本发明涉及激光测距器。
背景技术：
已经提出了用于运行测距设备的方法。
长久以来，测距设备以及尤其是光学测距设备本身和用于运行这种测距设备的方法就是公知的。这些设备发出经调制的测量光束、例如光束或激光光束，所述经调制的测量光束对准所希望的测量对象，所述测量对象距测距设备的距离可以被确定。由被测定方位的测量对象反射的或者散射的、返回的测量信号由测距设备至少部分地重新探测到并且被用于确定所搜寻的距离。
这样的测距设备的应用范围通常包括在少量几个毫米直至几百米的范围内的距离。根据所选择的测量对象的所要测量的运行路程、周围环境条件以及反射线能力，得到对这种测距设备的功率能力的不同要求。这样的测距设备在这期间以紧凑的实施方案在商业上被销售并且允许操作者简单地、手握式地运行。
这样，从DE 102 32 878 A1中已经公知一种用于运行测距设备、尤其是手握式激光测距设备的方法，其中在至少一个方法步骤中，尤其是借助于测距设备的传感器单元来检测至少一个测量精度影响特征参量，其中在至少一个方法步骤中，根据测量精度影响特征参量，尤其是借助于测距设备的计算单元来确定能达到的测量精度等级。能达到的测量精度或测量精度等级可以被输出给操作者。
技术实现要素：
本发明的出发点是一种用于运行测距设备、尤其是手握式激光测距设备的方法，其中在至少一个方法步骤中，尤其是借助于测距设备的传感器单元来检测至少一个测量精度影响特征参量，其中在至少一个方法步骤中，根据测量精度影响特征参量，尤其是借助于测距设备的计算单元来确定能达到的测量精度等级。
提出：在至少一个方法步骤中，根据至少一个被检测到的测量精度影响特征参量和/或能达到的测量精度等级，尤其是借助于测距设备的输出单元来输出至少一个操作指令。在此，“测量精度影响特征参量”尤其是应该被理解为如下被检测到的特征参量，所述特征参量对测量精度有影响。在此，测量精度影响特征参量优选地被构造为所检测到的摄像机图像中的亮度、所检测到的摄像机图像中的对比度、所检测到的摄像机图像中的外来光、所检测到的摄像机图像的直方图（亮度分布/颜色分布）、抖动、所检测到的摄像机图像的系列中的移动或变化、由测距设备测量到的移动、由惯性传感装置测量到的移动、由转速传感器测量到的移动、距离测量值的变化、距离测量值，或者被构造为测距设备的探测器的噪声/SNR。在该上下文中，“传感器单元”尤其是应该被理解为如下单元，所述单元被设置为记录至少一个特征参量和/或物理特性，其中所述记录可以主动进行，如尤其是通过产生和发出电测量信号来主动进行，和/或可以被动进行，如尤其是通过检测传感器构件的特性变化来被动进行。可设想的是不同的、对于本领域技术人员显得有意义的传感器单元。在此，传感器单元尤其应该被理解为摄像机、惯性传感装置或者测距芯片（例如APD）。在此，“测量精度等级”尤其是应该被理解为能达到的测量安全性的范围，所述测量安全性能够借助于单个测量或具有预先给定的测量时间和/或预先给定数目的测量点的测量系列来实现。在此，不同的测量安全性等级具有不同的范围，在所述范围内，测量是精确的，其中测量在此例如在分米范围（dm）内、在厘米范围（cm）内或者在毫米范围内（mm）内都可以是精确的。替代地或补充地，测量精度等级也可以以语言描述，诸如“粗略”、“中等”、“精细”来描述。在此，“操作指令”尤其是应该被理解为由测距设备输出给操作者的光学、声学和/或触觉信号。在此，操作指令尤其是作为如下信号来输出，所述信号给用户如下指令：该用户要如何操作测距设备。在此，操作指令尤其是构造为如下指令，该指令告知操作者：该操作者要如何使用测距，以便达到确定的测量精度等级和/或该操作者在对测距设备的当前的操作的情况下达到了哪个测量精度等级，以及该操作者要做什么来达到另一测量精度等级。在此，操作指令尤其可以将如下建议发给操作者：例如该操作者应该将测量设备更平稳地握在手中或应该使用三脚架；该操作者应该改变照明情况并且为此例如更换位置；该操作者应该使用辅助工具、如尤其是遮暗装置；该操作者应该使用反射器来提高所接收到的信号强度；该操作者应该降低距测量对象的距离，以便提高所接收到的信号强度；和/或该操作者应该进行最小数目的测量和/或最小测量时长，以便达到一定的测量精度等级。“计算单元”尤其是应该被理解为具有信息输入、信息处理和信息输出的单元。有利地，计算单元至少具有处理器、存储器、输入和输出装置、其它电构件、运行程序、调节例程、控制例程和/或计算例程。优选地，计算单元的构件布置在共同的印刷电路板上和/或有利地布置在共同的壳体中。由此，为了实现精确的测量结果，测距设备的操作者可以被引导，由此尤其是可以实现对测距设备的简单的操作。
此外提出：在至少一个方法步骤中，至少一个被构造为外来光的测量精度影响特征参量借助于被构造为光学摄像机单元的传感器单元、尤其是借助于测距设备的被构造为光学摄像机单元的传感器单元来检测。在此，“外来光部分”尤其应该被理解为在由光学摄像机单元拍摄的图像中的颜色，所述颜色与激光器的激光波长相同/类似（激光波长的光的未经调制的部分），所述激光器被设置用于进行测距。在此，“被构造为摄像机单元的传感器单元”尤其是应该被理解为如下光学传感器，所述光学传感器可以构造为测距器的部分或者构造为单独的光学传感器。由此，外来光部分可以在确定操作指令时有利地被考虑，由此优选地可以实现改善的测量并且特别有利地，为了实现精确的测量结果可以引导测距设备的操作者。
此外提出：在至少一个方法步骤中，至少一个被构造为对比度的测量精度影响特征参量借助于被构造为光学摄像机单元的传感器单元、尤其是借助于测距设备的被构造为光学摄像机单元的传感器单元来检测。在此，“对比度”尤其是应该被理解为摄像机图像的对比度，其中低的对比度例如与短的曝光时长相关联地允许反推出在测距期间的光线比例，由此可以在测距时确定光线比例。由此，在确定操作指令时可以考虑对比度，所述操作指令尤其是与测距的周围环境中的光线比例适配，并且特别有利地，为了实现精确的测量结果可以引导测距设备的操作者。
此外提出：在至少一个方法步骤中，至少一个被构造为亮度的测量精度影响特征参量借助于被构造为光学摄像机单元的传感器单元、尤其是借助于测距设备的被构造为光学摄像机单元的传感器单元来检测。在此，“亮度”尤其是应该被理解为周围环境光与激光器的用于测距的光相比的强度。在此，所确定的亮度尤其是被置于激光的强度的一个比例，因为激光从一定的亮度起可以更明亮（探测器或诸如此类的饱和）。由此，在确定操作指令时可以考虑亮度，并且特别有利地，为了实现精确的测量结果可以引导测距设备的操作者。
此外提出：在至少一个方法步骤中，至少一个被构造为图像直方图的测量精度影响特征参量借助于被构造为光学摄像机单元的传感器单元、尤其是借助于测距设备的被构造为光学摄像机单元的传感器单元来检测。在此，“图像直方图”尤其是应该被理解为在由光学传感器检测到的图像中的亮度值或色值的分布。尤其是，通过使用摄像机图像的详细信息，对图像直方图的分析允许更准确地确定能达到的测量精度等级。由此，在确定操作指令时可以考虑图像直方图，可以特别有利地准确地确定能达到的测量精度等级，并且特别有利地，为了实现精确的测量结果可以引导测距设备的操作者。
此外提出：在至少一个方法步骤中，至少一个被构造为移动特征参量的测量精度影响特征参量借助于被构造为光学摄像机单元的传感器单元、尤其是借助于测距设备的被构造为光学摄像机单元的传感器单元来检测。在此，“移动特征参量”尤其是应该被理解为如下特征参量，所述特征参量描述了测距设备相对于其周围环境的移动。在此，移动特征参量优选地能通过不同的方法借助于光学摄像机单元来检测，尤其是通过在两个不同的被拍摄的图像之间的光学区别来检测，其中例如图像的特征、如尤其是图像中的棱边、图案或者结构的像素移动和/或位置变化的数值被检测。在此，可以确定两个连续的图像中的区别或者在两个或更多个以一定时间间隔拍摄的图像中的区别。原则上，同样可设想的是，借助于对其它光学区别的检测来确定移动特征参量。替代地或附加地，通过测距设备相对测量对象的表征性的相对移动、例如通过相对于测量对象的平移移动可以确定移动特征参量。由此，有利地，在确定操作指令时可以考虑测距设备和/或测量对象的移动，并且特别有利地，为了实现精确的测量结果可以引导测距设备的操作者。
此外提出：在至少一个方法步骤中，至少一个被构造为移动特征参量的测量精度影响特征参量借助于测距设备的被构造为惯性传感器单元的传感器单元来检测。在此，“借助于被构造为惯性传感器单元的传感器单元来确定的移动特征参量”尤其是应该被理解为速度和/或加速度、尤其是测距设备的速度和/或加速度。在此，移动特征参量尤其是表征测距设备相对于测量对象的相对移动、尤其是在测距设备相对于测量对象移动和/或倾斜/旋转时的速度/加速度。在此，借助于被构造为惯性传感器单元的传感器单元来确定的移动特征参量可以是测距设备沿测量方向和/或横向于测量方向的移动。由此，有利地，在确定操作指令时可以考虑测距设备的移动，并且因此尤其是特别有利地，为了实现精确的测量结果可以引导测距设备的操作者。
此外提出一种测距设备、尤其是一种手握式激光测距设备，所述测距设备尤其是能按照上述方法来运行，所述测距设备具有至少一个传感器单元，所述传感器单元被设置用于检测至少一个测量精度影响特征参量；具有至少一个计算单元，所述计算单元被设置为处理所述至少一个测量精度影响特征参量；并且具有至少一个光学、声学和/或触觉输出单元，其中根据至少一个被检测到的测量精度影响特征参量，借助于所述输出单元能输出至少一个操作指令。由此，有利地，可以提供一种用于执行该方法的测距设备，所述测距设备是操作特别方便的。
此外提出：测距设备具有至少一个被构造为光学摄像机单元的传感器单元，所述光学摄像机单元被设置为检测至少一个被构造为外来光、对比度、亮度、图像直方图和/或移动特征参量的测量精度影响特征参量。由此，可以提供如下测距设备，所述测距设备有利地可以识别至少一个测量精度影响特征参量并且向操作者输出相对应的操作指令，以便为了特别精确的测量结果而引导操作者。
此外提出：测距设备具有至少一个被构造为惯性传感器单元的传感器单元，所述惯性传感器单元被设置为检测至少一个被构造为移动特征参量、尤其是被构造为速度和/或加速度的测量精度影响特征参量。由此，可以提供如下测距设备，所述测距设备可以有利地识别至少一个其它的测量精度影响特征参量并且向操作者输出相对应的操作指令，以便为了特别精确的测量结果而引导操作者。
在这种情况下，按照本发明的测距设备和/或按照本发明的方法不应该限于上述应用和实施方式。尤其是，为了满足本文中描述的工作原理，按照本发明的测距设备和/或按照本发明的方法可具有与各个元件、构件和单元以及方法步骤的本文中所提到的数目不同的数目。此外，测距设备的所公开的特征也能以类似的方式针对该方法来解读。此外，在该公开内容中说明的值范围的情况下，在所提到的极限值之内的值也应该被视为公开的并且被视为能任意地使用。
附图说明
其它优点从如下附图说明中得到。在附图中示出了本发明的一个实施例。附图、说明书和权利要求书包含大量组合的特征。本领域技术人员适宜地也将单个地考虑这些特征并且将这些特征组合成有意义的其它组合。
其中：
图1示出了按照本发明的测距设备的示意图，所述测距设备被设置用于借助于按照本发明的方法来运行，并且
图2示出了按照本发明的具有不同的方法步骤的方法的示意性示出的流程图。
具体实施方式
图1示出了按照本发明的测距设备10的示意图。测距设备10被设置用于执行按照本发明的方法。在此，在图1中描绘了最重要的部件，用来描述测距设备10的原理性构造。测距设备10被设置用于确定测距设备10与测量对象78之间的距离。在此，测距设备10被构造为激光测距设备12。测距设备10尤其是被构造为手握式激光测距设备12。优选地，操作者可以将测距设备10握在手中并且确定距远离地布置的测量对象78的距离。
测距设备10具有发射单元14。发射单元14被设置用于产生测量信号。借助于测量信号，将测距设备10设置用于确定距测量对象78的距离。发射单元14包括激光二极管16。在此，激光二极管16被构造为半导体激光二极管。激光二极管16被设置为发出激光光束。在此，激光二极管16发出的激光光束以对于人眼来说能看到的激光束的形式来构造。发射单元14具有光束成形元件22，所述光束成形元件变换由激光二极管16发出的激光光束。光束成形元件22被构造为柱面透镜24。光束成形元件22被设置用于改善激光束的光束轮廓。这种光束成形元件22也可以是激光二极管16的整体的组成部分。发射单元14具有光学元件26。光学元件26被构造为透镜28。光学元件26形成准直物镜，所述准直物镜从激光二极管16的激光光束中产生基本上平行的发射光束80。原则上也可设想的是，光束成形元件22以另一方式来构造或者发射单元14具有其它光束成形元件22。发射光束80朝所要测定的测量对象78的方向对准。测距设备10包光学窗86，通过所述光学窗，发射光束80可以从测距设备10的内部逸出到周围环境中。光学窗86布置在测距设备10的前端。在此，发射单元14基本上布置在光学窗86后面。
测距设备10具有接收单元18。接收单元18被设置为探测由发射单元14发出的测量信号。由发射单元14发出的测量信号、尤其是以发射光束80的形式的测量信号在其由测量对象78反射和/或散射之后作为返回测量信号由接收单元18探测。测距设备10具有另一光学窗90。通过光学窗90，从测量对象78返回的接收光束82可以进入到测距设备10中。接收单元18布置在另一光学窗90后面。接收单元18具有光学元件30，通过所述光学元件来引导接收光束82。光学元件30被构造为透镜32。光学元件30使接收光束82集束。接收单元18具有传感器单元20。传感器单元20构造为光电二极管。接收光束82借助于接收单元18的光学元件30被集束到被构造为光电二极管的传感器单元20的测量表面上。由此，可以借助于传感器单元20来检测返回的接收光束82。传感器单元20将返回的接收光束82转换成电传感器信号。
测距设备10具有计算单元58。计算单元58被构造为控制和计算单元。计算单元58被设置用于控制和调节测距设备10。计算单元58被设置为控制发射单元14。尤其是，计算单元58被设置为激励并且运行激光二极管16。此外，计算单元58被设置为分析接收单元18的传感器单元20的电传感器信号。通过分析接收单元18的传感器单元20的电传感器信号，计算单元58确定距测量对象78的距离。
计算单元58包括未进一步示出的电路装置，所述电路装置尤其至少也具有石英振荡器，用于提供所需的频率信号。借助于这些信号（在测距期间使用这些信号中的典型多个具有不同频率的信号），以公知的方式来调制测量信号。这种电路装置的原理性构造例如能从DE 198 11 550 A1中得知，并且因此这里应该明确地不予以重复。
为了在测距设备10与测量对象78之间的测距，测距设备10对准测量对象78，使得光学窗86、90对准测量对象78。计算单元58激励发射单元14的激光二极管16，所述激光二极管发出激光光束，所述激光光束通过光束成形元件22和光学元件26被转换成平行的发射光束80。发射光束80形成测距设备10的测量光束。发射光束80经过光学窗86朝测量对象78的方向对准，并且由测量对象78根据测量对象78的特质部分地被反射和/或部分地被散射。被反射和/或被散射的发射光束80形成返回到测距设备10的接收光束82。返回的接收光束82经过光学窗90重新进入到测距设备10中，并且通过光学元件30集束到传感器单元20上。被构造为光电二极管的传感器单元20将被集束到所述传感器单元上的接收光束82转换成电传感器信号，所述电传感器信号由计算单元58来处理。计算单元58根据由返回的接收光束82触发的传感器信号来确定测距设备10与测量对象78之间的距离。在此，计算单元58尤其是根据与所发出的发射光束80相比印在返回的接收光束82上的相位差来确定测距设备10与测量对象78之间的距离。在此，对距离的确定对应于从现有技术、例如DE 102 32 878 A1公知的方法，并且因此这里应该不进一步地描述。在此，不同的环境和/或应用影响对测距的精度有影响。在此，尤其是，测距设备10的相对移动以及不同的光学影响、如亮度、对比度和/或外来光84，和/或测量距离都对借助于测距设备10的测距的精度有影响。计算单元58被设置为检测并且分析对测距的精度有影响的测量精度影响特征参量。
测距设备10具有传感器单元34。传感器单元34被设置用于检测至少一个测量精度影响特征参量。传感器单元34被构造为光学传感器单元。传感器单元34被构造为光学摄像机单元36。在此可设想的是，被构造为光学摄像机单元36的传感器单元34为了借助于测距设备10的测距而存在，或者被构造为光学摄像机单元36的传感器单元34作为附加的传感器集成到测距设备10中，所述附加的传感器仅仅被设置用于检测测量精度影响特征参量。被构造为光学摄像机单元36的传感器单元34尤其是被设置为检测测距设备的周围环境的图像。传感器单元34与计算单元58通过相应的导线来耦合，使得由传感器单元34检测到的图像可以存储在计算单元58上并且予以分析。传感器单元34包括探测元件42。探测元件42构造为光电子传感器44。传感器单元34包括光学元件38。光学元件38被构造为透镜40，所述透镜使射入的光集束到传感器单元34的探测元件42上。测距设备10具有另一光学窗88。所述另一光学窗88布置在测距设备10的与其它两个光学窗86、90相同的一侧上。传感器单元34布置在所述另一光学窗88后面。光可以经过光学窗88射入到测距设备10的内部，其中传感器单元34可以通过光学元件38和探测元件42来检测周围环境的图像。被构造为光学摄像机单元36的传感器单元34被设置为检测至少一个被构造为外来光84、对比度、亮度、图像直方图和/或被构造为移动特征参量的测量精度影响特征参量。
测距设备10具有传感器单元46。传感器单元46被构造为惯性传感器单元48。传感器单元46被设置为检测测距设备10的移动。传感器单元46被设置用于进行移动探测。传感器单元46具有第一惯性传感器元件50。第一惯性传感器元件50构造为加速度传感器52。加速度传感器52被设置为检测测距设备10的加速度。在此，加速度传感器52具有三个分别彼此垂直的平移传感器，使得加速度传感器52可以检测沿全部三个空间轴的移动。被构造为惯性传感器单元48的传感器单元46具有第二惯性传感器元件54。第二惯性传感器元件54被构造为转速传感器56。转速传感器56被设置为检测测距设备10绕着三个彼此垂直的空间轴的旋转速度。为此，转速传感器56具有三个彼此垂直的陀螺式传感器元件。原则上也可设想的是，传感器单元46具有其它惯性传感器元件50、54。构造为惯性传感器单元48的传感器单元46被设置为检测至少一个被构造为移动特征参量、尤其是被构造为速度和/或加速度的测量精度影响特征参量。传感器单元46通过导线与计算单元58耦合，并且这样将所检测到的移动特征参量转交给计算单元58，所述计算单元58接着对该移动特征参量进行处理。
计算单元58被设置为分析由传感器单元20、34、46传送的测量精度影响特征参量。在此，计算单元58被设置为分析传感器单元20的作为测量精度影响特征参量的传感器信号。计算单元58被设置为分析由被构造为光学摄像机单元36的传感器单元34传送给计算单元58的图像并且从中推导出测量精度影响特征参量。计算单元58分析由传感器单元34检测到的图像的作为测量精度影响特征参量的外来光84、对比度、亮度、图像直方图。此外，计算单元58分析作为测量精度影响特征参量的移动特征参量，计算单元58通过比较由传感器单元34检测到的两个不同的图像来确定所述移动特征参量。计算单元58被设置为分析作为测量精度影响特征参量的由被构造为惯性传感器单元48的传感器单元46发出的移动特征参量。
测距设备10具有不同的测量精度等级。在测距设备10的不同的测量精度等级中，由测距设备10测量的距测量对象78的距离与距测量对象78的实际距离的偏差不一样大。测量精度等级存储在计算单元58中。在此，不同的测量精度等级分别构造如下偏差，借助于测距设备10的测距具有所述偏差。在第一测量精度等级下，所测量到的距离具有与实际距离正/负一毫米的偏差。在第二测量精度等级下，所测量到的距离具有与实际距离正/负一厘米的偏差。在第三测量精度等级下，所测量到的距离具有与实际距离正/负一分米的偏差。原则上也可设想的是，在计算单元58上存储有其它测量精度等级，所述其它测量精度等级具有其它偏差，所述其它偏差在上面提到的测量精度等级的偏差之间或大于或小于所说明的测量精度等级的偏差。
测距设备10具有输出单元60。输出单元60被设置为通过所述输出单元可以将信息和指令输出给操作者。输出单元60被预先规定用于光学、声学和/或触觉地输出信息和指令。输出单元60由计算单元58来激励。通过输出单元60，计算单元58可以将可视信息输出给操作者。输出单元60具有显示元件62。显示元件62被设置为向操作者输出光学信号。显示元件62构造为显示器64。原则上也可设想的是，显示元件62被构造为单个的LED或者一排LED，所述LED可以将可视信号输出给操作者。在运行时，输出单元60尤其是被设置为将测距的结果以可视的方式输出给操作者。输出单元60具有声学输出元件66。声学输出元件66构造为扬声器68。声学输出元件66被设置为将声学信号输出给操作者。在此，例如可设想的是，通过声学输出元件66来进行语音输出并且例如以声学的方式将测距的结果输出给操作者。也可设想的是，如果测距结束，那么通过声学输出元件66例如输出声学信号。输出单元60具有触觉输出元件70。触觉输出元件70构造为振动元件72。原则上也可设想的是，触觉输出元件70被构造为对于本领域技术人员显得有意义的另一输出元件。通过触觉输出元件70，可以将触觉信号输出给操作者。因此，例如可设想的是，触觉输出元件70通过振动来表明测距成功。
测距设备10具有操作单元74。操作单元74被设置为：操作者可以在测距设备10上进行不同的设定。操作单元74通过相应的导线与计算单元58耦合。由此，操作者可以通过操作单元74来操作计算单元58或测距设备10。这样，操作者可以通过操作单元74例如选择借助于输出单元60对测量结果的显示的方式，或者接通或关断测距设备10。通过操作单元74，操作者可以设定所希望的测量精度等级，该操作者想以所述测量精度等级来进行测距。为此，操作单元74具有多个操作元件76。在此，操作元件76可以被构造为按钮、旋钮、按键、触敏表面或者对于本领域技术人员显得有意义的其它操作元件76。在此，可以给不同的测量精度等级赋值，诸如“mm”、“cm”或“dm”，并且所述值根据操作者的选择通过输出单元60来输出。原则上也可设想的是，不同的测量精度等级分配有描述，如“精细”、“中等”、“粗略”，所述描述同样可以通过输出单元60来输出。
计算单元58被设置为处理由传感器单元20、34、46传送给计算单元58的测量精度影响特征参量。根据经处理的测量精度影响特征参量，计算单元58确定所测量到的距离与测量对象78距测距设备10的实际距离的大概的偏差。根据经处理的测量精度影响特征参量，计算单元58确定测距设备10在当前条件下可以以哪个测量精度等级来运行。计算单元58被设置为依据经处理的测量精度影响特征参量来确定操作指令。计算单元58被设置为：依据经处理的测量精度影响特征参量和所设定的测量精度等级来确定操作指令。在此，计算单元58确定给操作者的操作指令，借助于所述操作指令，操作者可以改善测距和/或可以达到所希望的测量精度等级。通过输出单元60，计算单元58将所确定的操作指令输出给操作者。
在下文，示意性地描述了按照本发明的用于运行上面列举的被构造为激光测距设备12的测距设备10的方法。在正常运行时，通过经由发射单元14发出的发射光束80并且通过由测量对象78反射和散射的由接收单元18来接收的接收光束82，由计算单元58确定测距设备10与测量对象78之间的距离。所测量到的距离由计算单元58通过输出单元60来输出。
在方法步骤92中，借助于传感器单元20确定测量精度影响特征参量。通过借助于其来执行测距设备10的测距的传感器单元20，确定所要测量的距离多大，并且该值作为测量精度影响特征参量由计算单元58来检测。尤其是传感器单元20的噪声（SNR）由计算单元58作为测量精度影响特征参量来检测。
在方法步骤98中，借助于传感器单元34来确定测量精度影响特征参量。在方法步骤98中，借助于被构造为光学摄像机单元36的传感器单元34来确定作为测量精度影响特征参量的在周围环境中存在的外来光84。在此，计算单元58分析由传感器单元34检测到的图像，并且在此确定存在的外来光84。尤其是，将与由激光二极管16发出的激光光束的激光波相同或类似的颜色作为测量精度影响特征参量来确定。
在方法步骤100中，借助于传感器单元34来确定测量精度影响特征参量。在方法步骤100中，借助于被构造为光学摄像机单元36的传感器单元34来确定被构造为对比度的测量精度影响特征参量。在此，计算单元58分析由传感器单元34检测到的图像并且在此确定对比度。通过作为测量精度影响特征参量来确定的对比度，计算单元58可以确定在测距的周围环境中的光线比例。
在方法步骤102中，借助于传感器单元34来确定测量精度影响特征参量。在方法步骤102中，借助于被构造为光学摄像机单元36的传感器单元34来确定被构造为亮度的测量精度影响特征参量。在此，计算单元58分析由传感器单元34检测到的图像，并且在此确定周围环境中的亮度。通过方法步骤102，计算单元58可以确定其中进行测距的周围环境光的强度作为测量精度影响特征参量，并且将其设置成与激光二极管6的用于测距的激光光束的强度的一个比例，并且这样尤其是可以确定测量信号相对于“周围环境噪声”的比例以及发射光束80的可能的“更明亮”。
在方法步骤104中，借助于传感器单元34来确定测量精度影响特征参量。在方法步骤104中，借助于被构造为光学摄像机单元36的传感器单元34来确定被构造为图像直方图的测量精度影响特征参量。在此，计算单元58分析由传感器单元34检测到的图像，并且在此确定图像中的亮度值或色值的分布。由此，计算单元58可以使用传感器单元34的所检测到的图像的足够详细的信息，以便实现对能达到的测量精度等级的准确的确定。
在方法步骤106中，借助于传感器单元34来确定测量精度影响特征参量。在方法步骤106中，借助于被构造为光学摄像机单元36的传感器单元34和计算单元58来确定被构造为移动特征参量的测量精度影响特征参量。在此，计算单元58分析多个由传感器单元34检测到的图像。在此，可以涉及直接一个接一个地被检测的图像或者涉及彼此以一定间隔被拍摄的图像。在此，计算单元58通过比较至少两个图像依据图像中的变化来确定测距设备10的移动。在此，计算单元58例如使用至少两个被分析的图像中的特征（诸如棱边、结构或图案）的像素移动或位置变化来确定移动特征参量。移动特征参量描绘了测距设备10的移动。由此，计算单元58可以确定测距设备10相对于测量对象78的移动，并且作为测量精度影响特征参量来检测测距设备10相对于测量对象78的移动。
在方法步骤108中，借助于传感器单元46来确定测量精度影响特征参量。在方法步骤108中，借助于被构造为惯性传感器单元48的传感器单元46来确定被构造为移动特征参量的测量精度影响特征参量。在此，计算单元58通过惯性传感器元件50、54的传感器信号来确定测距设备10的移动。由此，计算单元58可以确定测距设备10相对于测量对象78的移动或者测距设备10的模糊化，并且作为测量精度影响特征参量来检测测距设备10相对于测量对象78的移动或者测距设备10的模糊化。
在方法步骤94中，计算单元58根据在方法步骤92、98、100、102、104、106、108中确定的测量精度影响特征参量来确定能达到的测量精度等级。在此，计算单元58根据所有提供的、在方法步骤92、98、100、102、104、106、108中确定的测量精度影响特征参量来确定能达到的测量精度等级。在此，原则上也可设想的是，在方法步骤92、98、100、102、104、106、108中确定的各个测量精度影响特征参量优选地被用于确定能达到的测量精度等级。能达到的测量精度或测量精度等级可以通过输出单元60来通知操作者。
在方法步骤96中，根据由计算单元58检测到的测量精度影响特征参量和所确定的能达到的测量精度等级来确定至少一个操作指令。原则上也可设想的是，仅仅基于由计算单元58检测到的测量精度影响特征参量或者所确定的能达到的测量精度等级来确定操作指令。在此，操作指令优选地也根据所设定的、所希望的测量精度等级来输出。如果一定的测量精度等级由操作者设定，并且根据测量精度影响特征参量确定的能达到的测量精度等级具有在测量结果中比所设定的测量精度等级更大的偏差，那么在方法步骤96中确定针对操作者的如下操作指令：该操作者可以如何达到所希望的测量精度等级。所确定的操作指令借助于输出单元60被输出给操作者。在该操作指令中被传送给操作者的是，当该操作者不能达到所希望的测量精度等级时和该操作者可以进行哪些操作，以便达到所希望的测量精度等级。如果操作者没有预先给定所希望的测量精度等级，那么确定如下操作指令，所述操作指令说明了当前能达到的测量精度等级是什么以及如何可以达到下一个更精确的测量精度等级。如果没有预先给定测量精度等级，那么也可以确定并且输出如下操作指令，所述操作指令向操作者提出该操作者可以如何改善测量条件的建议。在此，操作指令包括如下要求：通过改变周围环境，例如通过改变光线比例、通过改变对测距设备10的操作、例如通过更平稳地握住测距设备10，或者通过使用附加的设备、诸如通过使用反射器来改善测量条件。
根据所检测到的测量精度影响特征参量和从中确定的测量干扰和测量精度的原因，选择通过输出单元60来输出的操作指令。在此，不同的操作指令存储在计算单元58上。所存储的操作指令根据所检测到的测量精度影响特征参量来选择并且通过输出单元60来输出。在此，首先输出能够实现对测量结果的预计最大的改善的操作指令、即最具决定性地改善相应的测量精度影响特征参量的操作指令。操作指令根据其对测量结果的影响的优先级来输出。原则上也可设想的是，所确定的操作指令基本上同时通过输出单元60的显示器64来输出。通常可设想的是，操作指令纯可视地、纯声学地或者不仅声学地而且可视地通过输出单元60来输出给操作者。
存储在计算单元58上并且通过输出单元60来输出的操作指令例如可以从如下非封闭式的清单中得知：
· “请执行X个其它测量。”
· “请延长测量时间。”
· “请更缓慢地移动设备。”
· “请将三脚架用于测量。”
· “请改变测量对象的照明条件。”
· “请您使用反射器。”
· “请您减小距测量对象的距离。”
在此，这些操作指令可以分别包含附加信息，例如可以如何例如通过遮暗来改善照明条件。如果达到所希望的测量精度等级，那么输出单元60将相应的信号输出给操作者。在此，该信号尤其可以是通过触觉输出元件70来输出的触觉信号，诸如震动。