本发明属于电子技术领域，尤其涉及一种热敏电阻的自动测试系统。
背景技术：
随着科技的不断进步，电子技术得到了突飞猛进的发展，电子技术的换代时间间隔越来越短，随着电子行业的发展，正温度系数热敏电阻元件由于其特殊的电性能，在工业电子设备、通信和家电产品中的应用越来越多，正温度系数热敏电阻元件的生产规模越来越大。耐电压特性是指正温度系数热敏电阻在不被破坏的前提下能承受的最高电压，当超过这一极限电压时，由于内部结构原因，阻值不再上升，此时电阻器的电流将会上升，其消耗的功率就会增大，从而使正温度系数热敏电阻温度急剧上升，元件被击穿而失效。所以耐压值是正温度系数热敏电阻的一项关键基本质量参数，直接影响到热敏电阻的可靠性和使用寿命。在大规模生产中，如何高效稳定地对每一片样品进行测试一直困扰着当前的正温度系数热敏电阻元件生产厂商。同时在测试过程中如何提高测试系统的安全性，保证测试结果的准确性也严重制约着当前耐电压测试仪的发展。
技术实现要素：
本发明旨在解决上述问题，提供一种热敏电阻的自动测试系统。
一种热敏电阻的自动测试系统，其特征在于包括上探针板、气缸、夹具、控制电路、下探针板、过流检测保护电路、控制主机和分选模块；其中，上探针板与夹具相连接；上探针板和夹具均与气缸相连接；夹具与下探针板相连接；下探针板与过流检测电路相连接；过流检测保护电路与控制电路相连接；控制电路与气缸相连接；控制电路和分选模块均与控制主机相连接。
本发明所述的一种热敏电阻的自动测试系统，其特征在于所述控制电路包括显示和按键模块、存储模块、单片机、通信模块、高低压选择模块、光耦隔离电路和继电器模块；其中显示和按键模块、存储模块、通信模块、高低压选择模块和光耦隔离模块均与单片机相连接；继电器模块与光耦隔离电路相连接。
本发明所述的一种热敏电阻的自动测试系统，其特征在于所述上探针板与高低压选择模块相连接。
本发明所述的一种热敏电阻的自动测试系统，其特征在于所述下探针板和过流检测模块均与继电器模块相连接。
本发明所述的一种热敏电阻的自动测试系统，其特征在于所述控制主机与通信模块相连接。
本发明所述的一种热敏电阻的自动测试系统，其特征在于所述夹具为8×16矩阵式夹具。
本发明所述的一种热敏电阻的自动测试系统，其特征在于所述单片机采用stc单片机。
本发明所述的一种热敏电阻的自动测试系统，通过采用专用的测试夹具，很好的满足了测试的需求，专业模板的使用也降低了被检测品受损伤的几率，本发明所述的自动测试系统的自动化程度高，系统的稳定性好，测试效率得到提升，测试准确度稳定，操作简单且易于推广。
具体实施方式
一种热敏电阻的自动测试系统，其特征在于包括上探针板、气缸、夹具、控制电路、下探针板、过流检测保护电路、控制主机和分选模块；其中，上探针板与夹具相连接；上探针板和夹具均与气缸相连接；夹具与下探针板相连接；下探针板与过流检测电路相连接；过流检测保护电路与控制电路相连接；控制电路与气缸相连接；控制电路和分选模块均与控制主机相连接。
本发明所述的一种热敏电阻的自动测试系统，所述控制电路包括显示和按键模块、存储模块、单片机、通信模块、高低压选择模块、光耦隔离电路和继电器模块；其中显示和按键模块、存储模块、通信模块、高低压选择模块和光耦隔离模块均与单片机相连接；继电器模块与光耦隔离电路相连接。所述上探针板与高低压选择模块相连接。所述下探针板和过流检测模块均与继电器模块相连接。所述控制主机与通信模块相连接。所述夹具为8×16矩阵式夹具，并配有专用上料模板，可同时装夹128只元件，使元件装夹更加方便有效。相比采用传统的震动上料，能很好地避免震动过程中对表面电极的损伤，确保元件测试状态符合测试标准。测试前将元件放到样品板上，通过抚平操作即可将元件装到模板的凹槽中，然后将样品板放置在测试平台上，由气缸牵引至指定位置。样品上料的过程可以穿插在测试过程中进行，因此能有效地提高测试效率。所述单片机采用stc单片机，使用锁存芯片可将16路并行i/o扩展为128路i/o输出，用来顺序控制128个继电器的动作。单片机通过控制3⁃8译码器来控制锁存芯片的选通，以及8路高低电压继电器的切换。通过优化电路设计，在切换高低电压的同时，还能切换高低基准电压。系统外接显示和按键模块，参数存储的e2prom模块，可以在没有上位机的情况下直接通过单片机微系统设置参数和显示运行状态。设置通信模块，可由上位机直接控制单片机，通过对上位机软件的优化，使参数设置和状态显示更加便利。同时，下位机能把每一路的元件状况发送回上位机，作为上位机控制自动分选的标准，并配有友好的人机界面。，所有样品按8×16的矩阵放置在样品夹具上，气缸机械手控制样品夹具来代替人工的装料，控制电路控制气缸的动作以及样品的测试，同时每一测试回路均有过流保护电路，并采用了去干扰设计，能够实时监测电流，对由于样品损坏产生的大电流迅速响应并反馈给mcu，mcu接收反馈信号并存储，在每一轮测试完成之后将存储数据发送至上位机进行样品的合格分选。本测试系统极大提高了耐电压的测试效率，可以达到预期目标。