一种电力集抄系统的测试工装的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电力配电系统领域，尤其涉及一种电力集抄系统的测试工装。
【背景技术】
[0002]在电力系统中，采用集中抄表系统，即集抄系统，来获取前端数据，提高抄表的效率，并可以将采集的数据用于进一步的决策系统中。
[0003]在电力集抄系统中，集中器和专变集中器是主要的数据传输设备，这些设备的运转是否正常，直接关系到整个集抄系统是否能正常工作。目前，主要是在集抄系统组装后，采取整机测试的方式对集抄系统进行测试，没有专门的测试工装，这样，使得整机的测试及校表过程的时间很长，且工作量较大，造成生产周期过长和产品良率不高的问题。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型的目的是提供一种电力集抄系统的测试工装，满足不同集抄系统的测试，节省成本和周期，便于集抄系统的管理。
[0005]为了实现上述目的，本实用新型提供一种电力集抄系统的测试工装，包括处理器单元、红外收发单元、模拟数据输入单元以及电源单元，所述电源单元为处理器单元提供电源输入，红外收发单元连接至处理器单元，模拟数据输入单元连接至处理器单元，处理器单元还具有输入接口。
[0006]可选的，还包括LED检测单元，LED检测单元连接至处理器单元。
[0007]可选的，LED检测单元包括光敏电阻、第一电阻、第二电阻和三极管，光敏电阻的一端接第一电压，另一端分别接三极管的基极和第一电阻的一端，第一电阻的另一端接地，三极管的集电极和发射极之间设置有偏压，三极管的电流输出端连接有第二电阻，电流输出端连接至处理器单元的一个输入端。
[0008]可选的，还包括上电控制电路，处理器单元连接至上电控制单元。
[0009]可选的，上电控制单元包括继电器。
[0010]可选的，所述模拟数据输入单元包括多路串联电阻，每一路串联电阻的一端连接模拟信号，另一端接地，每一路串联电阻的分压输入端分别连接至处理器单元的输入端口。
[0011]可选的，所述模拟数据数据输入单元包括光耦隔离芯片。
[0012]可选的，处理器单元还包括接收脉冲信号的输入端口。
[0013]可选的，输入接口包括485通信接口、232通信接口和/或串行接口。
[0014]可选的，处理器单元还包括接收遥信信号的输入端口。
[0015]本实用新型实施例提供的电力集抄系统的测试工装，集成有处理器单元、红外收发单元、模拟数据输入单元以及电源单元，处理器单元还具有输入接口，可以将集抄系统中的模拟数据以及其他数据通过红外或接口输入至处理器单元，进行进一步的测试处理，从而，满足不同集抄系统的测试，节省成本和周期，便于集抄系统的管理。
【附图说明】
[0016]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为本实用新型实施例的电力集抄系统的测试工装的结构示意图；
[0018]图2为本实用新型实施例的LED检测单元的电路结构示意图。
【具体实施方式】
[0019]为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的【具体实施方式】做详细的说明。
[0020]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是本实用新型还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。
[0021]如图1所示，本实施例提供的电力集抄系统的测试工装，用于电力集抄系统的测试，尤其为电力集抄系统中的集中器和专变采集终端等设备提供测试，集中器包括一型和二型集中器，该测试工装包括处理器单元100、电源单元102、存储单元104、模拟数据输入单元、上电控制单元116、红外收发单元118和LED检测单元120。
[0022]处理器单元100还具有遥信信号106和脉冲信号112的输入端口，将遥信信号106和脉冲信号112输入到处理器单元100，以供处理器单元根据这些信号判断设备的工作状态是否正常。
[0023]处理器单元还具有输入接口 114，输入接口包括485通信接口、232通信接口和/或串行接口，485通信接口、232通信接口用于与具有这些通信接口的设备交互数据，串行接口用于处理器单元100与上位机之间的数据交互，此外，处理器单元100还具有JTAG接口，用于处理器单元程序的写入和调试。
[0024]处理器单元100接收各路信号，对各路进行进行处理，必要时发出控制指令，处理器单元100例如可以为型号为AM335X、ARM Cortex_A8的处理器芯片，电源单元102为直流电源，为处理器单元100提供必要的电压输入。
[0025]红外收发单元118用于处理器单元100与其他设备之间的数据传输，可以为红外收发芯片，例如可以为红外收发芯片，通过该红外收发单元118，处理器芯片100可以获得集中器或专变采集器或其他设备的数据，用于进一步分析这些设备的工作状态是否正常。
[0026]存储单元104为用于为处理器单元100存储数据，可以为处理器芯片自身集成的存储区域，也可以为处理器单元104扩展的存储单元104，如SRAM或FLASH存储单元等。
[0027]本实施例中，模拟信号输入单元用于两路模拟数据AD1、AD2的输入，第一模拟数据输入单元108为12路模拟输入单元，包括多路串联电阻，每一路串联电阻的一端连接模拟信号，另一端接地，每一路串联电阻的分压输入端分别连接至处理器单元的数据端口，即从串联电阻之间连接至处理器单元的数据输入端口，用于第一路模拟数据ADl的输入，第一路模拟数据ADl具有共同的地信号，第一路模拟数据ADl如系统中不同设备的工作电压等，处理器单元100根据模拟数据判断设备的工作状态是否正常。第二路模拟数据输入单元110为光耦隔离芯片，用于输入第二路模拟信号AD2，该路模拟信号具有另一地信号，采用光耦隔离芯片使得第二路模拟信号AD2与第一路模拟信号ADl的低信号隔离开，第二路模拟数据AD2如系统中另一些设备的工作电压等，处理器单元100根据模拟数据判断设备的工作状态是否正常。
[0028]上电控制单元116用于根据处理器单元100的信号输出电源信号至被测设备，本实施例中，上电控制单元116包括继电器，处理器单元100通过控制继电器的关闭和开启的状态，确定是否输出电源信号至被测设备。
[0029]LED检测单元120用于检测系统中的设备的LED灯的工作状态的信号LED-T，并将该信号LED-T传送至处理器单元100，由处理器单元100判断LED的工作状态是否正常，如图2所示，本实施例中，LED检测单元包括光敏电阻RL1、第一电阻R1、第二电阻R2和三极管Ql，光敏电阻RLl的一端接第一电压VCC，另一端分别接三极管Ql的基极I和第一电阻Rl的一端，第一电阻Rl的另一端接地GND，三极管Ql的集电极3和发射极2之间设置有偏压，三极管Ql的电流输出端连接有第二电阻R2，电流输出端LED-T连接至处理器单元100的一个输入端。在LED灯正常发光时，光敏电阻RLl的电阻发生变化，从而，三极管Ql的电流输出端的电流发生变化，三极管Ql的电流输出端输出至处理器单元的电压值发生变化，处理器单元接收到电压变化的信号，则认为LED工作正常，反之，则LED工作不正常。
[0030]本发明实施例的电力集抄系统的测试工装，与处理器集成有多种数据模块及数据接收模块，并具有多种接口，满足不同集抄系统的测试，节省成本和周期，便于集抄系统的管理。
[0031]以上只通过说明的方式描述了本实用新型的某些示范性实施例，毋庸置疑，对于本领域的普通技术人员，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下，可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此，上述附图和描述在本质上是说明性的，不应理解为对本实用新型权利要求保护范围的限制。
【主权项】
1.一种电力集抄系统的测试工装，其特征在于，包括处理器单元、红外收发单元、模拟数据输入单元以及电源单元，所述电源单元为处理器单元提供电源输入，红外收发单元连接至处理器单元，模拟数据输入单元连接至处理器单元，处理器单元还具有输入接口。
2.根据权利要求1所述的测试工装，其特征在于，还包括LED检测单元，LED检测单元连接至处理器单元。
3.根据权利要求2所述的测试工装，其特征在于，LED检测单元包括光敏电阻、第一电阻、第二电阻和三极管，光敏电阻的一端接第一电压，另一端分别接三极管的基极和第一电阻的一端，第一电阻的另一端接地，三极管的集电极和发射极之间设置有偏压，三极管的电流输出端连接有第二电阻，电流输出端连接至处理器单元的一个输入端。
4.根据权利要求1所述的测试工装，其特征在于，还包括上电控制电路，处理器单元连接至上电控制单元。
5.根据权利要求4所述的测试工装，其特征在于，上电控制单元包括继电器。
6.根据权利要求1所述的测试工装，其特征在于，所述模拟数据输入单元包括多路串联电阻，每一路串联电阻的一端连接模拟信号，另一端接地，每一路串联电阻的分压输入端分别连接至处理器单元的输入端口。
7.根据权利要求1或6所述的测试工装，其特征在于，所述模拟数据数据输入单元包括光耦隔离芯片。
8.根据权利要求1所述的测试工装，其特征在于，处理器单元还包括接收脉冲信号的输入端口。
9.根据权利要求1所述的测试工装，其特征在于，输入接口包括485通信接口、232通信接口和/或串行接口。
10.根据权利要求1所述的测试工装，其特征在于，处理器单元还包括接收遥信信号的输入端口。
【专利摘要】本实用新型提供一种电力集抄系统的测试工装，包括处理器单元、红外收发单元、模拟数据输入单元以及电源单元，所述电源单元为处理器单元提供电源输入，红外收发单元连接至处理器单元，模拟数据输入单元连接至处理器单元，处理器单元还具有输入接口。本实用新型满足不同集抄系统的测试，节省成本和周期，便于集抄系统的管理。
【IPC分类】G01R31-00, G01R31-44
【公开号】CN204595130
【申请号】CN201520338602
【发明人】秦万民, 李守水, 杨秀忠
【申请人】青岛世泽电子仪表有限公司
【公开日】2015年8月26日
【申请日】2015年5月22日