一种触摸屏成品多功能测试电路的制作方法

本实用新型涉及触摸屏技术领域，具体的说是涉及一种触摸屏成品多功能测试电路。

背景技术：

TP模组在出厂之前, 需要经过多个生产和测试步骤. 测试方面, 通常要分阶段进行测试把关, 防止不良品流入靠下游的生产/测试阶段。触摸屏的测试技术，对产品的良率、产品的稳定性是至关重要的环节。测试效率的提升对降低产品成本有着很重要的作用。传统的TP模组用的测试主板测试功能单一， 每个主板只能测试同一种接口的被测产品，因此，需要设计不同的测试主板来满足没的接口需求。

技术实现要素：

针对现有技术中的不足，本实用新型要解决的技术问题在于提供了一种触摸屏成品多功能测试电路。

为解决上述技术问题，本实用新型通过以下方案来实现：一种触摸屏成品多功能测试电路，该测试电路设置于测试主板上，其包括一多功能测试转接板，在该多功能转接板上设置有多个转接口，用于连接不同接口的设备，所述测试主板包括测试电路，该测试电路包括USB全速微控制器及与USB全速微控制器电性连接的两组8位FET总线开关低电压与5V容限电平转换器、晶振电路、两个继电器及若干模拟IC电路、USB电路接口；

所述USB全速微控制器的V3.3引脚端和VDD引脚端连接有串联的电容C7、电容C8，所述电容C7和电容C8之间的电路节点上连接所述USB全速微控制器的VSS引脚并接地；

所述两组8位FET总线开关低电压与5V容限电平转换器相互连接，其另一端各连接有排阻，其中排阻R1连接TP被测产品的VIO接口，排阻R3连接3.3V电源，8位FET总线开关低电压与5V容限电平转换器的VCC端连接一电容，电容的另一端接地，在电容与VCC端的电路节点上接入1.8V电源；

所述USB全速微控制器的P77端连接一NPN型三极管Q2的基极，该NPN型三极管Q2的发射极接地，其集电极连接有电阻R4，电阻R4的另一端接TP被测产品的VIO接口；

或所述USB全速微控制器的P77端连接一NPN型三极管Q1的基极，该NPN型三极管Q2的发射极连接电阻R2,电阻R2的另一端连接发光二极管D1的正极，发光二极管D1的负极接地；

所述USB全速微控制器的OSCI引脚端和OSCI_I引脚端之间连接晶振器Y1，OSCI引脚端连接电容C1，OSCI_I引脚端连接电容C2，电容C1、电容C2的另一端连接并接地。

进一步的，两个继电器分别为继电器K1、继电器K2，所述继电器K1连接TP被测产品的TP_DVDD引脚端节点电路上连接有电容C10，电容C10的另一端接地；

所述继电器K2连接TP被测产品的TP_VIO引脚端节点电路上连接有电容C11，电容C11的另一端接地。

相对于现有技术，本实用新型的有益效果是：本实用新型触摸屏成品多功能测试电路，该测试电路中的电路设计适合多种不同接口的被测产品进行测试，因此，不需要再设计新的测试主板，节省了测试成本。

附图说明

图1为本实用新型测试主板和多功能转接板、TP被测产品的连接关系图；

图2为本实用新型测试主板上的USB全速微控制器电路图；

图3为本实用新型两组8位FET总线开关低电压与5V容限电平转换器电路图；

图4为本实用新型晶振电路图；

图5为本实用新型继电器K1电路图；

图6为本实用新型继电器K2电路图；

图7为本实用新型模拟IC电路U1电路图；

图8为本实用新型模拟IC电路U3电路图；

图9为本实用新型模拟IC电路U5电路图；

图10为本实用新型接USB接口电路图；

图11为本实用新型接TP被测产品的电路图；

图12为本实用新型插口J7电路；

图13为本实用新型插口J8电路。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的优选实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。

请参照附图1-13，本实用新型的一种触摸屏成品多功能测试电路，该测试电路设置于测试主板1上，其包括一多功能测试转接板2，在该多功能转接板2上设置有多个转接口，用于连接不同接口的设备，所述测试主板1包括测试电路，该测试电路包括USB全速微控制器11及与USB全速微控制器11电性连接的两组8位FET总线开关低电压与5V容限电平转换器12、晶振电路、两个继电器及若干模拟IC电路、USB电路接口4；所述USB全速微控制器11的V3.3引脚端和VDD引脚端连接有串联的电容C7、电容C8，所述电容C7和电容C8之间的电路节点上连接所述USB全速微控制器11的VSS引脚并接地；所述两组8位FET总线开关低电压与5V容限电平转换器12相互连接，其另一端各连接有排阻，其中排阻R1连接TP被测产品的VIO接口，排阻R3连接3.3V电源，8位FET总线开关低电压与5V容限电平转换器12的VCC端连接一电容，电容的另一端接地，在电容与VCC端的电路节点上接入1.8V电源；所述USB全速微控制器11的P77端连接一NPN型三极管Q2的基极，该NPN型三极管Q2的发射极接地，其集电极连接有电阻R4，电阻R4的另一端接TP被测产品的VIO接口；或所述USB全速微控制器11的P77端连接一NPN型三极管Q1的基极，该NPN型三极管Q2的发射极连接电阻R2,电阻R2的另一端连接发光二极管D1的正极，发光二极管D1的负极接地；所述USB全速微控制器11的OSCI引脚端和OSCI_I引脚端之间连接晶振器Y1，OSCI引脚端连接电容C1，OSCI_I引脚端连接电容C2，电容C1、电容C2的另一端连接并接地。两个继电器分别为继电器K1、继电器K2，所述继电器K1连接TP被测产品的TP_DVDD引脚端节点电路上连接有电容C10，电容C10的另一端接地；所述继电器K2连接TP被测产品的TP_VIO引脚端节点电路上连接有电容C11，电容C11的另一端接地。

将为USB接口的产品直接连接在测试主板1上，TP被测产品需要用到多功能转接板2。

本实用新型触摸屏成品多功能测试电路，该测试电路中的电路设计适合多种不同接口的被测产品进行测试，因此，不需要再设计新的测试主板，节省了测试成本。

以上所述仅为本实用新型的优选实施方式，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。