一种电子产品的测试系统及方法与流程

本发明涉及产品测试领域，特别涉及一种电子产品的测试系统及方法。

背景技术：

目前，电子产品在生产过程中，一般都需要对产品性能进行测试，传统的测试方法存在如下缺点：1、测试架专用，不能实现产品间的测试共用，即每款产品需要对测试设备进行单独设计和制作；拉长了产品开发周期，增加了开发成本；2、产品换线生产，要随之对应更换整套的测试设备，不方便作业；3、多采用人工操作，测试效率低，并容易误测；4、不能对测试参数进行即时保存；当产品出现问题时，不能调看测试数据，数据不具备可追溯性。

因而现有技术还有待改进和提高。

技术实现要素：

鉴于上述现有技术的不足之处，本发明的目的在于提供一种电子产品的测试系统及方法，可对多种不同的电子产品进行性能测试。

为了达到上述目的，本发明采取了以下技术方案：

一种电子产品的测试系统，包括：

智能上位机，用于发出测试指令给测试控制装置并接收测试控制装置传回的测试数据；

测试控制装置，用于接收智能上位机的测试指令，并根据测试指令设置产品测试参数并控制测试仪器进行产品测试，以及接收待测产品的测试数据并对数据进行处理后发送给智能上位机；

测试仪器，用于对待测产品进行产品测试；

所述智能上位机与所述测试控制装置通讯连接，所述测试控制装置还同时连接测试仪器和待测产品，所述测试仪器还连接待测产品。

所述的电子产品的测试系统中，所述电子产品的测试系统还包括继电器模块，所述测试控制装置控制所述继电器模块的通断用于实现所述测试控制装置和测试仪器与待测产品之间的连接，所述继电器模块同时连接所述测试控制装置、测试仪器和待测产品。

所述的电子产品的测试系统中，所述测试控制装置包括：

控制单元，用于与智能上位机进行通讯并控制各测试单元的工作状态；

第一测试单元，用于设置产品的测试参数；

第二测试单元，用于根据测试指令控制继电器模块的通断；

第三测试单元，用于接收待测产品的测试数据；

第四测试单元，用于根据测试指令控制测试仪器的工作状态；

所述控制单元同时连接所述智能上位机、第一测试单元、第二测试单元、第三测试单元和第四测试单元，所述第二测试单元和第三测试单元还同时连接所述继电器模块，所述第四测试单元还连接所述测试仪器。

所述的电子产品的测试系统中，所述测试系统还包括用于定位待测产品的定位架。

所述的电子产品的测试系统中，所述测试参数至少包括电压、电流和时间中的一种。

所述的电子产品的测试系统中，所述测试仪器至少为一个。

所述的电子产品的测试系统中，所述待测产品为电动工具、锂电池控制器或智能灯具。

一种采用如上所述的电子产品的测试系统的测试方法，包括如下步骤：

智能上位机发出测试指令至测试控制装置；

测试控制装置接收智能上位机发出的测试指令，并在设置产品的测试参数后控制测试仪器对待测产品进行产品测试；

待测产品将测试数据发送至测试控制装置；

测试控制装置接收待测产品的测试数据并对数据进行处理后发送给智能上位机。

所述的测试方法还包括：测试控制装置控制继电器模块通断。

所述的测试方法中，所述测试控制装置接收智能上位机发出的测试指令，并在设置产品的测试参数后控制测试仪器对待测产品进行产品测试的步骤具体包括：

接收智能上位机发出的测试指令；

根据测试指令设置产品的测试参数；

根据测试指令控制继电器模块通断，同时控制测试仪器进行产品测试。

相较于现有技术，本发明提供的电子产品的测试系统及方法中，所述测试系统包括智能上位机、测试控制装置和测试仪器，所述智能上位机与所述测试控制装置通讯连接，所述测试控制装置还同时连接测试仪器和待测产品，所述测试仪器还连接待测产品。本发明提供的测试系统和测试方法可实现对多种不同的电子产品进行性能测试，而且产品测试基本为自动化控制，减少了人工操作，每个测试位可节省1个以上的人力，节省了生产成本，同时由于产品生产换线时不用再更换测试设备或经常移动测试设备，缩短了生产准备时间，也大大降低了设备的故障发生率，便于维护，同时提高了生产效率。

附图说明

图1为本发明提供的电子产品的测试系统的结构框图。

图2为本发明提供的电子产品的测试方法的流程图。

图3为本发明提供的电子产品的测试方法中，所述步骤s200的流程图。

具体实施方式

本发明提供一种电子产品的测试系统及方法，为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

请参阅图1，本发明提供的一种电子产品的测试系统，包括智能上位机1、测试控制装置2和测试仪器3，所述智能上位机与所述测试控制装置2通讯连接，所述测试控制装置2还同时连接测试仪器3和待测产品4，所述测试仪器3还连接待测产品4。

具体来说，所述智能上位机1用于发出测试指令给测试控制装置2并接收测试控制装置2传回的测试数据，所述智能上位机1可以是工控电脑或其他智能设备，并通过rs485通讯线或rs232通讯线连接测试控制装置2，在进行测试时，用户可直接通过在智能上位机1上进行操作来达到测试的目的，具体应用时，用户在智能上位机1上输入要测试的数据类型，并直接输入测试参数后，智能上位机1则发出测试指令给测试检测装置2，由测试检测装置2进行后续工作，在测试完毕后，测试数据会直接传到智能上位机1上，用户可清楚的看到实际测试的数据，简单明了。

请继续参阅1，所述电子产品的测试系统还包括继电器模块5，所述测试控制装置2控制所述继电器模块5的通断用于实现所述测试控制装置2和测试仪器3与待测产品4之间的连接，所述继电器模块5同时连接所述测试控制装置2、测试仪器3和待测产品4，具体来说，所述继电器模块5受测试控制装置2的控制，用于测试控制装置2和待测产品4、测试仪器3和待测产品4之间的连接，实现三者之间的选择性连接或通断，所述继电器模块5包括多个继电器，在测试控制装置接收到测试指令后控制需要实现本次测试任务的继电器模块动作，从而实现了测试控制装置2和待测产品4、测试仪器3和待测产品4之间的连接，而且避免了非本次测试任务的继电器动作而产生的干扰，所以本发明通过在不同的测试任务中控制不同的继电器闭合或关闭，达到了一套系统测试多种不同电子产品的目的。

请继续参阅图1，所述测试控制装置2用于接收智能上位机1的测试指令，并根据测试指令设置产品测试参数并控制测试仪器3进行产品测试，以及接收待测产品4的测试数据并对数据进行处理后发送给智能上位机1，本发明通过采用测试控制装置2来进行产品参数设置，并选择性的控制不同的测试仪器来进行不同的性能测试，实现了一套系统测试多种不同的电子产品的目的，同时本发明通过利用测试控制装置2来自动控制测试仪器3进行产品性能测试，实现设备控制自动化，减少了人工操作，每个测试位可节省1个以上的人力，节省了生产成本，同时由于产品生产换线时不用再更换测试设备或经常移动测试设备，缩短了生产准备时间，也大大降低了设备的故障发生率，便于维护，同时提高了生产效率。

请继续参阅图1，所述测试控制装置2包括控制单元21、第一测试单元22、第二测试单元23、第三测试单元24和第四测试单元25，所述控制单元21同时连接所述智能上位机1、第一测试单元22、第二测试单元23、第三测试单元24和第四测试单元25，所述第二测试单元23和第三测试单元24还同时连接所述继电器模块5，所述第四测试单元25还连接所述测试仪器3。

具体来说，所述控制单元21用于与智能上位机1进行通讯并控制各测试单元的工作状态，控制单元21在接收到智能上位机1的测试指令后即控制各测试单元进行工作，以实现产品测试功能，优选的实施例中，所述控制单元21通过rs485通讯线或rs232通讯线连接智能上位机1，具体应用时，所述控制单元21可以是微电脑控制单元；所述第一测试单元22用于设置产品的测试参数，在进行测试前，所述第一测试单元22首先测量当前的产品测试参数并在智能上位机1上显示，在用户通过智能上位机1输入了测试指令后，第一测试单元22即根据测试指令更改当前的产品测试参数，并发送至控制单元21保存，同时由控制单元21将测试参数发送至智能上位机1上显示，从而达到为不同电子产品提供不同测试参数的目的，而且当产品出现问题时，可以随时调看测试数据，从而方便找出测试的问题，具体应用时，所述第一测试单元22可以是a/d模块；所述第二测试单元23用于根据测试指令控制继电器模块5的通断，在接收到测试指令后，所述第二测试单元23控制与本次测试需要的测试仪器连接的继电器动作，从而进一步实现产品测试，具体应用时，所述第二测试单元23可以是输出i/o模块；所述第三测试单元24用于接收待测产品4的测试数据，在测试完毕后，待测产品4直接将测试数据发送至第三测试单元24，第三测试单元24接收本次测试时，智能上位机输入的需要测试的数据类型，并将测试数据传递给控制单元21，由控制单元21保存测试数据并将其发送至智能上位机1上显示，方便数据的后续调用和赘述，具体应用时，所述第三控制单元24可以是输入i/o模块；所述第四测试单元用于根据测试指令控制测试仪器3的工作状态，本发明中，所述测试仪器3至少为一个，可根据实际情况选取多种不同的测试仪器与测试控制装置连接，例如电源测试仪器、电子负载测试仪器等等，在进行测试时，用户在智能上位机1输入需测试的数据类型，智能上位机1发出测试指令，然后由控制单元21将测试指令发送至第四控制单元25，第四控制单元25则根据测试指令选择性的与其中需要实现此次测试任务的进行通讯连接，再由连接的测试仪器对待测产品进行测试，从而可以实现一套系统测试多种电子产品的目的，具体使用时，所述第四测试单元可以是rs232通讯接口。

优选的实施例中，本发明提供的电子产品的测试系统还包括用于定位待测产品4的定位架，定位架4通过测试探针与产品测试点进行连接。

进一步地，本发明提供的测试系统中，所述测试参数至少包括电压、电流和时间中的一种，通过改变测试的电压、电流或时间，可以达到一套系统测试多种电子产品的目的。

进一步的，本发明提供的测试系统用于各种不同的电子产品的测试，所述待测产品4可以是电动工具、锂电池控制器或智能灯具，本发明对此不做限定。

基于上述电子产品的测试系统，本发明还相应的提供一种电子产品的测试方法，请参阅图2，所述方法包括如下步骤：

s100、智能上位机发出测试指令至测试控制装置；

s200、测试控制装置接收智能上位机发出的测试指令，并在设置产品的测试参数后控制测试仪器对待测产品进行产品测试；

s300、待测产品将测试数据发送至测试控制装置；

s400、测试控制装置接收待测产品的测试数据并对数据进行处理后发送给智能上位机。

进一步地，所述测试方法还包括：

测试控制装置控制继电器模块通断。

优选的，所述步骤s200具体包括：

s201、接收智能上位机发出的测试指令；

s202、根据测试指令设置产品的测试参数；

s203、根据测试指令控制继电器模块通断，同时控制测试仪器进行产品测试。

由于上文已对电子产品的测试系统进行详细描述，在此不再赘述！

综上所述，本发明提供的电子产品的测试系统及方法可实现对多种不同的电子产品进行性能测试，而且产品测试基本为自动化控制，减少了人工操作，每个测试位可节省1个以上的人力，节省了生产成本，同时由于产品生产换线时不用再更换测试设备或经常移动测试设备，缩短了生产准备时间，也大大降低了设备的故障发生率，便于维护，同时提高了生产效率。

可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。