专利名称：输入装置以及其装置的触控位置侦测方法
技术领域：
本发明涉及一种输入装置，尤其涉及一种在包含触控面板的输入装置中能够更精确地侦测触控位置的输入装置以及其触控位置侦测方法。
背景技术：
个人计算机、便携式传输装置以及其它信息处理器等使用输入装置以执行各种功能。当前，作为输入装置，广泛使用具有触控面板的输入装置。大致而言,触控面板是安装于诸如阴极射线管(cathode ray tube, CRT)、液晶显不器(liquid crystal display, LCD)、电衆显不面板(plasma display panel, PDP)、电致发光(electroluminescence，EL)等的显示装置的表面上，并以侦测据以接触的触控位置的装置。触控面板可由氧化铟锡(indium tin oxide, ITO)膜形成。可组构此种具有触控面板的输入装置以使得使用者可藉由接触对象(例如，手指、手写笔等)来触碰该触控面板上的特定位置，并在屏幕上显示各种信息或使具备所述输入装置的设备执行输入装置的各种功能。然而，为了使输入装置小型化或在具有输入装置的设备中执行更多各种功能，可减小接触材料的接触区(诸如，图符(icons))。因此，在此状况下，应以更高精确度来测量该接触材料的触控位置。
发明内容
技术问题为了解决上述问题及/或其它问题，本发明提供一种能够更精确地侦测触控位置的输入装置。本发明的另一目的在于，提供一种能够实现上述目的的输入装置的触控位置侦测方法。技术方案本发明的上述及/或其它态样可藉由提供一种输入装置来达成，所述输入装置包含触控面板，其经组态以视触控位置而产生多个不同测量值且输出所述多个测量值；丛集(clustering)部分，其经组态以接收所述测量值，且输出包含来自所述多个测量值的至少一丛集的使用临限值而丛集的测量值；以及中心点计算部分，其经组态以接收所述丛集的测量值，且使用加权平均来计算每一丛集的坐标以输出所述坐标。在所述输入装置中，所述丛集可由所述测量值当中的大于所述临限值的测量值构成。另外，所述丛集部分可接收所述测量值以侦测所述测量值的相对最大值的数目， 且输出所述丛集的测量值，所述丛集的测量值包含与所述测量值中的所述相对最大值的所述数目相同的数目的丛集。另外,所述触控面板可包含触控图案部分,所述触控图案部分包含多个触控图案；以及测量部分，其经组态以将输入信号输出至所述多个触控图案当中的至少一触控图案，且接收经由所述多个触控图案当中的至少一触控图案而产生的输出信号以计算所述多个测量值。根据本发明的所述输入装置的第一例示性实施例，所述触控图案部分可包含安置于第一方向上的多个第一触控图案；以及安置于第二方向上的多个第二触控图案，所述第二方向垂直于所述第一方向，所述多个第一触控图案中的每一者可包含安置于所述第二方向上的多个第一触控垫；以及经组态以连接所述多个第一触控垫的多个第一连接垫， 且所述多个第二触控图案中的每一者可包含安置于所述第一方向上的多个第二触控垫； 以及经组态以连接所述多个第二触控垫的多个第二连接垫。根据本发明的所述输入装置的第一例示性实施例，所述测量部分可将第一参考脉冲施加至所述第一触控图案中的每一者以作为所述输入信号，接收经由所述第一触控图案而产生的第一延迟脉冲以作为所述输出信号，并测量所述第一延迟脉冲与所述第一参考脉冲之间的延迟时间差以计算第一测量值；且可将第二参考脉冲施加至所述第二触控图案以作为所述输入信号，接收经由所述第二触控图案而产生的第二延迟脉冲以作为所述输出信号，测量所述第二延迟脉冲与所述第二参考脉冲的间的延迟时间差以计算第二测量值，并输出所述第一测量值及所述第二测量值以作为所述测量值。根据本发明的所述输入装置的第一例示性实施例，所述丛集部分可输出丛集的第一测量值及丛集的第二测量值以作为所述丛集的测量值，所述丛集的第一测量值包含具有所述第一测量值当中的大于第一临限值的值的至少一第一丛集，所述丛集的第二测量值包含具有所述第二测量值当中的大于第二临限值的值的至少一第二丛集。根据本发明的所述输入装置的第一例示性实施例，所述中心点计算部分可使用关于所述第一丛集中的每一者的加权平均而计算所述第一方向上的坐标，使用关于所述第二丛集中的每一者的加权平均而计算所述第二方向上的坐标，且组合所述第一方向与所述第二方向上的所述坐标以计算每一丛集的坐标并输出每一丛集的坐标。根据本发明的所述输入装置的第二例示性实施例，所述触控图案部分可包含多个第一触控图案，其在第一方向上延伸、在所述第一方向上的一侧处连接至所述测量部分且安置于第二方向上；以及多个第二触控图案，其在所述第一方向上延伸、在所述第一方向上的另一侧处连接至所述测量部分且安置于所述第二方向上。此处，所述第一触控图案中的每一者可具有朝向所述第一方向上的所述另一侧而减小的接触区；且所述第二触控图案中的每一者可具有朝向所述第一方向上的所述一侧而减小的接触区。根据本发明的所述输入装置的第二例示性实施例，所述测量部分可将第一参考脉冲施加至关于所述第一触控图案的所述第一方向上的所述一侧以作为所述输入信号，接收自所述第一方向上的所述一侧所产生的第一延迟脉冲以作为所述输出信号，并测量所述第一参考脉冲与所述第一延迟脉冲之间的延迟时间差以计算第一测量值；且将第二参考脉冲施加至关于所述第二触控图案的所述第一方向上的所述另一侧以作为所述输入信号，接收自所述第一方向上的所述另一侧所产生的第二延迟脉冲以作为所述输出信号，测量所述第二参考脉冲与所述第二延迟脉冲之间的延迟时间差以计算第二测量值，并输出所述第一测量值及所述第二测量值以作为所述测量值。根据本发明的所述输入装置的第二例示性实施例，所述丛集部分可接收所述第一测量值以使用第一临限值来计算所述第一方向上的丛集的第一测量值，接收所述第二测量值以使用所述第一临限值来计算所述第一方向上的丛集的第二测量值，计算藉由所述第一测量值及所述第二测量值当中的关于安置于第二方向上的对应位置处的所述第一触控图案及所述第二触控图案的所述第一测量值与所述第二测量值相加而得到的在所述第二方向上的测量值，接收所述第二方向上的所述测量值以使用第二临限值来计算所述第二方向上的丛集的测量值，且输出所述第一方向上的所述丛集的第一测量值、所述第一方向上的所述丛集的第二测量值及所述第二方向上的所述丛集的测量值以作为所述丛集的测量值。根据本发明的所述输入装置的第二例示性实施例，所述中心点计算部分可使用所述第一方向上的所述丛集的第一测量值及所述第一方向上的所述丛集的第二测量值当中的对应值的加权平均来计算所述丛集的在所述第一方向上的坐标，且使用所述第二方向上的所述丛集的测量值的加权平均来计算所述丛集的在所述第二方向上的坐标。根据本发明的所述输入装置的第三例示性实施例，所述触控图案部分可包含安置于第一方向上的多个第一触控图案；以及安置于第二方向上的多个第二触控图案，所述第二方向垂直于所述第一方向，所述多个第一触控图案中的每一者可包含安置于所述第二方向上的多个第一触控垫；以及经组态以连接所述多个第一触控垫的多个第一连接垫， 且所述多个第二触控图案中的每一者可包含在所述第一方向上延伸的第一棒；以及多个第二棒，所述多个第二棒连接至所述第一棒、在所述第二方向上延伸且安置于所述第一触控垫的在所述第一方向上的侧面处。根据本发明的所述输入装置的第三例示性实施例，所述测量部分可将所述输入信号施加至所述第二触控图案，接收自所述第一触控图案所产生的所述输出信号以测量所述第一触控图案与所述第二触控图案之间的第二电容，且输出所测量的所述电容以作为所述
测量值。根据本发明的所述输入装置的第三例示性实施例，所述丛集部分可自参考值中减去所述测量值，且接着输出所述丛集的测量值，所述丛集的测量值包含具有所述减去的后所得值当中的大于所述临限值的值的至少一丛集。根据本发明的所述输入装置的第三例示性实施例，所述中心点计算部分可关于所述丛集而使用所述丛集的测量值当中的在所述第一方向上的所述测量值的加权平均来计算所述第一方向上的坐标，使用所述丛集的测量值当中的在所述第二方向上的所述测量值的加权平均来计算所述第二方向上的坐标，且组合所述第一方向与所述第二方向上的所述坐标以计算每一丛集的坐标并输出每一丛集的坐标。另外，所述输入装置可进一步包含预处理部分，其经组态以接收所述测量值以移除噪声并输出标准化的测量值，或接收所述测量值以执行一种校正操作并输出标准化的测量值，且所述丛集部分可接收所述标准化的测量值以输出所述丛集的测量值。本发明的另一态样可藉由提供一种输入装置的触控位置侦测方法来达成，所述输入装置包含触控面板，所述触控面板经组态以视触控位置而产生具有不同值的多个测量值且输出所述多个测量值，所述方法包含丛集步骤，所述丛集步骤接收所述测量值，且输出包含来自所述多个测量值的至少一丛集的使用临限值而丛集的测量值；以及中心点计算步骤，所述中心点计算步骤接收所述丛集的测量值，且使用加权平均来计算每一丛集的坐标并输出每一丛集的坐标。在根据本发明的所述触控位置侦测方法中，所述丛集可由所述测量值当中的大于所述临限值的所述测量值构成。根据本发明的所述方法，所述丛集步骤可包含接收所述测量值以侦测所述测量值的相对最大值的数目，以及输出所述丛集的测量值，所述丛集的测量值包含与所述测量值中的所述相对最大值的所述数目相同的数目的丛集。根据所述方法的第一例示性实施例，所述触控面板可包含安置于第一方向上的多个第一触控图案，以及安置于第二方向上的多个第二触控图案，所述第二方向垂直于所述第一方向。此处，所述多个第一触控图案中的每一者可包含安置于所述第二方向上的多个第一触控垫，以及经组态以连接所述多个第一触控垫的多个第一连接垫；且所述多个第二触控图案中的每一者可包含安置于所述第一方向上的多个第二触控垫；以及经组态以连接所述多个第二触控垫的多个第二连接垫。所述触控位置侦测方法可进一步包含测量步骤，所述测量步骤将参考脉冲施加至所述第一触控图案，测量经由所述第一触控图案而产生的延迟脉冲与所述参考脉冲之间的延迟时间差以计算第一测量值，将所述参考脉冲施加至所述第二触控图案，测量经由所述第二触控图案而产生的延迟脉冲与所述参考脉冲的间的延迟时间差以计算第二测量值，且输出所述第一测量值及所述第二测量值以作为所述测量值。根据所述方法的第一例示性实施例，所述丛集步骤可包含输出丛集的第一测量值及丛集的第二测量值以作为所述丛集的测量值，所述丛集的第一测量值包含具有所述第一测量值当中的大于第一临限值的值的至少一第一丛集，所述丛集的第二测量值包含具有所述第二测量值当中的大于第二临限值的值的至少一第二丛集。根据所述方法的第一例示性实施例，所述中心点计算步骤可包含使用关于所述第一丛集的加权平均来计算所述第一方向上的坐标，使用关于所述第二丛集的加权平均来计算所述第二方向上的坐标，以及组合所述第一方向与所述第二方向上的所述坐标以输出每一丛集的坐标。根据所述方法的第二例示性实施例，所述触控面板可包含在第一方向上延伸且安置于第二方向上的多个第一触控图案；以及在所述第一方向上延伸且安置于所述第二方向上的多个第二触控图案。此处，所述第一触控图案中的每一者可具有朝向所述第一方向上的一侧而减小的接触区，且所述第二触控图案中的每一者可具有朝向所述第一方向上的另一侧而减小的接触区。所述触控位置侦测方法可进一步包含测量步骤，所述测量步骤将参考脉冲施加至关于所述第一触控图案的所述第一方向上的所述一侧，测量所述参考脉冲与自所述第一方向上的一侧所产生的延迟脉冲之间的延迟时间差以计算第一测量值，将参考脉冲施加至关于所述第二触控图案的所述第一方向上的所述另一侧，测量所述参考脉冲与自所述第一方向上的所述另一侧所产生的延迟脉冲的间的延迟时间差以计算第二测量值，且输出所述第一测量值及所述第二测量值以作为所述测量值。根据所述方法的第二例示性实施例，所述丛集步骤可包含接收所述第一测量值以计算第一方向上的丛集的第一测量值，接收所述第二测量值以使用所述第一临限值来计算所述第一方向上的丛集的第二测量值，计算藉由所述第一测量值及所述第二测量值当中的关于安置于第二方向上的对应位置处的所述第一触控图案及所述第二触控图案的所述第一测量值与所述第二测量值相加而得到的在所述第二方向上的测量值，接收所述第二方向上的所述测量值以使用第二临限值来计算所述第二方向上的丛集的测量值，以及输出所述第一方向上的所述丛集的第一测量值、所述第一方向上的所述丛集的第二测量值及所述第二方向上的所述丛集的测量值以作为所述丛集的测量值。根据所述方法的第二例示性实施例，所述中心点计算步骤可包含使用所述第一方向上的所述丛集的第一测量值及所述第一方向上的所述丛集的第二测量值当中的对应值的加权平均来计算所述丛集的在所述第一方向上的坐标，以及使用所述第二方向上的所述丛集的测量值的加权平均来计算所述丛集的在所述第二方向上的坐标。根据所述方法的第三例示性实施例，所述触控面板可包含安置于第一方向上的多个第一触控图案，以及安置于第二方向上的多个第二触控图案，所述第二方向垂直于所述第一方向，所述多个第一触控图案中的每一者可包含安置于所述第二方向上的多个第一触控垫，以及连接所述多个第一触控垫的多个第一连接垫；且所述多个第二触控图案中的每一者可包含在所述第一方向上延伸的第一棒；以及多个第二棒，所述多个第二棒连接至所述第一棒、在所述第二方向上延伸且安置于所述第一触控垫中的每一者的在所述第一方向上的侧面处。所述触控位置侦测方法可包含将输入信号施加至所述第二触控图案，接收自所述第一触控图案所产生的输出信号以测量所述第一触控图案与所述第二触控图案之间的电容，以及输出所测量的所述电容以作为所述测量值。根据所述方法的第三例示性实施例，所述丛集步骤可包含自参考值中减去所述测量值，且接着输出所述丛集的测量值，所述丛集的测量值包含由所述减去的后所得值当中的大于所述临限值的值构成的至少一丛集。根据所述方法的第三例示性实施例，所述中心点计算步骤可包含关于所述丛集而使用所述丛集的测量值当中的在所述第一方向上的所述测量值的加权平均来计算所述第一方向上的坐标，使用所述丛集的测量值当中的在所述第二方向上的所述测量值的加权平均来计算所述第二方向上的坐标，以及组合所述第一方向与所述第二方向上的所述坐标以计算每一丛集的坐标并输出每一丛集的坐标。有利效果根据本发明，一种输入装置及其触控位置侦测方法有可能甚至在提供小数目的触控图案时亦精确地侦测一触控位置。根据结合附图的例示性实施例的以下描述，本发明的上述及其它态样及优点将变得显而易见且更容易了解。
图I为根据本发明的例示性实施例的输入装置的方块图。图2为图I中所绘示的输入装置的触控面板的实施例的方块图。图3绘示图2中所绘示的输入装置的触控面板的触控图案部分的实施例的构成。图4绘示图2中所绘示的输入装置的触控面板的触控图案部分的另一实施例的构成。图5绘示图2中所绘示的输入装置的触控面板的触控图案部分的再一实施例的构成。图6至图8为用于解释当触控图案部分具有图5中所绘示的再一实施例的构成时的丛集部分的操作的视图。
图9为用于解释根据本发明的输入装置的触控位置侦测方法的流程图。主要符号说明100 :触控面板T_01、Τ_02 :触控位置
具体实施例方式以下参考本发明的附图，说明本发明的输入装置以及该装置的触控位置侦测方法。图I为根据本发明的例示性实施例的输入装置的方块图。根据本发明的输入装置可包含触控面板100、预处理部分210、丛集(cluster)部分220、重影图案(ghost pattern) 移除部分230以及中心点计算部分240。在下文中，将详细地描述图I中所绘示的模块的功能。触控面板100可包含多个触控图案，并根据接触对象的触控位置而输出多个不同测量值p_v。测量值P_V可以是视接触对象的触控位置而变化的延迟时间。预处理部分210接收所述测量值P_V来移除噪声等，且执行用于抵消由工程或环境中的变化引起的效应的校正操作，并输出标准化的测量值nP_V。预处理部分210可使用滤波器或设定临限值等来移除噪声等。另外，预处理部分210可执行噪声移除及校正操作中的任一个。丛集部分220接收标准化的测量值nP_V并执行丛集操作，从而输出包含至少一丛集的被丛集的测量值nP_VC。所述丛集(cluster)是指对应于接触对象的触控位置的测量值P_V (或标准化的测量值nP_V)的集合。举例而言，丛集部分220可使用预定临限值来执行丛集操作。在此状况下，所述丛集可由测量值P_V(或标准化的测量值nP_V)当中的大于所述临限值的测量值构成。亦即，可将小于该预定临限值的标准化的测量值nP_V的值转换成“O”而输出出去，以使得执行丛集操作。另外，丛集部分220可侦测标准化的测量值nP_ V中的极大值并以判定丛集的数目，且视丛集的所判定数目而执行丛集操作。当藉由特定方法将标准化的测量值nP_Va分到预定区段(或给定集合)时，极大值是指所述区段(或所述集合)中的局部最大值。另外，丛集的数目对应于触控位置的数目。重影图案移除部分230接收丛集的测量值nP_VC并以移除重影图案。举例而言， 重影图案移除部分230可接收丛集的测量值nP_VC，且将这些测量值相互进行比较来移除重影图案，或在顺序输入所述测量值时藉由使用任何先前输入的测量值来移除重影图案。中心点计算部分240使用移除了重影图案的测量值nP_VCG并使用加权平均来计算每一丛集的坐标T_p，并输出每一丛集的坐标Τ_Ρ。每一丛集的坐标Τ_Ρ是指接触对象的触控位置的中心点。下文将详细地描述丛集部分220及中心点计算部分240的操作。另外，本发明的输入装置可省略预处理部分210及/或重影图案移除部分230。亦即，本发明的输入装置仅在需要的情况时，包含(必要时)预处理部分210及/或重影图案移除部分230。当不具备重影图案移除部分230时，中心点计算部分240使用被丛集的测量值nP_VC来计算触控位置的中心点。图2为图I中所绘示的输入装置的触控面板100的实施例的方块图。触控面板100可包含触控图案部分110及测量部分120。下文将描述图2中所绘示的模块的功能。触控图案部分110可包含多个触控图案，且产生视触控位置而变化的输出信号。 所述输出信号可为视触控位置而具有不同延迟时间的延迟脉冲P_d。亦即，触控图案部分 110可包含输出视接触对象是否触碰或接触对象触碰的位置而具备不同延迟时间的延迟脉冲的多个触控图案。举例而言，构成触控图案部分110的多个触控图案可各自接收参考脉 WP_r，且视接触对象是否触碰或接触对象触碰的位置而产生具有不同延迟时间的延迟脉冲 P_d。测量部分120输出输入信号，且接收经由触控图案部分110而产生的输出信号而输出多个测量值？_乂。所述输入信号可为参考脉冲P_r，且所述输出信号可为延迟脉冲P_d。 亦即，测量部分120可输出参考脉冲P_r，且计算经由触控图案部分110而产生的延迟脉冲 P_d与所述参考脉冲P_r之间的延迟时间差，并输出对应于所述延迟时间差的测量值P_V。 举例而言，测量部分120可将参考脉冲P_r依次(或同时)施加至所述触控图案部分110 的多个触控图案，并依次(或同时)接收经由所述触控图案部分110的多个触控图案分别产生的所述延迟脉冲P_d，且分别计算针对所述多个触控图案中的延迟时间差，并输出所述测量值P_V。虽然图2说明使用视触碰的存在及其接触位置而延迟脉冲的延迟时间变化(亦即，将参考脉冲与延迟脉冲之间的延迟时间差作为测量值输出出去)的实例，但触碰的存在及其位置可藉由各种方法来侦测。举例而言，将一定的电流依次(或同时)分别施加至所述触控图案部分110的多个触控图案，并测量电压的变化(例如，电压达到预定临限电压的时间，或在经过特定时间之后的电压的大小)，从而输出所述测量值。另外，可藉由以下操作来输出该测量值依次(或同时)将具有预定脉冲宽度的脉冲信号分别施加至所述触控图案部分110的多个触控图案，且判定是否测量到脉冲信号(例如，是否测量到具有大于预定临限电压的所述脉冲信号)而输出所述测量值。图3绘示图2中所绘示的输入装置的触控面板100的触控图案部分110的第一实施例的构成。触控图案部分Iio可包含安置于第一方向上的多个第一触控图案XO至X5，以及安置于垂直于所述第一方向的第二方向上的多个第二触控图案y0至ylO。在图3中，符号T_01及Τ_02分别表示由接触对象所触碰的部分。藉由斜线画有阴影的第一触控图案XO至χ5与藉由点而画有阴影的第二触控图案 y0至ylO在其相交的部分被绝缘。举例而言，第一触控图案χΟ至x5可形成于ITO膜的前表面上，且第二触控图案y0至ylO可形成于ITO膜的后表面上，或者第一触控图案x0至x5 与第二触控图案y0至ylO可安置于ITO膜的一个表面上，且使得第一触控图案x0至x5与第二触控图案y0至ylO在其相交的部分不以电气连接，又或者第一触控图案x0至x5与第二触控图案y0至ylO可分别形成于不同ITO膜上等。如上文所描述，可藉由各种方法来形成第一触控图案与第二触控图案。经由第一触控图案x0至x5以产生视接触对象的触碰与否或其触控位置而具有不同延迟时间的延迟脉冲P_d，且与第一触控图案XO至X5相似地，经由第二触控图案y0至 ylO以产生视接触对象的触碰与否或其触控位置而具有不同延迟时间的延迟脉冲P_d。举例而言，测量部分120可顺序地(同时地)将参考脉冲P_r分别施加至第一触控图案xO至x5及第二触控图案y0至ylO的一侧，且顺序地(或同时地)接收自第一触控图案xO至x5及第二触控图案y0至ylO的另一侧所产生的延迟脉冲P_d，并计算各测量值 P_V,从而输出各测量值P_V。测量部分120可将参考脉冲P_r分别施加至第一触控图案xO 至x5及第二触控图案y0至ylO的一侧，且接收自第一触控图案xO至x5及第二触控图案 y0至ylO的所述一侧所产生的延迟脉冲P_d。另外，如图3中所绘示，第一触控图案xO至x5可分别包含安置于第二方向(例如， y轴方向)上的多个第一触控垫PD1，以及分别连接所述多个第一触控垫PDl的多个第一连接垫CP1。另外，第二触控图案y0至ylO可分别包含安置于第一方向(例如，χ轴方向)上的多个第二触控垫PD2，以及分别连接所述多个第二触控垫PD2的多个第二连接垫CP2。另外，虽然图3说明分别具有菱形(diamond)形状的第一触控垫PDl及第二触控垫PD2，但第一触控垫PDl及第二触控垫PD2可分别具有圆形或其他多边形形状。亦即，第一触控垫PDl及第二触控垫PD2也可以是均勻地形成于特定区域处的具有特定形状的垫。接着，下文将描述本发明的丛集部分220及中心点计算部分240在触控图案部分 110具有与图3中所绘示的形状相同的形状时的操作。如图3中所绘示，当接触对象触碰时经分别由第一触控图案xO至x5产生的测量值P_v(或标准化的测量值nP_V)，亦即延迟脉冲的延迟时间可将表示成如下。各个符号dxO 至dx5表示分别经由第一触控图案xO至x5而产生的第一测量值(或标准化的第一测量值)。(dxO, dxl, dx2, dx3, dx4, dx5)= (0,6,137,84,9,4)另外，分别由第二触控图案y0至ylO而产生的测量值P_V (或标准化的测量值nP_ V)，亦即延迟脉冲的延迟时间可将表示为如下。各个符号dyO至dylO表示分别经由第二触控图案y0至ylO而产生的第二测量值(或标准化的第二测量值)。(dyO, dyl, dy2, dy3, dy4, dy5, dy6, dy7, dy8, dy9, dylO)= (1,4,45,25,2,2,13,52,58,15,4)亦即，测量部分120(或预处理部分210)将第一测量值及第二测量值(或标准化的第一测量值及第二测量值)输出为所述测量值P_V (或标准化的测量值nP_V)。丛集部分220接收所述测量值P_V (或标准化的测量值nP_V)，并以如下方法进行丛集操作。假定将在第一方向(例如，χ轴)及第二方向(例如，y轴)上的每一临限值设定为20，则被丛集的测量值nP_VC将表示成如下。符号nP_VCx表示使用第一测量值所产生的被丛集的第一测量值，且符号nP_VCy表示使用第二测量值所产生的被丛集的第二测量值。nP_VCx = (0,0,137,84,0,0)nP_VCy = (0，0，45，25，0，0，0，52，58，0，0)自被丛集的第一测量值nP_VCx中可发现极大值的数目为1 (亦即，137)，并可判定在第一方向上的丛集的数目为1。并且，自丛集的第二测量值nP_VCy中可发现极大值的数目为2 (亦即，45及58)，并可判定在第二方向上的丛集的数目为2。因此，可自所述二维测量值判定丛集的总数目为2。当将临限值设定为较大值时，丛集的大小减小，从而限制了中心点的坐标的准确度，且当将临限值设定为较小值时，丛集的大小增加，此使得中心点的计算较易受噪声影响。因此，可藉由实验方法或其他合适方法来设定临限值。另外，可在制造该输入装置的过程或由使用者来设定临限值。举例而言，可将临限值设定成，使丛集之间的距离为接触对象 (例如，手指)所触碰的大小的两倍左右。如上文所描述，由丛集部分220将测量值P_V (或标准化的测量值nP_V)丛集成预定数目的丛集。丛集的数量由丛集部分220来确定。接着，中心点计算部分240接收所述被丛集的测量值nP_VC且使用加权平均来计算每一丛集的坐标(亦即，触控位置的中心点)。亦即，将每一丛集的测量值nP_VC乘以加权值并将加权的测量值加总，且将加总的加权的测量值除以加总的被丛集的测量值nP_VC， 从而计算每一丛集的坐标。首先，关于触控位置T_01的丛集的第一方向(例如，χ轴)的坐标Τ_Ρ(χ)及第二方向(例如，y轴)的坐标T_P(y)将被计算成如下。T_P(x) = (137*2+84*3)/(137+84) = 2. 38T_P (y) = (45*2+25*3)/(45+25) = 2. 36因此，中心点计算部分240将针对触控位置T_01的丛集的坐标(亦即，所计算的中心点之坐标(2. 38，2. 36))作为触控位置Τ_01的坐标而输出出去。接着，关于触控位置Τ_02的丛集的第一方向(例如，χ轴)的坐标Τ_Ρ(χ)及第二方向(例如，y轴)的坐标T_P(y)将被计算如下。T_P(x) = (137*2+84*3)/(137+84) = 2. 38T_P (y) = (52*7+58*8)/(52+58) = 7. 53因此，中心点计算部分240将针对触控位置T_02的丛集的坐标(亦即，所计算的中心点之坐标(2. 38，7. 53))作为触控位置Τ_02的坐标而输出出去。图4绘示图2中所绘示的输入装置的触控面板100的触控图案部分110的另一实施例的构成。触控图案部分Iio可包含沿着第二方向(例如，y轴方向)布置的多个第一触控图案P0_1至P5_l，以及沿着第二方向布置的多个第二触控图案P0_2至P5_2。另外，多个第一触控图案P0_1至P5_l在第一方向(例如，χ轴方向)上的一侧可分别连接至测量部分120，且多个第二触控图案P0_2至P5_2在第一方向上的另一侧可分别连接至测量部分120。另外，如图4中所绘示，多个第一触控图案P0_1至P5_l可分别形成在所述第一方向上自所述一侧朝向所述另一侧时逐渐变窄的接触区，且多个第二触控图案 P0_2至P5_2可、成在所述第一方向上自所述另一侧朝向所述一侧时逐渐变窄的接触区。虽然图4说明分别具有齿状形状的多个第一触控图案P0_1至P5_l及多个第二触控图案P0_2 至P5_2，但是多个第一触控图案P0_1至P5_l及多个第二触控图案P0_2至P5_2可具有诸如等边三角形、直角三角形等各种形状。当触控图案部分110具有与图4中所绘示的形状相同的形状时，测量部分120依次(或同时)将参考脉冲P_r分别输出到多个第一触控图案P0_1至P5_l的第一方向上的一侧处的第一通道CH0_1至CH5_1以及多个第二触控图案P0_2至P5_2的第一方向上的另一侧处的第二通道CH0_2至CH5_2，且顺序地(或同时地)接收自所述第一通道CH0_1至 CH5_1及所述第二通道CH0_2至CH5_2产生的延迟脉冲P_d，并测量参考脉冲P_r与延迟脉冲P_d之间的延迟时间差，从而输出各测量值P_V。
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如图4中所绘示，当接触对象触碰两个位置T_01、Τ_02时，所述测量值P_V (或标准化的测量值nP_V)将被测量为如下。符号dll至d51表示对应于自第一通道010_1至 CH5_1产生的延迟脉冲P_d的延迟时间的第一测量值，且符号dl2至d52表示对应于自第二通道CH0_2至CH5_2产生的延迟脉冲P_d的延迟时间的第二测量值。(dll, d21, d31, d41, d51)= (5,35,15,51,23,4) = nP_VxO(dl2, d22, d32, d42, d52)= (2,22,7,56,24,3) = nP_Vxl所述测量值变成在第一方向上的第一测量值nP_VxO以及在第一方向上的第二测量值 nP_Vxl。另外，丛集部分220使用所述测量值以计算在第二方向上的测量值nP_Vy。亦即，丛集部分220将分别通过安置于第二方向上的相同位置处的触控图案(P0_1，P0_2)、 (P0_1, P0_2), (P0_1, P0_2), (P0_1, P0_2)及(P0_1，P0_2)而产生的测量值相加，并计算在第二方向上的测量值nP_Vy。在第二方向上的测量值nP_Vy将被表示如下。nP_Vy = (7,57,22,107,47,7)当将在第二方向上的临限值设定为40时，被丛集的第二方向上的测量值nP_VCy 将被表示为如下。nP_VCy = (0,57,0,107,47,0)因此，被丛集的第一方向上的第一测量值nP_VCxO以及被丛集的第一方向上的第二测量值nP_VCxl将被表示成如下。nP_VCxO = (0，35，0，51，23，0)nP_VCxl = (0，22，0，56，24，0)应仅藉由nP_VCy而在第二方向上进行丛集操作。可自被丛集的第二方向的测量值中发现极大值的数目为2 (亦即，57及107)，且因此可判定丛集的数目为2。中心点计算部分240接收所述被丛集的第一方向上的第一测量值nP_VCxO、被丛集的第一方向上的第二测量值nP_VCxl以及被丛集的第二方向上的测量值nP_VCy，并计算针对每个触控位置T_01及Τ_02的丛集的坐标，亦即计算每个触控位置Τ_01及Τ_02的中心点的坐标。使用中心点计算部分240来计算各个触控位置的中心点的方法类似于在图3 说明的方法。首先，将计算针对触控位置Τ_01的丛集在第一方向上的坐标。035*0+22*1) / (35+22) = 0. 39将计算针对触控位置Τ_01的丛集在第二方向上的坐标。(57*1)/57 = 1因此，中心点计算部分240将针对触控位置Τ_01的丛集的坐标(亦即，所计算的中心点的坐标(0. 39，1))作为触控位置Τ_01的坐标而输出出去。接着，将计算针对触控位置Τ_02的丛集在第一方向上的坐标。((51+23) *0+(56+24) *1)/( (51+23)+ (56+24)) = 0. 52将计算针对触控位置T_02的丛集在第二方向上的坐标。(107*3+47*4)/(107+47) = 3. 31
因此，中心点计算部分240将针对触控位置T_02的丛集的坐标(亦即，所计算的中心点的坐标(0. 52，3. 31))作为触控位置Τ_02的坐标而输出出去。虽然实施例说明经由丛集操作而计算在第二方向(例如，y轴方向)上的坐标， 但当触控图案部分Iio具有与图4中所绘示的构成相同的构成时，可藉由判定接触对象触碰哪个触控图案而计算第二方向上的坐标。因此，当触控图案部分110具有与图4中所绘示的构成相同的构成时，经由丛集操作可仅计算第一方向(例如，χ轴方向)上的坐标。举例而言，在触控位置T_01的状况下(接触对象仅触碰安置于相同列上的触控图案Pl_l及 Pl_2)，经由丛集操作可仅计算χ轴方向上的坐标。图5绘示图2中所绘示的输入装置的触控面板100的触控图案部分110的另一实施例的构成。触控图案部分Iio可包含沿着第一方向布置的多个第一触控图案XO至Χ6，以及沿着第二方向布置的多个第二触控图案y0至y4。如图5中所绘示，第一触控图案xO至x6可分别包含沿着第二方向(例如，y轴方向)布置的多个触控垫，以及分别连接所述多个触控垫的多个连接垫。另外，第二触控图案 y0至y4可分别包含沿着第一方向(例如，χ轴方向)延伸的多个棒，以及连接至在第一方向上延伸的棒、在第二方向上延伸且分别安置于各个所述第一触控图案xO至x6的多个触控垫的第一方向上的侧面处的多个棒。另外，类似于图3，第一触控图案xO至x6与第二触控图案y0至y4可形成为相互绝缘。当形成如图5中所绘示的触控图案110时，测量部分120将信号顺序地施加至第二触控图案y0至y4，且接收分别自第一触控图案xO至x6所输出的信号，并测量各个触控图案之间的电容。藉由使用接触对象以阻断边缘场(fringe field)来减小该接触对象所触碰的多个触控图案的间的电容的大小。因此，当形成如图5中所绘示的触控图案部分110 时，测量部分120可测量输入信号(亦即，耦合信号)，并计算触控图案之间的电容。用于测量耦合信号而计算电容的电路能够以各种方式来构成。因为特定电路已经周知，所以将省略对特定电路的详细描述。图6绘示当形成如图5中所绘示的触控图案部分110且接触对象接触如图5中所绘示的两个位置τ_01及Τ_02时的测量值P_v(或标准化的测量值nP_V)。在下文中，出于描述的便利起见，将使用测量值P_V (或标准化的测量值nP_V)来描述，而非使用所测量的电容的大小。图7及图8为当该触控图案部分110具有与图5中所绘示的构成相同的构成时， 用于解释丛集部分220的操作的视图。当该触控图案部分110具有与图5中所绘示的形状相同的形状时，丛集部分220自预定参考值中减去图6中所绘示的每一测量值，且接着将丛集的测量值nP_VC予以输出，所述丛集的测量值nP_VC包含由经减法运算的测量值当中的大于预定临限值的值构成的至少一个丛集。此处，所述预定参考值可为与当接触对象未触碰该触控图案部分110时的测量值相同的值。图7绘示在自参考值(例如，10)中减去图6中所绘示的测量值P_V(或标准化的测量值nP_V)的情况下的值。图8绘示当在第一方向及第二方向上的临限值为2时，使用图7中所绘示的测量值P_v(或标准化的测量值nP_V)执行丛集的结果。
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中心点计算部分240使用所述图8中所绘示的丛集的测量值nP_VC来计算对应于各个触控位置τ_01及Τ_02的每一丛集的坐标，亦即计算各个触控位置Τ_01及Τ_02的中心点的坐标。计算每一丛集的坐标的方法类似于图3中的描述。亦即，针对每一丛集，中心点计算部分240使用构成每一丛集的被丛集的测量值nP_VC当中的在第一方向上的测量值的加权平均来计算第一方向上的坐标，使用构成每一丛集的被丛集的测量值nP_VC当中的在第二方向上的测量值的加权平均来计算第二方向上的坐标，且组合所述第一方向与所述第二方向上的坐标来计算针对所述每一丛集的坐标并输出各坐标。亦即，计算针对触控位置T_01的丛集在第一方向上的坐标如下。(10*1+10*2)/(10+10) =1.5计算针对触控位置Τ_01的丛集在第二方向上的坐标如下。(10*1)/10=1因此，中心点计算部分240将(1.5，1)作为针对触控位置Τ_01的丛集的坐标输出出去，即输出为触控位置Τ_01的坐标。接着，计算针对触控位置Τ_02的丛集在第一方向上的坐标如下。((3+8) *4+ (3+8) *5) / ((3+8) + (3+8)) = 4. 5计算针对触控位置Τ_02的丛集在第二方向上的坐标如下。
((3+3) (8+8) *3) / ((3+3) + (8+8)) = 2. 64因此，中心点计算部分240将(4. 5，2. 64)作为针对触控位置Τ_02的丛集的坐标而输出出去，即输出为触控位置Τ_02的坐标。触控图案部分110可变更图3、图4及图5中所绘示的实施例来进行使用。举例而言，在图3中所绘示的触控图案部分110的状况下，安置于各个第一触控图案χΟ至χ5及第二触控图案y0至ylO的两端处的第一触控垫PDl及第二触控垫PD2可具有三角形形状 (所述三角形形状是将菱形形状(或者，其他特定形状)对半切割而成)。另外，各个第一触控垫PDl及第二触控垫PD2可具有互不相同面积或形状。另外，在图4中所绘示的触控图案部分110的状况下，各个第一触控图案P0_1至P5_l与第二触控图案P0_2至？5_2可在其两端处连接至彼此。如上文所描述，当触控图案部分110被变形而使用时，当添加在触控垫上制造透明窗(或透镜)凸面的过程以使得触控垫的表面之间的间隙变得不规则时，或当触控垫与在触控垫下方的显示装置的表面之间的间隙因于制造过程中的组装分布而不均勻时，或其类似情况下，若难以直接使用测量值P_v (或标准化的测量值nP_V)来准确地计算触控位置的中心点时，可藉由以下操作来计算触控位置的中心点自所述测量值P_V(或标准化的测量值nP_V)加上偏移值或自测量值P_V (或标准化的测量值nP_V)减去偏移值，或使用测量值P_V(或标准化的测量值nP_V)乘以专门的加权值的值。注意，加法或减法与临限值的适应性改变类似，但乘以专门的加权值可起到校正非线性(诸如，由凸透明窗引起的厚度差及由感测端子与触控位置之间的距离引起的电阻差)的另一功能。图9为用于解释根据本发明的输入装置的触控位置侦测方法的流程图。在下文中，将参看图9来描述根据本发明的输入装置的触控位置侦测方法。首先，判定是否存在大于临限值的测量值P_V(或标准化的测量值nP_V)(步骤 S300)。在步骤S300中，若判定不存在大于临限值的测量值，则结束本方法。
接着，使用测量值P_V (或标准化的测量值nP_V)来判定丛集的数目(步骤S310)。 举例而言，可根据测量值P_v (或标准化的测量值nP_V)来侦测极大值，且可将极大值的数目判定为丛集的数目。接着，使用临限值来执行丛集(步骤S320)。如上文所描述，可藉由用“0”取代小于临限值的测量值的方法来执行丛集。被丛集的结果，被丛集的测量值nP_VC具有至少一丛集。接着，判定是否存在重影图案(步骤S330)。举例而言，在触控图案部分110具有与图3中所绘示的构成相同的构成的状况下，当在自第一触控图案xO至x5产生的测量值中存在第一方向上的至少两个触控位置且在自第二触控图案y0至ylO产生的测量值中存在第二方向上的至少两个触控位置时，可判定存在重影图案。当步骤S330中的判定的结果为存在重影图案时，移除重影图案且判定实际的触控位置(步骤S340)。举例而言，在触控图案部分110具有与图3中所绘示的构成相同的构成的状况下，相互比较自第一触控图案xO至x5产生的至少两个触控位置的测量值且相互比较自第二触控图案y0至ylO产生的至少两个触控位置的测量值来可移除重影图案且判定实际的触控位置。接着，接收丛集的测量值nP_VC以使用加权平均来计算每一丛集的坐标(步骤 S350)。亦即，针对每一丛集(亦即，每一触控位置)，计算使用加权平均而计算的每一丛集的坐标，且将其输出为所述触控位置的坐标。虽然实施例说明了计算该接触部分的中心点(例如，使用加权平均的中心点)，且将中心点输出为触控位置的坐标的状况，但还可将在所计算的中心点处考虑到根据接触对象的偏移的坐标输出为触控位置的坐标。举例而言，当接触对象为手指而进行识别时，可获得根据手指的触控值(例如，测量值P_v(或标准化的测量值nP_V))的轮廓线(contour line)，并获得手指的模板(template)的大小，且可将在所计算的中心点的坐标上加上相关的偏移的坐标输出为触控位置的坐标。上述描述涉及本发明的例示性实施例，上述描述意欲为说明性的，且不应将其解释为限制本发明。可容易地将本发明的教示应用于其它类型的装置及设备。对于熟习此项技术者而言，在本发明的范畴及精神内的许多替代、修改及变化将是显而易见的。
权利要求
1.一种输入装置，其包括触控面板，视触控位置而产生多个互不相同的测量值且输出所述多个测量值；丛集部分，接收所述测量值，且使用临限值而自所述多个测量值中输出包含至少一个丛集的被丛集的测量值；以及中心点计算部分，接收所述被丛集的测量值，且使用加权平均来计算分别针对所述丛集的坐标并输出出去。
2.如权利要求I所述的输入装置，其特征在于，所述丛集由所述测量值当中的大于所述临限值的所述测量值构成。
3.如权利要求I所述的输入装置，其特征在于，所述丛集部分接收所述测量值，并侦测所述测量值中的具有极大值的数量，且从所述测量值中输出包含与所述极大值的数目相同的数目的丛集的被丛集的测量值。
4.如权利要求I所述的输入装置，其特征在于，所述触控面板包括触控图案部分，包含多个触控图案；以及测量部分，将输入信号输出至所述多个触控图案当中的至少一触控图案，并接收经由所述多个触控图案当中的至少一触控图案产生的输出信号，并计算所述多个测量值。
5.如权利要求4所述的输入装置，其特征在于，所述触控图案部分包括沿着第一方向布置的多个第一触控图案；以及沿着第二方向布置的多个第二触控图案，所述第二方向垂直于所述第一方向。
6.如权利要求5所述的输入装置，其特征在于，所述多个第一触控图案中分别包括沿着所述第二方向布置的多个第一触控垫；以及分别连接所述多个第一触控垫的多个第一连接垫。
7.如权利要求6所述的输入装置，其特征在于，所述多个第二触控图案中分别包括沿着所述第一方向布置的多个第二触控垫；以及分别连接所述多个第二触控垫的多个第二连接垫。
8.如权利要求7所述的输入装置，其特征在于，所述测量部分将第一参考脉冲作为所述输入信号分别施加至所述第一触控图案中，作为所述输出信号接收经由各个所述第一触控图案而产生的第一延迟脉冲，并测量所述第一延迟脉冲与所述第一参考脉冲之间的延迟时间差，并计算第一测量值，且将第二参考脉冲作为所述输入信号分别施加至所述第二触控图案，作为所述输出信号接收经由各个所述第二触控图案而产生的第二延迟脉冲，分别测量所述第二延迟脉冲与所述第二参考脉冲之间的延迟时间差，并计算第二测量值，并将所述第一测量值及所述第二测量值作为所述测量值而输出出去。
9.如权利要求8所述的输入装置，其特征在于，所述丛集部分输出所述第一测量值中包含具备大于第一临限值的值的至少一个第一丛集的被丛集的第一测量值及所述第二测量值中包含具备大于第二临限值的值的至少一个第二丛集的被丛集的第二测量值，用以作为所述被丛集的测量值。
10.如权利要求9所述的输入装置，其特征在于，所述中心点计算部分使用针对每个所述第一丛集中的加权平均而计算第一方向上的坐标，使用针对每个所述第二丛集中的加权平均而计算第二方向上的坐标，且组合所述第一方向与所述第二方向上的所述坐标，并计算每一丛集的坐标而输出每一丛集的坐标。
11.如权利要求4所述的输入装置，其特征在于，所述触控图案部分包括沿着第二方向布置的多个第一触控图案，沿着第一方向延伸，且在所述第一方向上的一侧处连接至所述测量部分；以及沿着第二方向布置的多个第二触控图案，沿着所述第一方向延伸、在所述第一方向上的另一侧处连接至所述测量部分，其中，所述多个第一触控图案分别具有朝向所述第一方向上的所述另一侧时变窄的接触区，所述多个第二触控图案分别具有朝向所述第一方向上的所述一侧时变窄的接触区。
12.如权利要求11所述的输入装置，其特征在于，所述测量部分将第一参考脉冲作为所述输入信号施加至针对各个所述第一触控图案的所述第一方向上的所述一侧，接收自所述第一方向上的所述一侧所产生的第一延迟脉冲用以作为所述输出信号，并测量所述第一参考脉冲与所述第一延迟脉冲之间的延迟时间差，从而计算第一测量值，所述测量部分将第二参考脉冲作为所述输入信号施加至针对各个所述第二触控图案的所述第一方向上的所述另一侧，接收自所述第一方向上的所述另一侧所产生的第二延迟脉冲以作为所述输出信号，测量所述第二参考脉冲与所述第二延迟脉冲之间的延迟时间差并计算第二测量值，并且作为所述测量值输出所述第一测量值及所述第二测量值。
13.如权利要求12所述的输入装置，其特征在于，所述丛集部分为，接收所述第一测量值，并使用第一临限值来计算所述第一方向上的被丛集的第一测量值，还接收所述第二测量值，并使用所述第一临限值来计算所述第一方向上的被丛集的第二测量值，计算藉由所述第一测量值及所述第二测量值当中的针对安置于第二方向上的对应位置处的所述第一触控图案及所述第二触控图案的所述第一测量值与所述第二测量值相加而得到的在所述第二方向上的测量值，接收所述第二方向上的所述测量值并使用第二临限值来计算所述第二方向上的丛集的测量值，且输出第一方向上的所述被丛集的第一测量值、第一方向上的所述被丛集的第二测量值及第二方向上的所述被丛集的测量值以作为所述被丛集的测量值。
14.如权利要求13所述的输入装置，其特征在于，所述中心点计算部分使用所述第一方向上的所述丛集的第一测量值及所述第一方向上的所述丛集的第二测量值当中的对应值的加权平均来计算所述被丛集的在所述第一方向上的坐标，且使用所述第二方向上的所述被丛集的测量值的加权平均来计算所述被丛集的在所述第二方向上的坐标。
15.如权利要求6所述的输入装置，其特征在于，所述多个第二触控图案中分别包括 沿着所述第一方向延伸的第一棒；以及沿着所述第二方向延伸的多个第二棒，连接至所述第一棒，且分别安置于所述第一触控垫的所述第一方向上的侧面处。
16.如权利要求15所述的输入装置，其特征在于，所述测量部分将所述输入信号施加至各个所述第二触控图案中，接收自所述第一触控图案分别产生的所述输出信号，并测量每个所述第一触控图案与每个所述第二触控图案之间的电容，且输出所测量的所述电容以作为所述测量值。
17.如权利要求16所述的输入装置，其特征在于，所述丛集部分自参考值中减去所述测量值，且接着输出所述被丛集的测量值，其中所述被丛集的测量值包含由所述减去之后结果值当中的大于所述临限值的值构成的至少一个所述丛集。
18.如权利要求17所述的输入装置，其特征在于，所述中心点计算部分关于所述丛集中的每一者都使用所述丛集的测量值当中的在所述第一方向上的所述测量值的加权平均来计算所述第一方向上的坐标，使用所述丛集的测量值当中的在所述第二方向上的所述测量值的加权平均来计算所述第二方向上的坐标，且组合所述第一方向与所述第二方向上的所述坐标以计算每一丛集的坐标并输出每一丛集的坐标。
19.如权利要求I所述的输入装置，其特征在于，所述输入装置还包括预处理部分， 其中，所述预处理部分接收所述测量值，移除噪声，并输出标准化的测量值，而且，所述丛集部分接收所述标准化的测量值，并输出所述被丛集的测量值。
20.如权利要求I所述的输入装置，其特征在于，所述输入装置还包括预处理部分， 其中，所述预处理部分接收所述测量值，执行校正操作，并输出标准化的测量值，而且，所述丛集部分接收所述标准化的测量值，并输出所述丛集的测量值。
21.一种触控位置侦测方法，针对包含视触控位置而产生不同值的多个测量值且输出所述多个测量值的触控面板的输入装置，其特征在于，所述方法包括如下几个步骤丛集步骤，所述丛集步骤接收所述测量值，且输出包含来自所述多个测量值的至少一丛集的使用临限值而丛集的测量值；以及中心点计算步骤，所述中心点计算步骤接收所述丛集的测量值，且使用加权平均来计算针对每个所述丛集的坐标并输出每一丛集的坐标。
22.如权利要求21所述的触控位置侦测方法，其特征在于，所述丛集由所述测量值当中的大于所述临限值的所述测量值构成。
23.如权利要求21所述的触控位置侦测方法，其特征在于，所述丛集步骤包括接收所述测量值，并侦测所述测量值的极大值的数目，从所述测量值中输出包含与所述测量值中的所述极大值的数目相同的数目的丛集的所述被丛集的测量值。
24.如权利要求21所述的触控位置侦测方法，其特征在于，所述触控面板包括安置于第一方向上的多个第一触控图案，以及安置于第二方向上的多个第二触控图案，所述第二方向垂直于所述第一方向，其中，所述第一触控图案中分别包括安置于所述第二方向上的多个第一触控垫，以及连接所述多个第一触控垫的多个第一连接垫，并且，所述第二触控图案分别包括安置于所述第一方向上的多个第二触控垫；以及连接所述多个第二触控垫的多个第二连接垫，而且，所述触控位置侦测方法进一步包括测量步骤，所述测量步骤将参考脉冲分别施加至所述第一触控图案，测量经由所述第一触控图案分别产生的延迟脉冲与所述参考脉冲之间的延迟时间差并计算第一测量值，将所述参考脉冲分别施加至所述第二触控图案，测量经由所述第二触控图案分别产生的各个延迟脉冲与所述参考脉冲之间的延迟时间差，并计算第二测量值，且输出所述第一测量值及所述第二测量值以作为所述测量值。
25.如权利要求24所述的触控位置侦测方法，其特征在于，所述丛集步骤包括输出被丛集的第一测量值及被丛集的第二测量值以作为所述丛集的测量值，所述被丛集的第一测量值包含具有所述第一测量值当中的大于第一临限值的值的至少一第一丛集，所述被丛集的第二测量值包含具有所述第二测量值当中的大于第二临限值的值的至少一第二丛集。
26.如权利要求25所述的输入装置的触控位置侦测方法，其特征在于，所述中心点计算步骤包括使用针对所述第一丛集中的每一者的加权平均而计算所述第一方向上的坐标， 使用针对所述第二丛集中的每一者的加权平均而计算所述第二方向上的坐标，并组合所述第一方向与所述第二方向上的所述坐标以输出每一丛集的坐标。
27.如权利要求21所述的触控位置侦测方法，其特征在于，所述触控面板包括在第一方向上延伸且安置于第二方向上的多个第一触控图案；以及在所述第一方向上延伸且安置于所述第二方向上的多个第二触控图案，其中，所述第一触控图案中的每一者具有朝向所述第一方向上的一侧而变窄的接触区，且所述第二触控图案中的每一者具有朝向所述第一方向上的另一侧而变窄的接触区，并且，所述触控位置侦测方法进一步包括测量步骤，在所述测量步骤中，将参考脉冲施加至针对所述第一触控图案中的每一者的所述第一方向上的所述一侧，测量所述参考脉冲与自所述第一方向上的所述一侧所产生的延迟脉冲之间的延迟时间差，并计算第一测量值，将参考脉冲施加至针对所述第二触控图案中的每一者的所述第一方向上的所述另一侧，测量所述参考脉冲与自所述第一方向上的所述另一侧所产生的延迟脉冲之间的延迟时间差以计算第二测量值，且输出所述第一测量值及所述第二测量值以作为所述测量值。
28.如权利要求27所述的触控位置侦测方法，其特征在于，在所述丛集步骤中，接收所述第一测量值，并使用第一临限值来计算第一方向上的被丛集的第一测量值，接收所述第二测量值并使用所述第一临限值来计算所述第一方向上的丛集的第二测量值，计算藉由所述第一测量值及所述第二测量值当中的针对安置于第二方向上的对应位置处的所述第一触控图案及所述第二触控图案的所述第一测量值与所述第二测量值相加而得到的在所述第二方向上的测量值，接收所述第二方向上的测量值并使用第二临限值来计算所述第二方向上的被丛集的测量值，输出所述第一方向上的所述被丛集的第一测量值、所述第一方向上的所述丛集的第二测量值及所述第二方向上的所述丛集的测量值以作为所述丛集的测量值。
29.如权利要求28所述的触控位置侦测方法，其特点在于，所述中心点计算步骤包括使用所述第一方向上的所述丛集的第一测量值及所述第一方向上的所述丛集的第二测量值当中的对应值的加权平均来计算所述丛集的在所述第一方向上的坐标，以及使用所述第二方向上的所述丛集的测量值的加权平均来计算所述丛集的在所述第二方向上的坐标。
30.如权利要求21所述的触控位置侦测方法，其特点在于，所述触控面板包括安置于第一方向上的多个第一触控图案，以及安置于第二方向上的多个第二触控图案，所述第二方向垂直于所述第一方向，其中所述多个第一触控图案中的每一者包括安置于所述第二方向上的多个第一触控垫，以及连接所述多个第一触控垫的多个第一连接垫，且所述多个第二触控图案中的每一者包括所述第一方向上延伸的第一棒，以及多个第二棒，所述多个第二棒连接至所述第一棒、在所述第二方向上延伸且安置于所述第一触控垫中的每一者的在所述第一方向上的侧面处，且所述触控位置侦测方法包括将输入信号施加至所述第二触控图案中的每一者，接收自所述第一触控图案产生的输出信号以测量所述第一触控图案与所述第二触控图案的间的电容，以及输出所测量的所述电容以作为所述测量值。
31.如权利要求30所述的触控位置侦测方法，其特征在于，所述丛集步骤包括自参考值中减去所述测量值，且接着输出所述丛集的测量值，所述丛集的测量值包含由所述减去的后所得值当中的大于所述临限值的值构成的至少一丛集。
32.如权利要求31所述的输入装置的触控位置侦测方法，其特征在于，所述中心点计算步骤包括关于所述丛集而使用所述丛集的测量值当中的在所述第一方向上的所述测量值的加权平均来计算所述第一方向上的坐标，使用所述丛集的测量值当中的在所述第二方向上的所述测量值的加权平均来计算所述第二方向上的坐标，并组合所述第一方向与所述第二方向上的所述坐标以计算每一丛集的坐标并输出每一丛集的坐标。
全文摘要
提供一种输入装置以及其触控位置侦测方法。所述输入装置包含触控面板，所述触控面板经组态以视触控位置而产生多个不同测量值且输出多个所述测量值；丛集部分，其经组态以接收所述测量值，且输出包含来自多个所述测量值的至少一丛集的使用临限值而丛集的测量值；以及中心点计算部分，其经组态以接收所述丛集的测量值，且使用加权平均来计算每一丛集的坐标以输出所述坐标。
文档编号G06F3/041GK102597927SQ201080049224
公开日2012年7月18日 申请日期2010年10月14日 优先权日2009年10月28日
发明者吴晓鸰, 张世银, 李芳远, 郑哲溶 申请人:艾勒博科技股份有限公司