算该磁传感器的校正输出。该指令进一步包括通过基于该组合的校准偏移值以及该 磁传感器的校正输出为该系统状态改变事件的每一个更新校准偏移值，使得该处理器动态 地校准该磁传感器。
[0073] 该指令还可以使得该处理器将该磁传感器的校正输出提供给在计算设备上执行 的一个或多个应用程序。该磁传感器的校正输出可以包括与该计算设备相对应的环境磁 场。
[0074] 示例4
[0075] 这里提供一种装置，用于动态地校准磁传感器。该装置包括磁传感器，处理器，以 及包含处理器可执行代码的存储装置，当由处理器执行时，配置为经由该磁传感器为该装 置收集传感器数据并确定该装置的系统状态。该装置还包括控制器，配置为基于该传感器 数据以及该装置的系统状态动态地校准磁传感器。
[0076] 该控制器可以包括传感器集线器。该控制器可以配置为通过为与该所确定的装置 的系统状态相对应的系统状态改变事件确定校准偏移值，以及利用该校准偏移值来校正包 括该传感器数据的磁传感器的输出，动态地校准该磁传感器。该处理器可执行代码配置为 将该磁传感器的校正输出提供给在该装置上执行的应用程序。
[0077] 可以理解的是，前述示例中的特例可以在任何地方被用于一个或多个实施例中。 例如，以上所述的该计算设备的所有可选特征还可以结合这里所述的方法或者机器可读介 质来实施。此外，尽管流程图和/或状态图在这里被用来描述实施例，但本发明不局限于本 文的这些图或者与对应的描述。例如，流程不必要走过这里所描述的每一个示出的框图或 者状态或者以图示和描述的相同次序走过。
[0078] 本发明不是严格地拘泥于这里列出的特定细节。实际上，掌握本公开益处的本领 域技术人员将会意识到来自前述描述和附图的其他多种变化也包含在本发明的范围内。相 对应地，由包含任何对其的修改的下列权利要求书定义本发明的范围。
【主权项】
1. 一种计算设备，包括： 传感器集线器； 磁传感器，通信地耦合于所述传感器集线器，其中所述磁传感器配置为收集与所述计 算设备相对应的传感器数据； 处理器；以及 存储装置，其包括处理器可执行代码，所述代码当由所述处理器执行时配置为：确定所 述计算设备的系统状态；以及 将所述计算设备的所确定的系统状态发送给所述传感器集线器；以及 其中所述传感器集线器配置为基于经由所述磁传感器收集的所述传感器数据以及所 述计算设备的所述所确定的系统状态来动态地校准所述磁传感器。2. 如权利要求1的计算设备，其中所述传感器集线器配置为通过为与所述计算设备的 所确定系统状态相对应的系统状态改变事件确定校准偏移值，以及利用所述校准偏移值来 校正包括所述传感器数据的所述磁传感器的输出，来动态地校准所述磁传感器。3. 如权利要求2的计算设备，其中所述传感器集线器配置为通过从所述磁传感器的输 出的值减去所述校准偏移值来校正所述磁传感器的输出。4. 如权利要求2的计算设备，其中所述磁传感器的校正输出包括与所述计算设备相对 应的环境磁场，并且其中所述存储器集线器配置为将所述环境磁场提供给在所述计算设备 上执行的应用程序。5. 如权利要求1的计算设备，其中所述传感器集线器配置为通过为与所述计算设备的 所确定系统状态相对应的多个系统状态改变事件的每一个确定校准偏移值，并且利用所述 校准偏移值来校正包括所述传感器数据的所述磁传感器的输出，来动态地校准所述磁传感 器。6. 如权利要求5的计算设备，其中所述传感器集线器配置为： 通过为所述多个系统状态改变事件求和所述校准偏移值，确定对应于所述计算设备的 所确定系统状态的组合的校准偏移值；以及 通过从所述磁传感器的输出的值减去所述组合的校准偏移值，校正所述磁传感器的输 出。7. 如权利要求5的计算设备，其中所述磁传感器的所述校正输出包括与所述计算设备 相对应的环境磁场，并且其中所述传感器集线器配置为提供所述环境磁场给在所述计算设 备上执行的应用程序。8. 如权利要求1的计算设备，其中所述传感器集线器是经由所述计算设备的操作系统 来执行的。9. 如权利要求1的计算设备，其中所述传感器集线器是经由所述计算设备的所述处理 器来执行的。10. 如权利要求1的计算设备，其中所述传感器集线器是经由所述计算设备的操作系 统和所述计算设备的所述处理器来执行的。11. 如权利要求1的计算设备，其中所述磁传感器是经由传感器接口被通信地耦合到 所述传感器集线器以及所述处理器。12. -种方法，用于动态地校准计算设备的磁传感器，包括： 经由磁传感器为计算设备收集传感器数据； 确定所述计算设备的系统状态；以及 基于所述传感器数据以及所述计算设备的所述系统状态动态地校准所述计算设备的 所述磁传感器。13. 如权利要求12的方法，其中动态地校准所述磁传感器包括为与所述计算设备的所 确定的系统状态相对应的系统状态改变事件确定校准偏移值。14. 如权利要求13的方法，包括利用所述校准偏移值来校正包括所述传感器数据的所 述磁传感器输出。15. 如权利要求14的方法，包括将所述磁传感器的校正输出提供给在所述计算设备上 执行的应用程序。16. 如权利要求12的方法，其中动态地校准所述磁传感器包括： 为与所述计算设备的所确定系统状态相对应的多个系统状态改变事件的每一个确定 校准偏移值； 通过为所述多个系统状态改变事件求和所述校准偏移值来确定组合的校准偏移值；以 及通过从所述磁传感器的输出的值减去所述组合的校准偏移值来校正所述磁传感器的输 出。17. 如权利要求16的方法，包括将所述磁传感器的所述校正输出提供给在所述计算设 备上执行的应用程序。18. 至少一种机器可读介质，具有存储在其中的指令，所述指令响应于在处理器上执 行，使得所述处理器： 确定驻留在计算设备中的磁传感器的输出，其中所述输出包括传感器数据； 确定所述计算设备的系统状态； 为对应于所确定的系统状态的每个系统状态改变事件确定校准偏移值； 通过为所述系统状态改变事件求和所述校准偏移值来计算组合的校准偏移值；通过从 所述磁传感器的输出的值减去所述组合的校准偏移值来计算所述磁传感器的校正输出；以 及 通过基于所述组合的校准偏移值和所述磁传感器的所述校正输出为任何所述系统状 态改变事件更新所述校准偏移值，动态地校准所述磁传感器。19. 如权利要求18的至少一种机器可读介质，其中所述指令使得所述处理器将所述磁 传感器的所述校正输出提供给在所述计算设备上执行的一个或多个应用程序。20. 如权利要求18的至少一种机器可读介质，其中所述磁传感器的所述校正输出包括 与所述计算设备相对应的环境磁场。21. -种装置，用于动态地校准磁传感器，包括： 磁传感器； 处理器； 存储装置，其包括处理器可执行代码，所述代码当由所述处理器执行时，其配置为： 经由所述磁传感器为所述装置收集传感器数据；以及 确定所述装置的系统状态；以及 控制器，配置为基于所述传感器数据和所述装置的所述系统状态动态地校准所述磁传 感器。22. 如权利要求21的装置，其中所述控制器包括传感器集线器。23. 如权利要求21的装置，其中所述控制器配置为通过为与所述装置的所确定系统状 态相对应的系统状态改变事件确定校准偏移值，以及利用所述校准偏移值来校正包括所述 传感器数据的所述磁传感器的输出，动态地校准所述磁传感器。24. 如权利要求23的装置，其中所述处理器可执行代码配置为将所述磁传感器的所述 校正输出提供给在所述装置上执行的应用程序。
【专利摘要】提供了一种计算设备、系统、装置，以及至少一种机器可读介质，用于动态地校准磁传感器。该计算设备包括传感器集线器以及通信地耦合于该传感器集线器的磁传感器。该磁传感器配置为收集与该计算设备相对应的传感器数据。该计算设备还包括处理器，配置为执行存储的指令，以及存储指令的存储装置。该存储装置包括处理器可执行代码，当由处理器执行时，配置为确定该计算设备的系统状态，并将该计算设备的所确定的系统状态发送给传感器集线器。该传感器集线器配置为基于经由该磁传感器收集的传感器数据以及该计算设备的所确定的系统状态来动态地校准该磁传感器。
【IPC分类】G01C17/28, G01R33/025, G01R33/00, G01C17/38
【公开号】CN105209856
【申请号】CN201480009071
【发明人】G·A·布里斯特, K·J·丹尼尔, M·A·科万
【申请人】英特尔公司
【公开日】2015年12月30日
【申请日】2014年3月10日
【公告号】EP2972683A1, US20140278190, WO2014150241A1