1.一种低本底α、β测量装置，其特征在于，包括：主探测器、反符合探测器和控制电路，其中，所述主探测器和所述反符合探测器分别与所述控制电路相连接；
所述主探测器用于采集主探测信号，并将所述主探测信号输入至所述控制电路，其中，所述主探测信号为基于样品产生的α、β射线，和/或，环境本底辐射生成的探测信号；
所述反符合探测器用于采集反符合信号，并将所述反符合信号输入至所述控制电路，其中，所述反符合信号为基于环境本底辐射生成的探测信号；
所述控制电路用于确定所述主探测信号和所述反符合信号在对样本进行α、β活度测量的过程中是否受到环境本底辐射的干扰，并在确定出未受到干扰时，统计α、β活度测量的测量结果，所述控制电路包括：甄别电路和逻辑运算电路。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制电路数量均为多个，其中，
所述主探测器分别与每个所述控制电路相连接，用于向每个所述控制电路发送所述主探测信号；
所述反符合探测器与每个所述控制电路相连接，用于向每个所述控制电路发送所述反符合信号。
3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于,所述甄别电路包括第一甄别电路和第二甄别电路，
所述第一甄别电路与所述主探测器相连接，用于获取所述主探测器发送的所述主探测信号；
所述第二甄别电路与所述反符合探测器相连接，用于获取所述反符合探测器的所述反符合信号；
所述逻辑运算电路分别与所述第一甄别电路和所述第二甄别电路相连接，用于基于所述第一甄别电路的甄别结果和所述第二甄别电路的甄别结果确定在对样本进行α、β活度测量的过程中是否受到环境本底辐射的干扰。
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述第一甄别电路包括：第一甄别子电路，第二甄别子电路和第三甄别子电路；
其中，所述第一甄别子电路，所述二甄别子电路和所述第三甄别子电路分别与所述主探测器相连接，用于分别获取所述主探测器发送的所述主探测信号。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述逻辑运算电路包括：第一与门，第二与门，第三与门和与非门；
其中，所述第一与门的输入端与所述第一甄别子电路的输出端相连接；
所述第二与门的输入端与所述二甄别子电路的输出端相连接；
所述第三与门的输入端与所述第三甄别子电路的输出端相连接，所述第三与门输出端分别与所述第一与门和所述第二与门的输出端相连接；
所述与非门的输入端分别与所述第三甄别子电路和所述二甄别电路的输出端相连接，所述与非门的输出端与所述第三与门输入端连接；
所述第一与门，所述第二与门，所述第三与门和所述与非门的输出端分别与单片机相连接。
6.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述控制电路还包括：第一运算放大电路和第二运算放大电路，其中，
所述第一运算放大电路设置在所述主探测器和所述第一甄别电路之间，用于获取所述主探测器输出的所述主探测信号，并对所述主探测信号进行放大之后输入至所述第一甄别电路中；
所述第二运算放大电路设置在所述反符合探测器和所述第二甄别电路之间，用于获取所述反符合探测器输出的所述反符合信号，并对所述反符合信号进行放大之后输入至所述第二甄别电路中。
7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述主探测器包括：低本底α、β双闪烁体、第一低钾光电倍增管和第一前置放大分压电路，其中，所述低本底α、β双闪烁体与所述第一低钾光电倍增管相连接，所述第一低钾光电倍增管与所述第一前置放大分压电路的输入端相连接；
所述低本底α、β双闪烁体用于吸收样品产生的α、β射线，和/或，环境本底辐射，并基于所述α、β射线，和/或，所述环境本底辐射产生荧光；
所述第一低钾光电倍增管用于将所述荧光转换为电信号；
所述第一前置放大分压电路用于对所述电信号进行放大，放大之后得到所述主探测信号。
8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述反符合探测器包括：反符合闪烁体、第二低钾光电倍增管、第二前置放大分压电路，其中，所述第二低钾光电倍增管与所述第二前置放大分压电路的输入端相连接，所述第二前置放大分压电路的输出端与所述反符合闪烁体相连接，
所述反符合闪烁体用于吸收环境本底辐射，并基于所述环境本底辐射产生荧光；
所述第二低钾光电倍增管用于将所述荧光转换为电信号；
所述第二前置放大分压电路用于对所述电信号进行放大，放大之后得到所述反符合信号。
9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：上位机，所述上位机与单片机相连接，用于获取所述单片机传输的数据，并对所述单片机传输的数据进行存储。