一种微调式半导体测试支架的制作方法

文档序号:15228784发布日期:2018-08-21 19:05阅读:170来源:国知局

本发明涉及半导体测试领域,具体的说是一种微调式半导体测试支架。



背景技术:

现在的测试支架是以螺纹连接的方式进行安装的。由于螺纹连接的间隙较大,需提供前后左右调节的结构件,在x轴和y轴方向进行微调,对应测试压块进行配合工作;这种方式需要设置多余的微调结构件,而且微调结构件的安装位置需要进行重新构造增加安装空间,并且通过螺纹连接的方式进行上下部件的安装拆卸,都会比较的麻烦。



技术实现要素:

本发明的目的是针对现有技术存在的不足,提供一种微调式半导体测试支架。

技术方案:本发明解决问题所采用的技术方案为:一种微调式半导体测试支架,包括上部的测试支架和下部的支架底座;所述的支架底座上安装有立柱套筒;而所述的测试支架上安装有与立柱套筒相适配的支撑立柱;而所述的支撑立柱上还设置有限位槽;而所述的立柱套筒上则设置有与限位槽位置相适配的安装孔;而所述的安装孔内还安装有可拆卸安装的波珠螺丝;该波珠螺丝包括外壳、安装在外壳内的弹簧以及安装在弹簧顶端的顶珠;所述的支撑立柱插入安装在立柱套筒内,并且将支撑立柱上的限位槽与立柱套筒上的安装孔的位置相对应,而波珠螺丝的顶珠在内部弹簧的作用下嵌入顶紧在支撑立柱的限位槽中从而将支撑立柱固定。

作为优选,所述的立柱套筒设置为方形套筒结构,而所述的支撑立柱相应设置为方形柱体结构;立柱套筒的四个面均设置有安装孔;而所述的支撑立柱的四个面则设置有一圈限位槽。

作为优选,所述的安装孔均设置在立柱套筒四个面的中间位置处;每一安装孔内均安装有一波珠螺丝。

作为优选,所述的安装孔设置为螺纹安装孔;而所述的波珠螺丝的外壳表面还设置有与安装孔相适配的螺纹结构。

作为优选,所述的波珠螺丝的外壳的底部还设置有一向内侧凹陷的旋钮槽;波珠螺丝前端的顶珠伸入到立柱套筒的内部,而其后端的旋钮槽则设置在立柱套筒的外部。

作为优选,所述的波珠螺丝的外壳前端部分设置为锥形结构。

有益效果:本发明与现有技术相比,具有以下优点:本装置摒弃传统上上部测试支架与下部底座螺纹连接的方式,转而采用立柱套筒、支撑立柱以及波珠螺丝的连接方式进行安装拆卸和微调;立柱套筒和支撑立柱上分别设置相配合的安装孔和限位槽,安装孔内配合安装波珠螺丝使其前端的顶珠顶紧在限位槽中来固定支撑立柱的位置;而在进行测试支架左右前后位置微调的时候只需要通过调节四个位置上波珠螺丝的旋紧程度即可进行四个方向的位置调节;而且在上下部件分离拆卸的时候,只需要将波珠螺丝分别从安装孔内旋出解除对支撑立柱的压紧力即可实现分离拆卸,而两者安装的时候同样的方便;本装置可实现测试支架的快速安装和拆卸,并且能够实现测试支架的位置微调,调节的结构十分的合理,调节方式非常简单方便操作,容易实现。

附图说明

图1为本发明结构示意图;

图2本发明测试支架结构示意图;

图3为本发明支架底座结构示意图;

图4为本发明剖视结构图;

图5为本发明波珠螺丝结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例,进一步阐明本发明,本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施,应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。

如图1至5所示,一种微调式半导体测试支架,包括上部的测试支架1和下部的支架底座2;所述的支架底座2上安装有立柱套筒3;而所述的测试支架1上安装有与立柱套筒3相适配的支撑立柱4;而所述的支撑立柱4上还设置有限位槽5;而所述的立柱套筒3上则设置有与限位槽5位置相适配的安装孔6;而所述的安装孔6内还安装有可拆卸安装的波珠螺丝7;该波珠螺丝7包括外壳71、安装在外壳71内的弹簧72以及安装在弹簧72顶端的顶珠73;所述的支撑立柱4插入安装在立柱套筒3内,并且将支撑立柱4上的限位槽5与立柱套筒3上的安装孔6的位置相对应,而波珠螺丝7的顶珠73在内部弹簧72的作用下嵌入顶紧在支撑立柱4的限位槽5中从而将支撑立柱4固定。

所述的立柱套筒3设置为方形套筒结构,而所述的支撑立柱4相应设置为方形柱体结构;立柱套筒3的四个面均设置有安装孔6;而所述的支撑立柱4的四个面则设置有一圈限位槽5;所述的安装孔6均设置在立柱套筒3四个面的中间位置处;每一安装孔6内均安装有一波珠螺丝7。

所述的安装孔6设置为螺纹安装孔;而所述的波珠螺丝7的外壳71表面还设置有与安装孔6相适配的螺纹结构74;所述的波珠螺丝7的外壳71的底部还设置有一向内侧凹陷的旋钮槽75;波珠螺丝7前端的顶珠伸入到立柱套筒3的内部,而其后端的旋钮槽75则设置在立柱套筒3的外部;所述的波珠螺丝7的外壳前端部分设置为锥形结构。

本装置摒弃传统上上部测试支架与下部底座螺纹连接的方式,转而采用立柱套筒、支撑立柱以及波珠螺丝的连接方式进行安装拆卸和微调;立柱套筒和支撑立柱上分别设置相配合的安装孔和限位槽,安装孔内配合安装波珠螺丝使其前端的顶珠顶紧在限位槽中来固定支撑立柱的位置;而在进行测试支架左右前后位置微调的时候只需要通过调节四个位置上波珠螺丝的旋紧程度即可进行四个方向的位置调节;而且在上下部件分离拆卸的时候,只需要将波珠螺丝分别从安装孔内旋出解除对支撑立柱的压紧力即可实现分离拆卸,而两者安装的时候同样的方便;本装置可实现测试支架的快速安装和拆卸,并且能够实现测试支架的位置微调,调节的结构十分的合理,调节方式非常简单方便操作,容易实现。

上述具体实施方式只是本发明的一个优选实施例,并不是用来限制本发明的实施与权利要求范围的,凡依据本发明申请专利保护范围所述的内容做出的等效变化和修饰,均应包括于本发明专利申请范围内。



技术特征:

技术总结
本发明公开一种微调式半导体测试支架,包括上部的测试支架和下部的支架底座;所述的支架底座上安装有立柱套筒;而所述的测试支架上安装有与立柱套筒相适配的支撑立柱;而所述的支撑立柱上还设置有限位槽;而所述的立柱套筒上则设置有与限位槽位置相适配的安装孔。本装置可实现测试支架的快速安装和拆卸,并且能够实现测试支架的位置微调,调节的结构十分的合理,调节方式非常简单方便操作,容易实现。

技术研发人员:王浩;张伟
受保护的技术使用者:江苏艾科半导体有限公司
技术研发日:2018.02.02
技术公布日:2018.08.21
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