且，为了保证采样效果和低功耗效果，低功耗的待机时间一般会维持在100?5000ms之间。
[0035]并且，图4、图5实施例提供的温度采样控制系统，也仅仅是两个实施例中的基准电阻Rl和热敏电阻RT的位置发生了调换。工作原理与上述第一、第二实施例提供的温度采样控制系统的工作原理相同，在此就不再赘述。需要强调的是，在图4所示的第三实施例中，计算获取热敏电阻RT的阻值的分压公式具体为:V/(Varef-V) = R1/RT ;在图5所示的第四实施例中，计算获取热敏电阻RT的阻值的分压公式具体为:(Varef-V)/V = R1/RT。同样的，已知Varef、V和Rl和值，可进一步求出热敏电阻RT的阻值。
[0036]进一步地，本发明实施例还提供一种遥控器。该遥控器其可以适用于小家电、电视机、空调、冰箱等各种家用电器。作为改进，该遥控器内包括了如上任一实施例所述的温度采样控制系统。对于该温度采样控制系统的结构就不再赘述，但是对于其中的基准电阻Rl来说，优选的，选用阻值为10?800ΚΩ的电阻为佳。
[0037]另一方面，本发明实施例还提供了一种基于上述温度采样控制系统实现的温度采样控制方法。由上述温度采样控制系统的工作过程描述可知，该温度取样控制方法主要包括以下步骤，具体参见图6:
[0038]提供采样电压的步骤SlO:微处理器MCU的1端口输出高电平以提供取样电压，并保持输出第一预设时长Tl;
[0039]电压采样步骤S20:微处理器MCU的第一 AD取样端口获取1端口的电压值Varef、第二 AD取样端口获取基准电阻Rl与热敏电阻RT的串接点上的分压电压值V ；
[0040]温度获取步骤S30:微处理器MCU根据分压公式计算出热敏电阻RT的阻值，并获取与其相对应的温度参数值；
[0041]低功耗待机步骤S40:微处理器MCU的1端口输出低电平进入待机状态，并维持第二预设时长T2。
[0042]根据上述有关温度采样控制系统的实施例的描述可知，若温度采样控制系统如图4或图5所示、包括一个开关模块，则所述提供采样电压的步骤SlO具体为:微处理器MCU的1端口输出高电平、控制与其相连的开关模块导通以提供取样电压，并保持输出第一预设时长Tl ；
[0043]所述低功耗待机步骤S40具体为:微处理器MCU的1端口输出低电平、控制所述开关模块截止以进入待机状态，并维持第二预设时长T2。
[0044]进一步地，根据前述实施例可知，在具体实施过程中，第一预设时长Tl优选为
0.01?Ims之间的任一时间，第二预设时长T2优选为100?5000ms之间的任一时间。
[0045]并且，若热敏电阻RT连接在微处理器MCU的1端口与基准电阻Rl之间，则所述分压公式为 V/(Varef-V) = R1/RT ；
[0046]若基准电阻Rl连接在微处理器MCU的1端口与热敏电阻RT之间，则所述分压公式为(Varef-V)/V = R1/RT。
[0047]综上所述，根据本发明提供的遥控器、温度采样控制系统及控制方法，在微处理器MCU的1端口输出高电平时，通过第一 AD取样端口和第二 AD取样端口分别进行电压取样，再通过分压公式计算出热敏电阻RT的阻值，并获取与其相对应的温度参数值。本发明的优点主要在于:通过微处理器MCU的1端口输出高电平以提供取样电压，但是大部分时间里1端口输出低电平使整个温度采样控制系统处于待机的非采样状态，不会产生功耗，故长时间处于极低功耗状态。另外，此温度采样控制系统的结构简单、成本低，温度采样控制方法也具有便捷、成本低、可移值性强的优势。
[0048]值得注意的是，上述实施例中，所包括的各个单元只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。
[0049]以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了较详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改、或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种温度采样控制系统，其特征在于，所述温度采样控制系统包括基准电阻R1、热敏电阻RT、微处理器MCU及其1端口和两个AD取样端口 ； 所述基准电阻Rl和热敏电阻RT串接在所述微处理器MCU的1端口与地之间，所述微处理器MCU的第一 AD取样端口与1端口相连，所述微处理器MCU的第二 AD取样端口接在所述基准电阻Rl与热敏电阻RT的串接点上。
2.如权利要求1所述的温度采样控制系统，其特征在于，所述热敏电阻RT的第一端同时接所述微处理器MCU的1端口和第一 AD取样端口，所述热敏电阻RT的第二端同时接微处理器MCU的第二 AD取样端口和基准电阻Rl的第一端，所述基准电阻Rl的第二端接地。
3.如权利要求1所述的温度采样控制系统，其特征在于，所述基准电阻Rl的第一端同时接所述微处理器MCU的1端口和第一 AD取样端口，所述基准电阻Rl的第二端同时接微处理器MCU的第二 AD取样端口和热敏电阻RT的第一端，所述热敏电阻RT的第二端接地。
4.如权利要求2所述的温度采样控制系统，其特征在于，所述温度采样控制系统还包括一连接在所述微处理器MCU的1端口与所述热敏电阻RT之间的开关模块； 所述开关模块的控制端接所述微处理器MCU的1端口，所述开关模块的高电位端接工作电源VCC，所述开关模块的低电位端同时接所述微处理器MCU的第一 AD取样端口和所述热敏电阻RT的第一端。
5.如权利要求3所述的温度采样控制系统，其特征在于，所述温度采样控制系统还包括一连接在所述微处理器MCU的1端口与所述基准电阻Rl之间的开关模块； 所述开关模块的控制端接所述微处理器MCU的1端口，所述开关模块的高电位端接工作电源VCC，所述开关模块的低电位端同时接所述微处理器MCU的第一 AD取样端口和所述基准电阻Rl的第一端。
6.一种遥控器，包括一温度采样控制系统，其特征在于，所述温度采样控制系统包括基准电阻R1、热敏电阻RT、微处理器MCU及其1端口和两个AD取样端口 ； 所述基准电阻Rl和热敏电阻RT串接在所述微处理器MCU的1端口与地之间，所述微处理器MCU的第一 AD取样端口与1端口相连，所述微处理器MCU的第二 AD取样端口接在所述基准电阻Rl与热敏电阻RT的串接点上。
7.一种基于如权利要求1所述的温度采样控制系统实现的温度采样控制方法，其特征在于，所述控制方法包括以下步骤: 提供采样电压的步骤:微处理器MCU的1端口输出高电平以提供取样电压，并保持输出第一预设时长Tl ; 电压采样步骤:微处理器MCU的第一 AD取样端口获取1端口的电压值Varef、第二 AD取样端口获取基准电阻Rl与热敏电阻RT的串接点上的分压电压值V ； 温度获取步骤:微处理器MCU根据分压公式计算出所述热敏电阻RT的阻值，并获取与其相对应的温度参数值； 低功耗待机步骤:微处理器MCU的1端口输出低电平进入待机状态，并维持第二预设时长T2。
8.如权利要求7所述的温度采样控制方法，其特征在于: 所述提供采样电压的步骤具体为:微处理器MCU的1端口输出高电平、控制与其相连的开关模块导通以提供取样电压，并保持输出第一预设时长Tl ; 所述低功耗待机步骤具体为:微处理器MCU的1端口输出低电平、控制所述开关模块截止以进入待机状态，并维持第二预设时长T2。
9.如权利要求7所述的温度采样控制方法，其特征在于，所述第一预设时长Tl为0.01?Ims之间的任一时间，所述第二预设时长T2为100?5000ms之间的任一时间。
10.如权利要求7所述的温度采样控制方法，其特征在于，在所述温度获取步骤中: 若所述热敏电阻RT连接在所述微处理器MCU的1端口与基准电阻Rl之间，则所述分压公式为 V/(Varef-V) = R1/RT ； 若所述基准电阻Rl连接在所述微处理器MCU的1端口与热敏电阻RT之间，则所述分压公式为(Varef-V)/V = R1/RT ； 其中，上述两个公式中的RT为所述热敏电阻RT的阻值，Rl为所述基准电阻Rl的阻值。
【专利摘要】本发明属于家用电器领域，尤其涉及一种低功耗的遥控器、温度采样控制系统及控制方法。根据本发明提供的遥控器、温度采样控制系统及控制方法，在微处理器MCU的IO端口输出高电平时，通过第一AD取样端口和第二AD取样端口分别进行电压取样，再通过分压公式计算出热敏电阻RT的阻值，并获取与其相对应的温度参数值。本发明的优点主要在于：通过微处理器MCU的IO端口输出高电平以提供取样电压，但是大部分时间里IO端口输出低电平使整个温度采样控制系统处于待机的非采样状态，不会产生功耗，故长时间处于极低功耗状态。另外，此温度采样控制系统的结构简单、成本低，温度采样控制方法也具有便捷、成本低、可移值性强的优势。
【IPC分类】G05D23-24
【公开号】CN104731129
【申请号】CN201510050934
【发明人】梁汝锦, 廖荣华
【申请人】广东美的制冷设备有限公司
【公开日】2015年6月24日
【申请日】2015年1月31日