技术特征：
技术总结
本发明公开一种基于V形线圈激励的涡流‑超声检测探头，用于检测非铁磁性金属材料表面缺陷并可进一步确定缺陷位置，包括屏蔽壳、V形涡流线圈、永磁体、α‑超声拾取传感器和γ‑超声拾取传感器。将V形涡流线圈、永磁体、α‑超声拾取传感器和γ‑超声拾取传感器安装在屏蔽壳内形成探头；所述V形涡流线圈固定于屏蔽壳底部，包括α‑直导线和γ‑直导线；在本发明中利用永磁体将V形涡流线圈检测结果转化为两路独立的超声波信号，因此对缺陷的探查及其具体位置的确定可以由对两路独立的超声波信号的分析得到。本发明既能对待测非铁磁性金属材料进行大面积探查，又能确定缺陷的具体位置。
技术研发人员：王晓红;黄超;吴德会
受保护的技术使用者：厦门大学
技术研发日：2019.03.02
技术公布日：2019.05.21