1.一种用于测量压力对绝缘材料电击穿强度影响的电极结构，其特征在于：该电极结构由两个平板电极(1)、上压板(2)、下压板(5)、上部聚脂薄膜(3)和下部聚脂薄膜(4)构成；
所述平板电极(1)由绝缘板(11)、半导电屏蔽体(12)、金属接线柱(13)构成；所述绝缘板(11)中心设置有贯通上下表面的圆柱孔，绝缘板(11)上还设置有贯通上下表面的条形缺口，条形缺口一端与圆柱孔连通，条形缺口另一端延伸至绝缘板(11)的侧边；金属接线柱(13)的一端设置于圆柱孔的中心，金属接线柱(13)的另一端穿过条形缺口探出至绝缘板(11)的侧边的外部形成接线端(14)；所述半导电屏蔽体(12)填充在圆柱孔和条形缺口内部；
所述上部聚脂薄膜(3)设置于上压板(2)下表面，两个平板电极(1)中其中一个平板电极(1)设置于上部聚脂薄膜(3)下表面；下部聚脂薄膜(4)设置于下压板(8)上表面，两个平板电极(1)中另一个平板电极(1)设置于下部聚脂薄膜(4)上表面；
所述两个平板电极(1)的接线端(14)反向设置。
2.根据权利要求1所述的用于测量压力对绝缘材料电击穿强度影响的电极结构，其特征在于：所述半导电屏蔽体(12)的电阻率为0.1Ω·m。
3.根据权利要求1所述的用于测量压力对绝缘材料电击穿强度影响的电极结构，其特征在于：所述金属接线柱(13)用于连接高电位或地电位。
4.根据权利要求1所述的用于测量压力对绝缘材料电击穿强度影响的电极结构，其特征在于：所述绝缘板(11)的尺寸为10cm×10cm×0.1cm。
5.根据权利要求1所述的用于测量压力对绝缘材料电击穿强度影响的电极结构，其特征在于：所述绝缘板(11)中心设置的贯通上下表面的圆柱孔的孔径为2cm。