一种金相试样打磨装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种金相试样打磨装置，为了提高金相试样打磨的效率，保持实验过程的清洁卫生，节约砂纸的用量。本实用新型提供了一种金相试样打磨装置，包括长方体构型的装置样身（2），装置样身（2）上设有样品槽（1）、标签槽（3）、打磨槽（5），打磨槽（5）底面设有圆柱体凸体（6），圆柱体凸体（6）上设有与其卡合的盖板（7），装置样身（2）前侧面设有与其连通且向内部延伸的中空槽（4）。本实用新型结构简单，成本低，适合推广实用。
【专利说明】
一种金相试样打磨装置
技术领域
[0001]本发明涉及一种打磨装置，特别是涉及一种金相试样打磨装置。
【背景技术】
[0002]在材料科学技术领域中，一般都会进行金相分析的实验，因此就需要制备用于微观观察检验的金相试样样品。金相试样在制备的过程中需要经过打磨、抛光等步骤。金相试样打磨过程需要将试样在砂纸上不断打磨。打磨的过程中，开始需要经过粗砂纸将试样需要打磨的一面上较大的坑洼打磨平整，然后再经过细砂纸将试样需要打磨的一面上的细小划痕打磨平整，之后进行下一步抛光过程。砂纸的粒径包括280#、320#，400#、500#、600#、800#、1000#等，粗细各不相同，金相试样打磨过程中就需要根据具体材料选择以上粒径不同的砂纸，从粗到细依次打磨。为了保证试样被打磨的平整，需要在砂纸下垫上一块平板，将砂纸平铺在平板上，一手捏住试样，一手按住砂纸，从靠近身体的一方向前方做单方向依次打磨。通过以上的打磨方式，首先，需要一手固定住砂纸，一手捏住试样进行打磨，但进行试样的粗磨时，由于试样与砂纸的摩擦阻力较大导致砂纸容易跑动，增加了操作的负担;其次，打磨过程中砂纸上的细砂会洒落到桌面等地方，很难打扫;再次，在整张砂纸上进行打磨会导致砂纸的边角等地方没被打磨到，容易造成砂纸的浪费。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的是解决上述问题，提供一种有利于减轻操作负担，保持实验卫生，节约砂纸的金相试样打磨装置。
[0004]本发明的技术方案为:一种金相试样打磨装置，包括装置样身(2)，其特征为，装置样身(2)为长方体构型，装置样身(2)上设有样品槽(1)、标签槽(3)、打磨槽(5)，打磨槽(5)底面下端中间部位设有圆柱体凸体(6)，圆柱体凸体(6)上设有与其卡合的盖板(7)，装置样身(2)前侧面设有与其连通且向内部延伸的中空槽(4)。
[0005]所述打磨槽(5)为长方体构型。
[0006]所述长方体构型打磨槽(5)各个面与装置样身(2)的各个面对应面相互平行。
[0007]所述打磨槽(5)沿装置样身(2)整个长度方向分布。
[0008]所述盖板(7)的长度小于打磨槽(5)底边长度。
[0009]所述盖板(7)中心位置上设有圆柱体嵌套孔洞(8)。
[0010]所述盖板(7)上圆柱体嵌套孔洞(8)的内径与圆柱体凸体(6)的外径相同。
[0011]所述中空槽(4)向装置样身(2)内部延伸的距离为装置样身(2)对应边长的1/3?I/2。
[0012]本实用新型可提高金相试样打磨的效率，保持实验过程的清洁卫生，节约砂纸的用量，且本实用新型结构简单，成本低，可用于推广使用。
【附图说明】
[0013]图1为一种金相试样打磨装置的示意图。
[0014]图2为盖板的示意图。
【具体实施方式】
[0015]下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
[0016]]如图1所示，一种金相试样打磨装置，包括装置样身(2)，装置样身(2)为长方体构型，装置样身(2)上设有样品槽(I)、标签槽(3)、打磨槽(5)，打磨槽(5)底面下端中间部位设有圆柱体凸体(6)，圆柱体凸体(6)上设有与其卡合的盖板(7)，装置样身(2)前侧面设有与其连通且向内部延伸的中空槽(4)。
[0017]如图2所示为盖板(7)，盖板(7)中心设有圆柱体嵌套孔洞(8)，圆柱体嵌套孔洞(8)的内径与圆柱体凸体(6)外径相等。
[0018]使用时，将装置放于水平的桌面上，将实验需要的粗砂纸和细砂纸裁剪成与打磨槽(5)相匹配的长方形长条状，然后将装置上的盖板(7)拆下，将砂纸的一端固定在圆柱体凸体(6)上，使圆柱体凸体(6)穿透砂纸，使砂纸背面与打磨槽(5)底面相贴合，之后再将盖板(7)与圆柱体凸体(6)卡合，将砂纸压紧、固定，重复上述步骤依次将实验所需的砂纸固定在打磨槽(5)中。
[0019]在打磨槽(5 )上端标签槽(3 )对应位置中标明砂纸的粒径大小。
[0020]将待打磨试样放在打磨槽(5)左边的样品槽(I)中。
[0021]打磨过程中，用手捏住试样，放在打磨槽(5)中预先安置好的砂纸上，从打磨槽(5)底端向前做单方向依次打磨，在粗砂纸上结束打磨后，更换打磨槽(5)，在含有细砂纸的打磨槽(5)上进行打磨，如若砂纸不够可更换砂纸。打磨过程中，打磨槽(5 )的深度可保证砂纸上脱落的细砂不会洒落到桌面上。
[0022]打磨结束后用完的废弃砂纸可收入中空槽(4)中，以免破坏实验室环境。
【主权项】
1.一种金相试样打磨装置，包括装置样身(2)，其特征为，装置样身(2)为长方体构型，装置样身(2)上设有样品槽(I)、标签槽(3)、打磨槽(5)，打磨槽(5)底面下端中间部位设有圆柱体凸体(6)，圆柱体凸体(6)上设有与其卡合的盖板(7)，装置样身(2)前侧面设有与其连通且向内部延伸的中空槽(4)。2.如权利要求1所述的一种金相试样打磨装置，其特征是所述打磨槽(5)为长方体构型。3.如权利要求2所述的一种金相试样打磨装置，其特征是所述长方体构型打磨槽(5)的各个面与装置样身(2)的各个对应面相互平行。4.如权利要求1所述的一种金相试样打磨装置，其特征是所述打磨槽(5)沿装置样身(2)整个长度方向分布。5.如权利要求1所述的一种金相试样打磨装置，其特征是所述盖板(7)的长度小于打磨槽(5)底边长度。6.如权利要求1所述的一种金相试样打磨装置，其特征是所述盖板(7)中心位置上设有圆柱体嵌套孔洞(8)。7.如权利要求6所述的一种金相试样打磨装置，其特征是所述盖板(7)上圆柱体嵌套孔洞(8)的内径与圆柱体凸体(6)的外径相同。8.如权利要求1所述的一种金相试样打磨装置，其特征是所述中空槽(4)向装置样身(2)内部延伸的距离为装置样身(2)对应边长的1/3?1/2。
【文档编号】G01N1/32GK205538403SQ201620325571
【公开日】2016年8月31日
【申请日】2016年4月19日
【发明人】刘旭冉, 金应荣, 查小月, 刘琴, 李树艳
【申请人】西华大学