技术特征：
技术总结
本发明公开了一种像素级剪敏液晶标定与测量方法，包括：制作与待测件的形状和尺寸均相同的标定件，对标定件进行处理；标定件在预设范围内逐级加快的状态下，在预设标定速度范围内通过拟合运算获取Hue‑τ曲线，将Hue‑τ曲线定义为量级标定曲线；计算出每一个像素点在多个角度的色相Hue值，并针对每一个像素点对色相Hue值‑角度φ进行高斯曲线的拟合运算；将获取色相Hue值的最大值代入至量级标定曲线中，获取的τ值即为每一个像素点的剪切应力值；根据获取的每一个像素点的剪切应力值完成对标定件的全平面内所有像素点的标定与测量操作。该方法可以有效消除误差，提高测量精度。本发明还公开了一种像素级剪敏液晶标定与测量系统。
技术研发人员：陶智;郭文;由儒全;由浩亮;李海旺
受保护的技术使用者：北京航空航天大学
技术研发日：2017.12.28
技术公布日：2018.07.03