本发明涉及绕膜包装机，尤其涉及一种绕膜包装机的薄膜拉伸率的测定方法。
背景技术：
绕膜包装机主要实现对被包装设备的绕膜包装，绕膜效果是一个非常关键的性能参数。在调试包装机薄膜拉伸率的时候，需要人工在薄膜上隔一段距离划线两处，然后继续绕膜工作，当划线标记处薄膜受拉伸以后，包装机停止，再人工用卡尺去量受拉伸的两处距离，人工计算拉伸率，整个过程比较麻烦且效率不高。另外包装机在工作过程薄膜拉伸率的保持恒定，是由主控板根据压力传感器测定的压力来调节放膜电机的速度实现的，随着包装机的老化以及压力传感器的压力漂移都对薄膜拉伸率产生影响，薄膜受拉过紧使薄膜容易断裂，影响设备稳定运行；薄膜受拉过松影响被包装设备的紧实度，且因薄膜未充分拉伸而产生浪费。
技术实现要素：
为了解决现有技术的问题，本发明提供一种绕膜包装机的薄膜拉伸率的测定方法，通过设置一个随动码盘和两个光电发送和接收装置，可以实时测定薄膜拉伸长度，根据一段距离的薄膜拉伸前后的距离的变化，可以计算出薄膜的拉伸率。
为此，本发明提供一种绕膜包装机的薄膜拉伸率的测定方法，包括如下步骤：
s1、先将卷筒形式的薄膜安放在膜座上，通过放膜装置将薄膜拉出并置于滚动体上，且薄膜上等间距设有多个标记；
s2、包装机启动，底盘和放膜电机转动，开始绕薄膜；
s3、滚动体与码盘一体设置，滚动体随薄膜转动，码盘也随之转动；
s4、第一光电发射与接收装置检测到一个标记时，第二光电发射与接收装置采集码盘转动脉冲信号计数n1；
s5、第一光电发射与接收装置检测到下一个标记时，第二光电发射与接收装置采集码盘转动脉冲信号计数n2；
s6、计算薄膜拉伸率δ。
进一步地，所述步骤s6中，先计算薄膜拉伸后相邻两个标记之间的距离s1，再根据薄膜拉伸前相邻两个标记之间的距离s0计算薄膜拉伸率δ。
设码盘的齿数为n，滚动体的直径为d，则s1＝π*d*(n2-n1)/n。
薄膜拉伸率δ＝(s1/s0)*100％
与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：
1.通过码盘和两个光电发送和接收装置，可实现自动化实时测定薄膜拉伸长度，无需人工参与，不仅节约了劳动力，还提高了测定精度和测定效率；
2.包装机使用长久以后，由于机械结构的变形，压力传感器的压力漂移会增大，导致薄膜拉伸率误差会逐渐增大且不稳定，采用此方法可以很好的验证包装机的工作性能是否下降。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明所述测定方法对应方案的结构示意图；其中：
码盘1，滚动体2，标记3，薄膜4，第一光电发射与接收装置5，第二光电发射与接收装置6；
图中箭头为薄膜的运动方向。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
参见图1，本实施例提供一种绕膜包装机的薄膜拉伸率的测定方法，包括如下步骤：
s1、先将卷筒形式的薄膜4安放在膜座上，通过放膜装置将薄膜4拉出并置于滚动体2上，且薄膜4上等间距设有多个标记3；
s2、包装机启动，底盘和放膜电机转动，开始绕薄膜4；
s3、滚动体2与码盘1一体设置，滚动体2随薄膜4转动，码盘1也随之转动；
s4、第一光电发射与接收装置5检测到一个标记3时，第二光电发射与接收装置6采集码盘1转动脉冲信号计数n1；
s5、第一光电发射与接收装置5检测到下一个标记3时，第二光电发射与接收装置6采集码盘1转动脉冲信号计数n2；
s6、计算薄膜拉伸率δ。
码盘1对第二光电发射与接收装置6起通断作用，码盘1转动，第二光电发射与接收装置6的接收端电平亦发生变化，在程序中对其进行脉冲计数，脉冲的个数可反映滚动体2转动的圈数。同时，由于直线在圆上作纯滚动时，直线与圆接触的长度等于在圆上绕过的弧长，因此滚动体2转动的圈数等于薄膜4绕过的长度。
故，计算薄膜拉伸率δ，则先计算薄膜4拉伸后相邻两个标记3之间的距离s1，再根据薄膜4拉伸前相邻两个标记3之间的距离s0计算薄膜拉伸率δ。
设码盘1的齿数为n，滚动体2的直径为d，则s1＝π*d*(n2-n1)/n。
则，薄膜拉伸率δ＝(s1/s0)*100％。
综上，本发明所述的测定方法通过码盘1和两个光电发送和接收装置，可实现自动化实时测定薄膜4拉伸长度，无需人工参与，不仅节约了劳动力，还提高了测定精度和测定效率；包装机使用长久以后，由于机械结构的变形，压力传感器的压力漂移会增大，导致薄膜拉伸率误差会逐渐增大且不稳定，采用此方法可以很好的验证包装机的工作性能是否下降。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。