一种用于托盘内多颗材料矩阵检测的光源的制作方法

本实用新型涉及一种检测用光源，尤其是一种用于托盘内多颗材料矩阵检测的光源。

背景技术：

目前的光源主要适用于检测都是1颗或2颗材料，如果需要检测多颗材料，现有的光源由于尺寸偏小就会出现材料表面亮度不均匀。

技术实现要素：

为解决上述问题，本实用新型提供一种光源照射面积大、照射两端均匀、适用矩阵排列的物品的检测的一种用于托盘内多颗材料矩阵检测的光源，具体技术方案为：

一种用于托盘内多颗材料矩阵检测的光源，包括依次安装的同轴光源和环形光源，所述环形光源内部的LED灯均倾斜安装。

优选的，所述环形光源内部的LED灯为贴片式LED灯，贴片式LED灯与环形光源底面的夹角为60-80°。

优选的，所述贴片式LED灯与环形光源底面的夹角为66.5°。

优选的，所述同轴光源的面光源与分光镜之间装有漫射板。

优选的，所述同轴光源的一端装有挡灰玻璃。

同轴光源用于检测被测元器件的表面特征，比如破损、气孔等。

同轴光源的分光镜将面光源发出的光线折射到被测元器件的表面，照射到被测元器件表面的光线再反射回来通过分光镜反射到相机。

漫射板保证面光源发出的光线均匀照射在被测元器件上。

环形光源用于检测待测元器件表面的印字，环形光源的LED灯倾斜安装能提高待测元器件表面的印字与背景的对比度。

挡灰玻璃防止同轴光源积灰影响检测效果。

使用中，相机安装在同轴光源上方，同轴光源下方是环形光源，环形光源位于检测平台上方，检测平台上装有料盘，料盘上均布有多个待测元器件；同轴光源用于检测待测元器件的表面特征；环形光源照射待测元器件的表面，方便相机检测待测元器件表面的印字。

与现有技术相比本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型提供的一种用于托盘内多颗材料矩阵检测的光源照射面积大、照射两端均匀、适用矩阵排列的物品的检测。

说明书附图

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是环形光源的局部放大示意图。

具体实施方式

现结合附图对本实用新型作进一步说明。

如图1和图2所示，一种用于托盘内多颗材料矩阵检测的光源，包括依次安装的同轴光源11和环形光源21。

环形光源21内部的LED灯22为贴片式LED灯，贴片式LED灯与环形光源21底面的夹角A为66.5°。

同轴光源11的面光源12与分光镜13之间装有漫射板14。

同轴光源11的一端装有挡灰玻璃3。

使用中，相机安装在同轴光源11上方，同轴光源11下方是环形光源21，环形光源21位于检测平台上方，检测平台上装有料盘31，料盘31上均布有多个待测元器件32；同轴光源11用于检测待测元器件32的表面特征；环形光源21照射待测元器件32的表面，方便相机检测待测元器件32表面的印字。