相位校正方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质与流程

本申请涉及三维测量技术领域，具体而言，涉及一种相位校正方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。

背景技术：

结构光(structuredlight，sli)作为非接触式三维测量技术已经扩展到生物识别、医疗、和制造等科技及工业领域。其中，相位测量轮廓术(phasemeasuringprofilometry，pmp)是其中一条重要的分支，它利用一个由投影和成像系统组成的相对简单的结构，为三维测量提供了更快速便捷的操作以及更高的测量精度。

技术实现要素：

本申请的目的在于提供一种相位校正方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，能够对错误的相位进行校正，减少图像中目标像素点的相位误差，从而提高三维重建的精度。

为了实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供了一种相位校正方法，所述方法包括：

根据图像中目标像素点在多个频率下的光强调制值，拟合得到第一调制曲线，其中，所述第一调制曲线表征所述目标像素点在所述多个频率值下光强调制值的变化情况；

计算所述目标像素点与相邻像素点的目标相位差；

根据所述目标相位差以及初始点扩散函数，得到所述多个频率下的第二调制曲线；

根据所述第一调制曲线和所述第二调制曲线，调整所述初始点扩散函数的标准差参数，得到更新点扩散函数；

根据所述更新点扩散函数，校正所述目标像素点的相位。

第二方面，本申请实施例提供了一种相位校正装置，所述装置包括：

拟合模块，用于根据图像中目标像素点在多个频率下的光强调制值，拟合得到第一调制曲线，其中，所述第一调制曲线表征所述目标像素点在所述多个频率值下光强调制值的变化情况；

计算模块，用于计算所述目标像素点与相邻像素点的目标相位差；

所述拟合模块还用于，根据所述目标相位差以及初始点扩散函数，得到所述多个频率下的第二调制曲线；

所述计算模块还用于，根据所述第一调制曲线和所述第二调制曲线，调整所述初始点扩散函数的标准差参数，得到更新点扩散函数；

所述计算模块还用于，根据所述更新点扩散函数，校正所述目标像素点的相位。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，所述电子设备包括存储器，用于存储一个或多个程序；处理器。当所述一个或多个程序被所述处理器执行时，实现上述的相位校正方法。

第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述的相位校正方法。

相对于现有技术，本申请实施例所提供的一种相位校正方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，根据图像中目标像素点在多个频率下的光强调制值，拟合得到第一调制曲线，并根据目标像素点与相邻像素点的目标相位差，以及初始点扩散函数，得到在多个频率下的第二调制曲线，进而根据第二调制曲线与第一调制曲线的差异，调整初始点扩散函数的标准差参数，得到更新点扩散函数，从而利用更新点扩散函数，校正目标像素点的相位，相比于现有技术，能够对错误的相位进行校正，减少图像中目标像素点的相位误差，从而提高三维重建的精度。

为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它相关的附图。

图1为本申请实施例所提供的电子设备的一种示意性结构框图；

图2为本申请实施例所提供的相位校正方法的一种示意性流程图；

图3为图2中s201的子步骤的一种示意性流程图；

图4为图2中s202的子步骤的一种示意性流程图；

图5为图2中s203的子步骤的一种示意性流程图；

图6为本申请实施例所提供的一种相位校正装置的一种示意性结构图。

图中：100-电子设备；101-存储器；102-处理器；103-通信接口；300-相位校正装置；301-拟合模块；302-计算模块。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

下面结合附图，对本申请的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

一般来说，相位测量轮廓术通过获取摄像机捕获图像的像素亮度值计算相位，从而得到三维空间坐标进而重建。但在实际测量过程中，由于光学成像设备受到自身点扩散函数(pointspreadfunction，psf)的限制，对于光源的响应并非是一个点，而是扩散为一个具有不均匀能量分布的光斑，扫描时，目标上每个点光源会以散焦、漫反射等形式影响其他点光源或者是受到其他点光源的影响。因此，摄像机捕获的实际图像一般为原始图像与成像系统的点扩散函数卷积后的离焦模糊图像，导致三维重建的精度较低。

请参阅图1，图1为本申请实施例所提供的电子设备100的一种示意性结构框图。电子设备100包括存储器101、处理器102和通信接口103，该存储器101、处理器102和通信接口103相互之间直接或间接地电性连接，以实现数据的传输或交互。例如，这些元件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。存储器101可用于存储软件程序及模块，如本申请实施例所提供的相位校正装置300对应的程序指令/模块，处理器102通过执行存储在存储器101内的软件程序及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理。该通信接口103可用于与其他节点设备进行信令或数据的通信。

其中，存储器101可以是但不限于，随机存取存储器(randomaccessmemory，ram)，只读存储器(readonlymemory，rom)，可编程只读存储器(programmableread-onlymemory，prom)，可擦除只读存储器(erasableprogrammableread-onlymemory，eprom)，电可擦除只读存储器(electricerasableprogrammableread-onlymemory，eeprom)等。

处理器102可以是一种集成电路芯片，具有信号处理能力。该处理器102可以是通用处理器，包括中央处理器(centralprocessingunit，cpu)、网络处理器(networkprocessor，np)等；还可以是数字信号处理器(digitalsignalprocessing，dsp)、专用集成电路(applicationspecificintegratedcircuit，asic)、现场可编程门阵列(field－programmablegatearray，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。

可以理解，图1所示的结构仅为示意，电子设备100还可包括比图1中所示更多或者更少的组件，或者具有与图1所示不同的配置。图1中所示的各组件可以采用硬件、软件或其组合实现。

下面以投影机投出不同空间频率的正弦光栅扫描目标物体的应用场景为例，对本申请实施例所提供的相位校正方法进行示例性说明。

一般来说，在投影机投出不同空间频率的正弦光栅在扫描目标上产生形变后，由摄影机捕获的变形图像可以被表示为：

其中，(x,y)为像平面的坐标，为像素点的光强值，a^c(x,y)为图像的平均光强，b^c(x,y)为图像的光强调制，f为光栅图案的空间频率，n为相移系数，n为投影图像的总数，也就是总相移数，φf(x,y)为包裹相位值，且：

基于光强值可以由扫描图像时获得，则将扫描获得的像素点(x,y)的光强值带入到上述公式(3)和公式(4)，则可以求出像素点(x,y)的平均光强a^c(x,y)和光强调制值b^c(x,y)。

在例如数字成像系统中，点扩散函数h(x,y)通常可以利用二维高斯函数来表示：

其中，x、y分别为像素点(x,y)的横坐标和纵坐标，σ为点扩散函数h(x,y)的标准差，σ越大，则点扩散函数h(x,y)的卷积效应越强。

不考虑不同频率f的条件，在例如数字摄像机中，每个像素点实际光强值为原始光强值与成像系统的点扩散函数h(x,y)的卷积，即：

其中，为原始光强值，为实际光强值，*表示卷积。

由于捕获图像的光强值是计算相位，进而计算重建三维坐标的主要参数，因此，光强值的变化必然会对重建产生影响。

为便于说明，下面统一将坐标(x,y)省略，以简化公式，则根据公式(3)和公式(6)可以得出，由于卷积的存在，图像实际的光强值变为：

分析公式(7)可知，图像实际的光强值与空间频率的变化无关，而只取决于点扩散函数h，且当表示光强值的a^c在局部区域为一个常值时，根据卷积函数的性质，a^c受卷积的影响可以忽略。

同理，根据公式(4)和公式(6)可以得出，图像实际的光强调制变为：

分析公式(8)可知，图像实际的光强调制值的变化不仅与点扩散函数h有关，还与包裹相位φf有关，且空间频率越高，在高频下包裹相位φf的跳变越剧烈，在相同卷积边界内的领域相位变化越快，则相同的点扩散函数对其影响越大，因此，图像实际的光强调制值会随着空间频率的增加而减小。

同理，相位受卷积影响后，实际的包裹相位表示为：

由此，将包裹相位展开，以单一扫描方向为例进行说明，则得到实际的相位与原始相位φ两者的相位差φe为：

其中，m代表一个卷积窗口参数，为点扩散函数h(x,y)的窗口边界，通常为一个较小的常数，其值的大小取决于不同的成像设备，k为卷积窗口中的其中之一像素点，b^c(k)为卷积窗口内的光强调制值，h(k)为像素点k的卷积函数值，δφ(k)为像素点k与目标像素点的相位差。

由于点扩散函数h(x,y)为偶函数，因此，当点扩散函数h(x,y)作为公式(10)的卷积函数时，有：h(k)＝h(-k)，则在卷积窗口内，若光强调制剧烈变化，或者是由高度造成相位的阶跃不连续，从而使得b^c(k)sin[δφ(k)]≠-b^c(-k)sin[δφ(-k)]，造成目标像素点实际的相位与原始的相位两者存在相位的误差。

基于上述，本申请提供一种相位校正方法，以对上述相位的误差进行校正。

其中，光栅扫描物体反射率变化较大的像素区域，即高对比度反射率区域时，由于光强调制与反射率具有正比关系，即：

b^c＝cα^c(11)，

其中，c为常数系数，α^c为物体表面的反射率，因此，反射率的差异体现了该区域光强调制的变化。

分析上述公式(10)可知，在卷积窗口内，b^c(k)的差异越大，造成的相位误差也越大，这也是高对比度反射率区域产生的卷积误差的原因。因此，若不考虑由高度的剧烈调制所引起的相位突变，对于理想平面，则有相位差其中，l为扫描方向上的分辨率，且的值较小，由此，可以把像素点k与目标像素点的相位差δφ(k)改写为：则公式(10)可改写为：

因此，分析公式(12)可知，若能求得点扩散函数h的参数，进而得到点扩散函数h的表达式，则可以通过公式(12)所示的误差公式，求得目标像素点的相位误差，从而对目标像素点的误差进行校正。

请参阅图2，图2为本申请实施例所提供的相位校正方法的一种示意性流程图，包括以下步骤：

s201，根据图像中目标像素点在多个频率下的光强调制值，拟合得到第一调制曲线。

s202，计算目标像素点与相邻像素点的目标相位差。

s203，根据目标相位差以及初始点扩散函数，得到多个频率下的第二调制曲线。

s204，根据第一调制曲线和第二调制曲线，调整初始点扩散函数的标准差参数，得到更新点扩散函数。

s205，根据更新点扩散函数，校正目标像素点的相位。

在本申请实施例中，根据选取的图像中反射率变化缓慢的像素区域中的目标像素点，基于图像中目标像素点在多个频率f下的正弦光栅扫描，并结合上述公式(4)所得到的目标像素点在多个频率f下的多个光强调制值，拟合得到第一调制曲线，其中，该第一调制曲线表征目标像素点在多个频率值下光强调制值的变化情况。

可选地，请参阅图3，图3为图2中s201的子步骤的一种示意性流程图，作为一种可能的实现方式，s201包括以下子步骤：

s201-1，获取图像中目标像素点在多个频率下的光强调制值。

s201-2，计算基频光强调制值与多个光强调制值中的每一光强调制值的比值，得到多个第一光强调制比率。

s201-3，将多个第一光强调制比率进行拟合，得到第一调制曲线。

示例性地，扫描目标像素点的多个频率f的正弦光栅中，包括有基频的正弦光栅，则获取的图像中目标像素点在多个频率f下的光强调制值中，包含有基频光强调制值，该基频光强调制值为目标像素点在基频下的光强调制值。

基于图像实际的光强调制值会随着空间频率的增加而减小的性质，在本申请实施例中，以基频光强调制值作为分子，将获取的多个光强调制值分别作为分母，计算基频光强调制值与多个光强调制值中的每一光强调制值的比值，从而得到多个第一光强调制比率，进而将得到的多个第一光强调制比率进行拟合，获得第一调制曲线。

比如，以表示基频光强调制值，表示根据公式(8)计算得到的在多个频率f下的光强调制值，以r表示光强调制比率，则s201-2中计算光强调制比率的公式为：

值得说明的是，在本申请实施例中，还可以采用其他的方式获得第一调制曲线，比如采用将基频光强调制值作为分母，且将多个光强调制值中的每个光强调制值分别作为分子，进而将计算得到的多个比值进行拟合，得到第一调制曲线，只要能够根据图像中目标像素点在多个频率f下的光强调制值，拟合得到第一调制曲线即可，比如，还可以采用，不计算比值，直接将多个光强调制值进行拟合的方式，得到第一调制曲线。

其中，作为一种可能的实现方式，拟合多个第一光强调制率，得到第一调制曲线的方式可以为：以频率f作为横坐标，光强调制率作为纵坐标建立坐标系，将多个第一光强调制率按照频率的大小依次连接，进而将得到的折线段作为第一调制曲线。

或者，作为另一种可能的实现方式，拟合多个第一光强调制率，得到第一调制曲线的方式还可以为：以频率f作为横坐标，光强调制率作为纵坐标建立坐标系，根据多个第一光强调制率在坐标系上的坐标，拟合得到的光滑曲线，作为第一调制曲线。

请继续参阅图2，基于图像中目标像素点在多个频率f下的正弦光栅扫描，并结合上述公式(2)，根据目标像素点与相邻像素点各自的像素光强值分别计算目标像素点与相邻像素点各自的包裹相位值，并以目标像素点与相邻像素点的相位差作为目标相位值。

可选地，请参阅图4，图4为图2中s202的子步骤的一种示意性流程图，作为一种可能的实现方式，s202包括以下子步骤：

s202-1，获取目标像素点与沿扫描方向的后一像素点两者的相位差，作为第一相位差。

s202-2，获取目标像素点与沿扫描方向的前一像素点两者的相位差，作为第二相位差。

s202-3，根据第一相位差及第二相位差，得到目标相位差。

在本申请实施例中，以竖直方向作为扫描方向(即在x-y二维坐标系下，以y轴作为扫描方向)为例，根据目标像素点dn与其空间位置上的上一像素点dn-1、以及其空间位置上的下一像素点dn+1各自的像素光强值根据上述公式(2)分别计算dn与dn-1、dn+1各自的包裹相位，然后以dn与dn-1两者的相位差作为第一相位差，以dn与dn+1两者的相位差作为第二相位差。

其中，作为一种可能的实现方式，根据得到第一相位差和第二相位差，取第一相位差和第二相位差的算术平均值作为目标相位差。

或者，作为另一种可能的实现方式，取第一相位差和第二相位差两者的几何平均值作为目标相位差，只要能够根据第一相位差和第二相位差得到目标相位差即可，比如，在本申请实施例其他一些可能的实现方式中，还可以将第一相位差和第二相位差组合为一个二维向量，与存储的另一表征第一相位差和第二相位差各自所占权重的向量进行点乘运算，将得到的结果作为目标相位差。

请继续参阅图2，上述第一调制曲线表征的是目标像素点在多个频率值下光强调制值实际的变化情况，分析上述公式(8)可知，卷积函数h(k)和相位差δφ(k)，影响着实际的光强调制值的大小。

并且，以r表示光强调制比率，则根据公式(8)可以推导得到，计算光强调制比率的公式可以表示为：

同理，卷积参数k∈[-m，m]。在反射率变化缓慢的区域，b^c在较小卷积边界内可以被当作一个常数，则上述公式(13)可简化为：

因此，在本申请实施例中，基于如公式(5)所示的点扩散函数h(x,y)，建立初始点扩散函数，比如将点扩散函数h(x,y)的标准差参数σ，设定为一个初始值，例如设置σ＝1时的点扩散函数作为初始点扩散函数，根据上述获得的目标相位差以及初始点扩散函数，得到多个频率f下的第二调制曲线，该第二调制曲线表征的是目标像素点在多个频率值下光强调制值受初始点扩散函数影响时的变化情况。

可选地，请参阅图5，图5为图2中s203的子步骤的一种示意性流程图，作为一种可能的实现方式，s203包括以下子步骤：

s203-1，根据目标相位差以及初始点扩散函数，得到多个频率下的多个第二光强调制比率。

s203-2，将多个第二光强调制比率进行拟合，得到第二调制曲线。

在本申请实施例中，根据上述获得的目标相位差以及初始点扩散函数，应用于如上述公式(14)，得到多个频率f下的多个第二光强调制比率，进而将得到的多个第二光强调制比率进行拟合，得到第二调制曲线。

值得说明的是，第二调制曲线的拟合方式与第一调制曲线的拟合方式相同，在此不做赘述。

由此，根据第一调制曲线和第二调制曲线，将第一调制曲线作为标准，调整初始点扩散函数的标准差参数σ，得到更新点扩散函数。

其中，作为一种可能的实现方式，调整初始点扩散函数的标准差参数σ，得到更新点扩散函数的方式可以是：通过计算第二调制曲线与第一调制曲线的误差，调整初始点扩散函数的标准差参数σ，以使基于上述公式(14)，根据调整了标准差参数σ后初始点扩散函数所拟合得到新的第二调制曲线，与第一调制曲线的误差小于预设阈值。

其中，作为另一种可能的实现方式，还可以是根据预先的多个不同的标准差参数σ1、σ2、σ4、σ5···，根据每一标准差参数拟合得到的多个第二调制曲线，选取与第一调制曲线误差最小的一条第二调制曲线作为目标调制曲线，进而采用目标调制曲线对应的标准差参数作为点扩散函数的标准差参数，得到更新点扩散函数。

由此，根据所得到的更新点扩散函数，结合上述公式(10)，计算得到目标像素点的相位实际的相位与原始相位两者的相位差φe，进而对目标像素点实际的相位进行校正，校正后得到的新的相位为：

基于上述设计，本申请实施例所提供的一种相位校正方法，根据图像中目标像素点在多个频率下的光强调制值，拟合得到第一调制曲线，并根据目标像素点与相邻像素点的目标相位差，以及初始点扩散函数，得到在多个频率下的第二调制曲线，进而根据第二调制曲线与第一调制曲线的差异，调整初始点扩散函数的标准差参数，得到更新点扩散函数，从而利用更新点扩散函数，校正目标像素点的相位，相比于现有技术，能够错误相位进行修复，减少了在图像中目标像素点的相位误差，从而提高三维重建的精度。

请参阅图6，图6为本申请实施例所提供的一种相位校正装置300的一种示意性结构图，该相位校正装置300包括拟合模块301和计算模块302。

拟合模块301用于根据图像中目标像素点在多个频率下的光强调制值，拟合得到第一调制曲线，其中，第一调制曲线表征目标像素点在多个频率值下光强调制值的变化情况。

计算模块302用于计算目标像素点与相邻像素点的目标相位差。

拟合模块301还用于根据目标相位差以及初始点扩散函数，得到多个频率下的第二调制曲线。

计算模块302还用于根据第一调制曲线和第二调制曲线，调整初始点扩散函数的标准差参数，得到更新点扩散函数。

计算模块302还用于根据更新点扩散函数，校正目标像素点的相位。

可选地，作为一种可能的实现方式，拟合模块301具体用于：

获取图像中目标像素点在多个频率下的光强调制值，其中，多个光强调制值中包括基频光强调制值，基频光强度值为目标像素点在基频下的光强调制值；

计算基频光强调制值与多个光强调制值中的每一光强调制值的比值，得到多个第一光强调制比率；

将多个第一光强调制比率进行拟合，得到第一调制曲线。

可选地，作为一种可能的实现方式，拟合模块301还具体用于：

根据目标相位差以及初始点扩散函数，得到多个频率下的多个第二光强调制比率；

将多个第二光强调制比率进行拟合，得到第二调制曲线。

可选地，作为一种可能的实现方式，计算模块302具体用于：

获取目标像素点与沿扫描方向的后一像素点两者的相位差，作为第一相位差；

获取目标像素点与沿扫描方向的前一像素点两者的相位差，作为第二相位差；

根据第一相位差及第二相位差，得到目标相位差。

可选地，作为一种可能的实现方式，计算模块302具体用于：

调整初始点扩散函数的标准差参数，得到更新点扩散函数，以使根据目标相位差及更新点扩散函数得到的新的第二调制曲线，与第一调制曲线的误差小于预设阈值。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，附图中的流程图和框图显示了根据本申请实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现方式中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

另外，在本申请实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。

所述功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-onlymemory)、随机存取存储器(ram，randomaccessmemory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

综上所述，本申请实施例所提供的一种相位校正方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，根据图像中目标像素点在多个频率下的光强调制值，拟合得到第一调制曲线，并根据目标像素点与相邻像素点的目标相位差，以及初始点扩散函数，得到在多个频率下的第二调制曲线，进而根据第二调制曲线与第一调制曲线的差异，调整初始点扩散函数的标准差参数，得到更新点扩散函数，从而利用更新点扩散函数，校正目标像素点的相位，相比于现有技术，能够对错误的相位进行校正，减少图像中目标像素点的相位误差，从而提高三维重建的精度。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

对于本领域技术人员而言，显然本申请不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本申请的精神或基本特征的情况下，能够以其它的具体形式实现本申请。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本申请的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本申请内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。