专利名称：：电阻式触控装置的制作方法
技术领域：
：本发明是有关于一种电阻式触控装置，且特别是关于一种用以侦测在电阻式触控板的表面上两触控点位置的方法和装置。
背景技术：
：一般而言，电阻式触控装置包括两电阻片(resistivesheet)，其上镀有电阻材料，且两者由空气或微点(microdot)薄层所分隔。外层电阻片(也称为第一电阻片)可由弹性材料制作而成，且可由用户的手指或笔型(stylus-type)工具作实体接触，而内层电阻片(也称为第二电阻片)则可由硬性材料制作而成。当第一电阻片被触碰时，其主要是朝向第二电阻片被按压，因而造成两电阻片接触。电阻式触控装置可用于电阻式触控屏幕，或是能让用户通过对组件中电阻片所在部分进行触碰而执行作动的任何组件。以目前常见的四线(four-wire)电阻式触控装置而言，其主要是通过决定触碰点的所在位置来进行操作，其中所在位置的X坐标是提取自对一电阻片所作的测量，而所在位置的Y坐标则是提取自对另一电阻片所作的测量。
发明内容本发明是参照本发明实施例所述的方法的流程图，以及(或)装置(或系统)和计算机程序产品的方块图叙述如下。得以知悉的是，流程图及(或)方块图中的每个方块及其组合，均可以计算机程序指令来实现，且这些计算机程序指令可提供给一般计算机、特殊计算机或其它可程序处理装置中的处理器，以产生相关的机械语言，使得经由计算机或其它可程序处理装置中的处理器所执行的指令，可产生用来实现流程图及(或)方块图中具体功能(或动作)的方式。上述计算机程序指令也可储存于一计算机可读取媒介中，且此计算机可读取媒介可引导计算机或其它可程序处理装置以特别的方式作动，使得计算机可读取媒介中的指令产生制造物，其包括下指令的手段，且此下指令的手段实现流程图及(或)方块图中的具体功能(或动作)。计算机程序指令也可以加载计算机或其它可程序处理装置中，以产生一连串的操作步骤，而执行于计算机或其它可程序处理装置中，进而产生一计算机实现程序，使得计算机或其它可程序处理装置中所执行的指令，可提供用来实现流程图及(或)方块图中具体功能(或动作)的程序。在本发明中，其中欲解决的问题之一即是对电子或操作数件中电阻式触控面板上的两触碰点位置进行侦测，而上述侦测两触碰点位置的步骤，则例如可于用户以两手指或笔型工具对电阻式触控装置作动时来进行，且此等作动可为操控显示于装置上的影像、选择选单选项、撷取对象、旋转对象、放大对象尺寸……等等。在本发明中，解决上述问题的一技术方案即是计算X轴(DX)上两触碰点间的距离以及(或)Y轴(DY)上两触碰点间的距离，而此电阻式触控装置可内嵌于电子装置中，作为触控屏幕或用户接口的一部分，让用户可通过例如以手指触碰来进行操作。上述技术方案包含一种方法以及一种电阻式触控装置，其中先进行组件的测量，而测得的数据是用来计算两触碰点间的距离以及(或)两触碰点的位置。上述方法还可包含下述步骤的至少一部分，例如计算至少两端子间的等效电阻或电压，且此计算步骤可例如通过测量经由至少一端子的电流并通过测量至少两端子间的电压差来进行，其中电压可利用模拟数字转换器(ADC)测量而得，而电流则可例如通过测量具已知数值的串联电阻器上的电压而得知，其中串联电阻器可配置于一电压源与一端子之间。本发明所述的一些测量值主要可指的是，连接于同一电阻片的至少两端子间的电阻值(或称片电阻值)，以及连接于不同电阻片的端子间的电阻值(或称片间电阻值)。应用本发明中的电阻式触控装置以及方法，可致使施加电子特性(如电流、电压值以及电阻值)于第一电阻片及(或)第二电阻片的至少一些端子上，且相反地，从多个端子中至少一者取得相似的电子特性。上述电子特性可通过施加不同电压值于端子的至少一部分上，或者通过施加不同电流经端子的至少一部分，并对电阻式触控装置的端点的电子特性进行测量来获取。此外，上述电阻式触控装置中的一控制单元亦可施加前述电压值。上述方法亦可包含取得一运算模型，其代表两触碰点间距离及(或)两触碰点的位置其与取得的电子特性间的关系。此方法可利用于电阻式触控装置中电阻式触控面板特性的一记忆程序，其中此电阻式触控面板包含第一电阻片、第二电阻片以及端子。前述运算模型可利用电阻式触控面板上不同触碰点的测量值来建立，且前述记忆程序可包含以不同强度和位置对第一电阻片进行触碰，其中触碰强度可指包括触碰点尺寸、触碰点形状以及于按压触碰点时力量的一组合。上述方法亦可包含对电阻式触控装置进行周期性校正，且此周期性校正可于不侦测触碰时，例如通过测量第一电阻片及(或)第二电阻片的至少两端子间的电阻值来进行。根据本发明一实施例，本发明提供一种电阻式触控装置，其特点在于，包含一第一电阻片；一第二电阻片，该第二电阻片是配置邻近于该第一电阻片，使得施加于该第一电阻片上一第一触碰点和一第二触碰点的压力致使该第一电阻片和该第二电阻片间产生电流；以及一控制单元，耦接于一第一端子和一第二端子；其中于该第一端子和该第二端子耦接选自于由该第一电阻片和该第二电阻片所形成的群组中的一电阻片的情形下，该控制单元是用以测量该第一端子和该第二端子间的一第一电阻值；其中于该第一端子耦接于该第一电阻片而该第二端子耦接于该第二电阻片的情形下，该控制单元是用以测量该第一端子和该第二端子间的一第二电阻值；其中该控制单元还用以依据该第一电阻值和该第二电阻值计算该第一触碰点和该第二触碰点间的距离。根据本发明另一实施例，本发明另提供一种于包含一第一电阻片和一第二电阻片的组件上操作的方法，其特点在于，该第二电阻片是配置邻近于该第一电阻片，使得施加于该第一电阻片上一第一触碰点和一第二触碰点的压力致使该第一电阻片和该第二电阻片间产生电流，该方法包含于该第一端子和该第二端子耦接选自于由该第一电阻片和该第二电阻片所形成的群组中的一电阻片的情形下，测量该第一端子和该第二端子间的一第一电阻值；于该第一端子耦接于该第一电阻片而该第二端子耦接于该第二电阻片的情形下，测量该第一端子和该第二端子间的一第二电阻值；以及依据该第一电阻值和该第二电阻值计算该第一触碰点和该第二触碰点间的距离。根据本发明又一实施例，本发明又提供一种用以侦测一电阻片上于一第一触碰点和一第二触碰点的触碰以及计算其位置的方法，其特点在于，该方法包含测量两端子间的一第一电阻值，该两端子耦接选自于由一第一电阻片和一第二电阻片所形成的群组中的一电阻片；测量耦接于该第一电阻片的端子与耦接于该第二电阻片的端子间的一第二电阻值；测量该些端子上的电压；侦测该第一电阻片是被触碰于该第一触碰点和该第二触碰点；以及依据该第一电阻值、该第二电阻值和测得的电压计算该第一触碰点和该第二触碰点的位置。根据本发明再一实施例，本发明再提供一种电阻式触控装置，其特点在于，包含一第一电阻片；一第二电阻片，该第二电阻片是配置邻近于该第一电阻片，使得施加于该第一电阻片上一第一触碰点和一第二触碰点的压力致使该第一电阻片和该第二电阻片间产生电流；以及一控制单元，用以侦测一电阻片上于一第一触碰点和一第二触碰点的触碰并计算其位置；其中该控制单元还用以测量两端子间的一第一电阻值，该两端子耦接选自于由该第一电阻片和该第二电阻片所形成的群组中的一电阻片；该控制单元还用以测量耦接于该第一电阻片的端子与耦接于该第二电阻片的端子间的一第二电阻值；该控制单元还用以测量该些端子上的电压；该控制单元还用以侦测该第一电阻片是被触碰于该第一触碰点和该第二触碰点；以及该控制单元还用以依据该第一电阻值、该第二电阻值和测得的电压计算该第一触碰点和该第二触碰点的位置。图1是依照本发明实施例绘示一种电阻式触控装置的示意图；图2是依照本发明实施例绘示电压测量的示意图；图3是依照本发明实施例绘示片电阻(sheetresistance)测量的示意图；图4是依照本发明实施例绘示片间电阻(inter-sheetresistance)测量的示意图5是依照本发明实施例绘示四元片间电阻(quadrupleinter-sheetresistance)测量的示意图；图6是依照本发明实施例绘示一种电阻式触控装置中控制单元的示意图；图7是依照本发明实施例绘示一种用以决定第一电阻片上两触碰点位置的方法的流程图；图8是依照本发明实施例绘示一种用以决定第一电阻片上触碰状态的方法的流程图；图9是依照本发明实施例绘示一种对电子特性的记忆程序结果作储存的查值表；图10是依照本发明实施例绘示一种具有两触碰点的第一电阻片的示意图；图11是依照本发明实施例绘示一种电阻式触碰装置的结构示意图。主要组件符号说明100、300电阻式触控装置110、130、310、330、410、507、515、520、540、550、560、570电阻片112、114、133、136、316、318、332、334、512、514、511、513、522、528、542、548、552、554、562、564、572、574、610、620、630、640端子120、125、312、314、342、344、411、412、563、565、573、575触碰点140,600控制单元322、337、338、339、611电阻器415,416阴影点420中央点430假想线段445夹角502、504电压测量模块526、M6、580电阻测量模块544,555导线612,613控制器接脚614,615控制器输出入部616模拟输出入部660控制逻辑665模拟数字转换组件705760,810850步骤900查值表910950字段具体实施例方式下文是举实施例配合所附附图作详细说明，但所提供的实施例并非用以限制本发明所涵盖的范围，而结构运作的描述非用以限制其执行的顺序，任何由组件重新组合的结构，所产生具有均等功效的装置，皆为本发明所涵盖的范围。此外，附图仅以说明为目的，并未依照原尺寸作图。关于本文中所使用的“电压”用语，可泛指一般电子电路组件操作所需的电压，也可以指电压的数值(即电压值)，其意涵可依据本文中具体的技术揭示来作较合适的认定。图1是依照本发明实施例绘示一种电阻式触控装置的示意图。电阻式触控装置100包含第一电阻片110以及第二电阻片130，其中第一电阻片110是供用户按压以执行作动。当第一电阻片110被按压时，第一电阻片110会在一个或多个接触点的位置与第二电阻片130接触。第一电阻片110与第二电阻片130可以是矩形、椭圆形、多边形或其组合。在一些实施例中，第一电阻片Iio与第二电阻片130是与操作数件相关的触控屏幕的至少一部分。电阻式触控装置100可应用于显示组件、电话、手机、个人计算机、平板计算机、个人数字助理(PDA)、电子书、个人导航装置以及由用户操作的其它电子装置。在本发明实施例中，电阻式触控装置100可为四线(four-wire)电阻式触控装置，然而其它型式的电阻式触控装置(例如五线电阻式触控装置，或其它具有四个或更多端点的电阻式触控装置)也可以采用本发明实施例所述的装置和方法，上述并非用以限定本发明。电阻式触控装置100包含多个端子(terminal)，其中端子位于每一电阻片的边缘。在此所称“边缘”是指电阻片一侧的至少一部分、电阻片的一角或其组合。上述端子(例如图1所示的端子11可连接于控制单元140，而控制单元140可外加或控制端子(如端子112)的电流及电压值。如图1所示，在电阻式触控装置100的例示性实施例中，第一电阻片110可同时在第一触碰点120和第二触碰点125被触碰，而电阻式触控装置100的控制单元140则可决定第一触碰点120和第二触碰点125间的距离以及(或)所在位置。在例示性的实施例中，电阻式触控装置100可为四线(four-wire)式触控装置，第一电阻片110连接于端子112、114，且端子112、114位于第一电阻片110的左侧边缘和右侧边缘。相似地，第二电阻片130连接于端子133、136，且端子133、136位于第二电阻片130的顶部边缘和底部边缘。在本发明的一些实施例中，端子112、114、133、136可连接于电子装置，使得电子测量特性(electronicmeasurableattribute)(如电阻、电压…等等)可透过端子112、114、133、136被获取，且透过端子112、114、133、136所获取的电子特性可用来决定第一触碰点120和第二触碰点125的所在位置，其方式如下所述。电阻式触控装置100包含控制单元140，其可用以外加电子特性于端子112、114、133,136,以透过端子112、114、133、136取得电子特性，并可用以对自端子112、114、133、136侦测而得的信息进行处理。控制单元140可根据例如电压测量模块或电阻测量模块所侦测而得的电子特性，来计算第一电阻片110中X轴或Y轴上两触碰点间的距离，且控制单元140可用以计算两触碰点的所在位置。图2是依照本发明实施例绘示电压测量的示意图。如图2所示，电压测量可利用端子512、514、511、513来进行，其中端子512、514连接于第一电阻片515，而端子511、513连接于第二电阻片507。端子512、514可具有不同的预定电压值，且电压值可由控制单元(如图1所示的控制单元140)分别提供给端子512、514。当电压外加于端子512、514时，端子511、513上的电压可因此被测量而得(例如透过控制单元)。端子511、513的电压测量可由电压测量模块502、504来进行，且电压测量模块502、504中的一者可包含模拟数字转换器(ADC)。上述电压测量的操作可用以例如侦测两触碰点中间的中央点，或侦测连接两触碰点的虚拟线段与电阻片的X轴或Y轴间的角度。于一些实施例中，当控制单元外加相对高电压于端子512并外加相对低电压于端子514时，端子511的电压值可称为第1测量设定值(measurementsetup1，MSI)，而端子513的电压值可称为第2测量设定值(MS2)。于一些实施例中，模拟数字转换器可用以测量端子511、513的电压。相似地，当外加于端子511的电压高于外加在端子513的电压时，端子512的电压值可称为第3测量设定值(MS3)，而端子514的电压值可称为第4测量设定值(MS4)。图3是依照本发明实施例绘示片电阻(sheetresistance)测量的示意图。如图3所示，片电阻测量可对同一电阻片520的端子522、528间的电阻值进行测量。端子522、5可在四线电阻式触控面板中配置于电阻片520的相对两侧，或是例如在五线式触控面板中配置于同一电阻片的任意边缘。此外，图3至图5所示的电阻测量方式中，还可包含采用电阻测量模块(如图3的电阻测量模块526)，其用以测量二或多个端子间的电阻值。于操作上，测量电阻值的步骤可通过设定被测量端点上的电压差并测量流经被测量端点的电流来进行，或可通过外加流经被测量端点的电流并测量被测量端点上的电压差来进行。其次，通过电阻测量模块5侦测而得的电阻值可由控制单元获取。依此，采用上述片电阻测量的方式便能对单一电阻片的端子间的电阻值进行测量。于四线电阻式触控装置中，此种测量方式可于第一电阻片的端子上进行，其测量值可称为第5测量设定值(MS5)，且可于第二电阻片的端子上进行，其测量值可称为第6测量设定值(MS6)。另一方面，于五线电阻式触控装置中，上述电阻值测量方式可于同一电阻片上不同排列的端子间进行，借此能在电阻片上不同方向产生电压梯度(voltagegradient)，而在两个以上方向应用电压梯度则能收集有关触碰点的较多信息，并能因此对触碰点位置进行较准确的侦测。图4是依照本发明实施例绘示片间电阻(inter-sheetresistance)测量的示意图。如图4所示，片间电阻测量的方式包含利用不同电阻片(第一电阻片560和第二电阻片570)的端子，且第一电阻片560上的触碰点563、565等效于第二电阻片570上的触碰点573、575。于一些实施例中，此片间电阻测量的方式可对连接第一电阻片的一个端子与连接第二电阻片的另一个端子间的电阻值进行测量；举例来说，如图4所示，片间电阻测量的方式能测量第一电阻片560的端子562、564中的一者与第二电阻片570的端子572、574中的一者间的电阻值。同上所述，此测量电阻值的操作可由电阻测量模块580来进行。值得注意的是，当每一电阻片的至少一个端子连接电阻测量模块(如图3所示的电阻测量模块526)时，计算两电阻片间电阻值的其它方式亦可包含测量二或多个端子间的电阻值、电流及(或)电压，此可由下列图5所示。本领域习知技艺者可将端子562和端子572间的电阻值称为第7测量设定值(MS7)，将端子562和端子574间的电阻值称为第8测量设定值(MS8)，将端子564和端子572间的电阻值称为第9测量设定值(MS9)，并将端子564和端子574间的电阻值称为第10测量设定值(MSlO)。图5是依照本发明实施例绘示四元片间电阻(quadrupleinter-sheetresistance)测量的示意图。四元片间电阻测量的方式能测量两对端子间的电阻，其中每一对端子连接于单一电阻片(如第一电阻片540或第二电阻片550)，且每一对端子经由导线作连接。举例来说，第一对端子542、548经由导线544作连接，而第二对端子552、5M经由导线555作连接，导线544和导线555连接于电阻测量模块M6，用以经由导线544、555测量不同电阻片间的电阻值。图6是依照本发明实施例绘示一种电阻式触控装置中控制单元的示意图。控制单元可包含模拟数字转换组件(ADC)、开关以及一或多个电阻器。如图6所示，控制单元600连接端子610、620、630、640，端子610、620、630、640中每一者可连接第一或第二电阻片，且端子610、620、630、640中每一者可连接于两控制器接脚，亦即可经由电阻器连接于两控制器接脚中一者(如控制器接脚612)，并可直接连接于两控制器接脚中另一者(如控制器接脚613)。举例来说，端子610可经由电阻器611连接于控制器输出入部(I/Oslice)614，并可直接连接于控制器输出入部615，且可连接于模拟输出入部616，其中模拟输出入部616内接于模拟数字转换器。此外，端子620、630、640可以类似的方式连接于相对应的控制器接脚。于一些实施例中，控制单元600可包含内部硅电阻器和模拟数字转换组件，使得每一端子仅需要一控制器接脚，而在此种情形下，为补偿硅电阻器于操作上的低准确度，可采取一校正机制。另外，控制逻辑660和模拟数字转换组件665可用以实施上述的测量设定。于一些实施例中，控制单元600可整合处理单元，或传送测量结果至另一模块以供后续处理。图7是依照本发明实施例绘示一种用以决定第一电阻片上两触碰点位置的方法的流程图。于步骤705中，电阻式触控装置先进行记忆程序(learningprocess)，此记忆程序可包含一套测量过程，其中第一电阻片上的两触碰点是沿着第一电阻片的X轴或Y轴方向，在两触碰点间具不同距离的预定位置，以类似于一般手指的预定强度被按压多次，接着再进行片电阻测量以及片间电阻测量，而测量结果间的关系、触碰点间的距离以及触碰点强度等数值或参数则可依此被记忆并储存下来。此外，上述记忆程序也可重复以类似于笔型工具的强度对两触碰点进行。于一些实施例中，上述记忆程序亦可以其它额外的强度来进行而后记忆并储存，借此增加准确度，且同样的程序可于一轴方向上进行完毕之后再于另一轴方向上进行。上述进行记忆程序的结果可储存于储存单元，其中储存单元可连接或包含于电阻式触控装置中，且依照本发明的实施例，上述进行记忆程序的结果可组成例如一或多个查值表(lookuptable)。接着，于步骤710中，进行周期性的校正，以补偿关于电阻式触控装置中组件的电子特性变化，其中此种电子特性可包含第一和第二电阻片的电阻、其它组件的电阻、电流源和电压源的偏差(deviation)、模拟数字转换器的测量偏移(offset)以及类似特性，且受补偿的变化量也可以来自于例如温度变化量。此外，当第一电阻片未被触碰时，片电阻的测量结果(如上述MS5和MS6)可经储存，而后作为当第一电阻片被触碰时进行其它测量的一个参考值。其次，于步骤715中，对电阻式触控装置的端子的电压值进行测量(例如可利用控制单元来进行测量)。在四线电阻式触控装置中，控制单元可外加不同电压值于连接一电阻片(第一电阻片或第二电阻片)的两端子，而电压值可由另一电阻片的两端子测量而得。举例来说，第一电阻片的端子受外加电压，而电压值是由第二电阻片的端子测量而得。接着，于步骤720中，对电阻式触控装置中同一电阻片的两端子间的电阻值进行测量(例如可利用控制单元来进行测量)，其中上述两端子可位于同一电阻片的对向边缘、同一电阻片的相邻边缘或是其它配置。此外，同一电阻片上端子的数目和位置可以依据电阻式触控装置的型式(例如四线或五线电阻式触控装置)作调整，不以上述本发明的实施方式为限。其次，于步骤725中，对电阻式触控装置中的端子进行片间电阻测量(例如可利用控制单元来进行测量)，且此测量步骤可对数个端子进行，其中至少一端子连接于第一电阻片，至少另一端子连接于第二电阻片。举例来说，于上述测量或侦测两端子的情形下，两端子中一者连接于第一电阻片，两端子中另一者连接于第二电阻片。于一些实施例中，可用四元片间电阻(quadrupleinter-sheetresistance)测量方式来测量或侦测连接于不同电阻片的两个以上端子间的电阻值。然而，习知本领域技术的人员也可以使用其它电阻测量方式来进行上述测量或侦测步骤。当于五线电阻式触控面板中进行片电阻测量以及片间电阻测量时，片电阻测量可于同一电阻片的两对对向端子上进行，其中一对端子包含X轴上的两端子，另一对端子包含Y轴上的两端子。其次，片电阻测量也可通过将两对端子中每一者连接至一导线，并通过测量关于每一对端子的导线间的电阻值来进行。另一方面，片间电阻测量则可通过测量第一电阻片的至少一端子与第二电阻片的至少一端子间的电阻值来进行。而后，于步骤727中，决定X轴上两触碰点间的距离以及Y轴上两触碰点间的距离，上述X轴和Y轴上的距离可自片电阻测量以及片间电阻测量的结果获得，其中将电阻测量结果转换为X轴和Y轴上距离的步骤，可利用查值表(如图9所示的查值表900)来进行。于一些实施例中，电压测量也可用来决定X轴和Y轴上的距离。然后，于步骤730中，决定第一电阻片上的触碰状态，且其可利用片间电阻测量来区别非触碰状态和其它触碰状态，其中单触碰(single-touch)状态、双触碰(dual-touch)状态以及不可侦测(non-detectable)状态的区别方式则如图8所示。在此所称“不可侦测状态”主要是指当对象(如手掌)不小心触碰到电阻式触控装置100时，电阻式触控装置100不对此种意外触碰进行侦测的状态。于步骤740中，对影(shadow)触碰点和真实触碰点(例如实际上被触碰的第一电阻片上的触碰点)作区别。步骤740还可包含决定第一电阻片的X轴或Y轴与连接两触碰点的线段间所形成夹角的范围，其中此夹角是介于约090度角或约90180度角之间，且此范围可依据步骤715中所述的电压测量来决定。接着于步骤750中，决定中央点的位置，而中央点的位置是由两触碰点的X坐标和Y坐标的平均值来表示。中央点的位置可利用步骤715中所述的电压测量来决定，且中央点的位置可依据储存于储存单元的一套规则来决定，而储存单元可与电阻式触控装置相互通信、内嵌(embedded)于电阻式触控装置中或连接于电阻式触控装置。其次于步骤760中，决定触碰点的所在位置，其中所在位置可依据计算结果和储存于储存单元的一套规则来决定，而储存单元可配置成与电阻式触控装置相互通信。于一些实施例中，决定第一电阻片上触碰点所在位置的步骤，也可依据前述所储存的测量结果来决定或作调整，不以上述本发明的实施方式为限，而在此情形下，此方法更可包含对测得的电子特性与前述所储存的测量结果作比较，以计算触碰点的所在位置。本发明实施例所述的方法也可用以自图2至图5所述测量方式中获取触碰点的坐标。于一些实施例中，如图10所示，触碰点的坐标可从距离DX、距离DY、夹角445的范围以及中央点420所取得，而所取得的触碰点坐标也可基于其估算的位置和夹角445来作微调修正。在本发明的一些实施例中，两触碰点的位置也可以一多项式近似方法(polynomialapproximation)来取得，其中此多项式近似方法、触碰点坐标、触碰点强度以及总合测得的电子特性可输入运算单元中作运算，其中运算单元可提供至少一多项式，且此多项式可表示测量结果和触碰点特性间的关系。前述多项式可以测量的结果为输入值，并输出触碰点位置或其它特性(如图10中的距离DX、距离DY、夹角445以及中央点420)，其中测得的电子特性可以是在各种触碰点位置和强度下测得的电压、电流及(或)电阻值。另外，运算单元可依据先前储存的位置信息和相关电子特性，来产生将两触碰点位置的每个电子特性值的影响考虑进去的一种模型，并提供两触碰点的近似位置信息。在本实施例中所提及的步骤，除特别叙明其顺序者外，均可依实际需要调整其前后顺序，甚至可同时或部分同时执行，图7所示的流程图仅为一实施例，并非用以限定本发明。图8是依照本发明实施例绘示一种用以决定第一电阻片上触碰状态的方法的流程图。于步骤810中，对代表第一和第二电阻片间电阻值的电子特性作侦测或测量，并将其与预定临界值作比较。若是侦测的值不小于预定临界值的话，则触碰状态被判定为无触碰状态(如步骤813)。相反地，若是侦测的值小于预定临界值的话，则比较X轴或Y轴方向上代表片电阻值的端子间电阻值与代表单触碰状态的相对应临界值(如步骤820)。若是所有电阻片的电阻值均高于单触碰状态的临界值的话，则触碰状态被判定为单触碰状态(如步骤822)，若是测得的电阻值低于单触碰状态的临界值的话，则接着判断电阻片的一个或多个方向上测得的电阻值是否小于预定或经校正的双触碰状态临界值(如步骤830)。若是的话，则如步骤835，触碰状态被判定为不可侦测(non-detectable)的触碰状态；若否的话，则如步骤840，判断片电阻值与电压测量差值间的关系是否存在，且此电压测量差值可为两对向边缘的测量设定值间的差值(例如前述测量设定值MSl和MS2间的差值)，而前述片电阻值与电压测量差值间的关系也可以将片间电阻值考虑进去。若是上述片电阻值与电压测量差值间的关系存在的话，则如步骤850，决定双触碰状态，否则如步骤835，触碰状态被判定为不可侦测的触碰状态。图9是依照本发明实施例绘示一种对电子特性的记忆程序结果作储存的查值表。此查值表900基本上是绘示图3中片电阻测量结果、图4和图5中片间电阻测量结果与距离DX间的相对应关系。查值表中的值可以依据一组测量结果而产生，其中两手指或笔型工具是沿着第一电阻片的X轴放置于一预定位置，且此预定位置是用以供对片电阻值和片间电阻值作计算的位置。在另一实施例中，也可以采用关于距离DY的相关数值来组成另一查值表，以供使用。具体而言，第一栏910中的测量数值，可与片电阻值(如设定值MS5)相对于串联电阻器的已知电阻值的比率成正比，而第三栏930和第五栏950中的测量数值，则是与片间电阻值(如设定值MS7、MS8、MS9、MS10)相对于串联电阻器的已知电阻值的比率成正比。举例来说，第三栏930和第五栏950中的测量数值，是代表串联电阻器的电阻值与片间电阻值(如设定值MS7、MS8、MS9、MS10)的比率中两个中位数(medianvalue)的平均值。此夕卜，于一些实施例中，可利用更多测量结果与上述结果一同进行运算，借此取得距离DX的较准确计算值。另外，第二栏920中的数值代表第一栏910和第三栏930中测量数值的相对应距离DX，而第四栏940中的数值代表第一栏910和第五栏950中测量数值的相对应距离DX，其中第三栏930和第五栏950中的测量数值可取决于触碰点间的距离以及触碰点的强度。在正常操作下，片电阻比率以及片间电阻比率可如上所述利用串联电阻器测量而得，其中片电阻比率是匹配第一栏910的数值所对应的线段(如两触碰点连成的线段)，且可利用内插法(interpolation)对两相邻线段作运算处理。接着，为简易说明起见，假设夹角445为0度角的情形，片间电阻比率可与第三栏930和第五栏950中的测量数值作比较，且X轴上的距离可利用线性、非线性或其它类型的内插法来作计算。此外，上述方式也可以利用与Y轴相关的查值表来进行，在此不以上述为限。再者，于夹角445不为0度角或90度角的情形下，距离DX、距离DY、X轴方向上的片电阻值、Y轴方向上的片电阻值以及取决于触碰点间真实距离的片间电阻值，其间的最佳匹配可透过迭代搜寻(iterativesearch)方式，在第三栏930与第五栏950间的内插比率对于X轴和Y轴查值表均相同的情形下得出。此外，也可利用其它类型的记忆程序表来实现上述方法，举例来说，可测量较多的触碰强度以供运算，或依据不同中央点420和不同夹角445提供多个如图9所示的查值表以供运算，而此类的记忆程序表有助于增加触碰侦测的准确度。图10是依照本发明实施例绘示一种具有两触碰点的第一电阻片的示意图。如图10所示，第一电阻片410被触碰于两触碰点，其分别为第一触碰点411和第二触碰点412。第一触碰点411和第二触碰点412中每一者均可由X坐标和Y坐标定义，而中央点420代表第一触碰点411和第二触碰点412的X坐标和Y坐标的平均值，其中中央点420位于假想线段430的中间，而假想线段430代表第一触碰点411和第二触碰点412间的距离。其次，阴影点415是由第二触碰点412的X坐标和第一触碰点411的Y坐标来表示，而另一阴影点416是由第二触碰点412的Y坐标和第一触碰点411的X坐标来表示。在本发明实施例中，设定值1^1、1^2、1^3和MS4可用以决定中央点420的位置，而决定中央点420的X坐标的方式其中一者就是计算设定值MSl和MS2的平均值。同样地，中央点420的Y坐标可利用设定值MS3和MS4计算得出。其次，决定中央点420的X坐标和Y坐标的另一种方式是透过加权平均公式(weightedaverageformula)取得，而于此加权平均公式中，距离中央点位置较远的端子，其上的设定值的权重愈多。下述是一种加权平均公式的例子。1.H_MID=(MS1*(MS2_MAX-MS2_AV)+MS2*(MS2_AV-MS2_MIN))/(MS2_MAX-MS2_MIN)2.V_MID=(MS3*(MS1_MAX-MS1_AV)+MS4*(MS1_AV-MS1_MIN))/(MS1_MAX-MS1_MIN)其中H_MID是中央点420的X坐标，V_MID是中央点420的Y坐标，MS1_AV是MSl和MS2的平均值，MS2_AV是MS3和MS4的平均值，MS1_MAX是MSl或MS2的最大可能值，MS2_MAX是MS3或MS4的最大可能值，MS1_MIN是MSl或MS2的最小可能值，MS2_MIN是MS3或MS4的最小可能值。上述测量也可以用以决定连接两触碰点的虚拟线段与第一电阻片的X轴或Y轴间所形成的夹角。在本发明实施例中，上述夹角445是假想线段430与X轴间朝着X轴的正值方向所形成的角度。此外，在一些情况下，当设定值MSl小于设定值MS2时，夹角445是介于90度角和180度角中间；除此以外，夹角445则是介于0度角和90度角中间。接着，在决定夹角445之后便能区别第一触碰点411和第二触碰点412以及两阴影点415、416。在一些实施例中，当夹角445愈接近45度角或135度角，或者当触碰强度增加时，设定值MSl与设定值MS2间的差异可随着第一触碰点411与第二触碰点412间的距离增加而增加。如此一来，当给定触碰强度以及距离DX或DY的估算值时，距离DX(若DY给定)或DY(若DX给定)便可例如依据下列公式被计算得出DX=(MS1-MS2+MS3-MS4)*KX/(I*DY)DY=(MS1-MS2+MS3-MS4)*KY/(I*DX)其中KX和KY是用来将模拟数字转换(ADC)单位转换为厘米的常数，而I是提取自触碰强度的因素，其可依次从片间电阻测量中提取出来。图11是依照本发明实施例绘示一种电阻式触碰装置的结构示意图。如图11所示，电阻式触碰装置300包含第一电阻片310以及第二电阻片330，其中第二电阻片330的表面邻近或大致上平行于第一电阻片310的表面，且第一电阻片310连接于端子316、318，第二电阻片330连接于端子332、334。当压力施加于第一电阻片310时，第一电阻片310朝着第二电阻片330被按压于两触碰点，其中第一电阻片310上的触碰点314可与第二电阻片330上的触碰点344接通，第一电阻片310上的触碰点312可与第二电阻片330上的触碰点342接通，而当触碰点312与触碰点342接通且触碰点314与触碰点344接通时，电流从第一电阻片310流向第二电阻片330。电阻器337和339透过触碰点312、342、344、314连接于第二电阻片330和第一电阻片310间，且电阻器338于第二电阻片330上的触碰点342和触碰点344间形成等效电阻。以此例示性的架构来说，电阻器322构成第一电阻片310上的一部分电阻，而电阻器337、338和339所形成的等效电阻与电阻器322并联，因此端子316、318间的等效电阻值会因电阻器337、338和339的存在而减少。第一电阻片310的端子316、318间的电阻值，可以是触碰点312、314间的距离与触碰点312、314的触碰强度所构成的函数，且计算触碰强度的步骤可通过计算第一电阻片310和第二电阻片330间的电阻值来进行。上述流程图以及电路方块图主要是依据本发明实施例，绘示可应用于各种系统、方法和计算机程序产品中可能实施方式的架构、功能及操作方式。依此，流程图或电路方块图中的每个方块，均可代表程序代码中的一个模块、区块或部件，且其包含一或多个可执行的指令，用以实现具体的逻辑功能。此外，在一些实施方式中，每个方块中所指的功能，除特别叙明其顺序者外，均可依实际需要调整其前后顺序，甚至可同时或部分同时执行，上述仅为实施例，并非用以限定本发明。举例来说，依序绘示的两方块实际上可取决于相关的功能而大致上同时执行，或可依相反顺序执行。其次，流程图或(及)电路方块图中的每个方块及其组合，也可以通过执行具体功能或作动的特殊用途硬件系统，或者特殊用途硬件及计算机指令的组合来执行。本领域中习知技艺者可以知悉的是，本发明所述实施例可以系统、方法或计算机程序软件来实现，因此本发明所述实施例可以完全的硬件、完全的软件(包含韧体、常驻软16件、微式码(micro-code)、···等等)或结合软件和硬件的实施例来实现，其中硬件在此一般可指“电路”、“模块”或“系统”。再者，本发明实施例也可以计算机程序软件来实现，其中此计算机程序软件可以具有计算机可读取程序代码于其中的任何有形媒体来实现。又，上述实施例亦可使用一或多个计算机可用媒体或计算机可读取媒体的任何组合，而计算机可用媒体或计算机可读取媒体可例如，但不限于，是电子、磁性、光学、电磁、红外线或半导体系统、装置、组件或传播媒体。此外，计算机可读取媒体的更多具体例子(非地毯式列表)可包括电性连接结构、可持式计算机磁盘、硬盘、随机存取内存(RAM)、只读存储器(ROM)、可消除程序化只读存储器(EPROM)、闪存、光纤、可持式光盘只读存储器(CDROM)、光储存装置、传输媒体(如支持因特网或内部网络的媒体)或磁性储存装置等等。再者，上述计算机可用媒体或计算机可读取媒体甚至可以是供计算机程序打印于其上的纸张或其它适合的媒体，而计算机程序可经由例如对上述纸张或媒体进行光扫描而被撷取；而后若需要的话，再以合适的方法对其编译或处理；然后将其储存于计算机内存中，故在此所称的计算机可用媒体或计算机可读取媒体可以是透过或连接指令执行系统、装置或组件而能容纳、储存、通信、传播或传输供使用的程序的任何媒体，而计算机可用媒体或计算机可读取媒体可包含在基频或一部分载波中，与程序代码一同被实现的传播数据信号，且此程序代码可利用任何合适的媒体进行传送，其中此合适的媒体包含但不限于无线、有线、光纤缆线、无线射频(RF)及类似方式。上述用以实现本发明实施例中操作的计算机程序码，可以一或多种程序语言的任意组合来撰写，其包含对象导向程序语言(如JaVa、Smalltalk、C++或类似程序语言)以及一般程序程序语言(如C程序语言或类似程序语言)。程序代码可完全执行于用户的计算机上，或部分地执行于用户的计算机上，或作为独立的软件封包，或部分执行于用户的计算机上且部分执行于远程计算机上，或完全执行于远程计算机或服务器上。于程序代码执行于远程计算机的情况下，远程计算机可经由任何型态的网络(包含区域网络(LAN)、广域网络(WAN))连接于用户的计算机，或可连接于外部计算机(如经由网络服务提供者所提供的因特网)所有装置或步骤的相对应结构、材料、作动及其均等物，以及权利要求中所称的功能组件，均包括用以执行所需功能的任意结构、材料或作动与所请求组件的组合，而本发明中的叙述仅用以描述和说明，并非用以限定本发明的方案，任何本领域习知技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视所附的权利要求书所界定的范围为准。权利要求1.一种电阻式触控装置，其特征在于，包含一第一电阻片；一第二电阻片，该第二电阻片是配置邻近于该第一电阻片，使得施加于该第一电阻片上一第一触碰点和一第二触碰点的压力致使该第一电阻片和该第二电阻片间产生电流；以及一控制单元，耦接于一第一端子和一第二端子；其中于该第一端子和该第二端子耦接选自于由该第一电阻片和该第二电阻片所形成的群组中的一电阻片的情形下，该控制单元是用以测量该第一端子和该第二端子间的一第一电阻值；其中于该第一端子耦接于该第一电阻片而该第二端子耦接于该第二电阻片的情形下，该控制单元是用以测量该第一端子和该第二端子间的一第二电阻值；其中该控制单元还用以依据该第一电阻值和该第二电阻值计算该第一触碰点和该第二触碰点间的距离。2.根据权利要求1所述的电阻式触控装置，其特征在于，还包含一储存组件，用以储存一查值表，该查值表是关联测量电子特性以及该第一触碰点和该第二触碰点间距离相关的数据。3.根据权利要求2所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元还用以计算一组电阻值中两中位数的一平均值，且该组电阻值包含该第一电阻片的端子与该第二电阻片的端子间的电阻值。4.根据权利要求1所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元还用以依据于该第一端子和该第二端子上测得的电压来计算该第一触碰点和该第二触碰点间的距离。5.根据权利要求4所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元是利用一多项式近似方法以计算该第一触碰点和该第二触碰点间的距离。6.根据权利要求5所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元还用以计算一组电阻值中两中位数的一平均值，且该组电阻值包含该第一电阻片的端子与该第二电阻片的端子间的电阻值。7.根据权利要求5所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元还用以决定一中央点的位置，该中央点代表该第一触碰点和该第二触碰点的X坐标和Y坐标的平均值。8.根据权利要求5所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元还用以计算该第一触碰点和该第二触碰点的位置。9.根据权利要求1所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元还用以判断该第一电阻片是被触碰于两触碰点。10.根据权利要求9所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元还用以使测得的该第一电阻值、测得的该第二电阻值与于该第一端子和该第二端子上测得的电压相关联。11.根据权利要求9所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元还用以使测得的该第一电阻值与测得的电压相关联。12.根据权利要求1所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元还用以对选自于由该第一电阻片和该第二电阻片所形成的群组中的一电阻片进行一记忆程序。13.—种于包含一第一电阻片和一第二电阻片的组件上操作的方法，其特征在于，该第二电阻片是配置邻近于该第一电阻片，使得施加于该第一电阻片上一第一触碰点和一第二触碰点的压力致使该第一电阻片和该第二电阻片间产生电流，该方法包含于该第一端子和该第二端子耦接选自于由该第一电阻片和该第二电阻片所形成的群组中的一电阻片的情形下，测量该第一端子和该第二端子间的一第一电阻值；于该第一端子耦接于该第一电阻片而该第二端子耦接于该第二电阻片的情形下，测量该第一端子和该第二端子间的一第二电阻值；以及依据该第一电阻值和该第二电阻值计算该第一触碰点和该第二触碰点间的距离。14.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，还包含使该第一触碰点和该第二触碰点间距离相关的数据与测量电子特性相关联。15.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，还包含计算一组电阻值中两中位数的一平均值，其中该组电阻值包含该第一电阻片的端子与该第二电阻片的端子间的电阻值。16.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，还包含依据于该第一端子和该第二端子上测得的电压来计算该第一触碰点和该第二触碰点间的距离。17.根据权利要求16所述的方法，其特征在于，计算该第一触碰点和该第二触碰点间距离的步骤还包含利用一多项式近似方法计算该第一触碰点和该第二触碰点间的距离。18.根据权利要求17所述的方法，其特征在于，还包含计算一组电阻值中两中位数的一平均值，其中该组电阻值包含该第一电阻片的端子与该第二电阻片的端子间的电阻值。19.根据权利要求17所述的方法，其特征在于，还包含决定一中央点的位置，该中央点代表该第一触碰点和该第二触碰点的X坐标和Y坐标的平均值。20.根据权利要求17所述的方法，其特征在于，还包含计算该第一触碰点和该第二触碰点的位置。21.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，还包含判断该第一电阻片是被触碰于两触碰点。22.根据权利要求21所述的方法，其特征在于，还包含使测得的该第一电阻值、测得的该第二电阻值与于该第一端子和该第二端子上测得的电压相关联。23.根据权利要求21所述的方法，其特征在于，还包含使测得的该第一电阻值与测得的电压相关联。24.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，还包含对选自于由该第一电阻片和该第二电阻片所形成的群组中的一电阻片进行一记忆程序。25.一种用以侦测一电阻片上于一第一触碰点和一第二触碰点的触碰以及计算其位置的方法，其特征在于，该方法包含测量两端子间的一第一电阻值，该两端子耦接选自于由一第一电阻片和一第二电阻片所形成的群组中的一电阻片；测量耦接于该第一电阻片的端子与耦接于该第二电阻片的端子间的一第二电阻值；测量该些端子上的电压；侦测该第一电阻片是被触碰于该第一触碰点和该第二触碰点；以及依据该第一电阻值、该第二电阻值和测得的电压计算该第一触碰点和该第二触碰点的位置。26.根据权利要求25所述的方法，其特征在于，侦测该第一电阻片是被触碰于该第一触碰点和该第二触碰点的步骤还包含使测得的该第一电阻值与测得的电压相关联。27.根据权利要求25所述的方法，其特征在于，计算该第一触碰点和该第二触碰点的位置的步骤还包含计算该第一触碰点和该第二触碰点间的距离。28.根据权利要求27所述的方法，其特征在于，计算该第一触碰点和该第二触碰点间距离的步骤是基于一多项式近似方法。29.根据权利要求27所述的方法，其特征在于，计算该第一触碰点和该第二触碰点间距离的步骤还包含通过使用一查值表将该第一电阻值和该第二电阻值转换为该第一触碰点和该第二触碰点间的距离。30.根据权利要求25所述的方法，其特征在于，计算该第一触碰点和该第二触碰点的位置的步骤还包含计算一组电阻值中两中位数的一平均值，其中该组电阻值包含该第一电阻片的至少两端子中一者与该第二电阻片的至少两端子中一者间的电阻值。31.根据权利要求25所述的方法，其特征在于，侦测该第一电阻片是被触碰于该第一触碰点和该第二触碰点的步骤还包含使测得的该第一电阻值、测得的该第二电阻值与测得的电压相关联。32.根据权利要求25所述的方法，其特征在于，计算该第一触碰点和该第二触碰点间距离的步骤是基于一多项式近似方法。33.根据权利要求25所述的方法，其特征在于，还包含对选自于包含该第一电阻片和该第二电阻片的群组中的一电阻片进行一记忆程序。34.一种电阻式触控装置，其特征在于，包含一第一电阻片；一第二电阻片，该第二电阻片是配置邻近于该第一电阻片，使得施加于该第一电阻片上一第一触碰点和一第二触碰点的压力致使该第一电阻片和该第二电阻片间产生电流；以及一控制单元，用以侦测一电阻片上于一第一触碰点和一第二触碰点的触碰并计算其位置；其中该控制单元还用以测量两端子间的一第一电阻值，该两端子耦接选自于由该第一电阻片和该第二电阻片所形成的群组中的一电阻片；该控制单元还用以测量耦接于该第一电阻片的端子与耦接于该第二电阻片的端子间的一第二电阻值；该控制单元还用以测量该些端子上的电压；该控制单元还用以侦测该第一电阻片是被触碰于该第一触碰点和该第二触碰点；以及该控制单元还用以依据该第一电阻值、该第二电阻值和测得的电压计算该第一触碰点和该第二触碰点的位置。35.根据权利要求34所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元还用以利用测得的该第一电阻值、测得的该第二电阻值与测得的电压间的关联性来侦测该第一电阻片是被触碰于该第一触碰点和该第二触碰点。36.根据权利要求34所述的电阻式触控装置，其特征在于，于该控制单元计算该第一触碰点和该第二触碰点的位置的步骤中，该控制单元还用以计算该第一触碰点和该第二触碰点间的距离。37.根据权利要求36所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元是基于一多项式近似方法来计算该第一触碰点和该第二触碰点间的距离。38.根据权利要求36所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元还用以通过一查值表将该第一电阻值和该第二电阻值转换为该第一触碰点和该第二触碰点间的距离。39.根据权利要求34所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元还用以计算一组电阻值中两中位数的一平均值，该组电阻值包含该第一电阻片的至少两端子中一者与该第二电阻片的至少两端子中一者间的电阻值。40.根据权利要求34所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元还用以利用测得的该第一电阻值、测得的该第二电阻值与测得的电压间的关联性来侦测该第一电阻片是被触碰于该第一触碰点和该第二触碰点。41.根据权利要求34所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元还用以基于一多项式近似方法计算该第一触碰点和该第二触碰点的位置。42.根据权利要求34所述的电阻式触控装置，其特征在于，该控制单元还用以对选自于包含该第一电阻片和该第二电阻片的群组中的一电阻片进行一记忆程序。全文摘要本发明揭露一种电阻式触控装置，其包含第一电阻片以及第二电阻片，第二电阻片邻近第一电阻片作配置，使得施加于第一电阻片上第一触碰点和第二触碰点的压力致使第一电阻片和第二电阻片间产生电流。电阻式触控装置还包含控制单元，控制单元耦接于第一端子和第二端子，并用以测量第一端子和第二端子间的第一电阻值，且用以计算第一触碰点和第二触碰点间的距离。此外，一种计算电阻片上第一触碰点和第二触碰点间距离的方法亦在此揭露。文档编号G06F3/045GK102566847SQ201110189389公开日2012年7月11日申请日期2011年6月29日优先权日2010年12月28日发明者安德列·塔弗基葛瑞查克,日弗·赫诗曼,波兹·塔巴钦克申请人:新唐科技股份有限公司