一种阻值测试探针组件和阻值测试机构的制作方法

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一种阻值测试探针组件和阻值测试机构的制作方法

本实用新型涉及测试机构领域,更具体地,本实用新型涉及一种阻值测试探针组件和阻值测试机构。



背景技术:

在现有技术中,电阻值测试广泛应用于电子产品、器件的性能检测。对于精密器件的电阻值测试,往往需要采用四线制测试方式对元件电阻值进行检测。

四线制测试方式实现了精确测量,其电流供给回路与电压测定回路完全独立,能够有效降低排线阻抗、探针阻抗以及接触阻抗对测试的干扰。减小测量阻值与被测器件的真实阻值之间的误差。四线制测试方式可精确测定被测器件微小阻值,测定精度可达到mΩ级。

然而在实际生产中,一方面,由于被测产品的结构限制,有时在一个测试点无法同时放下多根探针,造成不便进行四线制阻值测试的情况。另一方面,传统四线制测试所用的探针过细,示意操作时存在探针易折断、需频繁更换的缺陷。

因此,有必要对阻值检测的方法或设备进行改进,以克服上述缺陷。



技术实现要素:

本实用新型的一个目的是提供一种阻值测试探针组件。

根据本实用新型的一个方面,提供了一种阻值测试探针组件,第一探针、第二探针、绝缘层、绝缘套;

所述第一探针包括第一导电部和第一针头,所述第二探针包括第二导电部和第二针头,所述第一导电部与第二导电部的位置对应,所述第一针头与第二针头的位置对应;

所述绝缘层隔离设置于第一探针和第二探针之间;

所述绝缘套套设在所述第一探针和第二探针外围。

优选地,所述第一导电部上设置有第一接线孔,所述第二导电部上设置有第二接线孔。

优选地,所述第二导电部的高度高于第一导电部的高度,所述第二接线孔设置于第二导电部高于第一导电部的位置处。

优选地,所述第一针头和第二针头的长度相同,所述绝缘层在所述第一针头与第二针头之间形成凹陷区。

优选地,所述第一导电部与第一针头连接处形成有第一凸起部,所述第二导电部与第二针头连接处形成有第二凸起部,所述第一凸起部与第二凸起部位置对应。

优选地,所述第一探针、第二探针和绝缘层组合形成的探针组件呈圆柱形。

优选地,所述第一探针与第二探针为合金材料制成,合金材料硬度大于80HRA。

根据本实用新型的另一个方面,还提供了一种阻值测试机构,包括:

所述的阻值测试探针组件;

驱动机构,所述驱动机构为阻值测试探针组件移动提供驱动力;

缓冲机构,所述缓冲机构包括固定板、探针安装板和弹性组件;所述探针组件安装于所述探针安装板,所述探针安装板与所述固定板连接,所述固定板与所述驱动机构固定连接,所述弹性组件设置在固定板与探针安装板之间。

优选地,所述弹性组件包括连杆、弹簧;所述固定板与探针安装板通过所述连杆连接,所述弹簧套设于所述固定板与探针安装板之间的连杆上。

优选地,所述探针安装板上设置有用于安装探针组件的安装孔和用于紧固探针组件的螺纹孔,所述螺纹孔垂直于安装孔设置,所述螺纹孔的一端与安装孔连通;所述螺纹孔中配置有螺栓旋钮,所述螺栓旋钮被配置为对所述安装孔中的探针组件形成挤压紧固。

本实用新型的一个技术效果在于,测试弹针的整体紧凑程度提高,便于测试应用。

通过以下参照附图对本实用新型的示例性实施例的详细描述,本实用新型的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

构成说明书的一部分的附图描述了本实用新型的实施例,并且连同说明书一起用于解释本实用新型的原理。

图1是本实用新型的实施例提供的阻值测试探针组件的结构示意图;

图2是图1所示的阻值测试探针组件的侧视图;

图3是图1所示的阻值测试探针组件的俯视图;

图4是本实用新型的实施例提供的阻值测试机构的结构示意图。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本实用新型的各种示例性实施例。应注意到:除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本实用新型的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本实用新型及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中,任何具体值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。因此,示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

本实用新型提供了一种阻值测试探针组件,如图1-3所示,包括:第一探针11、第二探针12、绝缘层13和绝缘套14。所述第一探针11包括第一导电部111和第一针头112,所述第二探针12包括第二导电部121和第二针头122;所述第一导电部111与第二导电部121位置对应,所述第一针头112与第二针头122位置对应。所述绝缘层13设置于所述第一探针11与第二探针12之间,使第一探针11与第二探针12绝对绝缘,且绝缘层13边缘与第一探针11和第二探针12配合面边缘相近。所述第一探针11与第二探针12将绝缘层13夹在中间。所述绝缘套14套设在第一探针11与第二探针12的外围,使第一探针11、第二探针12和其之间夹的绝缘层13形成一紧固的探针组件1。

采用此技术方案的探针组件,将四线制阻值测试应用于一个测试点的两个探针合二为一,便于在狭小位置进行电阻测试。同时此方案的探针组件的因为采用双探针头形成一整体探针,整体探针的直径相对于原有独立弹针有所增大。这种结构设计增加了探针的结构强度,进而降低了探针在使用过程中折断的风险。同时,这种探针组件在组合和拆分时更为方便快捷,方便探针的使用和更换。

所述第一导电部111上设置有第一接线孔113,所述第一接线孔113位于第一导电部111上远离第一针头112的一端;所述第二导电部21上设置有第二接线孔123,所述第二接线孔123位于第二导电部121上远离第二针头122的一端。所述第一接线孔113与第二接线孔123孔内具有螺纹,导线一段设置有螺栓,通过螺纹连接方式与导电柱可拆卸地连接,方便探针组件的拆卸与各部件地更换。本领域技术人员还可以采用其他连接方式,例如焊接,这些连接方式的变换,都属于本申请的保护范围。

进一步地,所述第二导电部121相对于第一导电部111的高度较高,所述第二接线孔123位于第二导电部121高于第一导电部111的位置处。这样的设置可以使第一接线孔113与第二接线孔123的位置错开,避免第一接线孔113与第二接线孔123内的导线螺栓对绝缘层13相应的位置形成挤压,造成绝缘层13损坏,从而导致绝缘层13绝缘失效,影响测试结果的准确性和稳定性。而且,两根导线柱一高一低的设置,可以方便技术人员清楚分辨导线柱各自的作用,避免导线接错。

所述第一针头112和第二针头122的长度相同,保证进行测试动作时,两针头可同时触到被测试元件。所述第一针头112和第二针头122之间具有绝缘层13,绝缘层13在两根针头的针尖部位形成有一个凹陷区。针头在多次数工作后,不可避免的会产生磨损,凹陷区的设置可以保证针头始终可以正常工作,避免针头过短后绝缘层13对测试造成影响。

所述第一探针11与第二探针12为合金材料制成,合金材料的硬度要求大于80HRA,这样可以保证第一针头112和第二针头122工作时的磨损程度大大降低,延长第一探针11与第二探针12的寿命,减少维护成本。本实用新型并不限制第一探针和第二探针的材料硬度必须符合上述范围,在其它实施方式中,也可以适应实际应用的要求,选用其它硬度的材料制备探针。

本实用新型还提供了一种阻值测试机构,如图4所示,包括上述探针组件1、缓冲机构2和驱动机构3。所述缓冲机构2包括固定板21、探针安装板22、弹性组件23,所述探针组件1安装于所述探针安装板22上,所述探针安装板22与所述固定板21连接,所述固定板21与所述驱动机构3连接。所述驱动机构3驱动固定板21移动时,所述探针安装板22随着固定板21移动,所述探针组件1随着探针安装板22移动,从而将探针组件1移动到待测试位置,进行测试。所述驱动机构3可以为气缸、液压缸等机械器件,本实用新型不对此进行限制。

所述探针安装板22与固定板21为浮动连接,探针安装板22与固定板21之间设置有弹性组件23,所述弹性组件23包括连杆和弹簧,所述连接一端与固定板21固定连接,另一端与探针安装板22可滑动地连接,所述弹簧套设于连杆上。当探针安装板22带动探针组件1触碰到待测元件后,如果探针组件1还继续受到向待测元件移动的力,这时,探针组件1会给探针安装板22一个反作用力,因为弹性组件23的设置,探针安装板22会朝向相反的方向移动。避免因驱动机构导致探针组件1向下移动距离过大,使探针组件1与待测元件直接挤压力过大而损坏探针组件1或者损坏待测元件,同时也增加缓冲减小探针租金按1对待测元件的冲击,防止探针组件1对产品造成压伤,保证了阻值测试机构的稳定性,延长了探针组件的寿命,减少了探针组件与待测元件的磨损,降低了阻值测试机构维护成本。

所述探针安装板22上固定连接有两个探针组件1,探针安装板22上设置有用于安装探针组件1的安装孔和用于紧固探针组件1的螺纹孔,所述螺纹孔垂直于安装孔设置,也可以设置为基本上垂直,螺纹孔的一端与安装孔连通,所述螺纹孔中配置有螺栓旋钮。所述安装孔的大小大于探针组件1的导电部部位,小于探针组件1的突起部部位。安装时,将所述探针组件1穿插如所述安装孔中,然后通过螺纹孔中的螺栓旋钮将探针组件1紧固在安装孔中。需要拆卸时,将螺栓旋钮通过旋转松开,就可快捷地从安装孔中取下探针组件。本实用新型提供的阻值测试机构很大程度上减少了平时维护时的工序,探针组件的安装和拆卸更为方便省时,探针组件本身的组合与拆分也更为会快捷,在探针组件需要更换时,不需要借助其他工具。同时,也延长了探针组件的寿命,提高了阻值测试机构的稳定性。

虽然已经通过示例对本实用新型的一些特定实施例进行了详细说明,但是本领域的技术人员应该理解,以上示例仅是为了进行说明,而不是为了限制本实用新型的范围。本领域的技术人员应该理解,可在不脱离本实用新型的范围和精神的情况下,对以上实施例进行修改。本实用新型的范围由所附权利要求来限定。

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