本实用新型涉及检具领域，尤其是一种磁片通止规。
背景技术：
通止规是量具的一种，在实际生产中大批量生产的产品若采用计量量具（如游标卡尺，千分尺等有刻度的量具）逐个测量费事费力，众所周知的合格的产品是由一个度量范围的，在这个范围内的都合格，于是人们便采取通规和止规来测量，通常的磁片通止规产品容易卡在里面拿不出来，而且只能检测磁片是否合格，不能检测磁片的弧度，对磁片的检测来说是一个急需解决的问题。
技术实现要素：
针对背景技术中的不足，本实用新型提供，并且克服了以上缺陷。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：
一种磁片通止规，包括固定座、检测座，所述检测座为工字型结构设置，工字型结构中一侧面为向外突的弧面，一侧面为向内凹的弧面，两者相对设置，检测座一端设有通槽a、通槽b、灯具开关，另一端与固定座连接固定，所述固定座上连接固定有LED灯带，LED灯带分别设置于固定座与检测座连接固定的端面的两侧，贴近检测座的弧面，所述通槽a、通槽b内分别设有与之相配合的推块，所述推块连接固定推杆，所述推杆穿过固定座，推杆远离推块一端设有推座。
所述通槽a尺寸小于通槽b尺寸，检测座上通槽a、通槽b的一侧分别设有“Z”字符号、“T”字符号。
所述LED灯带上设有灯泡，灯泡分别贴近于检测座上向外突的弧面、向内凹的弧面设置。
所述通槽a、通槽b的深度大于推块加上工件的高度。
所述固定座、检测座侧面均设有放置脚。
由于采用了上述技术方案，增加了推块及用于检测磁片弧度的向外突的弧面、向内凹的弧面，推块可将卡置于通槽a、通槽b内的磁片顶出，向外突的弧面、向内凹的弧面配合LED灯带检测磁片的弧面是否合格。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为本实用新型的前视结构示意图。
图3为本实用新型的俯视结构示意图。
图4为图1中固定座1与推杆41的连接结构示意图。
图5为图4中推块4、推杆41、推座42的结构示意图。
图中：1、固定座；2、检测座；21、通槽a；211、“Z”字符号；22、通槽b；221、“T”字符号；23、灯具开关；24、向外突的弧面；25、向内凹的弧面；3、LED灯带；31、灯泡；4、推块；41、推杆；42、推座；5、放置脚。
具体实施方式
以下，用实施例结合附图对本实用新型作更详细的描述。这个实施例仅仅是对本实用新型最佳实施方式的描述，并不对本实用新型的范围有任何限制。
如图1至图5所示，一种磁片通止规，包括固定座1、检测座2，所述检测座2为工字型结构设置，工字型结构中一侧面为向外突的弧面24，一侧面为向内凹的弧面25，两者相对设置。向外突的弧面24、向内凹的弧面25用以检测磁片的弧度是否符合加工要求，使用时向外突的弧面24上放置磁片，磁片与向外突的弧面24贴合放置，检查磁片上的弧面是否贴合向外突的弧面24，同理，向内凹的弧面25用以检测磁片上与之相对应的弧面。
检测座2一端设有通槽a21、通槽b22、灯具开关23，另一端与固定座1连接固定。通槽a21、通槽b22用以检测磁片加工的尺寸是否合格，灯具开关23连接控制LED灯带。
所述固定座1上连接固定有LED灯带3，LED灯带3分别设置于固定座1与检测座2连接固定的端面的两侧，贴近检测座2的弧面，优选地，所述LED等带3设置在两弧面的正下方。LED灯带3与检测座2上用以检测的向外突的弧面24、向内凹的弧面25配合使用，磁片贴合放置于检测座2上的弧面之后，通过观察LED灯带放射的光是否有从两者贴合处漏光，以判断磁片是否贴合检测座2上的弧面。
所述通槽a21、通槽b22内分别设有与之相配合的推块4，所述推块4连接固定推杆41，所述推杆41穿过固定座1，推杆41远离推块4一端设有推座42。推块4的主要作用为防止磁片卡在通槽a21、通槽b22中，通过按压推座42，使推杠41推动推块4向检测座2一端移动，这个运动过程中，将卡在通槽a21、通槽b22中的磁片推出通槽a21、通槽b22。推座42同时起到限位的作用，限制推块4的移动行程，防止推块4脱离通槽a21、通槽b22后复位不便。
所述通槽a21尺寸小于通槽b22尺寸，检测座2上通槽a21、通槽b22的一侧分别设有“Z”字符号211、“T”字符号221。“Z”字符号211、“T”字符号221方便识别止规、通规，“Z”字符号211表示通槽a21为止规，“T”字符号221表示通槽b22为通规，磁片能进入通规，同时不能进入止规时，代表磁片尺寸合格。
所述LED灯带3上设有灯泡31，灯泡31分别贴近于检测座2上向外突的弧面24、向内凹的弧面25设置。使灯泡31的照射光贴近磁片与向外突的弧面24、向内凹的弧面25配合处，以更好的观察磁片的弧度是否合格。
所述通槽a21、通槽b22的深度大于推块4加上工件的高度。使磁片能整个进入通槽a21，使磁片整个都能得到测量，所述通槽a21、通槽b22的深度即是两弧面的宽度，故在测量磁片弧面的时候，确保检测座2的向外突的弧面24、向内凹的弧面25上有足够放置磁片地方，不至于遮挡LED灯带3照射的光，提高测量的准确度。
所述固定座1、检测座2侧面均设有放置脚5。使底座1、检测座2能平稳的放置于平面上，方便磁片通止规的使用，提高测量的准确度。
具体的工作原理为：
首先，增设了推块4，使磁片在检测时即便卡在通槽a21、通槽b22中也能通过推块4将磁片推出通槽a21、通槽b22；
进一步的，检测座2上设置了用于检测磁片弧面是否合格的向外突的弧面24、向内凹的弧面25，增设了LED灯带3，通过LED灯带照射的光更加方便的观察磁片弧面是否贴合检测座2。
由于采用了上述技术方案，增加了推块4及用于检测磁片弧度的向外突的弧面24、向内凹的弧面25，推块4可将卡置于通槽a21、通槽b22内的磁片顶出，向外突的弧面24、向内凹的弧面25配合LED灯带3检测磁片的弧面是否合格。
显然，上述实施例仅仅是为了清楚的说明所做的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围内。