技术总结
本实用新型公开了一种扫描X射线小角散射微流控检测实验装置，包括沿着X光束输出方向依次设有X光源、样品台、二维光电探测器；所述样品台安装于运动控制平台上，所述二维光电探测器和运动控制平台分别与所述的计算机通讯连接。采用扫描X射线小角散射技术，结合数据处理和分析算法，实现样品不同部位的结构和取向分布信息的获取。本实用新型，通过对温度及流速的快速控制用于研究微流控在不同温度及流速条件下的微观结构变化，具有可获取大尺度范围内样品的高分辨率纳米尺度信息的特点，并解决了空气杂散光的影响，便于在微流控体系下进行样品的微结构表征。
技术研发人员：韩军;吴飞斌;张晨昕;龙晋桓;黄惠玲
受保护的技术使用者：泉州装备制造研究所
文档号码：201720239320
技术研发日：2017.03.13
技术公布日：2017.12.05