一种激光检测装置的制作方法

本申请涉及分析检测设备技术领域，尤其是涉及一种激光检测装置。

背景技术：

现场快速检测是由中国医学装备协会poct装备技术专业委员会在多次专家论证基础上统一命名，并将其定义为：在采样现场进行的，利用便携式分析仪器及配套试剂快速得到检测结果的一种检测方式；其中，荧光免疫定量检测就属于现场快速检测中的一种，通常采用荧光免疫层析分析仪进行荧光免疫定量检测。

现有荧光免疫层析分析仪主要采用荧光免疫法，荧光免疫法是荧光通过滤光片过滤掉自身发射的杂光后，荧光照射试条反应区，激发并射出激发光线，激发光线通过平凸镜折射后已平行光经过滤光片，清除激发过程中产生的杂质光线，在经过平凸镜折射汇聚焦点，被处于焦点位置的光耦接收，该激发光线进入接收光耦后经过运算转换为电压信号。

针对上述中的相关技术，发明人发现：在使用上述荧光免疫层析分析仪时，激发光线所在光路可能存在灰尘和水汽等，会对激发光线造成一定影响，进而可能影响检测的精确性。

技术实现要素：

为了提高装置检测的精确性，本申请提供一种激光检测装置。

本申请提供的一种激光检测装置采用如下的技术方案：

一种激光检测装置，包括：

光学机构，内部限定有用于供光线通过的检测光路；

测试机构，包括：

导光片、开设在导光片上的凹孔以及设置在导光片侧部的至少两个测试灯；

所述测试灯的照射方向不共线，所述凹孔开设在测试灯的照射方向上，且所述凹孔的底部设置有用于将相应测试灯的光线反射至光耦的倾斜平面。

通过采用上述技术方案，在装置进行检验之前，可以使用测试机构对检测光路内进行测试，通过测试灯和导光片的配合使用，测试灯发出的光线射入导光片内部，使得凹孔内壁发光，且凹孔的底面发出的光线射入光耦，从而进行检测前测试，降低了光路内水汽等因素造成的设备因素，提高了装置检测的精确性。

可选的，所述导光片内开设有通孔；

通孔内还设置有导光柱，所述导光柱一侧为水平切面，一侧为倾斜切面；

所述水平切面与导光片的上表面所在水平面平行；

所述导光柱和通孔形成所述凹孔。

通过采用上述技术方案，在制作导光片时，可以先在导光片上开设通孔，然后将导光柱插入通孔内，使得导光柱和通孔形成所谓凹孔，从而降低导光片的制作复杂度。

可选的，所述测试机构包括遮光板，所述遮光板滑动连接至所述装置内检测光路入口处的内壁上。

通过采用上述技术方案，在对检测光路测试完成之后，需要开始检验，由于导光片上的凹孔会造成光的发散，而将遮光板移动至覆盖住导光片，可以使得射入检测光路内的检测光线不会受到凹孔的影响，从而提高了装置检测的精确性。

可选的，所述凹孔设置有两个。

通过采用上述技术方案，两个凹孔可以提高测试光的强度，从而可以对检测光路观察得更加清楚。

可选的，所述光学机构包括激光发射器、激发组件、过滤组件和接收组件；

所述激发组件、过滤组件和接收组件皆位于所述检测光路内，且所述激发组件、过滤组件和接收组件沿检测光路内光线射入的方向依次排列；

所述激光发射器设置于装置内部，用于发射检测光线；

所述激发组件用于接收检测光线，并对所述检测光线反射后发出激发光线；

所述过滤组件用于接收激发光线，并对激发光线进行过滤；

所述接收组件用于接收过滤后的激发光线，并对过滤后的激发光线进行分析处理后输出电信号。

通过采用上述技术方案，按照检测光路的方向依次排列激发组件、过滤组件和接收组件，然后通过激光发射器、激发组件、过滤组件和接收组件之间的配合使用，可以完成整个检测过程。

可选的，所述过滤组件包括滤光片、第一平凸镜和第二平凸镜；

所述第一平凸镜位于所述滤光片下方，且靠近所述激发组件，用于接收反射光，并对反射光进行聚集；

所述滤光片用于对反射光进行过滤；

所述第二平凸镜位于所述滤光片上方，且靠近所述接收组件，用于接收过滤后的反射光，并对过滤后的反射光进行聚集。

通过采用上述技术方案，第一平凸镜和第二平凸镜对反射光进行二次聚集，防止出现反射光较弱，或者经过滤光片过滤后的反射光较弱，从而导致接收模块接收到反射光后，检测结果出现一定的误差的可能性，间接提高了装置检测的精确性。

可选的，还包括支撑组件；

所述支撑组件包括第一支撑筒、第二支撑筒和第三支撑筒；

所述第一支撑筒连接第二支撑筒，所述第二支撑筒连接第二平凸镜和滤光片，所述第三支撑筒连接第一平凸镜；

所述第一支撑筒、第二支撑筒和第三支撑筒的轴线重合。

通过采用上述技术方案，支撑组件对光学机构起到了支撑作用，从而保证检测光路的稳定性，不会出现检测过程中，光学机构出现故障和脱落的情况，从而提高了装置检测的稳定性。

综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

通过导光片和测试灯的配合使用，通过在导光片上开设凹孔，使得测试灯发出的光可以射入检测光路内，若检测光路内存在水汽等设备因素，那么测试灯发出的光会受到一定影响，反之，则说明装置可以正常使用，采用这种在检测前测试的方式，可以降低设备因素的影响，提高装置检测的精确性。

附图说明

图1是本申请实施例的整体结构示意图。

图2是本申请实施例的正视图。

图3是沿图2的a-a线剖视图。

图4是图3中的b部放大图。

图5是本申请实施例中导光片和测试灯的俯视图。

附图标记说明：1、壳体；2、导光片；21、测试灯；22、遮光板；23、凹孔；24、导光柱；3、激光发射器；31、试条；32、第一平凸镜；33、滤光片；34、第二平凸镜；35、接收组件；4、支撑组件；41、第一支撑筒；42、第二支撑筒；43、第三支撑筒。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的全部其他实施例，都属于本申请保护的范围。

下面结合说明书附图对本申请实施例做进一步详细描述。

本申请实施例公开一种激光检测装置。参照图1、图2和图3，一种激光检测装置包括壳体1，壳体1内设置有光学机构和支撑组件4；光学机构包括激光发射器3、激发组件、过滤组件和接收组件35，支撑组件4包括第一支撑筒41第二支撑筒42和第三支撑筒43。

激光发射器3用于发射检测光线；壳体1内限定有用于供检测光线通过的检测光路，激发组件、过滤组件和接收组件35皆位于检测光路内，且激发组件、过滤组件和接收组件35沿检测光路内光线射入的方向依次排列，激发组件位于检测光路入口处，激光发射器3与检测光路之间有一定的角度，使得激光发射器3发射的检测光线通过激发组件反射后可以进入检测光路内。

相较于使用荧光，采用激光发射器3的理由在于，激光发射器3发出的激光具有光源稳定、强度高和杂光少的特定，使用激光既可以解决装置的准确性和一致性，又可以简化光学机构的复杂度，从而降低了装置的成本。

激发组件包括试条31，试条31上设置有试条反应区，当激光发射器3发出的检测光线照射到试条31上的试条反应区时，试条31激发并射出激发光线。

过滤组件位于激发组件上方，用于接收激发光线，并对激发光线进行过滤后射出；过滤组件包括第一平凸镜32、滤光片33和第二平凸镜34。

壳体1内设置有供第三支撑筒43放置的第一台阶，第三支撑筒43放置在第一台阶上，第三支撑筒43连接第一平凸镜32，第一平凸镜32的平面一侧朝向激发组件，使得激发光线垂直于第一平凸镜32的平面射入，并从凸面一侧射出，第一平凸镜32对激发光线起到了聚集的作用，降低因激光发射器3或激发组件等本身因素，导致出现激发光线较弱，使得检测结果出现误差的可能性。

壳体1内还设置有供第一支撑筒41放置的第二台阶，第一支撑筒41放置于第二台阶上，第一支撑筒41分别连接滤光片33和第二支撑筒42，且第二支撑筒42位于滤光片33上方，第二支撑筒42连接第二平凸镜34，第二平凸镜34的凸面一侧朝向滤光片33，使得过滤后的激发光线垂直于第二平凸镜34的凸面射入，并从平面一侧射出，同样的，第二平凸镜34对过滤后的激发光纤起到了聚集的作用，降低因滤光片33对激发光线过滤后，激发光线较弱，使得检测结果出现误差的可能性。

第二平凸镜34的平面一侧靠近接收组件35，接收组件35采用光耦，光耦接收到光信号后会转换成电信号，并将电信号输出。

至此，可以得到光学机构检测的过程，首先由激光发射器3发射出激光，即检测光线，检测光线直线射出，并射入至试条31上的试条反应区，由于试条31上的化学物质导致试条31接收到检测光线后激发，并反射出激发光线，激发光线射入检测光路，并经由第一平凸镜32地聚集、滤光片33地过滤和第二平凸镜34地聚集后射入接收组件35；但是在检测过程中，实质上只有滤光片33一道过滤程序，故很可能出现检测光路内存在水汽或尘土等情况时，对激发光线造成一定的影响，使得激发光线产生折射或反射，进而使得激发光线较弱，导致检测结果出现较大误差的情况。

为解决上述问题，可以在使用光学机构检测之前，先对检测光路内部情况做检测前的测试，本申请实施例中通过测试机构来完成该测试过程。

参考图3和图4，测试机构包括导光片2和两个测试灯21，导光片2和测试灯21皆位于检测光路的入口处，且位于试条31的上方，导光片2和测试灯21在同一水平面上；导光片2内设置有两个凹孔23，凹孔23的开口方向朝向试条31，凹孔23的底面朝向检测光路内部，且凹孔23的底面为倾斜的平面，测试灯21射出的测试光线在导光片2内传导，测试光线接触到凹孔23，会使得凹孔23侧壁及底面发光，且两个测试灯21的照射方向不共线，使得不同的测试灯21会照亮不同的凹孔23，而此时的底面和测试光线呈一定的角度，所以凹孔23的底面变成了间接的光源，而凹孔23底面反射的测试光线射入检测光路内，从而使得测试光线进入检测光路内对检测光路内的环境进行测试，光耦接收到测试光线，并将光信号转换成电信号，将电信号与预设的电流阈值进行比较，若二者相差较大，则说明此时的检测光路内存在设备因素。

在对检测光路进行测试的时候，测试灯21发出的光通过导光片2及凹孔23的反射和折射后射入检测光路内，若检测光路内存在水汽、尘土等设备因素，则测试灯21发出的光会受到一定的影响，此时光线中的光子与水汽中存在的水汽分子之间的相互作用力会使得光子的运动轨迹受到改变，从而使得运动方向发生偏转，从而使得光线发生散射，此时就需要对装置进行相关处理，保证装置内不会出现设备因素等问题，从而可以提高装置检测的精确性。

在本申请实施例中，导光片2为玻璃片，测试灯21可以采用led灯或小型的激光器；而凹孔23开设有两个，降低出现因测试灯21自身设备因素导致测试光线较弱的可能性，从而提高了测试过程的准确性。

壳体1内开设有滑动孔，滑动孔内设置有滑块，且滑块一侧连接导光片2，当需要使用导光片2进行测试时，推动滑块使得导光片2移动至检测光路的入口处位置，从而可以对检测光路进行测试。

可以理解的是，测试灯21是用于发出测试光线，故对测试灯21的安装位置并不做限定，测试灯21可以是安装在装置内部，通过导线连接至壳体1外侧的按钮，也可以是安装在激光发射器3上方，使得测试光线通过试条31反射至导光片2，再进行测试，还可以是设置在滑动孔底部，且为按压式测试灯21，当推动滑块使得导光片2对应至滑动孔底部时，此时的导光片2挤压测试灯21，使得测试灯21开启，从而实现测试光线射入导光片2进行测试；优选的，本实施例中采用将测试灯21设置在导光片2一侧，且与导光片2位于同一水平面上，滑块连接测试灯21，测试灯21连接导光片2，当需要进行测试时，打开测试灯21，开始测试，当不需要测试时，将导光片2和测试灯21通过滑块移动至离开壳体1即可。

参考图3、图4和图5，需要注意的是，测试灯21在安装过程中，只需要满足打开两个测试灯21时，每个测试灯21会照亮对应的凹孔23即可。

在进行测试时，由于导光片2内凹孔23的存在，使得测试光线聚集在凹孔23的孔底部，而凹孔23底面朝向测试光路内部，从而使得凹孔23成为间接的光源，而两个凹孔23同时成为光源，可以提高射入检测光路内部的测试光线的强度；故，凹孔23底面的倾斜平面只需要满足与测试光线呈一定角度即可，由于本申请中采用的测试灯21安装在导光片2一侧，此时的测试光线与导光片2所在水平面平行，因此凹孔23底部的倾斜平面与导光片2所在平面之间的角度需要保持在0°至90°之间，且不包括0°和90°

当二者之间的角度为0°时，说明凹孔23底面为与导光片2平行的平面，此时的测试光线只能在导光片2内反射和直射，无法产生折射，也无法使测试光线射入检测光路内。

当二者之间的角度为90°时，说明凹孔23底面为与导光片2垂直的平面，此时凹孔23为通孔，并不满足条件，同样无法成立。

当二者之间的角度为30°时，由于角度较小，导致聚集在凹孔23底面的测试光线较弱，使得凹孔23反射和折射的测试光线较弱，虽然此时的凹孔23仍然可以作为间接光源，但是由于间接光源太弱，无法进行测试。

当二者之间的角度为60°时，虽然此时的测试光线大部分聚集在凹孔23底面，但是由于角度较大，导致作为间接光源的凹孔23射出的光线射入的方向与检测光路之间角度过大，测试光线在检测光路内产生折射，导致不能对检测光路内部进行完整的测试。

优选的，本实施例中采用的角度为45°，当凹孔23底部的倾斜平面与导光片2所在平面呈45°，且两个凹孔23底部的倾斜平面相对时，此时的测试光线经过反射和折射后可以保证大部分的光线射入检测光路内部，且此时的射入检测光路内的测试光线与检测光路之间的角度较小，使得检测光线可以照射至检测光路内部，从而对检测光路内进行整体测试，此时的测试光线损耗亦为最小，故使用该角度，可以提高测试的精确性。

当对装置测试完成后，需要使用装置进行浓度检测，那么此时当光线射入检测光路时，凹孔23会使光线产生分散，所以在壳体1内设置遮光板22，遮光板22滑动连接壳体1，当测试完成之后，移动遮光板22使得遮光板22覆盖导光片2，防止凹孔23对测试光线产生影响，从而导致检测结果出现误差的情况，间接提高了检测的精确性。

遮光板22连接另一个滑块，在安装遮光板22时，将遮光板22连接至滑块上，且遮光板22位于导光片2上方，遮光板22上开设有通光孔，当测试完成后，推动该滑块使得遮光板22移动至导光片2上方，且此时的遮光板22遮挡住两个凹孔23，且此时的通光孔与检测光路同轴，使得遮光板22不会对检测光线造成影响，且保证了凹孔23不会对检测光线造成影响，使用遮光板22，可以不必每次测试完成之后，都将导光片2取下，使得检测光路内部因导光片2的移动而出现水汽或灰尘等设备因素，使用遮光板22，一方面提高了检测的精确性，另一方面提高了检测的效率。

因装置本身属于较为精密的仪器，而测试机构仅包括导光片2、测试灯21和遮光板22，且测试机构是安装在检测光路的入口处位置，这就使得导光片2为较小的精密器件，而导光片2内还需要开设凹孔23，制作工艺较为复杂，这里提供一种导光片2的制作流程。

首先在导光片2内开设通孔，然后拿出一个玻璃柱，该玻璃柱横截面的面积与形状和通孔适配，使得玻璃柱可以插入通孔内；然后将玻璃柱一端的端面制作为倾斜角度为45°的光滑平面，在将该端部插入导光片2的通孔内，且保证该端部不超过导光片2的厚度的一半，然后沿导光片2的上表面切割玻璃柱，使得留在通孔内的导光柱24一端面为水平切面，另一侧为倾斜切面，且该水平切面与导光片2的上表面所在水平面平行，此时导光柱24与通孔内壁围成的空间形成凹孔23，导光柱24的倾斜平面即为凹孔23的底部；采用这种方式，可以较为快速地制作出导光片2，效率较高。

通过导光片2和遮光板22的配合使用，通过在导光片2上开设凹孔23，使得测试灯21发出的光可以射入检测光路内，对检测光路进行测试，采用这种在检测前测试的方式，可以降低设备因素的影响，提高装置检测的精确性。

以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的公开范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离前述公开构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其他技术方案。例如上述特征与本申请中公开的（但不限于）具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。