专利名称：整合型计算机的自动测试系统及其方法
技术领域：
本发明系为一种测试计算机不良率的机制，特别是一种应用于整合型计算机的自动测试系统及其方法。
背景技术：
由于科技的快速发展及产业上的进步，由半导体产业及信息电子产业领军的市场不断地持续蓬勃成长，造成相当多的应用层面有显著的变化，所带来的不只是单单的科技成就，而是增进了人类生活品质、改变了生活的模式，所影响的科技产品如个人计算机、鼠标、扫描仪、移动电话、个人数字助理器等千百种的电子消费产品，尤其此类产品已从专业用设备走向个人、家庭、一般生活中的消费性产品，换言的，人们对于这些设备的依赖性也日渐增强，所有的厂商都投身致力于生产更多的相关产品，也因此制造商，无不致力于提升产能。
一般而言，在生产的过程中，所有的产品，在出厂前都需经过检测，确保产品的品质，制造商会区分为良品与不良品区域，此外也通过跳线盒等设备来加以测试，此种跳线盒只是单纯的进行跳线的功能，不会产生任何从跳线盒本身对外信号控制作用，对于制造商而言，相对的不便利，光是人工将产品分类也相当的繁琐，产能也无法提升，此时如何能够自动检测生产线上的产品，如计算机等等，实为一尚待解决的技术课题。
发明内容
有鉴于此，本发明提供一种整合型计算机的自动测试系统及其方法，其目的在于，当整合型计算机组装完成后，经由自动测试系统检测整合型计算机是否有问题，通过自动测试系统无线传输与控制端沟通，将结果传送，而进一步将整合型计算机配送至其所属的生产区域，更提供一存储功能将整合型计算机状态存入自动测试系统中，通过本发明将可增加测试机台的速率，并提高生产线的产能。
根据本发明所揭示的方法，至少包含下列步骤连结单元检测是否与待测机台的视频图形接口(Video Graphics Array；VGA)卡数据管线连接，并通过微处理单元判读待测机台的状态，并将此状态储存于存储单元中，及最后通过传输单元通知控制端并将待测机台送至所属的区域。
有关本发明的详细内容及技术，兹就配合对图说明如下图1为本发明整合型计算机的自动测试系统及其方法的示意图；图2为本发明整合型计算机的自动测试系统及其方法的系统方块图；及图3为本发明本发明整合型计算机的自动测试方法的流程图。
图中符号说明10待测机台10a～n待测机台20已测机台(不良品)30已测机台(良品)40生产线100 自动测试系统110 连结单元120 微处理单元130 存储单元140 对外控制脚150 传输单元步骤200 一连结单元检测是否与一待测机台的VGA数据管线连接步骤210 通过一微处理单元判读该待测机台的状态步骤220 将该状态储存于一存储单元中步骤230 通过一传输单元通知一控制端并将该待测机台送至所属的区域具体实施方式
本发明为一种整合型计算机的自动测试系统及其方法，请参照图1，为本发明整合型计算机的自动测试系统及其方法的示意图。
如图1所示，在生产线40上陈列了复数个待测机台10等候自动测试系统100的测试，在图中，待测机台10a正通过自动测试系统100检测，判别是否有异常的现象，自动测试系统100并将有异常的待测机台10利用运输带，运送至不良品区(Fail Area)，在此称的为已测机台20，此外，在不良品区(Fail Area)中，也会根据当初自动测试系统100检验的结果加以分门别类，再重新加以组装、维修、更新等工作，然后在重新送至给自动测试系统加以检验；如果待测机台10经由自动测试系统判别100没有异常现象，则会利用运输带运送至良品区(PassArea)，在此称的为已测机台30，至此已测机台30便等待包装，准备出货加以销售。
接着在介绍本发明的方法前，先陈述本发明的基本系统，请参阅图2，为本发明整合型计算机的自动测试系统及其方法的系统方块图。
就本发明系统而言，包含下列几种单元一连结单元110，与一待测机台10连接，用以检测待测机台10的状况，当连接时，便发出一状态(Status)信号，本单元110为一15pin视频图形接口(Video Graphics Array；VGA)卡标准插头，并搭配待测机台10的插座。
一微处理单元120，用以分析判断待测机台10是否有异常，并分配待测机台10至指定的生产线40，当接收连结单元110所发出的状态信号，经处理后，便发出一指令信号，本单元120为一Atmel MPU89C4051可编程的微处理器。
一存储单元130，用以储存微处理单元120分析待测机台10的状态结果，当接收到微处理单元120所发出的指令信号后便开始储存。
一对外控制脚140，当得知待测机台10的结果，便将待测机台10转到控制端外围设备。
一传输单元150，作为一数据传输的接口，为控制端与待测机台10进行数据交换，当接收到微处理单元120所发出的指令信号，便可进行数据交换，此外，本单元150则是通过红外线(IrDA)传送信息。
有了上述的系统后，便可进行测试生产线40中的待测机台10，接下来就针对其流程作更进一步的详细说明，请参照图3，为本发明本发明整合型计算机的自动测试方法的流程图。
首先通过一连结单元110检测是否与一待测机台10的VGA数据管线连接(步骤200)，若没有连接，则自动测试系统100便继续保持检测状态，而重复步骤200；若检测到连接，则便通过一微处理单元120判读该待测机台10的状态(步骤210)，此一状态，可分为待测机台10异常与待测机台10正常，接着便将该状态储存于一存储单元130中(步骤220)，储存完毕的后，则通过一传输单元150通知一控制端并将该待测机台10送至所属的区域(步骤230)，此步骤为控制端将待测机台10配送至一良品区(Pass Area)与一不良品区(Fail Area)，当配送完成后，便结束本流程。
其中不良品区的已测机台20，必须重新加以组装、维修、更新等工作，而再次送至自动测试系统100加以检验。
虽然本发明以前述的较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围视专利申请范围所界定者为准。
权利要求
1.一种整合型计算机的自动测试系统，应用于一整合型计算机生产线上不良品的测试，其特征在于，该系统包含一连结单元，与一待测机台连接，用以检测该待测机台的状况，当连接时，便发出一状态(Status)信号；一微处理单元，用以分析判断该待测机台是否有异常，并分配该待测机台至指定的生产线，当接收该状态信号，经处理后，便发出一指令信号；一存储单元，用以储存该微处理单元分析该待测机台的状态结果，当接收到该指令信号开始储存；及一传输单元，作为一数据传输的接口，为一控制端与该待测机台进行数据交换，当接收到该指令信号，便可进行交换。
2.如权利要求1所述的整合型计算机的自动测试系统，其特征在于，该连结单元为一15pin视频图形接口(Video Graphics Array；VGA)卡标准公接头，并搭配该待测机台的母接头。
3.如权利要求1所述的整合型计算机的自动测试系统，其特征在于，微处理单元为一Atmel MPU 89C4051可编程的微处理器。
4.如权利要求1所述的整合型计算机的自动测试系统，其特征在于，该自动测试系统更提供一对外控制脚，当得知该待测机台的结果，便将该待测机台转到该控制端外围设备。
5.如权利要求1所述的整合型计算机的自动测试系统，其特征在于，该传输单元通过红外线(IrDA)传送信息，以利无线传输接收器来接收信号。
6.一种整合型计算机的自动测试的方法，应用于一整合型计算机生产线上不良品的测试，其特征在于，该方法包含有下列步骤一连结单元检测是否与一待测机台的视频图形接口(VideoGraphics Array；VGA)卡数据管线连接；通过一微处理单元判读该待测机台的状态；将该状态储存于一存储单元中；及通过一传输单元通知一控制端并将该待测机台送至所属的区域。
7.如权利要求6所述的整合型计算机的自动测试的方法，其特征在于，该传输单元通过红外线(IrDA)传送信息，以利其它无线传输接收器来接收信号。
8.如权利要求6所述的整合型计算机的自动测试的方法，其中该控制端将该待测机台配送至一良品区(Pass Area)与一不良品区(FailArea)。
全文摘要
本发明为一种整合型计算机的自动测试系统及其方法，当在生产线上测试整合型计算机时，通过一自动测试系统判别整合型计算机是否有瑕疵，并利用无线传输将自动测试系统所测得信号送至控制端，经由控制端来判断生产流程的走向，以增加测试机台的速率，同时也提高生产线的产能。
文档编号G06F11/28GK1521626SQ03103600
公开日2004年8月18日 申请日期2003年1月29日 优先权日2003年1月29日
发明者邱国材 申请人:英属维尔京群岛诚景公司