一种检针机的校准方法与流程

文档序号:11214743阅读:2701来源:国知局
一种检针机的校准方法与流程

技术领域:

本发明涉及检针机技术领域,具体地是一种检针机的校准方法。



背景技术:

在纺织品、鞋类、玩具、食品、制药以及毛绒玩具等商品进入市场流通前,例如服装在装运或出售给客户前或成品鞋类包装前,为了保证使用者的安全和舒适,都需要进行异物检测。传统地,采用人工手摸和肉眼观察的方式来检测异物,但这种方式费时费力,很难保证检查质量,而且可能对检测人员造成伤害。为了提高检针效率和质量,现有技术中越来越多应用检针机进行异物检测,检针机能够检测遗留在各类纺织品中的钩针、大头针、别针或其他铁磁物质以及其它危险类对象,如碎玻璃片、木片等。

随着检针机的应用,以及日常现场环境条件可能对其检测精度产生的影响,使得检针机在检测时可能检测不出遗留在纺织品中的断针而漏报,又或者对纺织品上的金属纽扣或金属装饰品产生误报;这些都会影响检测质量和生产效率。现有技术也公开了一些提升检针机检测精度的技术方案,例如专利cn201620973953.0公开了一种用于提高检针机检测精度的充磁装置,该装置包括在检针机本体输送单元处沿其运行方向依次设置的至少2个充磁模块,所述至少2个充磁模块的磁感应线均近似水平的穿过输送单元上方且互不平行;又例如中国专利cn201620974103.2公开了一种用于提升检针机检测精度的检磁装置,其包括设于检针机本体输送单元处的检磁模块,检磁模块包括上检磁单元和下检磁单元,上检磁单元位于输送单元上方且检测面朝向输送单元,下检磁单元位于输送单元下方且检测面朝向输送单元;这些提升检测精度的技术方案只能用在特定检针机上,适用范围较窄,而且结构复杂,成本较高,不具有广泛应用的基础。



技术实现要素:

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术在提升检针机的检测精度时存在适用范围较窄,而且结构复杂以及成本较高等缺点,提供一种检针机的校准方法。

本发明解决其技术问题所采取的技术方案是:一种检针机的校准方法,用于校准检针机的灵敏度,所述检针机包括探测器,所述探测器包括机体部分和在机体部分开设的探测通道,其特征在于,该校准方法包括以下步骤:

步骤1:准备待校准的检针机,并将探测通道内探测区的高度均分为三层,每层设置三个测试点;

步骤2:选择标准测试卡、测试卡架和标准铁球,标准铁球牢固粘结在标准测量卡的侧面中心位置;

步骤3:将检针机的灵敏度调节到最低档,并擦拭干净,然后直接传输粘结有标准铁球的标准测试卡,开动检针机,所述标准测试卡经过探测通道,检针机能检测到所述标准测试卡发出警报并且停机倒退;

步骤4:将粘结有标准铁球的标准测试卡卡入测试卡架的中间部分,传输测试卡架和所述标准测试卡经过探测通道,检针机能检测到所述标准测试卡发出警报并且停机倒退;

步骤5:将粘结有标准铁球的标准测试卡卡入测试卡架的最高点部位,传输测试卡架和所述标准测试卡经过探测通道,检针机能检测到所述标准测试卡发出警报并且停机倒退;

步骤6:记录步骤3、步骤4和步骤5中都能发出警报并且停机倒退的标准测试卡,以能够检测到的最小直径的标准铁球标定检针机的灵敏度,若灵敏度达不到要求,则将检针机的灵敏度调高。

其中,所述检针机为带式检针机、平板式检针机或手持式检针机。

其中,在步骤1中,调节环境温度为18~28℃、相对湿度为50%~80%rh。

其中,所述标准测试卡的材料为有机玻璃。

其中,所述测试卡架的高度为10~500mm。

其中,所述标准铁球的直径为0.5~6.5mm。

其中,步骤2中还配置一块不带标准铁的标准测试卡。

其中,步骤3中的直接传输所述标准测试卡经过探测通道,使所述标准测试卡经过探测通道内探测区的下层三个测试点。

其中,步骤4中的传输测试卡架和所述标准测试卡经过探测通道,使所述标准测试卡经过探测通道内探测区的中间层三个测试点。

其中,步骤5中的传输测试卡架和所述标准测试卡经过探测通道,使所述标准测试卡经过探测通道内探测区的上层三个测试点。

本发明由于采取了上述技术方案,其具有如下有益效果:

本发明所述的检针机的校准方法,能够精确地检测检针机的灵敏度并校准,适用于带式检针机、平板式检针机和手持式检针机的校准,适用范围广,无需专业的校准工具,校准过程简单,降低了校准成本,减少了校准时间和精力,能够广泛地校准不同种类的检针机。

附图说明:

图1为本发明所述的探测器的机体部分和探测通道的结构示意图;

图2为本发明所述的标准测试卡和标准铁球的结构示意图。

具体实施方式:

以下结合附图对本发明的内容作进一步说明。

如图1所示,本发明所述的一种检针机的校准方法,用于校准检针机的灵敏度,所述检针机包括探测器1,所述探测器1包括机体部分11和在机体部分开设的探测通道12,其特征在于,该校准方法包括以下步骤:

步骤1:准备待校准的检针机,并将探测通道12内探测区的高度h均分为三层,每层设置三个测试点;

在图1中,总共示出九个测试点,分别为a1、a2、a3、a4、a5、a6、a7、a8和a9;

在校准时,本发明优选在校准前调节环境温度为18~28℃、相对湿度为50%~80%rh,并且保证电源接地良好,以及无影响正常校准的外磁场、周围无强烈振动;

其中,所述检针机可以为带式检针机、平板式检针机或手持式检针机;

步骤2:选择标准测试卡2、测试卡架(未示出)和标准铁球100,如图2所示,标准铁球100牢固粘结在标准测量卡2的侧面中心位置;

其中,标准测试卡的材料为有机玻璃;所述测试卡架的高度为10~500mm;优选标准铁球的直径为0.5~6.5mm,常用直径规格有0.8mm、1.0mm、1.2mm、1.5mm、2.0mm、2.5mm和3.0mm;

在本发明中,为了校准的精度,优选还配置一块不带标准铁100的标准测试卡;

通过使用标准测试卡2来检测这九个点所能检测到的最小直径的标准铁球100从而来标定检针机的灵敏度;

步骤3:将检针机的灵敏度调节到最低档,并擦拭干净,然后直接传输粘结有标准铁球100的标准测试卡2,开动检针机,所述标准测试卡2经过探测通道12,检针机能检测到所述标准测试卡2发出警报并且停机倒退;

在步骤3中,直接传输所述标准测试卡2经过探测通道12,即所述标准测试卡2经过探测通道12内探测区的下层三个测试点a1、a2和a3;

步骤4:将粘结有标准铁球100的标准测试卡2卡入测试卡架的中间部分,传输测试卡架和所述标准测试卡2经过探测通道12,检针机能检测到所述标准测试卡2发出警报并且停机倒退;

在步骤4中,传输测试卡架和所述标准测试卡2经过探测通道12,即所述标准测试卡2经过探测通道12内探测区的中间层三个测试点a4、a5和a6;

步骤5:将粘结有标准铁球100的标准测试卡2卡入测试卡架的最高点部位,传输测试卡架和所述标准测试卡2经过探测通道12,检针机能检测到所述标准测试卡2发出警报并且停机倒退;

在步骤5中,传输测试卡架和所述标准测试卡2经过探测通道12,即所述标准测试卡2经过探测通道12内探测区的上层三个测试点a7、a8和a9;

步骤6:记录步骤3、步骤4和步骤5中都能发出警报并且停机倒退的标准测试卡2,以能够检测到的最小直径的标准铁球100标定检针机的灵敏度,若灵敏度达不到要求,则将检针机的灵敏度调高。

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