技术特征：
1.一种微结构角度激光测试仪器，其特征是，包括架体、激光光源、膜片固定器以及刻度尺，激光光源固定连接在架体的一端，刻度尺固定连接在架体的另一端，膜片固定器固定连接在架体的中部位置，激光光源产生的激光与膜片固定器定位的膜片垂直。2.根据权利要求1所述的一种微结构角度激光测试仪器，其特征是，膜片固定器包括相向设置的第一槽和第二槽，第一槽和第二槽的槽底壁距离小于膜片宽度。3.根据权利要求1所述的一种微结构角度激光测试仪器，其特征是，刻度尺为透光材料。4.根据权利要求3所述的一种微结构角度激光测试仪器，其特征是，刻度尺的各个刻度具有对应膜片结构的标记。5.根据权利要求1所述的一种微结构角度激光测试仪器，其特征是，架体的侧面设有保护板。6.根据权利要求5所述的一种微结构角度激光测试仪器，其特征是，保护板为不透光材料。7.根据权利要求1至6任意一项所述的一种微结构角度激光测试仪器，其特征是，还包括有保护气瓶，保护气瓶连通架体，保护气瓶向架体内充入气体。
技术总结
本实用新型公开了一种微结构角度激光测试仪器，旨在解决现有的光学薄膜通过显微镜观察膜片结构流程复杂，无法应用于生产线的不足。该实用新型包括架体、激光光源、膜片固定器以及刻度尺，激光光源固定连接在架体的一端，刻度尺固定连接在架体的另一端，膜片固定器固定连接在架体的中部位置，激光光源产生的激光与膜片固定器定位的膜片垂直。利用激光在膜片不同形状的微结构折射产生的不同偏折角度来测算微结构的特征，方便高效，易于在生产线上推广，本装置能轻易照射到不规则的几何图案表面，就算是最深处也可照射到，精度更高。精度更高。精度更高。
技术研发人员：劳永杰 沈渊 周鹏 潘家鑫
受保护的技术使用者：凯鑫森（上海）功能性薄膜产业股份有限公司
技术研发日：2022.12.12
技术公布日：2023/3/14