测距仪自动测试装置及测距仪测试系统的制作方法

本实用新型涉及测距仪校检技术领域，尤其是涉及一种测距仪自动测试装置及测距仪测试系统。

背景技术：

常见的测距仪可以包括激光测距仪与声波测距仪。以激光测距仪为例，利用激光对目标的距离进行准确测定的仪器。激光测距仪在工作时向目标射出一束很细的激光，由光电元件接收目标反射的激光束，计时器测定激光束从发射到接收的时间，计算出从观测者到目标的距离。

测距仪被应用在很多的领域，例如，环境、建筑、军事、房地产等领域，对于不同的领域，对测距仪的精度要求也不相同。使用同一个测距仪，对于同一个目标进行多次测距，出现的结果存在差距，通过对比这些数据，可以反映出该测距仪精确性。

现有的对测距仪的检测方法还是采用人工操作，多次测量的方式。这样就会造成单件测距仪的检验需要的时间较长，工作效率低，而且容易出现漏记，错记的现象。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种测距仪自动测试装置及测距仪测试系统，以缓解了现有的对测距仪的检测过程中，单件测距仪的检验需要的时间较长，工作效率低，而且容易出现漏记，错记的现象的技术问题。

本实用新型提供的测距仪自动测试装置，包括：固定部、靶标和比较模块，所述固定部用于固定待测试测距仪，以使所述待测试测距仪正对所述靶标；

所述比较模块与所述待测试测距仪的控制端电连接，所述比较模块用于获取所述测距仪连续的多次测距的距离数据，并根据多个所述距离数据，评价待测试测距仪的精确性。

进一步的，所述固定部包括横向转动组件，所述横向转动组件用于调整所述待测试测距仪横向测距角度。

进一步的，所述横向转动组件包括沿竖向设置的上盘和下盘，所述上盘的上表面用于放置所述待测试测距仪；

所述上盘的下表面上设置有转轴，所述下盘的上表面设置有与所述转轴对应的插孔，以使所述转轴插入所述插孔后，所述上盘与所述下盘转动连接。

进一步的，所述固定部包括底座，所述下盘侧面对称设置有两个转臂，所述两个转臂的连线过所述下盘的直径；

所述两个转臂分别与所述底座套接，以使所述下盘与所述底座转动连接，用于调节所述待测试测距仪竖向测距角度，且至少一个所述转臂与底座套接位置设置有锁紧机构，锁紧机构锁紧后防止所述下盘与所述底座之间发生相对运动。

进一步的，所述固定部上设置有瞄准镜，且所述瞄准镜与所述待测试测距仪的测距方向平行。

进一步的，所述固定部上设置有标准测距仪，所述标准测距仪的测距方向与所述待测试测距仪的测距方向平行。

进一步的，所述靶标包括多个目标区域，任意两个目标区域的反射率不相同。

进一步的，所述固定部上设置有固定结构，所述固定结构用于防止所述待测试测距仪与所述固定部发生相对运动。

进一步的，所述固定部包括用于夹持所述待测试测距仪相对两侧边的第一夹持部和第二夹持部。

本是实用新型提供的测距仪测试系统，包括上述的测距仪自动测试装置。

本实用新型提供的测距仪自动测试装置，包括：固定部、靶标和比较模块。准备时，先将靶标放置在远离固定部的位置，将待测试的测距仪放置在固定部上，可以使待测试测距仪正对靶标。所述比较模块与所述待测试测距仪的控制端电连接，待测试测距仪对所述待测试测距仪到所述靶标之间的距离进行连续的多次测量后，比较模块获取该连续的多次测距的距离数据。因为比较模块获取的是完整的连续数据，所以根据这组数据更能完整的评价测距仪的精确性，不会出现漏记，错记的情况。

本是实用新型提供的测距仪测试系统，包括上述的测距仪自动测试装置。准备时，先将靶标放置在远离固定部的位置，将待测试的测距仪放置在固定部上，可以使待测试测距仪正对靶标。所述比较模块与所述待测试测距仪的控制端电连接，待测试测距仪对所述待测试测距仪到所述靶标之间的距离进行连续的多次测量后，比较模块获取该连续的多次测距的距离数据。因为比较模块获取的是完整的连续数据，所以根据这组数据更能完整的评价测距仪的精确性，不会出现漏记，错记的情况。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的测距仪自动测试装置的俯视图；

图2为本实用新型实施例提供的测距仪自动测试装置的固定部的主视图；

图3为本实用新型实施例提供的测距仪自动测试装置的一种固定结构主视方向的局部放大图；

图4为本实用新型实施例提供的测距仪自动测试装置的一种固定结构俯视方向的局部放大图；

图5为本实用新型实施例提供的测距仪自动测试装置的另一种固定结构俯视方向的局部放大图。

图标：100-靶标；200-固定部；210-上盘；211-固定结构；220-下盘；221-转臂；230-底座；300-比较模块；400-待测试测距仪；500-瞄准镜；600-标准测距仪；700-弹性层。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“内”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

本实用新型提供了一种测距仪自动测试装置，下面给出实施例对本实用新型提供的测距仪自动测试装置的结构进行详细描述。

如图1和2所示，本实用新型提供的测距仪自动测试装置，包括：固定部200、靶标100和比较模块300。准备时，先将靶标100放置在远离固定部200的位置，将待测试的测距仪放置在固定部200上，可以使待测试测距仪400正对靶标100。所述比较模块300与所述待测试测距仪400的控制端电连接，待测试测距仪400对所述待测试测距仪400到所述靶标100之间的距离进行连续的多次测量后，比较模块300获取该连续的多次测距的距离数据。因为比较模块300获取的是完整的连续数据，所以根据这组数据更能完整的评价测距仪的精确性，不会出现漏记，错记的情况。

本实用新型提供的测距仪自动测试装置还可以包括控制模块，所述控制模块可以用于控制待测试测距仪400连续进行测距。例如，可以使待测试测距仪400连续测距50次，这样比较模块300将会获取50个距离数据。

本实施例以待测试测距仪400为激光测距仪为例进行说明，但并不限于激光测距仪，其他测距仪也可以使用本实用新型提供的测距仪自动测试装置进行检测。

需要说明的是，目前，激光测距仪的常规测试方法(参考GJB 2241-1994《脉冲激光测距仪性能试验方法》)为：采用人工检测的方式对目标进行多次测距，每得到一个距离数据后，操作人员都要进行数据记录，然后再完成下一次测量，首选，这种方法的效率非常的低，单次测试需要花费的时间较多；其次，人为测试记录数据可能会出现异常数据被忽略的现象，比如，操作人员进行了一次测距，但是得到的数据为零，操作人员可能会以为自己没有进行测距操作，而忽略这次测距，重新进行了下一次操作，但实际上，这次数据为零的结果是来自测距仪本身存在的问题，这样就无法真实的反映出测距仪本身的性能好坏。也就是说，在多次测量的过程中，类似于这样明显超过实际值的数据或者测量数据为零的数据可能会被人为的忽略掉，直接影响统计待测试测距仪400的精确性。而通过分析处理完整的连续的数据，还可以反映出待测试测距仪400的超差率和漏测率，这些数据都有助于从多方面评价待测试测距仪400的准确性。

优选地，所述固定部200包括横向转动组件。靶标100与固定部200具有一定的距离，每次进行测试前，都需要对这两个部分进行调试，从而可以使位于固定部200的待测试测距仪400对准远处的靶标100，得到距离数据，不需要操作者手持了。所以，固定部200设置有横向转动组件，通过调整横向转动组件，让待测试测距仪400可以横向转动，进而调整测距的方向。

具体的，所述横向转动组件可以包括沿竖向设置的上盘210和下盘220，所述上盘210的上表面用于放置所述待测试测距仪400。所述上盘210的下表面上可以设置有转轴，所述下盘220的上表面可以设置有与所述转轴对应的插孔，使用前，将上盘210的转轴放置在下盘220的上插孔内，且上盘210的下表面可以与下盘220的上表面贴合，达到上盘210与下盘220转动连接在一起的目的，通过转动上盘210，可以达到调节待测试测距仪400横向测距角度的效果。

上盘210与下盘220之间可以通过上述的插接的方式实现二者的转动连接，这样还可以方便对上盘210进行更换。因为现有的测距仪的种类有很多，且它们的结构形状不太一样，为了可以适应多种的测距仪，本实用新型提供的测距仪自动测试装置的上盘210与下盘220为可拆卸的连接方式，且上盘210用来固定待测试测距仪400的固定结构211也可以根据待测试测距仪400的实际结构设计为多种形式，例如夹持方式，螺丝固定方式，卡接等多种形式，这样就可以适应多种的测量需求。

为了更加方便的对待测试测距仪400的发射角度进行调节，本实用新型除了设置有横向转动组件，来调整待测试测距仪400的横向测距角度，还需要对竖向测距角度进行调节。

进一步的，所述固定部200包括底座230，底座230起到支撑的作用，下盘220侧面对称设置有两个转臂221，且所述两个转臂221的连线过所述下盘220的直径。底座230可以包括两个竖向设置的支撑臂，所述两个转臂221分别与所述底座230的两个支撑臂套接，可以使所述下盘220与所述底座230转动连接，其中一个转臂221可以穿过所述支撑臂，用来方便使用者对下盘220的俯仰角度进行调节。至少一个所述转臂221与支撑臂设置有锁紧机构，锁紧机构锁紧后防止所述下盘220与所述底座230之间发生相对运动。

优选地，所述固定部200上可以设置有瞄准镜500，且所述瞄准镜500与所述待测试测距仪400的测距方向平行。以待测试测距仪400为激光测距仪为例，在待测试测距仪400旁边设置有瞄准镜500，是为了前期安装时更快捷的使待测试测距仪400对准靶标100，因为对于测距范围较大的待测试测距仪400来说，靶标100与固定部200之间的距离较大，待测试测距仪400测距角度出现小角度的偏差，都会导致待测试测距仪400发射的激光无法打在靶标100上，所以可以先通过瞄准镜500准确的找到靶标100，因为瞄准镜500与所述待测试测距仪400的光轴平行，且二者相距较近，这样就可以确定待测试测距仪400也是对准靶标100的，这样可以达到快速较准的效果。

进一步的，所述固定部200上设置有标准测距仪600，所述标准测距仪600的测距角度与所述待测试测距仪400的测距角度平行。，如果待测试测距仪400和标准测距仪600都是激光测距仪的话，那么待测试测距仪400的光轴和标准测距仪600光轴平行。通过比较模块300获取的待测试测距仪400进行连续的多次测距，可以从这组数据中获得它们之间的差异，从而判断待测试测距仪400一致性的优劣，一致性指的是同一个待测试测距仪400对同一个靶标100进行多次测量后所得的数据相同。但是评价一个测距仪性能的指标还有许多，例如即使测量的这组距离数据的一致性很好，但是却都和实际距离相差很大的话，待测试测距仪400的质量也是不过关的，所以需要在待测试测距仪400旁边架设一台标准的测距仪，标准的测距仪是需要经过多测的反复测试才可以得到的，利用标准的测距仪可以得到一个最接近实际距离的数值，从而可以对比待测试测距仪400得出的多个距离数据与上述数值之间的差距。

所述靶标100可以包括多个目标区域，任意两个目标区域的反射率不相同。评价测距仪的一个重要指标就是，对于同一位置的不同反射率的目标，测距仪测定的数据是否具有一致性。分别测量并记录在两种不同反射率的目标下得到的距离信息，对比这两个距离信息的差值，可以得到该测距仪的一致性的优劣。例如，靶标100上目标区域的个数为两个，两个目标区域的反射率不相同，先将待测试测距仪400对准一边的目标区域进行多次的测量，然后稍微转动待测试测距仪400使待测试测距仪400对准另一边目标区域进行多次测量，从而可以得出，同一个待测试测距仪400对不同反射率目标进行测距，获取相应的信息。

如图3-5所示，优选地，所述固定部200上设置有固定结构211，所述固定结构211用于防止所述待测试测距仪400与所述固定部200发生相对运动。因为在将待测试测距仪400对准靶标100的过程中，需要对固定部200进行横向与竖向角度的调节，这就需要对待测试测距仪400进行固定，防止待测试测距仪400出现滑落的现象，对待测试测距仪400造成损坏。

具体的，所述固定部200可以包括用于夹持所述待测试测距仪400相对两侧边的第一夹持部和第二夹持部。第一夹持部和第二夹持部为相对设置的两个“L”形板，两个“L”形板下端通过弹簧伸缩连接，用力可以增大第一夹持部和第二夹持部之间的距离，将待测试测距仪400放在它们之间，利用第一夹持部和第二夹持部将待测试测距仪400固定。

优选地，所述第一夹持部和第二夹持部可以为，夹持在待测试测距仪400两侧的四个“L”型杆，两两一组沿待测试测距仪400长度方向设置，因为待测试测距仪400的形状大多不是长方体形的，侧壁会设置有一些按钮，所以，利用相对设置的“L”型杆对待测试测距仪400进行夹持，可以避免按到待测试测距仪400侧壁上的按钮。

所述第一夹持部和第二夹持部的内侧面设置有弹性层700，弹性层700可以为海绵或者橡胶，用于夹持过程中，第一夹持部和第二夹持部与待测试测距仪400距离紧密的贴合在一起，一方面可以增加摩擦力，另一方面，待测试测距仪400的侧壁可能还会出现异常结构，异常结构可以陷入弹性层700能，从而保证待测试测距仪400更好的被夹持。

所述固定结构211还可以为伸出上盘210的螺丝，且与待测试测距仪400上的螺孔对应。

本是实用新型提供的测距仪测试系统，包括上述的测距仪自动测试装置。准备时，先将靶标100放置在远离固定部200的位置，将待测试的测距仪放置在固定部200上，可以使待测试测距仪400正对靶标100。所述比较模块300与所述待测试测距仪400的控制端电连接，待测试测距仪400对所述待测试测距仪400到所述靶标100之间的距离进行连续的多次测量后，比较模块300获取该连续的多次测距的距离数据。因为比较模块300获取的是完整的连续数据，所以根据这组数据更能完整的评价测距仪的精确性，不会出现漏记，错记的情况。

本是实用新型提供的测距仪测试系统，还可以包括电脑和控制器，比较模块300和控制模块可以放置于控制器内，控制器发出指令使待测试测距仪400进行多次测距，然后再获取这些连续的多个距离数据，最后可以将数据保存与电脑之中。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。