一种用于影像测量仪的工作平台的新型玻璃基板的制作方法

本发明涉及尺寸测量领域，具体涉及一种用于影像测量仪的工作平台的新型玻璃基板。

背景技术：

尺寸测量在生产中经常遇见，随着技术的进步，非接触式的影像测量方法逐渐被使用，如图1所示，一些影像测量仪具有图像采集单元23、上光源24、下光源25和工作平台，工作平台具有台阶部22，玻璃基板21放置在台阶部上，被测零件放置在玻璃基板上，通过采集图像，检测被测零件的边缘，从而测出被测零件的尺寸。为了提高放置被测零件的效率，现有的玻璃基板上有定位孔，从而将被测零件利用定位孔进行定位，从而提高了被测零件放置效率，从而提高了测量效率。但是现有的玻璃基板只能定位特定的被测零件，面对不同的被测零件需要制造不同的玻璃基板，成本较高。

技术实现要素：

发明目的：本发明旨在克服现有技术的缺陷，提高一种用于影像测量仪的工作平台的新型玻璃基板。

技术方案：一种用于影像测量仪的工作平台的玻璃基板，包括透明的基板本体，所述基板本体表面具有截面呈圆形的盲孔，所述盲孔内具有截面呈圆形的第一柱体，所述第一柱体沿其长度方向具有截面呈矩形的第一通孔，所述第一通孔内具有截面呈矩形的第二柱体，所述第二柱体沿其长度方向具有截面呈圆形的第二通孔，所述第二通孔内具有截面呈圆形的第三柱体；所述盲孔的深度、第一通孔的深度、第二通孔的深度、第一柱体的高度、第二柱体的高度和第三柱体的高度均相等；所述第一柱体的截面直径等于盲孔的截面直径；所述第二柱体的截面和第一通孔的截面形状尺寸相同；所述第三柱体的截面直径和第二通孔的截面直径相等。

进一步地，所述第二柱体的截面呈正方形，所述第一通孔的截面呈正方形，所述第二柱体的截面边长等于第一通孔的截面边长。

进一步地，所述玻璃基板包括两个盲孔、两个第一通孔、两个第二通孔、两个第一柱体、两个第二柱体和两个第三柱体。

进一步地，所述第一柱体的顶面、第二柱体的顶面、第三柱体的顶面与所述基板本体上表面平齐。

进一步地，所述第一、二、三柱体均为透明的玻璃柱。

进一步地，两个盲孔的轴线之间的距离大于5cm。

有益效果：本发明的玻璃基板，可以实现对被测零件的定位，并且能够提供一种矩形孔和两个圆形孔，能够对不同的被测零件实现定位，通用性强。

附图说明

图1为现有的影像测量仪的测量原理图；

图2为玻璃基板示意图；

图3为玻璃基板未插入第一、二、三柱体示意图。

图4为第一柱体示意图；

图5为第二柱体示意图。

具体实施方式

附图标记：1基板本体；2.1第一柱体；2.2第二柱体；2.3第三柱体；3.1盲孔；3.2第一通孔；3.2第二通孔。

一种用于影像测量仪的工作平台的玻璃基板，包括透明的基板本体1，所述基板本体1表面具有截面呈圆形的盲孔3.1，所述盲孔3.1内具有截面呈圆形的第一柱体2.1，所述第一柱体2.1沿其长度方向具有截面呈矩形的第一通孔3.2，所述第一通孔3.2内具有截面呈矩形的第二柱体2.2，所述第二柱体2.2沿其长度方向具有截面呈圆形的第二通孔3.2，所述第二通孔3.2内具有截面呈圆形的第三柱体2.3；所述盲孔3.1的深度、第一通孔3.2的深度、第二通孔3.3的深度、第一柱体2.1的高度、第二柱体2.2的高度和第三柱体2.3的高度均相等；所述第一柱体2.1的截面直径等于盲孔3.1的截面直径；所述第二柱体2.2的截面和第一通孔3.2的截面形状尺寸相同；所述第三柱体2.3的截面直径和第二通孔3.3的截面直径相等。所述第二柱体的截面呈正方形，所述第一通孔的截面呈正方形，所述第二柱体的截面边长等于第一通孔的截面边长。所述玻璃基板包括两个盲孔、两个第一通孔、两个第二通孔、两个第一柱体、两个第二柱体和两个第三柱体。所述第一柱体的顶面、第二柱体的顶面、第三柱体的顶面与所述基板本体上表面平齐。

本发明的玻璃基板，可以实现对被测零件的定位，并且能够提供一种矩形孔和两个圆形孔，能够对不同的被测零件实现定位，通用性强。例如定位第一零件时，将第一、二、三柱体拔掉，利用盲孔进行定位；定位第二零件时，将第二、三柱体拔掉，利用第一通孔定位；定位第三零件时，将第三柱体拔掉，利用第二通孔定位；当测量无需定位的零件时，将第一、二、三柱体都插入，被测零件放置在基板本体上表面。

尽管本发明就优选实施方式进行了示意和描述，但本领域的技术人员应当理解，只要不超出本发明的权利要求所限定的范围，可以对本发明进行各种变化和修改。