专利名称：投射电容式触控面板的扫描方法
技术领域：
本发明涉及电容式触控面板的扫描方法，尤其是涉及投射电容式触控面板的扫描 方法。
背景技术：
目前，电容式触控面板包括投射电容式和表面电容式，其中投射电容式触控面板 在电子产品中被广泛应用，如图1所示一种公知的投射式触控屏1，包括保护层11、基板 12、投射电容式触控面板13以及控制器14 ；保护层11为透明材料制成，位于投射电容式触 控面板13的上方；基板12位于投射式电容触控面板13的下方；控制器14与投射电容式触 控面板13电联接，用于驱动投射电容式触控面板13工作。所图2所示常见的投射电容式触控面板13 —般是由相互直角相交的相互绝缘的 导电电极构成，即沿第一方向(X轴方向)排布的彼此基本相互平行M(M> 1)条第一电极 (横轴电极)和沿第二方向(Y轴方向)排布的亦彼此基本相互平行且正交于第一电极的 N(N^l)条第二电极(纵轴电极)组成，所述的第一电极和第二电极构成一个电极矩阵，所 述的第一电极或第二电极分别与第三方电位(人的手指、大地或接地导体)之间形成M和 N个自电容，行业中也称之为自感电容，所述的第一电极和第二电极交叉处形成M女N个互 电容，行业中也称之为互感电容。当手指触摸到投射电容式触控面板13，被触摸到的第一电 极与第二电极的自电容的容值增加，但是它们交叉处的互电容的容值会减小。现在技术中， 投射电容式触控面板对触点定位的通常是采用检测互电容值的变化来实现，所以无论是在 面板被触碰需要对触点定位过程中，还是面板未被触碰时，都需要一次次执行对整个面板 所有电极交叉处的互电容进行扫描侦测。如中国专利文献CN1797308A记载的《一种电容式触控感应装置的判读方法》，本 篇文献就是一种投射电容式触控面板在对触点定位过程中，需要对整个面板所有电极交叉 处的互电容进行扫描侦测的案例，包括以下步骤第一阶段，对所有的互电容进行初始扫描确定互电容基准值(a)针对Y轴方向上其中一列纵轴电极M个互电容进行充电，得到M个数字信号；(b)比较该M个数字信号，并将其中最小者作为一个电位基准值；(c)重复步骤(a) (b)，以得到所有互电容的N个电位基准值；第二阶段，对所有的互电容进行扫描确定被碰触的点(d)触碰该面板(当有手指触碰到面板或者至少接近一个交叉处时，该交叉处的 互电容的电荷能量将会被手指吸引，而此时该互电容的充电电位必定低于未被接触时互电 容的电位基准值)；(e)扫描该面板，以得到相对于至少一 列的M个互电容中的至少一个电位变动值；(f)以及将N个电位基准值中相对于该至少一列的电位基准值与上述的至少一个 电位变动值进行比较，从而判断出该面板上该列中的那一点被触碰。纵观以上电容式触控感应装置的判读方法，无论是在第一阶段，还是在第二阶段，都需要对所有的M * N个互电容的容值是否发生变化进行扫描检测，然后基于一些计算规 则计算出触点的位置。当面板变得越来越大，即M和N的数量越来越多，需要扫描的互电容 数量就以轴数(M或N)的二次方方式递增，扫描M * N的互电容所需要的时间将变得更长， 相应扫描频率将变得越低。如果只是在确定电位基准值过程中所需扫描时间较长，这并不 会造成多大问题，但是当面板被碰到需要对触点进行及进定位时，就会导致上述投射电容 式触控面板难以快速准确地对触点进行定位扫描。举个例子，假设有一个42英寸的触控面 板，其中有M = 170行横轴电极及N = 100列纵轴电极，每个互电容扫描假设需30微秒(因 为侦测一个互电容的容值的大小通常需要几十到几百微秒)，那么完成整个面板的扫描所 需时间是170X 100X30US = 0. 51秒或者说扫描频率为1. 96帧/每秒。这样低的扫描频 率可能导致上述投射电容式触控面板对触点定位的延迟，特别是需要对多个触点进行几乎 同时定位时，就会因不能及时检测而发生漏检触点的情况。针对上述缺陷，人们提出一种试图通过减少被测量互电容的数量来提高扫描频率 的定位方法，该方法主要利用电极的最佳宽度以隔行扫描方式对触摸点时进行扫描定位。 本领域普通技术人员都知晓触控面板X轴及Y轴方向上每个电极有一定的宽度，电极最佳 的宽度是手指宽度的一半大小，一个手指触摸通常将覆盖两个X轴电极及Y轴电极。假如 这个宽度太大，一个手指触摸只可能影响一个电极，如果电极宽度太小，对于已确定宽度的 触摸面板，这将意味着需要检测更多的横轴电极或纵轴电极。仍以42英寸触摸面板为例， 采用隔行扫描，将最少有l/4mXn的互电容被扫描，总计有170 100/4 = 4250的互电容 被扫描，这将节约3/4时间。然而，采用隔行扫描触摸面板的缺陷是，忽略了对其它3/4触 摸领域可能存在碰触的互电容的扫描，定位精度将一定程度的降低。本发明以针对现有投射电容式触控面板的扫描方法不适用大尺寸面板进行扫描 的缺陷进行研究，找出一种适用中、大尺寸面板扫描方法。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种投射电容式触控面板的扫描方法，该项扫描方法 扫描频率高、定位精确，特别适合对中、大尺寸面板进行扫描。一种投射电容式触控面板的扫描方法，主要由投射电容式触控面板和控制器完 成，所述的投射电容式触控面板与控制器之间电性联接；所述的触控面板包括沿第一方向 排布的至少一条第一电极和沿第二方向排布的至少一条第二电极，所述的第一电极或第二 电极分别与第三方电位之间形成自电容，所述的第一电极和第二电极交叉处形成互电容， 所述的第一电极与第二电极之间相互绝缘，通过以下步骤实施，(a)设定所述的每条第一电极的自电容基准值和每条第二电极的自电容基准值， 和设定所述的每个交叉处的互电容基准值；(b)控制器对所有的电极的自电容进行扫描得到每条电极的自电容当前值，并与对应该条电极的自电容基准值进行比较，判断出自电容值发生变化的第一电极和第二电 极，则所述的自电容值发生变化的第一电极和第二电极即被碰触到；(c)控制器对(b)步中确定出的被触碰到的第一电极和第二电极每个交叉处的互 电容进行扫描得到各个交叉处的互电容当前值，并与对应该交叉处的互电容基准值进行比 较，判断出互电容值发生变化的交叉处，则所述的互电容值发生变化的交叉处所在的区域即为实际被触碰区域。上述(a)步中还包括设定每条第一电极和每条第二电极自电容变化基准值；则所 述(b)步中判断出自电容当前值与对应该条电极的自电容基准值之差大于该条电极的自 电容变化基准值的第一电极或第二电极。上述(b)步中每条电极的自电容当前值与对应该条电极的自电容基准值之差均 未大于该条电极的自电容变化基准值，则重复(b)步。上述(a)步中还包括设定所述的每个交叉处的互电容变化基准值，则所述(C)步 中判断出自电容当前值与对应该交叉的互电容基准值之差大于该交叉的互电容变化基准 的交叉处。在(a)步与(b)步之间增加一步面板被触碰，至少一条第一电极和至少一条第二 电极被碰到。在(c)步之后增加一步(d)，计算(C)步中确定实际被触碰区域的重心。上述(a)步中设定每条第一电极的自电容基准值和每条第二电极的自电容基准 值为控制器对每条第一电极和每条第二电极进行自电容初始扫描多次得到每条第一电极 和每条第二电极的数个自电容初始值，各取均值作为对应该条第一电极和该条第二电极的 自电容基准储存。上述的自电容初始扫描进行多次为控制器分别先对每条第一电极和每条第二电 极进行充电再对与对应的第一电极和第二电极连接的参考电容进行放电，得到每条第一电 极和每条第二电极的一个自电容初始值，依所述方式进行多次，得到每条第一电极和每条 第二电极的数个自电容初始值，各取均值作为该条第一电极和该条第二电极的自电容基准 值进行存储。上述的(a)步中设定每个交叉处的互电容基准值是指控制器对每个交叉处的互 电容进行初始扫描多次以得到每个交叉处的数个互电容初始值，各取均值作为各交叉处的 互电容基准值储存。上述的互电容初始扫描进行多次具体包括控制器分别对每条第二电极进行充电， 控制器依次重复或并行重复收集第一电极上感应的电荷并转成电压，得到每个交叉处的一 个互电容初始值，依所述的方式进行多次，得到每个交叉处的数个互电容初始值，各取均值 作为各个交叉处的互电容基准值存储。上述(b)步中控制器对所有的电极的自电容进行扫描得到每条电极的自电容当 前值为控制器分别先对每条第一电极和每条第二电极进行充电再对与对应的第一电极和 第二电极连接的参考电容进行放电，得到每条第一电极和每条第二电极的一个自电容当前值。上述(c)步中控制器对(b)步中确定出的被触碰到的第一电极和第二电极每个 交叉处的互电容进行扫描得到各个交叉处的互电容当前值为控制器分别对(b)步中确定 出的被触碰到的每条第二电极进行充电，控制器依次或并行收集被触碰到的每条第一电极 上感应的电荷并转成电压，得到被触碰到的第一电极和第二电极所有交叉处的互电容当前值。上述的第一方向为横向，所述的第一电极为基本相互平行横轴电极；所述第二方 向为纵向，所述的第二电极为基本相互平行且正交于横轴电极的纵轴电极，所述的横轴电极与纵轴电极相互之间构成一个电极矩阵；所述的第三方电位为一接地导体；所述的每条 横轴电极或每条轴电极与接地导体之间形成自电容；所述的每条横轴电极与每条纵轴电极交叉处形成互电容。本发明技术方案所揭示的投射电容式触控面板的扫描方法，主要是自电容扫描与 互电容扫描有效结合，在面板未被触碰时，只需要对面板每条电极的自电容进行扫描即可，自电容数量远小于面板所有电极交叉处形成的互电容数量；当面板被触碰时需要对触点 进行定位时，利用自电容扫描测出因为触摸而产生自电容值发生变化的第一电极和第二电 极，一次性预判出是哪条或哪些第一电极和第二电极被触摸；再利用互电容扫描仅仅对上 述确定被触摸的第一电极和第二电极的交叉处形成的互电容变化进行侦测，需要扫描的互 电容数量大大减少，即对面板的扫描面积大大减少，所以本方法扫描时间能够大为缩短，相应扫描频率得以提高，定位精确度也相应提高，特别是对于中尺寸、大尺寸的触控面板在多 触点定位时使用本方法，优势相当明显。为了让本发明的上述目的、技术特征和优点更明显易懂，下文以优选实例配合图 进行详细说明。
图1是现有的投射式触控屏的结构示意图；图2是现有的投射电容式触控面板的结构示意图；图3是本发明方法中投射电容式触控面板与控制器联接示意图；图4是本发明方法中对第一方向上第一电极的自电容进行扫描示意图；图5是本发明方法中对第二方向上第二电极的自电容进行扫描示意图；图6是本发明方法中投射电容式触控面板的单点触控示意图；图7是图6中单点触控的电极示意图；图8是本发明方法中投射电容式触控面板的两点触控示意图；图9是图8中两点触摸的电极示意图；图10是图8中两点触摸的实际接触点与影子接触点的示意图；其中，附图标记说明如下投射式触控屏1 包括保护层11 基板12投射电容式触控面板触控面板13 第一电极131a、131b第二电极132c、133d —个第一电极和一个第二电极的交点133四个触碰区域135a、135b、135c、135d 控制器1具体实施例方式本发明的扫描方法主要由投射电容式触控面板13和控制器14完成，如图3所示 投射电容式触控面板13与控制器14之间电性联接，所述投射电容式触控面板13包括相互 绝缘的导电电极，即由沿第一方向(X轴方向)排布的彼此基本相互平行M(M> 1)条第一 电极(横轴电极)和沿第二方向(Y轴方向)排布的亦彼此基本相互平行且正交于横轴电 极的1)条第二电极(纵轴电极)组成，所述的第一电极和第二电极相互之间构在电 极矩阵，所述的第一电极或第二电极分别与第三方电位(人的手指、大地或接地导体)之间形成M和N个自电容，所述的第一电极和第二电极交叉处形成M*N个互电容，这是本领域的 技术人员所通晓的公知技术，这里不再敖述。通过以下步骤实现
(a)设定所述的每条第一电极的自电容基准值和每条第二电极的自电容基准值， 和设定所述的每个交叉处的互电容基准值；(b)控制器对所有的电极的自电容进行扫描得到每条电极的自电容当前值，并与 对应该条电极的自电容基准值进行比较，判断出自电容值发生变化的第一电极和第二电 极，则所述的自电容值发生变化的第一电极和第二电极即被碰触到；(c)控制器对(b)步中确定出的被触碰到的第一电极和第二电极每个交叉处的互 电容进行扫描得到各个交叉处的互电容当前值，并与对应该交叉处的互电容基准值进行比 较，判断出互电容值发生变化的交叉处，则所述的互电容值发生变化的交叉处所在的区域 即为实际被触碰区域。如图7所示在上述(a)步与(b)步之间增加一步面板被触碰至少一条第一电极和 至少一条第二电极被碰到，则所述(b)步中所述的自电容值发生变化的第一电极和第二电 极即是被碰到的电极，如背景技术中提到触控面板第一方向(X轴)及第二方向(Y轴)上 每个电极有一定的宽度，电极最佳宽度是手指宽度的一半大小，一个手指触摸面板时，通常 将碰触到第一方向两条第一电极及第二方向两条第二电极，这些被碰触的第一电极和第二 电极交叉形成触摸影响区域。对于只存在一个触点时，该触摸影响域区只包括实际触摸区 域134(如图7所示)，但是对于存在两个触点时，情况就有所不同，这些被碰触的第一电极 和第二电极交叉会形成四个区域有135a、135b、135c、135d(如图9所示)，其中只有135a、 135b两个区域是实际被触碰区域，其他135c、135d两个区域并非真正的触碰区域，业内称 之为影子区域(如图10所示)，然而控制器14此时并不能将实际被触碰区域与影子区域区 分开。如此，类推三个触点、四个触点等均一样，所以需要进行(c)步，则所述(c)步中确定 互电容值发生变化的交叉处所在的区域即为实际被触碰区域。如图10所示手指触碰135a影响到了第一方向的第一电极Ml、M2、M3、M4和第 二方向第二电极N3、N4、N5、N6，彼此有16个交叉处，这并利于面板对触碰点135a的准确 坐标位置进行判断，所以基于(c)确认实际被触碰区域，在上述(c)步之后增加一步(d)， 计算实际被触碰区域内的交叉处的重心，运算法则是现有的技术算法，如图10所示，手指 触碰135a影响到了平行于X轴方向的横轴电极Ml、M2、M3、M4，对应的纵轴坐标位置分 别为Yl、Y2、Y3、Y4，且四根横轴电极的电压变化分别为Ul、U2、U3、U4，则此实际被触摸 区域的重心的Y = (Y1*U1+Y2*U2+Y3*U3+Y4*U4)/(U1+U2+U3+U4)；同理，实际被触摸区域 影响到了平行Y轴方向纵轴电极N3、N4、N5N6，对应的纵轴坐标位置分别为X3，X4，X5， X6且四根纵轴电极的电压变化分别为U5、U6、U7、U8，则此实际被触摸区域的重心为X = (X3*U5+X4*U6+X5*U7+X6*U8)/(U5+U6+U7+U8)；这样就可以得出 135a 的重心坐标位置(X， Y)。上述(a)步中设定所述的每条第一电极的自电容基准值和每条第二电极的自电 容基准值有两种方式第一种是人为或者通过经验值，实验值直接在控制器14中设定；第 二种是控制器14对每条第一电极和每条第二电极的自电容进行初始扫描多次以得到每条 第一电极和每条第二电极的数个自电容初始值，各取均值作为对应该条第一电极和该条第二电极的自电容基准储存。上述控制器14对电极的自电容进行扫描得到电极的自电容值 有多种实现方式，均为习知技术。例如控制器14对对电极进行充电到一个设定值，然后把 电极与一个参考电容连接，对该参考电容进行充电，则该电极自身会放电，电压就会降低， 其降低到另一个设定值的所用的时间则可以等效为该电极的自电容的容值。如图4所示， 控制器14依次对第一方向(X轴)每条第一电极进行充电，再对第一电极连接的参考电容 进行放电，得到每条第一电极的一个自电容初始值，为了得到相对准确稳定的自电容初始 值，依所述方式进行多次，得到每条第一电极的数个自电容初始值，取均值作为该条第一电 极的自电容基准值进行储存，这将得到共计M个自电容基准值；同理，如图5所示，控制器 14依次对第二方向每条第二电极进行多次充电，再对第二电极连接的参考电容进行放电， 得到每条第二电极的一个自电容初始值，依所述方式进行多次，得到每条第二电极的数个 自电容初始值，取均值作为该条第二电极的自电容基准值进行储存，这将得到N个自电容 基准值。 上述(a)步中设定所述的每个交叉处的互电容基准值亦有两种方式；第一种仍然 是人为或者通过经验值，实验值直接在控制器14中设定；第二种是控制器对每个交叉处的 互电容进行初始扫描多次以得到每个交叉处的数个互电容初始值，各取均值作为各交叉处 的互电容基准值储存。具体包括控制器14将第二方向(Y轴方向)的第二电电极作为驱动 电极、第一方向(X轴方向)第二电极作为感应电极，控制器14先将对第二方向的第二电 极进行充电，在第一方向每条第一电极就会感生负电荷，控制器14再依次重复(从M= 1 到M = m)或并行重复收集所有第一方向每条第一电极上感应的负电荷，并将负电荷放大并 转成正电压，得到每个交叉处的互电容的一个互电容初始值，为了得到相对准确稳定的互 电容初始值，依上述方式进行多次，得到每个交叉处的互电容的数个互电容初始值，分别各 取均作为该交叉处的互电容基准值进行存储，这将得到M*N个互电容基准值。当然也可以 把所有第一方向上排布第一电极作为驱动电极、所有第二方向上排布第二电极作为感应电 极，这对互电容基准值的取得并不存在实质区别，上述(b)步中自电容扫描与上述(a)步中设定每条第一电极的自电容基准值所采 用的自电容扫描方式相同，亦为控制器14先分别对每条第一电极和每条第二电极进行充 电再对与之相连接的参考电容进行放电以得到该条第一电极和该条第二电极的自电容当 前值。该自电容当前值与自电容基准值相比可能会不一致，即电极的自电容值产生了变 化，引起电极的自电容值发生变化的因素有多种，比如面板被触碰、扫描过程中对电极充电 不充分或电极的厚度不均等，当然面板被触碰是主要的因素，能够引起自电容值发生较大 变化，为了尽量排除后两种因素的影响准确判断出被碰触到第一电极和第二极，则在所述 的上述(a)步中还包括设定每条第一电极和每条第二电极自电容变化基准值；则所述(b) 步中每条电极的自电容当前值与对应该条电极的自电容基准值之差大于该条电极的自电 容变化基准值的第一电极或第二电极，才确定是被触碰到的电极；如果所述(b)步中每条 电极的自电容当前值与对应该条电极的自电容基准值之差均未大于该条电极的自电容变 化基准值，则重复(b)步，不进入(c)步。上述(c)步中互电容扫描仍与上述(a)步设定每个交叉处的互电容基准值进行互 电空扫描相同，具体包括为控制器14分别对(b)步中确定出被触碰的自电容发生变化的每条第二电极进行充电，控制器14依次(从M= 1到M = m)或并行收集被触碰的自电容 发生变化的每条第一电极上感应的电荷并转成电压，得到被触碰的自电容变化的第一电极 和第二电极所有交叉处的互电容当前值。该互电容当前值与互电容基准值进行比较可能 不同，同样引起电极交叉处的互电容值发生变化的因素亦有多种，当然面板被触碰是主要 的因素，能够引起互电容值发生较大变化，这是因为人体是个低电势体，会影响第一方向上 每条横轴电极上感应产生的负电荷的数量，这将导致第一方向上每条横轴电极的负电荷变 少，相应其正电压降低，互电容当前值相应减小，为了能够准确判断出哪些受触碰影响引起 互电容值发生较大变化的交叉处，上述(a)步中还包括设定所有的第一电极和第二电极的 每个交叉处的互电容变化基准值，那么所述(c)步中将(b)步中确定出的被触碰到的第一 电极和第二电极每个交叉处的互电容当前值与对应该交叉处的互电容基准值进行比较，判 断出自电容当前值与对应该交叉的互电容基准值之差大于该交叉的互电容变化基准的交 叉处。这些互电容值变化超出了互电容变化基准的交叉处所在的区域对应面板上被触碰的 实际区域。现仍以背景技术的例子对本案进一步具体说明，一个42英寸的面板，有M= 170 条第一电极及N= 100条第二电极。为了浅显易懂，假设手指仅仅触碰到一条第一电极和
一条第二电极。如图6所示当一个点被触摸时，扫描M= 170条第一电极及N= 100条第二电极 自电容的变化，此时仅需扫描270个自电容就可以一次性判断出哪一条第一电极及哪一条 第二电极被触摸。该第一电极及该第二电极只产生一个交点133。每个自电容检测需要30 微秒，完成整个面板的检测需要(170+100) *30微秒+1 X 1*30微秒=8. 13毫秒。换句话说， 最大的扫描频率可以达到123帧/秒而不是先前的1. 96帧/秒。如图8示当双点被触摸时，扫描M= 170条第一电极及N= 100条第二电极自 电容的变化，其对应的两条第一电极(131a、131b)及两条第二电极(132a、132b)将被侦测 到；两条第一电极及两条第二电极将形成四个交点133a、133b、133c、133d，这四个交点包 含了两个实际触点133a、133b和两个并非使用者手指触点133c、133d，即称之为影子点。排 除影子点所需的时间是2X2*30微秒，那么完成整个面板的检测需要(170+100)*30微秒 +2X2*30微秒=8. 22毫秒，或者说最大的扫描频率可以达到121帧/秒。通常情况，投射电容式面板仅需要确定2个触点，对于M与N的数值大于4 (即mX η 大于16)的小尺寸的投射电容式触控面板，其mXn将大于m+n+2X2，本发明就比传统的方 式的扫描效果好。如果假设10个点被触摸(一个多点触摸系统一般最多仅需要支持10个 触摸点)，对于M与N的数值大于11 (即mXn大于121)的中尺寸的投射电容式触控面板， 按本发明的扫描方法，扫描最大值11+11+10X10 = 121，本发明就比传统的方式有更好的 扫描频率。从上述具体实施方式
的描述中看出，本发明所需的时间主要由两部份构成，一是 扫描(M+N)个自电容所需时间，一次性预判出是被手指触碰到的第一电极及第二电极；二 是扫描被侦测出第一电极及第二电极互电容所需时间。省去对未被手指碰到的第一电极及 第二电极交叉处的互电容进行扫描所需时间。检测扫描的时间被大为降低，不会因为扫描 的 时间长而来不及检测，发生漏检触点的情况。特别是投射电容式触控面板的尺寸变得越 来越大又需要对多点进行触控定位时，本发明的优势就尤为明显。
上述的实施例仅用来列举本发明的优选实施方式，以及阐述本发明的技术特征， 并非用来限制本发明的保护范围，任何本领域普通技术人员可以轻易完对本方案的特征等 同替换均属本发明所主张的保护范围，本发明的权利保护范围应以权利要求 书为准。
权利要求
一种投射电容式触控面板的扫描方法，主要由投射电容式触控面板和控制器完成，所述的投射电容式触控面板与控制器之间电性联接；所述的触控面板包括沿第一方向排布的至少一条第一电极和沿第二方向排布的至少一条第二电极，所述的第一电极或第二电极分别与第三方电位之间形成自电容，所述的第一电极和第二电极交叉处形成互电容，所述的第一电极与第二电极之间相互绝缘，其特征在于通过以下步骤实施，(a)设定所述的每条第一电极的自电容基准值和每条第二电极的自电容基准值，和设定所述的每个交叉处的互电容基准值；(b)控制器对所有的电极的自电容进行扫描得到每条电极的自电容当前值，并与对应该条电极的自电容基准值进行比较，判断出自电容值发生变化的第一电极和第二电极，则所述的自电容值发生变化的第一电极和第二电极即被碰触到；(c)控制器对(b)步中确定出的被触碰到的第一电极和第二电极每个交叉处的互电容进行扫描得到各个交叉处的互电容当前值，并与对应该交叉处的互电容基准值进行比较，判断出互电容值发生变化的交叉处，则所述的互电容值发生变化的交叉处所在的区域即为实际被触碰区域。
2.根据权利要求1所述投射电容式触控面板的扫描方法，其特征在于所述(a)步中 还包括设定鱼差第一电极和每条第二电极自电容变化基准值；则所述(b)步中判断出自电 容当前值与对应该条电极的自电容基准值之差大于该条电极的自电容变化基准值的第一 电极或第二电极。
3.根据权利要求2所述投射电容式触控面板的扫描方法，其特征在于，所述(b)步中每 条电极的自电容当前值与对应该条电极的自电容基准值之差均未大于该条电极的自电容 变化基准值，则重复(b)步。
4.根据权利要求1所述投射电容式触控面板的扫描方法，其特征在于所述(a)步中 还包括设定所述的每个交叉处的互电容变化基准值，则所述(c)步中判断出自电容当前值 与对应该交叉的互电容基准值之差大于该交叉的互电容变化基准的交叉处。
5.根据权利要求1所述投射电容式触控面板的扫描方法，其特征在于在(a)步与(b) 步之间增加一步面板被触碰，至少一条第一电极和至少一条第二电极被碰到。
6.根据权利要求1所述投射电容式触控面板的扫描方法，其特征在于在(c)步之后 增加一步(d)，计算(c)步中确定实际被触碰区域的重心。
7.根据权利要求1所述投射电容式触控面板的扫描方法，其特征在于所述(a)步中 设定每条第一电极的自电容基准值和每条第二电极的自电容基准值为控制器对每条第一 电极和每条第二电极进行初始扫描多次以得到每条第一电极和每条第二电极的数个自电 容初始值，各取均值作为对应该条第一电极和该条第二电极的自电容基准储存。
8.根据权利要求7所述投射电容式触控面板的扫描方法，其特征在于所述的自电容 初始扫描进行多次为控制器分别先对每条第一电极和每条第二电极进行充电再对与对应 的第一电极和第二电极连接的参考电容进行放电，得到每条第一电极和每条第二电极的一 个自电容初始值，依所述方式进行多次，得到每条第一电极和每条第二电极的数个自电容 初始值，各取均值作为该条第一电极和该条第二电极的自电容基准值进行存储。
9.根据权利要求1所述投射电容式触控面板的扫描方法，其特征在于所述的(a)步 中设定每个交叉处的互电容基准值是指控制器对每个交叉处的互电容进行初始扫描多次以得到每个交叉处的数个互电容初始值，各取均值作为各交叉处的互电容基准值储存。
10.根据权利要求9所述投射电容式触控面板的扫描方法，其特征在于所述的互电容 初始扫描进行多次具体包括控制器分别对每条第二电极进行充电，控制器依次重复或并行 重复收集第一电极上感应的电荷并转成电压，得到每个交叉处的一个互电容初始值，依所 述的方式进行多次，得到每个交叉处的数个互电容初始值，各取均值作为各个交叉处的互 电容基准值存储。
11.根据权利要求1所述投射电容式触控面板的扫描方法，其特征在于所述(b)步中 控制器对所有的电极的自电容进行扫描得到每条电极的自电容当前值为控制器分别先对 每条第一电极和每条第二电极进行充电再对与对应的第一电极和第二电极连接的参考电 容进行放电，得到每条第一电极和每条第二电极的一个自电容当前值。
12.根据权利要求1所述投射电容式触控面板的扫描方法，其特征在于所述(c)步中 控制器对(b)步中确定出的被触碰到的第一电极和第二电极每个交叉处的互电容进行扫 描得到各个交叉处的互电容当前值为控制器分别对(b)步中确定出的被触碰到的每条第 二电极进行充电，控制器依次或并行收集被触碰到的每条第一电极上感应的电荷并转成电 压，得到被触碰到的第一电极和第二电极所有交叉处的互电容当前值。
13.根据权利要求1所述投射电容式触控面板的扫描方法，其特征在于所述第一方向 为横向，所述的第一电极为基本相互平行横轴电极；所述第二方向为纵向，所述的第二电极 为基本相互平行且正交于横轴电极的纵轴电极，所述的横轴电极与纵轴电极构成一个电极 矩阵；所述的第三方电位为一接地导体；所述的每条横轴电极或每条轴电极与接地导体之 间形成自电容；所述的每条横轴电极与每条纵轴电极交叉处形成互电容。
全文摘要
一种投射电容式触控面板的扫描方法，包括(a)设定每条第一电极、每条第二电极的自电容基准值和每个交叉处的互电容基准值；(b)控制器对所有电极的自电容进行扫描得到每条电极的自电容当前值，与对应该条电极的自电容基准值进行比较，判断出自电容值发生变化的第一电极和第二电极被碰触到；(c)控制器对(b)步中确定出被触碰到的第一电极和第二电极每个交叉处的互电容进行扫描得到各个交叉处的互电容当前值，并与对应该交叉处的互电容基准值进行比较，判断出互电容值发生变化的交叉处所在的区域即为实际被触碰区域。本方法是自电容扫描与互电容扫描的有效结合，扫描频率高，精度好，特别适合对中尺寸、大尺寸触控面板多点扫描。
文档编号G06F3/041GK101840293SQ20101010395
公开日2010年9月22日 申请日期2010年1月21日 优先权日2010年1月21日
发明者王万秋 申请人:宸鸿科技(厦门)有限公司