDS检测探头，包括由绝缘材料制成的探针固定件和至少两个由导体材料制成的探针，所述的探针固定于探针固定件上，其特征在于，所述的探针固定件上延伸出由绝缘材料制成且数量与探针相匹配的突起，所述的探针通过突起固定于探针固定件上。
2.根据权利要求1所述的一种TDS检测探头，其特征在于，所述的突起之间的间距不小于探针的直径。
3.根据权利要求1所述的一种TDS检测探头，其特征在于，所述的突起的高度不小于探针高度的三分之一。
4.根据权利要求1所述的一种TDS检测探头，其特征在于，所述的突起的直径大于探针的直径。
5.根据权利要求1所述的一种TDS检测探头，其特征在于，所述的突起是由与探针固定件相同的绝缘材料制成。