层叠铁芯的检测方法和检测设备的制造方法

文档序号:10685827阅读:253来源:国知局
层叠铁芯的检测方法和检测设备的制造方法
【专利摘要】提供一种层叠铁芯的检测方法,该层叠铁芯通过层叠具有预定形状的多个铁芯片而构成并且其中包括使得制冷剂能够流通的冷却流路,所述制冷剂通过形成在不同位置处的开口而供应和排出。该方法包括:将光敏传感器的光投射部和光接收部分别布置在所述冷却流路的开口,以及利用所述光接收检测来自所述光投射部的光,从而检测所述冷却流路的贯通状态。
【专利说明】
层叠铁芯的检测方法和检测设备
技术领域
[0001]本发明涉及一种层叠铁芯的检测方法和检测设备,所述层叠铁芯由具有预定形状的多个铁芯片构成并且其中包括使得制冷剂能够流通的冷却流路。
【背景技术】
[0002]电动机或发电机的转子具有在转子旋转期间由于增加的温度而使永磁体退磁的问题,从而降低了电动机性能。
[0003]为处理该问题,使用诸如冷却油这样的制冷剂冷却转子。除了形成为在轴向上贯通的孔之外,在径向上从轴孔延伸的贯通孔用作用于制冷剂的冷却流路。这里,由于在纵向中心区域中累积的热量,永磁体温度容易升高。从而,通过以较高的优先级冷却永磁体的纵向中心区域,能够提高冷却效率(见,例如作为专利文献I和2的JP-A-2014-176235和JP-A-2013-027100)。
[0004]专利文献1: JP-A-2014-176235
[0005]专利文献2:JP-A-2013-027100

【发明内容】

[0006]在制造转子时,当由于异物卡在贯通孔中使得冷却流路阻塞时,制冷剂不能充分地供应到转子中,从而未能提供期望的冷却效果。从而,在制造转子后,必须确认冷却流路的贯通状态以确保产品质量。
[0007]然而,如上所述,当冷却流路的贯通孔形成为在径向上从轴孔延伸并且朝向永磁体的纵向中心区域行进时,视觉确认贯通状态是困难的。而且,当冷却流路是弯曲的而且并非是直线时,视觉确认贯通状态也是不可能的。
[0008]鉴于上述情况做出本发明,并且本发明的非限定性目的是提供一种即使当不能视觉确定冷却流路的贯通状态时,也能够有效地并且容易地检测层叠铁芯的方法和设备。
[0009]本发明的第一方面提供一种层叠铁芯的检测方法,该层叠铁芯通过层叠具有预定形状的多个铁芯片而构成并且该层叠铁芯中包括使得制冷剂能够流通的冷却流路,所述制冷剂通过形成在不同位置处的开口而供应和排出,所述方法包括:将光敏传感器的光投射部和光接收部分别布置在所述冷却流路的开口中;以及利用所述光接收部检测来自所述光投射部的光,从而检测所述冷却流路的贯通状态。
[0010]可以实施本方法,使得冷却流路包括垂直于层叠铁芯的层叠方向而延伸的第一流路和与第一流路连通并且在层叠铁芯的层叠方向上延伸的第二流路,并且光投射部布置在第一流路的开口中,并且光接收部布置在第二流路的开口中。
[0011]可以实施该方法,使得层叠铁芯包括至少一个其他冷却流通路径,以在层叠铁芯的周向上形成多个冷却流路,并且层叠铁芯和光敏传感器绕层叠铁芯的轴心相对转动,并且顺次检测多个冷却流路的贯通状态。
[0012]可以实施该方法,使得每个第一流路都被分支成具有多个分支路径,该多个分支路径与第二流路连通,并且至少与各个第一流路中所包括的多个分支路径的数量相同的光投射部布置于在所述层叠铁芯的周向上的不同位置处形成的所述第一流路的开口中,并且对于每个所述分支路径调节来自所述光投射部的光的投射角度。
[0013]可以实施该方法,使得每个第一流路都被分支为具有多个分支路径,该多个分支路径分别包括所述第一流路的开口,并且至少与各个第一流路中所包括的多个分支路径数量相同的光投射部布置于在所述层叠铁芯的周向上的不同位置处形成的所述第一流路的不同分支路径的开口中,并且对于每个所述分支路径调节来自所述光投射部的光的投射角度。
[0014]可以实施该方法,使得利用所述光接收部所检测到的光量判定所述冷却流路的贯通状态。
[0015]本发明的第二方面提供一种层叠铁芯的检测设备,该层叠铁芯通过层叠具有预定形状的多个铁芯片构成并且该层叠铁芯中包括使得制冷剂能够流通的冷却流路,所述制冷剂通过形成在不同位置处的开口而供应和排出,所述设备包括:光敏传感器,该光敏传感器包括分别布置在所述冷却流路的开口中的光投射部和光接收部,其中所述设备利用所述光接收部检测来自所述光投射部的光,从而检测所述冷却流路的贯通状态。
[0016]可以实施本设备,使得冷却流路包括垂直于层叠铁芯的层叠方向而延伸的第一流路和与第一流路连通并且在层叠铁芯的层叠方向上延伸的第二流路,并且光投射部布置在第一流路的开口中,并且光接收部布置在第二流路的开口中。
[0017]所述设备可以构造成使得所述第一流路包括多个分支路径,布置至少与所述分支路径数量相同的光投射部,并且对于每个所述分支路径调节来自所述光投射部的光的投射角度。
[0018]所述设备可以构造成还包括回转台,该回转台使所述层叠铁芯绕着所述层叠铁芯的轴心旋转。
[0019]所述设备可以构造成使得所述光投射部和所述光接收部的一者或两者包括位置调节机构。
[0020]所述设备可以构造成使得所述光投射部和所述光接收部的一者或两者包括角度调节机构。
[0021]在根据本发明的方面的层叠铁芯检测方法和设备中,光敏传感器的光投射部和光接收部布置在形成于层叠铁芯内的冷却流路的开口中,并且利用光接收部检测来自光投射部的光,从而检测冷却流路的贯通状态。从而,即使当不能视觉确认冷却流路的贯通状态时,也能够有效地并且容易地检测贯通状态。
[0022]并且,当层叠铁芯绕其轴心旋转时,无需准备与形成在层叠铁芯的周向上的多个冷却流路数量相同的光敏传感器,能够将多个冷却流路顺次移动到光敏传感器(光投射部和光接收部)的布置位置。因此,能够使用数量比冷却流路少的光敏传感器检测冷却流路的贯通状态。这能够简化设施结构并且能够降低设施成本。
【附图说明】
[0023]在附图中:
[0024]图1A、IB分别是应用根据本发明的实施例的层叠铁芯检测方法的层叠铁芯的侧截面图和平面图;
[0025]图2是层叠铁芯检测方法的说明图;
[0026]图3是根据本发明的另一实施例的层叠铁芯检测方法的说明图;并且
[0027]图4是根据修改例的层叠铁芯检测方法的说明图。
【具体实施方式】
[0028]接着,参考附图给出用于具体理解本发明的本发明的实施例的说明。
[0029]首先,参考图1A、1B和2给出转子10,说明应用根据本发明的实施例的层叠铁芯检测方法的转子10。转子10是层叠铁芯的实例,并且还称为转子芯。
[0030]转子10通过层叠多个环状的(预定形状的)铁芯片11至13而构成。
[0031]各个铁芯片11至13都具有环状的一体结构。这里,铁芯片可以具有能够将多个弧状的铁芯片部连接成环状的分割结构,或者具有能够将多个弧状铁芯片部的周向部分在连接部连接,并且将连接部折叠成环状的结构。
[0032]铁芯片11至13均是通过冲裁由具有例如大约0.10至0.5mm的厚度的电磁钢板或非晶体所制成的薄型部件而形成。此处,铁芯片还可以通过冲裁单个的薄型部件而形成,或者是在多件(例如,两件或三件以上)薄型部件层叠的状态下冲裁该多件薄型部件而形成。
[0033]使用包括压紧、树脂(热固性树脂(例如,环氧树脂)或热塑性树脂)、粘接剂和焊接中的一种或两种以上的方法,能够将在层叠方向上互相相邻的铁芯片11、11(对其他铁芯片
12、13也类似)连接在一起。
[0034]在转子10的中心,形成有轴孔14,并且在轴孔的周围并以轴孔14为中心,形成有由在转子10的层叠方向上形成的贯通孔所构成的用于永磁体(未示出)的多个磁体插孔15。可以优选地使用上述的树脂进行永磁体到磁体插孔15内的固定。
[0035]此处,轴孔14包括向内突出的键(凸起)(未示出)。
[0036]在转子10内,用于从外部供应的制冷剂(例如,冷却油)的流动的多个相同形状的冷却通道路径16在转子10的周向上以匀称的间距形成。
[0037]每个冷却流路16包括:径向流路(第一流路的实例)17,其在转子10的径向(垂直于层叠方向的方向)上延伸;以及层叠方向流路(第二流路的实例)18,其在转子10的层叠方向上延伸。
[0038]径向流路17在转子1的层叠方向中心部中放射状地且以轴孔14作为其中心而形成。径向流路17的一端侧朝着轴孔14开口,从而提供与转子10的外部连通的开口 19(冷却流路16的制冷剂供应侧开口)。
[0039]径向流路17还包括多个(此处,两个)从径向中间位置在层叠方向上分支的分支路径20、21。分支路径20、21 (径向流路17)的另一端侧与层叠方向流路18连通。
[0040]层叠方向流路18以匀称的间距形成在转子10的周向上。具体地,为了冷却转子10,特别是为了提高永磁体的冷却效果,层叠方向流路18形成在平面图中以人字形布置的磁体插孔15之间(与永磁体相邻)。
[0041]各个层叠方向流路18均形成为在层叠方向上贯通转子10,同时其两侧开口,从而提供与转子10的外部连通的开口22、23(冷却流路16的制冷剂排出侧开口)。
[0042]如上所述,径向流路17的开口19和层叠方向流路18的开口 22、23形成在不同的位置处,并且,当转子10在使用中时,通过开口 19和22、23进行制冷剂的供应和排出。
[0043]为形成冷却流路16,可以将平面图中形状不同的铁芯片11至13层叠。
[0044]具体地,径向流路17由形成在铁芯片12中的贯通孔24的一部分和形成在铁芯片13中的凹部25构成,而层叠方向流路18由形成在铁芯片11中的贯通孔26、铁芯片12的贯通孔24的其余部分以及形成在铁芯片13中的贯通孔27形成(见,例如专利文献1、2)。
[0045]此处,冷却流路不限于上述结构,而根据转子的结构(例如,磁体插孔的形成位置和截面形状),其可以如下构造。
[0046]构成冷却流路的径向流路的开口可以不形成在转子的轴孔侧,而是还可以形成在其径向外侧,或者形成在转子的层叠方向(轴向)两侧的任意一侧上。在该情况下,径向流路不形成在层叠方向中心部处,而是还可以形成在层叠方向的一侧和/或另一侧上。
[0047]并且,径向流路还可以具有由单个贯通孔构成的结构,这是指不具有多个分支路径的结构。
[0048]在径向流路包括多个分支路径的情况下,它们可以朝着轴孔分支,从而多个开口可以形成在轴孔侧上(见后文将讨论的图3)。
[0049]此处,分支路径可以不是在层叠方向上分支,而是还可以在平面上(在层叠方向的相同位置处)分支。
[0050]并且,分支路径的数量还可以是三个以上。
[0051]而且,径向流路和层叠方向流路还可以相对于层叠方向倾斜。
[0052]此外,一个冷却流路还可以是由在层叠方向中心部分离的两个层叠方向流路以及分别与该层叠方向流路连通的两个径向流路所构成(见后文将讨论的图4)。
[0053]接着,参考图2给出根据本发明的实施例的层叠铁芯检测设备(后文中可以简称为检测设备)30的说明。
[0054]检测设备30包括基部31、竖立在基部31上的柱状轴部32以及相对于轴部32可旋转地安装的筒状回转台33。回转台33用于在上面放置转子10,并且,利用能够插入到转子10的轴孔14的下部内的定位凸起34使得回转台33的旋转中心与转子1的轴心互相重合。
[0055]从而,转子10能够相对于基部31绕其轴心旋转。
[0056]检测设备30包括光敏传感器35。光敏传感器35包括光投射部36以及用于检测来自光投射部36的光的光接收部37。
[0057]此处,不特别限制光敏传感器35的类型,只要其包括光投射部36和光接收部37。例如,能够使用诸如光纤传感器或激光传感器这样的已知传感器。
[0058]光敏传感器35包括与容纳在各个冷却流路16(径向流路17)中的两个分支路径20、21数量相同(两个)的光投射部36。从而,用于接收来自光投射部36的光的光接收部37的数量是两个。
[0059]两个光投射部36布置成关于转子10的轴心而相对,并且安装于在轴部32的上部上设置的固定部38上,使得它们能够分别将光投射到在转子10的周向的不同位置处形成的径向流路17的开口 19中。
[0000]具体地,光投射部36相对于竖直方向倾斜地布置,使得两个光投射部36中的一个能够将光投射到层叠方向上侧的分支路径20中,并且另一个能够将光投射到层叠方向下侧的分支路径21中,从而能够对各个分支路径20、21调节光投射角。
[0061]两个光接收部37布置成关于转子10的轴心对置,并且安装在基部31上,使得它们能够通过开口 22、23检测来自光投射部36的光,该光投射部36布置在形成于转子10的周向上的不同位置处的径向流路17的开口 19中。
[0062]具体地,光接收部37分别布置成使得它们中的一个安置在层叠方向上侧(层叠方向上的一侧)的开口22中用以检测来自一个光投射部36的光,并且另一个安置在层叠方向下侧(层叠方向的另一侧)的开口23中用以检测来自另一光投射部36的光。
[0063]从而,在冷却流路16中,能够由一对光投射部36和光接收部37检测到分支路径20侧上的贯通状态,同时能够由另一对光投射部36和光接收部37检测到分支路径21侧上的贯通状态。此处,在图2中,虚线箭头代表性地示出来自光投射部36的光的路径(后文将讨论的图3、4中也如此)。
[0064]因此,当检测整个冷却流路16的贯通状态时,使用回转台33旋转转子10。此处,当在检测设备中预先准备了多个数量的光敏传感器(多组光投射和接收部)时,能够在较短时间内检测整个冷却流路的贯通状态。
[0065]光投射部36和光接收部37的一者或两者还能够包括位置调节机构(例如,气缸)和/或角度调节机构(例如,气缸)。
[0066]在位置调节机构配备于光投射部36中的情况下,通过在转子10的轴向上移动光投射部36,例如,能够处理径向流路的开口的高度位置的变化以及形成在不同高度位置处的径向流路的开口的高度位置;并且通过在转子10的径向上移动光投射部36,例如,能够防止与形成在轴孔中的键进行接触。
[0067]并且,在角度调节机构(相对于转子10前进和后退的机构)配备于光接收部37中的情况下,光接收部37可以前进到开口中,由此能够提高光检测准确性。
[0068]此外,角度调节机构还能够配备于光投射部36中,并且,在该情况下,单个光投射部36能够处理多个分支路径。
[0069]能够优选地通过光接收部37所检测到的光的量进行冷却流路16的贯通状态的检测或判定。
[0070]例如,当冷却流路是弯曲的(非直线)并且来自光投射部的所有光未传输到光接收部时,可以优选地在修正所接收到的光量的同时检测贯通状态。具体地,将光接收部的接收光量输入到计算机中(或操作装置),并且当获得了等于或多于预先设定值的接收光量时,可以优选地将贯通状态判定为良好(即冷却流路16中未填充异物)。
[0071]这里,能够使用例如过去的结果值等来设定所述设定值,或者还能够根据在所有冷却流路中获得的接收光量(平均值)来设定。
[0072]接着,参考图2给出根据本发明的实施例的层叠铁芯检测方法的说明。
[0073]首先,将转子10放置在回转台33上。
[0074]该转子10处于完成了诸如永磁体到磁体插孔15内的布置和固定这样的所有制造步骤之后的状态,即,在轴(未示出)插通轴孔14之前的基本完成状态。
[0075]将转子10旋转,使得光投射部36能够布置在冷却流路16的径向流路17的开口19的前方位置(对置位置)处。此处,对各个分支路径20、21预先调节光投射部36的倾斜,使得一个光投射部36能够经过层叠方向上侧的分支路径20投射光,并且另一个能够经过层叠方向下侧的分支路径21投射光。然而,每次测量都可以进行角度调节。
[0076]在该情况下,还必须确认光接收部37布置在冷却流路16的层叠方向流路18的开口
22、23 中。
[0077]在上述准备结束之后,开始从光投射部36的光投射,并且所投射的光被光接收部37接收,从而检测冷却流路16的贯通状态。
[0078]通过绕转子10的轴旋转转子10而在所有的冷却流路16中做这种检测。此处,能够通过重复地进行如下操作而进行检测,其中,在一个冷却流路16的检测结束后,将转子10旋转特定角度并且停止,并且检测下一个冷却流路16。然而,通过以低速旋转转子10,能够接连地检测各个冷却流路16。
[0079]当冷却流路16的贯通状态良好时,从回转台33移除转子10,并且进行到下一步骤,并且将轴插入到轴孔14中。
[0080]此处,当冷却流路16的贯通状态不良时,在从回转台33移除转子10之后,例如通过气压移除冷却流路16中的异物,并且重新进行上述检测。
[0081]从而,即使当冷却流路16的贯通状态不能够被视觉确认时,也能够高效率并且容易地检测。并且,即使当传感器等由于冷却流路16窄而不能插入冷却流路16中时,也能够检测贯通状态。
[0082]此处,光投射部36不总是需要安装在固定部38上,并且在将转子10放置在回转台33上之后,光投射部36可以从轴孔14上方插入到特定高度位置,或者可以在回转台的轴向上形成贯通孔,并且光投射部36可以从转子10下方突出。
[0083]接着,参考图3给出转子(层叠铁芯的实例)50的说明,根据本发明的另一实施例的层叠铁芯检测方法应用到该转子50。转子50仅在构成转子50的冷却流路51的结构上不同于转子10。从而,相同的部分给以相同的标号,并且省略其具体说明。
[0084]转子50由多个层叠的环状(预定形状)铁芯片52至54构成,并且包括形成在其中心的轴孔55。
[0085]在转子50内,形成多个相同形状的冷却流路51,其以匀称的间隔布置在转子50的周向上,并且供应自外部的制冷剂能够流过该冷却流路51。各个冷却流路51均包括:径向流路(第一流路的实例)56,其在转子50的径向上延伸;以及层叠方向流路(第二流路的实例)57,其与径向流路56连通并且在转子50的层叠方向上延伸。
[0086]径向流路56形成在转子50的层叠方向中心部中并且以轴孔55作为中心放射状地延伸。
[0087]径向流路56还包括多个(此处,两个)从径向中间位置在层叠方向上分支的分支路径58、59。分支路径58、59(径向流路56)的一端侧朝着轴孔55开口,从而提供与转子50的外部连通的开口 60、61 (冷却流路51的制冷剂供应侧开口)(两个分支路径58、59在朝着径向外部的途中结合在一起)。
[0088]层叠方向流路57(类似于层叠方向流路18)以匀称的间隔形成在转子50的周向上。每个层叠方向流路57均形成为在层叠方向上贯通转子50,同时其两侧开口,从而提供与转子50的外部连通的开口22、23(冷却流路51的制冷剂排出侧开口)。
[0089]如上所述,径向流路56的开口 60、61布置在与层叠方向流路57的开口 22、23不同的位置处。当使用转子50时,通过开口 60、61、22、23进行制冷剂的供给和排出。
[0090]冷却流路51通过层叠平面图上形状不同的铁芯片52至54而形成。
[0091]具体地,径向流路56由形成在铁芯片53中的凹部62以及形成在铁芯片54中的贯通孔63的一部分构成,而层叠方向流路57由形成在铁芯片52中的贯通孔64和铁芯片54的贯通孔63的其余部分构成。
[0092]接着,参考图3给出根据本发明的实施例的层叠铁芯检测设备(后文中也简称为检测设备)70的说明。由于设备70的结构大致与检测设备30的结构类似,所以相同的部分给以相同的标号并且省略其具体说明。
[0093]检测设备70包括光敏传感器35,其具有光投射部36和光接收部37。
[0094]该光敏传感器35包括数量上与一个冷却流路51的两个分支路径58、59相对应的两个光投射部36。从而,用于接收来自光投射部36的光的光接收部37的数量是两个。
[0095]类似于转子10,两个光投射部36关于转子50的轴心对置地布置,并且安装在固定部38上,使得它们能够通过形成在转子50的周向上的不同位置的径向流路56的不同分支58、59的开口 60、61而投射光。
[0096]具体地,光投射部36相对于竖直方向倾斜,从而对每个分支路径58、59调节光投射角度,使得两个光投射部36中的一个能够将光通过层叠方向上侧的分支路径58投射到层叠方向流路57中,并且另一个光投射部能够通过层叠方向下侧的分支路径59将光投射到层叠方向流路57中。
[0097]类似于转子10,两个光接收部37也关于转子50的轴心对置地布置,并且分别安装和固定到基部31,使得它们能够通过开口 22、23检测来自光投射部36的光,该光投射部36分别布置于在转子50的周向上的不同位置处形成的径向流路56的不同分支路径58、59的开口60、61 中。
[0098]具体地,一个光接收部37布置在层叠方向下侧的开口23中使得其能够检测来自一个光投射部36的光,而另一个光接收部布置在层叠方向上侧的开口 22中使得其能够检测来自另一个光投射部36的光。
[0099]从而,在冷却流路51中,能够利用一对光投射部36和光接收部37进行分支路径58侧的流路的贯通状态的检测,而能够通过另一对光投射部36和光接收部37进行分支路径59侧的流路的贯通状态的检测。
[0100]因此,当检查所有冷却流路51的贯通状态时,使用回转台33旋转转子50。
[0101]此处,还能够预先准备要设置在检测设备中的多个光敏传感器。在该情况下,当以特定角度间隔(例如90°、180°)且以转子的轴心作为中心来布置多组光敏传感器以将转子旋转范围设定在窄的范围内时,能够在较短时间内检测所有冷却流路的贯通状态。
[0102]并且,当将设置在检测设备中的光敏传感器的数量设定为[(冷却流路的数量)X(分支路径的数量)]时,能够一次检测贯通状态而不旋转转子50。在该情况下,能够从检测设备70移除回转台33。
[0103]接着,参考图3给出根据本发明的另一实施例的层叠铁芯检测方法的说明。由于该检测方法大致类似于上述检测方法,所以下面简要给出说明。
[0104]首先,将转子50放置在回转台33上。
[0105]并且,转子50旋转,使得光投射部36能够布置在冷却流路51的径向流路56的开口60、61的前方位置(对置位置)处,并且如有需要,调节光投射部36的倾斜。在该情况下,还必须确认光接收部37布置在冷却流路51的层叠方向流路57的开口 22、23中。
[0106]在上述准备结束后,开始从光投射部36的光投射,并且投射的光被光接收部37接收,从而检测冷却流路51的贯通状态。
[0107]与转子10类似,通过使转子50绕着其轴心旋转一次而在所有冷却流路51中进行检测。
[0108]此外,参考图4给出应用根据修改例的层叠铁芯检测方法的转子(层叠铁芯的实例)80的说明。由于转子80仅在冷却流路81的结构上与转子50不同,所以相同的部分给以相同的标号,并且省略其具体描述。
[0109]转子80通过层叠多个的环状(预定形状)铁芯片52至54、82构成,并且包括形成在其中心的轴孔83。
[0110]在转子80中,多个形状相同的冷却流路81在转子80的周向上以匀称间隔形成,从外部供应的制冷剂能够流过该冷却流路。冷却流路81包括在转子80的径向上延伸的径向流路(第一流路的实例)84、85以及分别与径向流路84、85连通并且在转子80的层叠方向上延伸的层叠方向流路(第二流路的实例)86、87。
[0111]径向流路84、85形成在转子80的层叠方向中心部中,并且以轴孔83为中心放射状延伸,同时该径向流路84、85在层叠方向上在其间具有间隙。
[0112]径向流路84、85的一端侧朝着轴孔83开口,从而提供与转子80的外部连通的开口60、61。
[0113]层叠方向流路86、87以匀称的间隔形成在转子80的周向上,同时它们在层叠方向中;1_1、部中分尚。
[0114]层叠方向上侧的流路86的下端与径向流路84的另一端连通,并且该层叠方向上侧的流路86的上端开口,从而提供与转子80的外部连通的开口22。并且,层叠方向下侧的流路87的上端与径向流路85的另一端连通,并且其下端开口,从而提供与转子80的外部连通的开口 23。
[0115]冷却流路81通过层叠平面图上形状不同的铁芯片52至54、82而形成。
[0116]具体地,径向流路84、85由形成在铁芯片53中的凹部62以及形成在铁芯片54中的贯通孔63的一部分构成,而层叠方向流路86、87由形成在铁芯片52中的贯通孔64和铁芯片54的所述贯通孔63的其余部分构成。
[0117]接着,参考图4给出根据修改例的层叠铁芯检测设备(后文中还简称为检测设备)90和检测方法的说明。由于其与检测设备70的结构和检测方法相似,所以相同的部分给以相同的标号并且省略其具体描述。
[0118]检测设备90包括光敏传感器35,其具有光投射部36和光接收部37。光敏传感器35包括形成为数量与在一个冷却路通路径81中所包括的径向流路84、85和层叠方向流路86、87—致的两个光投射部36。从而,用于接收来自光投射部36的光接收部37的数量是两个。
[0119]与转子50的情况类似,两个光投射部36关于转子80的轴心对置地布置,并且安装在提升杆91上,使得它们分别能够将光投射到在转子80的周向上的不同位置处形成的径向流路84、85的开口60、61中。从而,检测设备90不包括固定部38。
[0120]具体地,一个光投射部36能够通过层叠方向上侧的径向流路84而将光投射到层叠方向流路86中,而另一光投射部36能够通过层叠方向下侧的径向流路85将光投射到层叠方向流路87中。
[0121]类似于转子50的情况,两个光接收部37也关于转子80的轴心对置地布置,并且固定地安装到基部31,使得它们能够通过开口 22、23检测来自光投射部36的光,该光投射部36安置于在转子80的周向上的不同位置处形成的径向流路84、85的不同开口 60、61中。
[0122]具体地,一个光接收部37布置在层叠方向上侧的开口22中用以检测来自一个光投射部36的光,而另一个布置在层叠方向下侧的开口 23中用以检测来自另一光投射部36的光。
[0123]从而,在冷却流路81中,能够利用一对光投射部36和光接收部37进行径向流路84侧的流路的贯通状态的检测,而能够通过另一对光投射部36和光接收部37进行径向流路85侧的流路的贯通状态的检测。
[0124]因此,当检查所有冷却流路81的贯通状态时,使用回转台33旋转转子80。
[0125]此处,在将转子80放置在回转台33上之后,可以通过将提升杆91从轴孔83上方插入到特定高度位置而布置光投射部36。
[0126]虽然上文已经通过参考实施例描述了本发明,但本发明不完全限于上述实施例,而是包括能够包括在附加的专利权利要求的范围内的其它实施例和修改例。例如,上述实施例和修改例能够部分地或全部地组合在一起以构成根据本发明的层叠铁芯的检测方法和检测设备。这样的方法和设备在本发明的权利范围内。
[0127]并且,在以上实施例中,已经给出将本发明的层叠铁芯检测方法和设备应用于作为转子层叠铁芯的转子的实例。然而,例如,为了减小来自转子的热量的影响,本发明还能够应用于作为定子层叠铁芯的定子(定子芯)。
[0128]并且,在以上实施例中,已经给出如下情况的说明:其中,通过相对于固定的光敏传感器旋转转子,顺次检测各个冷却流路的贯通状态。然而,还能够相对于固定的转子旋转光敏传感器。
【主权项】
1.一种层叠铁芯的检测方法,该层叠铁芯通过层叠具有预定形状的多个铁芯片而构成并且该层叠铁芯中包括使得制冷剂能够流通的冷却流路,所述制冷剂通过形成在不同位置处的开口而供应和排出,所述方法包括: 将光敏传感器的光投射部和光接收部分别布置在所述冷却流路的开口中;以及 利用所述光接收部检测来自所述光投射部的光,从而检测所述冷却流路的贯通状态。2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述冷却流路包括:垂直于所述层叠铁芯的层叠方向延伸的第一流路;以及与所述第一流路连通并且在所述层叠铁芯的所述层叠方向上延伸的第二流路,并且 所述光投射部布置在所述第一流路的开口中,并且所述光接收部布置在所述第二流路的开口中。3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述层叠铁芯包括至少一个其它冷却流路,以在所述层叠铁芯的周向上形成多个冷却流路,并且 所述层叠铁芯和所述光敏传感器绕着所述层叠铁芯的轴心相对旋转,并且顺次检测多个冷却流路的贯通状态。4.根据权利要求3所述的方法,其中,每个第一流路都被分支成具有多个分支路径,该多个分支路径与第二流路连通,并且 至少与各个第一流路中所包括的多个分支路径的数量相同的光投射部布置于在所述层叠铁芯的周向上的不同位置处形成的所述第一流路的开口中,并且对于每个所述分支路径调节来自所述光投射部的光的投射角度。5.根据权利要求3所述的方法,其中,每个第一流路都被分支为具有多个分支路径,该多个分支路径分别包括所述第一流路的开口,并且 至少与各个第一流路中所包括的多个分支路径数量相同的光投射部布置于在所述层叠铁芯的周向上的不同位置处形成的所述第一流路的不同分支路径的开口中,并且对于每个所述分支路径调节来自所述光投射部的光的投射角度。6.根据权利要求1至5的任意一项所述的方法,其中,利用所述光接收部所检测到的光量判定所述冷却流路的贯通状态。7.—种层叠铁芯的检测设备,该层叠铁芯通过层叠具有预定形状的多个铁芯片构成并且该层叠铁芯中包括使得制冷剂能够流通的冷却流路,所述制冷剂通过形成在不同位置处的开口而供应和排出,所述设备包括: 光敏传感器,该光敏传感器包括分别布置在所述冷却流路的开口中的光投射部和光接收部,其中 所述设备利用所述光接收部检测来自所述光投射部的光,从而检测所述冷却流路的贯通状态。8.根据权利要求7所述的设备,其中,所述冷却流路包括:垂直于所述层叠铁芯的层叠方向延伸的第一流路;以及与所述第一流路连通并且在所述层叠铁芯的所述层叠方向上延伸的第二流路,并且 所述光投射部布置在所述第一流路的开口中,并且所述光接收部布置在所述第二流路的开口中。9.根据权利要求8所述的设备,其中,所述第一流路包括多个分支路径,布置至少与所述分支路径数量相同的光投射部,并且对于每个所述分支路径调节来自所述光投射部的光的投射角度。10.根据权利要求7至9的任意一项所述的设备,还包括回转台,该回转台使所述层叠铁芯绕着所述层叠铁芯的轴心旋转。11.根据权利要求7至9的任意一项所述的设备,其中,所述光投射部和所述光接收部的一者或两者包括位置调节机构。12.根据权利要求7至9的任意一项所述的设备,其中,所述光投射部和所述光接收部的一者或两者包括角度调节机构。
【文档编号】G01V8/10GK106054272SQ201610221738
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2016年4月11日 公开号201610221738.X, CN 106054272 A, CN 106054272A, CN 201610221738, CN-A-106054272, CN106054272 A, CN106054272A, CN201610221738, CN201610221738.X
【发明人】渋田规, 松本雅志, 水谷龙彦, 山岸义忠
【申请人】株式会社三井高科技, 丰田自动车株式会社
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