面板检测装置与方法
【专利摘要】本发明提供一种面板检测装置，包含一承载平台、一输送平台以及一面板检测总成。输送平台设置于承载平台上方，且输送平台上具有用来推送面板的一推料模块。面板检测总成包含多个光源模块以及与多个光源模块相对应的多个取像模块。多个光源模块包含一正光光源、一第一水平光光源及一背光光源，多个取像模块具有一正光取像模块、一水平光取像模块及一背光取像模块，且推料模块适于推送面板横越过承载平台，使多个光源模块所发射的多个光束可扫描面板进行检测。
【专利说明】
面板检测装置与方法
技术领域
[0001]本发明关于一种面板检测装置，特别指一种可以连续针对多个面板各自的上表面、下表面、两个水平侧表面及两个垂直侧表面进行检测的面板检测装置。
【背景技术】
[0002]随着消费性显示装置技术的增进以及需求量的增长，凡手机、平板电脑、电视等显示装置，为寻求更高品质的显示效果，除了具备尖端的面板制程技术以外，面板成品良率的检测更是提高产品价值的关键技术。
[0003]由于面板在制作过程中，时常伴随着清洗、切割或是输送等步骤，故在面板的表面或周缘处很容易出现脏污、裂痕、刮伤或是毛肩等缺陷。而在面板前期的检测过程中，若上述缺陷未能被检测出来，除了将造成后续组装成品的良率受到考验外，在组装过程中亦有可能因为上述的面板缺陷，导致后端组装用机械设备的损坏。
[0004]因此，为了针对面板的各表面，8卩:上表面、下表面及前、后、左、右等四个侧表面进行检测，在现有的检测过程中，乃是通过使检测设备分别针对面板的不同表面，采用分段检测的方式来获得相关检测结果。此外，部份机械设备则采用多个机械手臂的配置方式，使其除了用来传递待测物-即面板以外，亦可通过翻转、置换工作区域等方式，以获取前述各表面的信息。
[0005]另一方面，获取面板表面信息的检测方式，除了采用光学技术以外，亦可能采用其他物理检测方法。然而，即使通过各种物理检测方法能撷取高精准度的检测结果，但由于大部分的检测设备皆为分段检测或是必需进行复杂程序的检测步骤，故前述方式不但会拖延检测时间，亦会增加面板在检测过程中损坏的机率。
[0006]有鉴于此，如何提供一种一次性的面板检测作业，使其可仅在单一检测流程中即完成各表面的检测，以提高检测效率并降低面板损坏率，乃是业界亟需克服的议题。
【发明内容】
[0007]本发明之一目的在于提供一种单次性(或称:一次性)的面板检测装置及面板检测方法，藉以提高面板的检测效率、检测良率，并降低面板损坏率。
[0008]为达上述目的，本发明提供的一种面板检测装置，包含一承载平台、一输送平台及一面板检测总成。输送平台设置于承载平台上，并具有一推料模块。面板检测总成具有多个光源模块及与多个光源模块相互对应的多个取像模块。其中，多个光源模块包含一正光光源、一第一水平光光源及一背光光源，多个取像模块具有一正光取像模块、一第一水平光取像模块及一背光取像模块，且推料模块适于推送面板横越过承载平台，使多个光源模块所发射的多个光束可扫描面板进行检测。
[0009]为达上述目的，本发明的面板检测装置所具有的多个光束包含一正光光束、一第一水平光光束及一背光光束，且正光光源、第一水平光光源及背光光源适于分别发射该正光光束、该第一水平光光束及该背光光束。
[0010]为达上述目的，本发明的面板检测装置所具有的多个光源模块还包含一倾斜光光源以发射一倾斜光光束，多个取像模块还包含一倾斜光取像模块，且倾斜光取像模块相应倾斜光光源设置，以接收被面板所反射的倾斜光光束。
[0011 ]为达上述目的，本发明的面板具有一上表面、一下表面、两个水平侧表面及两个垂直侧表面。
[0012]为达上述目的，本发明的面板检测装置所具有的承载平台具有两个对位模块，以使面板可相对于承载平台进行对位。
[0013]为达上述目的，本发明的面板检测装置所具有的推料模块具有两个推料装置，该两个推料装置分别抵靠于面板相对的两个垂直侧边，并以一等速度方式共同推送面板。
[0014]为达上述目的，本发明的面板检测装置所具有的推料模块具有两个推料装置，该两个推料装置分别抵靠于面板相对的两个垂直侧边，并以一变速度方式共同推送面板。
[0015]为达上述目的，本发明的面板检测装置所具有的推料模块还包含多个第二水平光光源以分别发射一第二水平光束，当推料模块推送面板时，水平光束适于照射面板相对的两个侧边。
[0016]为达上述目的，本发明之面板检测装置所具有的多个第二水平光光源嵌设于两个推料装置内。
[0017]为达上述目的，本发明的面板检测装置所具有的多个第二水平光光源为一线光源。
[0018]为达上述目的，本发明的面板检测装置所具有的输送平台定义多个工作区，相邻的各工作区之间分别设置至少一间隙，且各至少一间隙可供多个光源模块所发射的多个光束通过。
[0019]为达上述目的，本发明的面板检测装置所具有的承载平台上设置有多个气浮装置，使面板在检测过程中始终呈现一气浮状态。
[0020]为达上述目的，本发明的面板检测装置所具有的至少一间隙具有一第一间隙、一第二间隙及一第三间隙，以分别供多个光源模块所发射的多个光束通过。
[0021]为达上述目的，本发明的面板检测装置所具有的多个光源模块所具有的正光光源、背光光源及/或倾斜光光源为一线光源。
[0022]本发明亦包含一种面板检测方法，包含下列步骤:(a)提供一输送平台于一承载平台上；(b)提供一面板至输送平台；(C)利用一对位模块进行面板的对位；(d)提供一推料模块，并利用推料模块推送面板；(e)提供多个光源模块，以在推料模块推送面板的过程中发射多个光束至面板；以及(f)利用多个取像模块撷取多个光束被面板所反射的多个影像、或撷取多个光束穿透面板的多个影像，以完成检测作业。
[0023]为达上述目的，本发明的面板检测方法所具有的多个取像模块可用以撷取多个光束被面板的多个表面所反射的多个影像。
[0024]为达上述目的，本发明的面板所具有的多个表面为一上表面、一下表面、两个水平侧表面及两个垂直侧表面。
[0025]为达上述目的，本发明的面板检测方法所具有的推料模块在一气浮状态下，以一等速度方式推送面板。
[0026]为达上述目的，本发明的面板检测方法所具有的推料模块在一气浮状态下，以一变速度方式推送面板。
[0027]为了让上述的目的、技术特征和优点能够更加为本领域之人士所知悉并应用，下文以本发明的数个较佳实施例以及附图进行详细的说明。
【附图说明】
[0028]图1为本发明面板检测装置的立体图；
[0029]图2为本发明面板检测装置的俯视图；
[0030]图3为本发明面板检测装置的正光取像模块、第一水平光取像模块及背光取像模块的设置示意图；
[0031]图4为本发明面板检测装置的正光光源、第一水平光光源及背光光源的设置示意图；
[0032]图5、6为本发明面板检测装置的第一水平光光源与第二水平光光源的设置示意图；
[0033]图7为本发明面板检测装置的倾斜光光源呈现45度时的设置示意图；
[0034]图8为本发明面板检测装置的倾斜光光源呈现14度时的设置示意图；以及
[0035]图9为本发明面板检测方法的步骤图。
【具体实施方式】
[0036]本发明的一种面板检测装置，其适于用以进行一面板的检测作业，以确保后续组装成品(如智能手机或平板电脑)的良率。
[0037]如图1、2所示，本发明用以检测一面板200的一面板检测装置100包含一承载平台110、一输送平台120及一面板检测总成130。输送平台120设置于承载平台110上，且输送平台120并具有一推料模块122。面板检测总成130具有多个光源模块140及与多个光源模块140相互对应的多个取像模块150。如此一来，输送平台120所具有的推料模块122适于推送面板200横越过承载平台110，使多个光源模块140所发射的多个光束可扫描面板200的各表面而进行相关的检测作业。
[0038]详细而言，由于移动装置的普及与薄性化的需要，使得移动装置的核心元件-显示或触控用的面板，其所具有的各项参数(如表面平整度、表面曲度、表面刮伤、切边缺陷等)也都具有严格的数据规范。因此，前述的面板200所具有的一上表面202、与上表面202相对的一下表面204、以及分布于面板200的四个侧边的两个水平侧表面206与两个垂直侧表面208，皆被赋予严格的品质要求。而藉由本发明的面板检测装置100，便可在单次性(或称:一次性)的检测流程中，同时完成前述面板200的上表面202、下表面204、两个水平侧表面206与两个垂直侧表面208的检测作业，从而大幅缩短检测时间并有效增加检测效率。
[0039]以下首先将对面板检测总成130的构成与动作方式进行说明。
[0040]如图3、4所示，面板检测总成130所具有的多个光源模块140包含一正光光源142、一第一水平光光源144及一背光光源146，多个取像模块150具有一正光取像模块152、一水平光取像模块154及一背光取像模块156。当推料模块122推送面板200横越过承载平台110时，正光光源142、第一水平光光源144及背光光源146所分别发射的多个光束在被面板200的各表面反射、或穿透面板200后，便可分别为正光取像模块152、水平光取像模块154及背光取像模块156所接收，从而供检测人员依据所接收的影像信息进行分析并获得面板200的各项参数的相关检测结果。
[0041]除上述正光光源142、第一水平光光源144及背光光源146外，如图7所示，面板检测总成130所具有的多个光源模块140还可进一步包含一倾斜光光源148，且多个取像模块150还包含一倾斜光取像模块158，使倾斜光光源148所发射的光束经面板200反射后，可相应地被倾斜光取像模块158所接收，进而强化针对面板200进行检测(如:刮伤检测)的检测品质。
[0042]实际在进行面板200的检测时，可先通过承载平台110所具有的两个对位模块(图未示出)的校准，使面板200可相对于承载平台110进行对位，以确保稍后的行进路线。接着，将推料模块122所具有两个推料装置122a分别抵靠于面板200相对的两个侧边(在本实施例中，该两个侧边为面板200的两个垂直侧表面208，但并非以此作为限制)，并使两个推料装置122a以一等速度方式共同推送面板200，以使面板200可依序被正光光源142、第一水平光光源144及背光光源146所各自发出的光束照射，从而通过正光取像模块152、水平光取像模块154及背光取像模块156所接收的反射光束或穿透光束来完成面板200的检测作业。
[0043]另一方面，在推料模块122中包含有多个第二水平光光源122b，使各第二水平光光源122b可针对推料模块122所抵靠的两个侧边(S卩:面板200的两个垂直侧表面208)分别发射一第二水平光束122c。如此一来，当推料模块122的推料装置122a在推送面板200时，第二水平光光源122b所发射的第二水平光束122c适于照射至面板200的两个垂直侧表面208、并被两个垂直侧表面208所反射，继而被水平光取像模块154所接收，以完成两个垂直侧表面208的相关检测作业。
[0044]在本发明的一较佳实施例中，前述的多个第二水平光光源122b直接嵌设于两个推料装置122a内，使得两个推料装置122a在推送面板200的过程中，多个第二水平光光源122b得依旧可对面板200的两个垂直侧表面208进行照射，同时避免可能出现的光损现象。
[0045]需说明的是，虽然在上述实施例中，两个推料装置122a以一等速度方式共同推送面板200，但并非以此作为限制。换言之，藉由对多个光源模块140与多个取像模块150的其他适当安排与配置，如:改变正光光源142、第一水平光光源144及背光光源146与正光取像模块152、水平光取像模块154及背光取像模块156之间的设置顺序，或使两个推料装置122a以一变速度方式共同推送面板200，皆有助于在单次性的推送作业或检测流程中，针对面板200的检测达到相同或更好的检测效果或检测速度。
[0046]在本发明中，面板检测装置100所具有的输送平台120可定义有多个工作区124，以分别供正光光源142、第一水平光光源144及背光光源146与正光取像模块152、水平光取像模块154及背光取像模块156等元件进行设置;且相邻的各工作区124之间还可进一步设置有至少一间隙126，使至少一间隙126可供多个光源模块140所发射的多个光束通过、或供被面板200所反射的多个光束通过。
[0047]另一方面，在面板检测装置100所具有的承载平台110上设置有多个气浮装置128，藉以减少相关阻力，协助加速推料模块122推送面板200的推送速度。因此，藉由多个气浮装置128的设置，可使面板200在被推料模块122推送以横越承载平台110进行检测的过程中，
始终呈现一气浮状态。
[0048]请再次参阅图1、2，在本发明的一较佳实施例中，前述的至少一间隙126包含一第一间隙126a、一第二间隙126b及一第三间隙126c，以分别供多个光源模块140所发射的多个光束通过、或供被面板200所反射的多个光束通过，并因此使该些光束能够被设置于承载平台110下方的正光取像模块152、水平光取像模块154及背光取像模块156所接收。
[0049]以下谨针对在本发明的一较佳实施例中，当欲进行面板200的上表面202、下表面204与两个水平侧表面206的检测作业时，第一间隙126a、第二间隙126b及第三间隙126c与各光源模块140、各取像模块150间的配置关系进行说明。
[0050]首先针对面板200的下表面204的检测作业进行说明。
[0051 ] 如图3、4所示，正光光源142与正光取像模块152皆设置于第一间隙126a的下方，且正光光源142较佳设置于输送平台120以及正光取像模块152之间。当面板200被推送而横越过第一间隙126a的上方时，正光光源142所发射的一正光光束142a适于被一反射镜模块160反射，从而由下而上地通过第一间隙126a扫描面板200的下表面204。接着，面板200的下表面204被正光光束142a扫描后所反射的下表面影像，便经由第一间隙126a被设置于下方的正光取像模块152所撷取，从而完成面板200的下表面204的检测作业。
[0052]接着，谨针对面板200的两个水平侧表面206的检测作业进行说明。
[0053]如图3、4所示，水平光取像模块154设置于第二间隙126b下方，且如图5、6所示，第一水平光光源144位于输送平台120的上方，且沿面板200的前进方向的垂直两个侧边设置。当面板200被推送而横越过第二间隙126b的上方时，第一水平光光源144所发射的一第一水平光光束144a适于由两侧分别照射及扫描面板200的两个水平侧表面206。接着，面板200的两个水平侧表面206被第一水平光光束144a扫描后所反射的两个水平侧表面影像，便可经由第二间隙126b被设置于下方的水平光取像模块154所撷取，以完成面板200的两个水平侧表面206的检测作业。
[0054]最后，谨针对面板200的上表面202的检测作业进行说明。
[0055]请再次参阅图3、4，背光光源146设置于第三间隙126c及输送平台120的上方，而背光取像模块156设置于第三间隙126c的下方。当面板200被推送而横越过第三间隙126c的上方时，背光光源146所发射的一背光光束146a适于由上而下地扫描面板200的上表面202。接着，面板200的上表面202被背光光束146a扫描后所得的上表面影像，便会穿透面板200而经由第三间隙126c被设置于下方的背光取像模块156所撷取，以完成面板200的上表面202的检测作业。
[0056]因此，藉由各工作区124所定义出的第一间隙126a、第二间隙126b及第三间隙126c与各光源模块140、各取像模块150间的配置与动作关系，便能够在单次推送面板200的过程中，分别获得面板200的上表面202、下表面204与两个水平侧表面206所各具有的上表面影像、下表面影像与两个水平侧表面影像，从而完成相对应的面板参数检测作业。
[0057]另一方面，为使相关的面板检测数据更为精确，如图4、7所示，还可在第二间隙126b内的两个相对侧各设置有一倾斜光光源148，并使倾斜光光源148相对于面板200的输送方向倾斜一特定角度。当倾斜光光源148所发射的一倾斜光光束148a由下而上地以该特定角度入射并扫描面板200的上表面202与下表面204后，面板200的上表面202与下表面204被倾斜光光束148a扫描后所反射的另一上/下表面影像，便可经由第二间隙126b被设置于下方的倾斜光取像模块158所撷取，以完成另一个针对面板200的上表面202与下表面204进行检测的作业，藉此补足仅使用正光光源142及/或背光光源146进行面板200的检测时所可能出现的失误，同时强化对面板200的上/下表面进行刮伤检测的检测能力。
[0058]在图7所示的实施例中，设置倾斜光光源148的倾斜角度为45度，而在图8所示的实施例中，设置倾斜光光源148的倾斜角度为14度，但并非以此作为限制。此外，前述的倾斜光取像模块158可直接由已设置于第二间隙126b下方的水平光取像模块154所取代，以降低本发明的面板检测装置100的建构成本。
[0059]上述的倾斜光光源148虽以设置于第二间隙126b内为例进行说明，但其亦可依据检测人员的不同需求，选择性地设置于第一间隙126a或第三间隙126c内。
[0060]又，在本发明的一较佳实施例中，多个光源模块140所具有的正光光源142及背光光源146皆为一线光源，以在检测过程中可提供均勾的正光光束142a与背光光束146a，并分别发射至面板200的下表面204与上表面202。
[0061]如图9所示，本发明亦揭示一种面板检测方法，其包含下列步骤:首先，如步骤901所示，提供一输送平台120于一承载平台110上;接着，如步骤902所示，提供一面板200至输送平台120;如步骤903所示，利用一对位模块进行面板200的对位;如步骤904所示，提供一推料模块122，并利用推料模块122推送面板200;如步骤905所示，提供多个光源模块140，以在推料模块122推送面板200的过程中发射多个光束至面板200;最后，如步骤906所示，利用多个取像模块150撷取多个光束被面板200所反射的多个影像、或撷取多个光束穿透面板200的多个影像，以完成检测作业。
[0062]相应于前述的面板检测装置100，在本发明的面板检测方法中，多个取像模块150适于用以撷取多个光束被面板200的多个表面(即:下表面204、两个水平侧表面206与两个垂直侧表面208)所反射的多个影像，或用以撷取光束穿透面板200的上表面202后所形成的影像，以供进行相关检测作业。
[0063]并且，有鉴于现有电子产品或移动装置所搭载的面板多具有轻、薄等物理特性，在进行面板检测时稍不注意，就可能对面板造成损伤，故本发明的面板检测方法中，乃进一步在承载平台110上设置有多个气浮装置128;如此一来，当推料模块122所具有的推料装置122a在推送面板200时，便可使面板200始终处于一气浮状态，在几乎处于零摩擦力的情况下被推料装置122a所推送，从而可轻易地横越过设有多个光源模块140与多个取像模块150的承载平台110，有效降低对面板200造成损伤的机率。
[0064]另一方面，由于面板200在进行检测的过程中，仅有两个垂直侧表面208处于被推料装置122a所抵靠的状态，故除两个垂直侧表面208之外的上表面202、下表面204与两个水平侧表面206，皆可在没有障碍物或阻绝物的情况下，在单次推送的过程中分别为被背光光源146与背光取像模块156的组合、第一水平光光源144与水平光取像模块154的组合、以及正光光源142与正光取像模块152的组合进行扫描与影像的撷取。
[0065]又，相同于前述的面板检测装置100，在本发明的面板检测方法中，亦可提供一倾斜光光源148以发射之一倾斜光光束148a至面板200，从而补足仅使用正光光源142及/或背光光源146进行面板200的检测时所可能出现的失误，同时强化对面板200的上/下表面刮伤的检测能力。
[0066]如此一来，由于本发明所揭示的面板检测方法，能够在单次性(S卩:一次性)推送的过程中即同时针对面板200的上表面202、下表面204与两个水平侧表面206进行检测，故在检测速度与检测品质上皆可获得远优于现有技术的表现。
[0067]再者，即便面板200在进行检测的过程中，两个垂直侧表面208乃是处于被推料装置122a所抵靠的状态，但因包含有推料装置122a的推料装置122的内部同时嵌设有第二水平光光源122b，故在推送过程中，原本无法对两个垂直侧表面208提供光束的问题亦可得到解决。也就是说，藉由两个第二水平光光源122b的设置，本发明的面板检测装置100依旧可在两个垂直侧表面208被抵靠的情况下，通过两个第二水平光光源122b发射至两个垂直侧表面208的两个第二水平光光束122c，而获得两个垂直侧表面影像，继而使两个垂直侧表面影像经由第二间隙126b被设置于下方的水平光取像模块154所撷取，以完成针对面板200的两个垂直侧表面208的检测作业。
[0068]综上所述，由于本发明的面板检测装置与面板检测方法，其可利用多个光源模块140、多个取像模块150与气浮装置128的设置，使面板200在单次性的推送过程中，即可同时地完成面板200的上表面202、下表面204、两个水平侧表面206与两个垂直侧表面208的检测作业，故相较于现有技术的检测方式，本发明的面板检测装置与面板检测方法将具有更为快速的检测效率与更高精度的检测良率，并且得以有效地降低面板在检测过程中的损坏。
[0069]上述的实施例仅用来例举本发明的实施例，以及阐释本发明的技术特征，并非用来限制本发明的保护范畴。任何熟悉此技术者可轻易完成的改变或均等性的安排均属于本发明所主张的范围，本发明的权利保护范围应以申请专利范围为准。
[0070]符号说明
[0071]100面板检测装置
[0072]HO承载平台
[0073]120输送平台
[0074]122推料模块
[0075]122a推料装置
[0076]122b第二水平光光源
[0077]122c第二水平光光束
[0078]124工作区
[0079]126 间隙
[0080]126a 第一间隙
[0081]126b 第二间隙
[0082]126c第三间隙
[0083]128气浮装置
[0084]130面板检测总成
[0085]140光源模块
[0086]142正光光源
[0087]142a正光光束
[0088]144第一水平光光源
[0089]144a第一水平光光束
[0090]146背光光源
[0091]146a背光光束
[0092]148倾斜光光源
[0093]148a倾斜光光束
[0094]150取像模块
[0095]152正光取像模块
[0096]154水平光取像模块
[0097]156背光取像模块
[0098]158倾斜光取像模块
[0099]160反射镜模块
[0100]200面板
[0101]202上表面
[0102]204下表面
[0103]206水平侧表面
[0104]208垂直侧表面
【主权项】
1.一种面板检测装置，用以进行一面板的检测作业，包含: 一承载平台； 一输送平台，设置于该承载平台上，并具有一推料模块；以及 一面板检测总成，并具有多个光源模块及与所述光源模块相互对应的多个取像模块； 其中，所述光源模块包含一正光光源、一第一水平光光源及一背光光源，所述取像模块具有一正光取像模块、一水平光取像模块及一背光取像模块，且该推料模块适于推送该面板横越过该承载平台，使所述光源模块所发射的多个光束可扫描该面板进行检测。2.如权利要求1所述的面板检测装置，其特征在于，所述光束包含一正光光束、一第一水平光光束及一背光光束，且该正光光源、该第一水平光光源及该背光光源适于分别发射该正光光束、该第一水平光光束及该背光光束。3.如权利要求1所述的面板检测装置，其特征在于，所述光源模块还包含一倾斜光光源以发射一倾斜光光束，所述取像模块还包含一倾斜光取像模块，且该倾斜光取像模块相应该倾斜光光源设置，以接收被该面板所反射的该倾斜光光束。4.如权利要求1所述的面板检测装置，其特征在于，该面板具有一上表面、一下表面、两个水平侧表面及两个垂直侧表面。5.如权利要求1所述的面板检测装置，其特征在于，该承载平台具有两个对位模块，以使该面板可相对于该承载平台进行对位。6.如权利要求1所述的面板检测装置，其特征在于，该推料模块具有两个推料装置，该两个推料装置分别抵靠于该面板相对的两个垂直侧边，并以一等速度方式共同推送该面板。7.如权利要求1所述的面板检测装置，其特征在于，该推料模块具有两个推料装置，该两个推料装置分别抵靠于该面板相对的两个侧边，并以一变速度方式共同推送该面板。8.如权利要求1所述的面板检测装置，其特征在于，该推料模块还包含多个第二水平光光源以分别发射一第二水平光光束，当该推料模块推送该面板时，该第二水平光光束适于照射该面板相对的两个侧边。9.如权利要求8所述的面板检测装置，其特征在于，所述第二水平光光源嵌设于该两个推料装置内。10.如权利要求8所述的面板检测装置，其特征在于，所述第二水平光光源为一线光源。11.如权利要求1所述的面板检测装置，其特征在于，该输送平台定义多个工作区，相邻的各该工作区之间分别设置至少一间隙，且各该至少一间隙可供所述光源模块所发射的所述光束通过。12.如权利要求11所述的面板检测装置，其特征在于，该承载平台上设置有多个气浮装置，使该面板在检测过程中始终呈现一气浮状态。13.如权利要求11所述的面板检测装置，其特征在于，该至少一间隙具有一第一间隙、一第二间隙及一第三间隙，以分别供所述光源模块所发射的所述光束通过。14.如权利要求3所述的面板检测装置，其特征在于，所述光源模块所具有的该正光光源、该背光光源及/或该倾斜光光源为一线光源。15.—种面板检测方法，用以进行一面板的一检测作业，包含下列步骤: (a)提供一输送平台于一承载平台上； (b)提供该面板至该输送平台； (c)利用一对位模块进行该面板的对位； (d)提供一推料模块，并利用该推料模块推送该面板； (e)提供多个光源模块，以在该推料模块推送该面板的过程中发射多个光束至该面板；以及 (f)利用多个取像模块撷取所述光束被该面板所反射的多个影像、或撷取所述光束穿透该面板的多个影像，以完成该检测作业。16.如权利要求15所述的面板检测方法，其特征在于，所述取像模块可用以撷取所述光束被该面板的多个表面所反射的所述影像。17.如权利要求16所述的面板检测方法，其特征在于，该面板的所述表面为一上表面、一下表面、两个水平侧表面及两个垂直侧表面。18.如权利要求15所述的面板检测方法，其特征在于，该承载平台上设置有多个气浮装置，使该推料模块可在一气浮状态下，以一等速度方式推送该面板。19.如权利要求15所述的面板检测方法，其特征在于，该承载平台上设置有多个气浮装置，使该推料模块可在一气浮状态下，以一变速度方式推送该面板。
【文档编号】G01N21/88GK105823780SQ201610051638
【公开日】2016年8月3日
【申请日】2016年1月26日
【发明人】叶肇懿, 苏品铨, 杨尚伦, 刘智远
【申请人】政美应用股份有限公司