专利名称：用于高海拔低压电器元件性能测试的控制系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电器件测试领域，更具体地涉及一种用于高海拔低压电器元件性能测试的控制系统。
背景技术：
目前各厂家设计的电器元件测试控制系统主要应用于低海拔地区(平均海拔小于1000米)。而高海拔地区其地理位置及特有的低压环境，从而其对各电器元件及其测试系统的性能要求均不同于低海拔地区，因此，无法将低海拔地区的测试系统直接应用于高海拔地区。因此，有必要开发一种应用于高海拔低压电器元件性能测试的测试平台控制系统来克服上述缺陷。
发明内容本实用新型的目的是提供一种用于高海拔低压电器元件性能测试的控制系统，所述用于高海拔低压电器元件性能测试的控制系统，可严格按照国家针对高原应用电器元件检测的相关标准，实现精确控制与测试。为实现上述目的，本实用新型提供一种用于高海拔低压电器元件性能测试的控制系统，该系统包括控制计算机，所述控制计算机存储相关测试数据，选择要进行的测试类别，在所述控制计算机上设定相关测试参数，并传送数据信息；PLC控制模块，所述PLC控制模块与所述控制计算机电连接，所述PLC控制模块接收所述控制计算机传送的数据信息，并根据所述数据信息得出控制指令而控制各测试设备的测试动作；及辅助电器件，所述辅助电器件与所述PLC控制模块及测试设备电连接，辅助所述PLC控制模块控制测试动作，且保护所述控制系统。较佳地，所述辅助电器件包括空气开关及真空接触器，所述空气开关、所述真空接触器均与所述PLC控制模块电连接。较佳地，所述PLC控制模块包括S7-300PLC控制器及七个从站，各所述从站通过总线与所述S7-300PLC控制器电连接，且各所述从站与测试设备电连接。较佳地，所述PLC控制模块用于电寿命测试、短路通断测试、过载性能测试及升温测试的控制。较佳地，所述PLC控制模块通过控制测试设备的合闸时间、分闸时间及分合次数，而控制所述电寿命测试。较佳地，所述PLC控制模块通过对不同断口上的测试设备进行0C-0C0或OCO两类型的短路通断，而控制所述短路通断测试较佳地，所述PLC控制模块通过对不同断口上的测试设备在满足脱扣条件下能否成功脱扣分闸进行0C-0C0或OCO两类型的短路通断，而控制所述短路通断测试。较佳地，通过所述PLC控制模块选择过载测试断口，而控制所述过载性能测试。[0013]较佳地，通过所述PLC控制模块选择升温测试断口，而控制所述升温测试。由上述技术方案可知，本实用新型的用于高海拔低压电器元件性能测试的控制系统，通过所述控制计算机、PLC控制模块及辅助电器件的相互配合，可有效地对处于高海拔的电器件的性能测试过程进行控制，提高了在高海拔地区电器件性能测试结果的准确率与精度。通过以下的描述并结合附图，本实用新型将变得更加清晰，这些附图用于解释本实用新型的实施例。
图I为本实用新型控制系统的结构框图。图2为本实用新型控制系统的结构图。
具体实施方式
参考图1，图I为本实用新型控制系统的结构框图。如图所示，本实用新型用于高海拔低压电器元件性能测试的控制系统，包括控制计算机100、PLC控制模块200及辅助电器件300 ;所述控制计算机100存储相关测试数据，选择要进行的测试类别，且在所述控制计算机100上设定相关测试参数，同时将数据传出；所述PLC控制模块200与所述控制计算机100电连接，所述PLC控制模块200接收所述控制计算机100传出的数据，并根据所述数据得出控制指令而控制各测试设备的测试动作；所述辅助电器件300与所述PLC控制模块200及测试设备电连接，辅助所述PLC控制模块200控制测试动作，且保护整个所述控制系统。具体地请再结合参考图2,所述控制计算机100具体地包括四个计算机PCl、PC2、PC3、PC4，每一个所述计算机均通过总线与所述PLC控制模块200电连接(见图2);各个所述计算机均存储有相关的测试数据，当要进行具体的测试操作时，可通过所述计算机选择具体的测试类型，同时通过软件编程的方式在所述计算机上设定具体测试过程所需的各种相关测试参数，并将各数据信息传送给所述PLC控制模块200。通过所述控制计算机100实现对不同测试类型的智能化控制，可以根据不同类型测试的具体要求，通过上位画面并设定测试参数，测试动作完成后，自动将记录数据传入后台数据库，以备今后测试数据的及时查询。在本实用新型的实施方式中，所述控制计算机100设置四个计算机PC1、PC2、PC3、PC4可保证在某一计算机出现故障时，整个测试过程还可正常进行，提高了整个控制系统使用的灵活性。所述PLC控制模块200与所述控制计算机100电连接，从而所述PLC控制模块200接收所述控制计算机100传出的数据信息，并根据所述数据信息得出控制指令而具体控制各测试设备的测试动作。其中，所述PLC控制模块200包括S7-300PLC控制器210与七个从站220，各个从站220通过总线与所述S7-300PLC控制器210电连接(如图2所示);各个从站220与具体的测试设备(图未示)电连接，从而通过所述S7-300PLC控制器210与相应的从站220的配合，一起控制具体测试设备的测试操作。具体的测试操作包括对电寿命测试、短路通断测试、过载性能测试及升温测试，且，各个从站220均可控制上述四个测试过程也可有选择地只控制其中一个测试过程。其中电寿命测试电寿命测试主要是通过PLC控制模块200控制测试设备的合闸时间、分闸时间及分合次数来达成电寿命测试的目的，且在本测试中可以对QF、KM进行分合控制，可以对ET进行单次手动分合也可进行多次自动分合。短路通断测试通过PLC控制模块200对不同断口上的测试设备进行0C-0C0或OCO这两类型的短路通断测试而完成对短路通断的测试，且所述PLC控制模块200通过对不同断口上的测试设备在满足脱扣条件下能否成功脱扣分闸进行0C-0C0或OCO两类型的短路通断，而控制短路通断测试；具体地，短路通断测试分为0C-0C0和OCO这两个类型，其中0C-0C0类型的测试流程为测试开始时先进行OC测试，然后再进行OCO测试。OCO测试完成后如果是多次循环，则系统又开始OC测试，如果是单次循环，则系统发出测试终止指令。如果是进行OCO类型测试，则系统直接进行OCO测试而不做OC测试。在短路通断测试中不仅要设定很多参数而且也有很多选项需要进行设置，测试开始前同样要对“测试端口 ”、“循环类型”及“测试回路”根据测试要求正确设置选择。另外，对上述各项选择完毕后，还要对时间间隔等参数进行设定，“0C间隔”为系统做完“分断测试”到开始做“接通测试”这个时间间隔；“oc-oco间隔”为系统做完OC测试到OCO测试开始这个时间间隔；“o-co间隔”为系 统做完“分断测试”到开始做“通断测试”这个时间间隔；如果测试是0C-0C0多次循环，则还要设定“0C0-0C间隔”，该间隔时间为系统做完OCO测试到下一次OC测试开始的时间间隔；如果做的是“0C0循环”，且是多次循环，那么“0C0间隔”是系统做完该次OCO测试到下一次OCO测试开始的间隔时间。同时，当测试正在进行时，不能点击PLC控制模块200上的“测试清零”，或是更改测试参数，以免发生PLC控制模块200误动作导致测试结果不准确的情况，只有当测试结束且参数记录完毕后方可进行“测试清零”，更改参数再进行下一次测试。过载性能测试过载测试是在TP2样品室中进行，通过PLC控制模块200对不同断口上的测试设备及辅助电器件进行控制，测试开始前应先对测试参数进行设定；比如测试端口和测试类型，因为TP2既可以做电寿命测试也可以做过载测试，所以选择不同的测试端口时，需注意设定相应的测试参数。过载性能测试主要检测产品在满足脱扣条件的前提下能否成功脱扣分闸，实现应有的保护功能。升温测试通过PLC控制模块200对不同断口上的测试设备及辅助电器件进行控制，升温测试主要用于测试变压器绕组平均升温(用电阻法测)与油顶层升温，如这两项升温测试值没有超过标准中规定的允许升温限值，那么，变压器就被认为是通过了升温测试。所述辅助电器件300包括空气开关与真空接触器，所述空气开关与真空接触器均与所述PLC控制模块200及测试设备电连接；所述空气开关除了能完成接触和分断电路外，还能对电路或设备发生的短路、严重过载及欠电压等进行保护；真空接触器用以频繁接通和切断正常工作电流，通常用于接通和断开中、低压频繁起停的6kV、380V交流电动机；在本实用新型的实施例中，所述空气开关与真空接触器一起构成整个控制系统的保护电路，以保护整个控制系统在异常情况下免受损坏。本实用新型所提供的用于高海拔低压电器元件性能测试的控制系统，通过控制计算机100、PLC控制模块200及辅助电器件300的相互配合，可有效地对处于高海拔的电器件的性能测试过程进行控制，提高了在高海拔地区电器件性能测试结果的准确率与精度。以上结合最佳实施例对本实用新型进行了描述，但本实用新型并不局限于以上揭示的实施例，而应当涵盖各种根据本实用新型的本质进行的修改、等效组合。
权利要求1.一种用于高海抜低压电器元件性能测试的控制系统，其特征在于，包括 控制计算机，所述控制计算机存储相关测试数据，选择要进行的测试类别，在所述控制计算机上设定相关测试參数，并传送数据信息； PLC控制模块，所述PLC控制模块与所述控制计算机电连接，所述PLC控制模块接收所述控制计算机传送的数据信息，并根据所述数据信息得出控制指令而控制各测试设备的测试动作；及 辅助电器件，所述辅助电器件与所述PLC控制模块及测试设备电连接，辅助所述PLC控制模块控制测试动作，且保护所述控制系统。
2.如权利要求I所述的用于高海抜低压电器元件性能测试的控制系统，其特征在干，所述辅助电器件包括空气开关及真空接触器，所述空气开关、所述真空接触器均与所述PLC控制模块电连接。
3.如权利要求I所述的用于高海抜低压电器元件性能测试的控制系统，其特征在干，所述PLC控制模块包括S7-300PLC控制器及七个从站，各所述从站通过总线与所述S7-300PLC控制器电连接，且各所述从站与测试设备电连接。
4.如权利要求3所述的用于高海抜低压电器元件性能测试的控制系统，其特征在干，所述PLC控制模块用于电寿命测试、短路通断测试、过载性能测试及升温测试的控制。
5.如权利要求4所述的用于高海抜低压电器元件性能测试的控制系统，其特征在干，所述PLC控制模块通过控制测试设备的合闸时间、分闸时间及分合次数，而控制所述电寿命测试。
6.如权利要求4所述的用于高海抜低压电器元件性能测试的控制系统，其特征在干，所述PLC控制模块通过对不同断口上的测试设备进行OC-OCO或OCO两类型的短路通断，而控制所述短路通断测试。
7.如权利要求6所述的用于高海抜低压电器元件性能测试的控制系统，其特征在干，所述PLC控制模块通过对不同断口上的测试设备在满足脱扣条件下能否成功脱扣分闸进行0C-0C0或OCO两类型的短路通断，而控制所述短路通断测试。
8.如权利要求4所述的用于高海抜低压电器元件性能测试的控制系统，其特征在干，通过所述PLC控制模块选择过载测试断ロ，而控制所述过载性能测试。
9.如权利要求4所述的用于高海抜低压电器元件性能测试的控制系统，其特征在干，通过所述PLC控制模块选择升温测试断ロ，而控制所述升温测试。
专利摘要本实用新型公开了一种用于高海拔低压电器元件性能测试的控制系统，该系统包括控制计算机，控制计算机存储相关测试数据，选择要进行的测试类别，在控制计算机上设定相关测试参数，并传送数据信息；PLC控制模块，PLC控制模块与控制计算机电连接，PLC控制模块接收控制计算机传送的数据信息，并根据数据信息得出控制指令而控制各测试设备的测试动作；及辅助电器件，辅助电器件与PLC控制模块及测试设备电连接，辅助PLC控制模块控制测试动作，且保护控制系统。本实用新型的用于高海拔低压电器元件性能测试的控制系统，可严格按照国家对高原应用电器元件检测的相关标准，实现精确控制与测试。
文档编号G05B19/05GK202632047SQ201220259970
公开日2012年12月26日 申请日期2012年6月4日 优先权日2012年6月4日
发明者李宏, 王世平, 赵煜, 杨志红 申请人:昆明兴三方电器科技有限公司