专利名称：接触检测装置、记录显示装置和接触检测方法
技术领域：
本发明涉及接触检测装置、记录显示装置和接触检测方法。
背景技术：
日本未审查专利申请公开第8-110830号公开了一种坐标输入装置的数据处理方法，其中在按压输入表面的预定位置时，该坐标输入装置顺序获取被按压位置所对应的坐标数据项并仅将所获取坐标数据项中的有效数据进行输出。该数据处理方法的特征在于进行初始设定处理和输入数据处理。初始设定处理以均匀定时获取预定条件下通过手写输入所得到的坐标数据项，通过顺序使用三个坐标数据项来计算第二和第三坐标数据项之间的移动距离、以及第一和第二坐标数据项之间的直线轴与第二和第三坐标数据项之间的直线轴所形成的角的角度变化量，分别累计计算出的移动距离的频率和计算出的角的角度变化量的频率，并参照因此所得到的累记频率设置一预定的角度变化基准值及其对应的移动距离作为确定有效数据的阈值。在正常的输入操作中，输入数据处理通过使用书写后即刻获得的第一坐标数据项和紧随其后输入的两个坐标数据项来计算第一和第二坐标数据项之前的移动距离以及第一和第二坐标数据项之间的直线轴与第二和第三坐标数据项之间的直线轴所形成的角的角度变化量，将计算结果与初始设定处理设定的用于确定有效数据的阈值进行比较，并且如果至少一项计算结果等于或者小于相应的阈值，则将书写后即刻获得的该第一坐标数据项为有效数据进行输出。日本未审查专利申请公开第2011-70658号公开了一种显示装置，该显示装置包括在多个像素中包含光敏元件的触摸板和图像处理单元。光敏元件在触摸板和目标物体之间产生接触图像。图像处理单元通过接触图像的颜色信息来计算接触部分的面积，并根据面积判定对触摸板是否有输入。日本未审查专利申请公开第9-44293号公开了一种包括手写笔输入装置的电子设备，该电子设备包括与显示装置集成的书写板并允许用笔对手写输入框进行手写输入。该电子设备的特征在于包括:手写输入框显示器，其显示手写输入框；输入坐标识别单元，其识别输入至书写板的坐标；以及输入无效区域设定单元，其设置输入无效区域，该输入无效区域针对各手写输入框而设，用于使持笔的手与书写板的接触而导致的不正确输入无效，并取消输入至输入无效区域的坐标数据。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种接触检测装置，一种记录显示装置和一种接触检测方法，以高准确地判定正确接触和误接触。为了实现上述目的，根据本发明的第一方面，提供了 一种接触检测装置，其被配置为包括多个检测元件、生成单元和判定单元。多个检测元件在预定接触面上的二维构造中彼此相关，并各自检测物体与接触面的接触。生成单元根据多个检测元件的检测结果生成特征信息，该特征信息代表基于物体与接触面的接触所绘制轨迹的特征。判定单元判定生成单元所生成的特征信息是否对应于预先登记的特定接触特征信息，其代表基于物体与接触面的特定接触所绘制轨迹的特征。根据本发明的第二方面，在根据第一方面所述的接触检测装置中，所述特定接触对应于预先确定为与接触面正确接触的正确接触或者为预先确定为与接触面非正确接触的误接触。根据本发明的第三方面，根据第一或第二方面所述的接触检测装置还包括关联单元，其关联用以识别轨迹的识别信息和轨迹，对于识别信息所识别的各轨迹，判定单元判定生成单元所生成的特征信息是否对应于特定接触特征信息。根据本发明的第四方面，根据第一或第二方面所述的接触检测装置被配置为还包括识别单元，其根据判定单元所做出的判定结果识别表示与接触面的特定接触的轨迹。根据本发明的第五方面，根据第三方面所述的接触检测装置被配置为还包括识别单元，其根据判定单元所做出的判定结果识别表示与接触面的特定接触的轨迹。根据本发明的第六方面，在根据第四方面所述的接触检测装置中，根据判定单元在预定期间内做出的生成单元所生成的特征信息对应于特定接触特征信息的判定次数，识别单元识别出代表与接触面的特定接触的轨迹。根据本发明的第七方面，在根据第五方面所述的接触检测装置中，根据判定单元在预定期间内做出的生成单元所生成的特征信息对应于特定接触特征信息的判定次数，识别单元识别表示与接触面的特定接触的轨迹。根据本发明的第八方面，在根据第六方面所述的接触检测装置中，如果判定单元在预定期间内做出的生成单元所生成的特征信息对应于特定接触特征信息的判定次数大于判定单元在所述预定期间内做出的生成单元所生成的特征信息不对应于特定接触特征信息的判定次数，则识别单元将在此预定期间内在接触面上所绘制的轨迹识别为代表特定接触的轨迹。根据本发明的第九方面，在根据第七方面所述的接触检测装置中，如果判定单元在预定期间内做出的生成单元所生成的特征信息对应于特定接触特征信息的判定次数大于判定单元在预定期间内做出的生成单元所生成的特征信息不对应于特定接触特征信息的判定次数，则识别单元将在此预定期间内在接触面上所绘制的轨迹识别为代表特定接触的轨迹。根据本发明的第十方面，在根据第六方面所述的接触检测装置中，所述预定期间对应于自物体与接触面接触至物体与接触面分开之间的时间段。根据本发明的第十一方面，在根据第七方面所述的接触检测装置中，所述预定期间对应于自物体与接触面接触至物体与接触面分开之间的时间段。根据本发明的第十二方面，在根据第八方面所述的接触检测装置中，所述预定期间对应于自物体与接触面接触至物体与接触面分开之间的时间段。根据本发明的第十三方面，在根据第九方面所述的接触检测装置中，所述预定期间对应于自物体与接触面接触至物体与接触面分开之间的时间段。根据本发明的第十四方面，在根据第一或第二方面所述的接触检测装置中，特征信息对应于表示轨迹幅度的幅度信息、表示轨迹幅度变化程度的程度信息、以及根据物体与接触面持续接触时间而获得的基于持续时间的信息中的至少一项。
根据本发明的第十五方面，在根据第一或第二方面所述的接触检测装置中，幅度信息对应于表不轨迹面积和轨迹长度中的至少一项的信息，程度信息对应于表不轨迹的面积方差(variance)或标准偏差的轨迹面积统计信息和表示轨迹的长度方差或标准偏差的轨迹长度统计信息中的至少一项，基于持续时间的信息对应于表示轨迹中接触点数目的轨迹数目信息。根据本发明的第十六方面，在根据第一或第二方面所述的接触检测装置中，判定单元采用被配置为包括特定接触特征信息的决策树来判定生成单元所生成的特征信息是否对应于特定接触特征信息。根据本发明的第十七方面，根据第一或第二方面所述的接触检测装置还包括施加单元，其根据接触时间将一权值施加给轨迹，判定单元进一步判定施加单元所施加的权值是否等于或者大于预定的权值。同时，为了实现上述目的，根据本发明的第十八方面，提供了一种接触检测装置，其被配置为包括多个检测元件、生成单元和判定单元。多个检测元件在预定接触面上的二维构造中彼此相关，并各自检测物体与接触面的接触。生成单元根据多个检测单元的检测结果生成特征信息，该特征信息代表基于物体与接触面的接触所绘制轨迹的特征。判定单元判定生成单元所生成的特征信息是否已包括于预先登记的特定接触特征区域内，该特定接触特征区域代表基于物体与接触面的特定接触所绘制的轨迹的特征。同时，为了实现上述目的，根据本发明的第十九方面，提供了一种记录显示装置，其被配置为包括:根据第一或第二方面所述的接触检测装置；和显示器，其具有叠加于其屏幕上的接触检测装置，且其根据接触检测装置的检测结果在屏幕上显示图像。根据本发明的第二十方面，根据第十九方面所述的记录显示装置被配置为还包括删除单元，其用于从屏幕上删除与根据判定单元的判定结果而识别出的轨迹对应的位置上显示的图像。同时，为了实现上述目的，根据本发明的第二十一方面，提供了一种接触检测方法，包括:控制接触检测设备来分别检测物体与预定接触面的接触，所述接触检测设备包括在所述接触面上的二维构造中彼此相关的多个检测元件；根据检测结果生成特征信息，该特征信息代表基于物体与接触面的接触所绘制轨迹的特征；以及判定所生成的特征信息是否对应于预先已登记的特定接触特征信息，该特定接触特征信息代表基于物体与接触面的特定接触所绘制轨迹的特征。同时，为了实现上述目的，根据本发明的第二十二方面，提供一种检测方法，包括:控制接触检测设备来分别检测物体与预定接触面的接触，所述接触检测设备包括在所述接触面上的二维构造中彼此相关的多个检测元件；根据多个检测单元的检测结果生成特征信息，该特征信息代表基于物体与接触面的接触所绘制轨迹的特征；以及判定所生成的特征信息是否已包括于预先已登记的特定接触特征区域内，该特定接触特征区域代表基于物体与接触面的特定接触所绘制轨迹的特征。相比于不具有如下构造的情况，根据本发明第一、第十八、第十九、第二十一和第二十二方面，实现了高精度地判定正确接触和误接触的有益效果，所述构造为:其根据在接触面上的二维构造中彼此相关的多个检测单元的检测结果生成特征信息，该特征信息代表自物体与接触面接触至物体与接触面分开期间的轨迹的特征，并且其判定所生成的特征信息所代表的特征是否对应于预先已登记的基于特定接触的轨迹的特征。相比于不具备以下构造的情况，根据本发明第二方面，实现了高精度地判定正确接触和误接触的有益效果，在所述构造中:特定接触对应于预先确定为与接触面正确接触的正确接触或者为预先确定为与接触面非正确接触的误接触。相比于不具备以下构造的情况，根据本发明第三方面，实现了有助于改进区分代表正确接触的轨迹和代表误接触的轨迹的效果，在所述构造中:关联识别信息和轨迹，对于识别信息所识别的各轨迹，判定特征信息是否对应于特定接触特征信息，并根据识别信息所识别的各轨迹的判定结果识别代表与接触面的特定接触的轨迹。相比于不具备以下构造的情况，根据本发明第四和第五方面，实现了高精度地判定正确接触和误接触的有益效果:所述构造还包括识别单元，其根据判定单元所做出的判定结果识别代表与接触面的特定接触的轨迹。相比于不具备以下构造的情况，根据本发明第六和第七方面所述，实现了高精度地判定正确接触和误接触的有益效果，其中所述构造根据在预定期间内所做出的特征信息对应于特定接触特征信息的判定次数来识别代表与接触面的特定接触的轨迹。相比于不具备以下构造的情况，根据本发明第八和第九方面，实现了高精度地判定正确接触和误接触的有益效果，在所述构造中，如果在预定期间内所做出的特征信息对应于特定接触特征信息的判定次数大于在预定期间内所做出特征信息不对应于特定接触特征信息的判定次数，则将在此预定期间内于接触面上所绘制的轨迹判定为代表特定接触的轨迹。相比于不具备以下构造的情况，根据本发明第十至第十三方面，获得了有助于实现有效处理的效果，在所述构造中，预定期间对应于自物体与接触面接触至物体与接触面分开之间的时间段。相比于不具备以下构造的情况，根据本发明第十四方面，实现了更高精度地判定正确接触和误接触的有益效果，在所述构造中，特征信息对应于表示轨迹幅度的幅度信息、表示轨迹幅度变化程度的程度信息、以及基于物体与接触面持续接触时间而获得的基于持续时间的信息中的至少一项。相对于不具备以下构造的情况，根据本发明第十五方面，实现了更高准确地判定正确接触和误接触的有益效果，在该构造中，幅度信息对应于表示轨迹面积和轨迹长度中的至少一项的信息，程度信息对应于表示轨迹面积方差或标准偏差的轨迹面积统计信息和表示轨迹长度方差或标准偏差的轨迹长度统计信息中的至少一项，基于持续时间的信息对应于表示轨迹中接触点数量的轨迹数量信息。相对于不具备以下构造的情况，根据本发明第十六方面，获得了更高精度且易于判定正确接触和误接触的有益效果，所述构造利用被配置为包括特定接触特征信息的决策树来判定特征信息是否对应于特定接触特征信息。相比于不具备以下构造的情况，根据本发明第十七方面，获得了更高精度地判定正确接触和误接触的有益效果，所述构造根据接触时间将权值赋给轨迹，并判定所赋权值是否等于或者大于预定的权值。相比于不具备以下构造的情况，根据本发明第二十方面，获得了改进屏幕上所显示信息的易读性的效果，所述构造从屏幕上删除在已识别轨迹的对应位置上显示的图像。
结合以下附图，将对本发明的具体实施例进行详细说明，其中，图1是示出根据示例实施例的液晶手写板的外观的示意透视图；图2是示出根据示例实施例的记录显示装置的电气系统的主要部分的构造的框图；图3是示出根据示例实施例的接触检测处理程序的处理流程的一个示例的流程图；图4A和4B是示出根据示例实施例的液晶手写板上所绘制轨迹单位的定义方法的示意图；图5是示出根据示例实施例的误接触判定处理程序的处理流程的一个示例的流程图；图6是示出根据示例实施例的作为液晶手写板所采用的决策树的构成要素的轨迹长度的方差与接触面积的相关关系的示意图；图7是示出根据示例实施例的作为液晶手写板所采用的决策树的构成要素的轨迹的接触面积的方差与轨迹长度方差的相关关系的示意图；图8是示出根据示例实施例的作为液晶手写板所采用的决策树的构成要素的轨迹中接触点的数量与轨迹长度方差的相关关系的示意图；图9是示出根据本示例实施例的根据液晶手写板所采用的决策树的判定方法的一个示例的代码示意图；图10是示出根据本示例实施例的删除基于液晶手写板上的误接触的轨迹的处理示例的示意图；图11是示出根据本示例实施例的改变基于液晶手写板上的误接触的轨迹颜色的处理示例的示意图；图12是示出根据本示例实施例的对液晶手写板中的多条轨迹同时执行接触检测处理情况下的时序概念的概念图；图13是示出根据本示例实施例的接触检测处理程序的处理流程的修改示例的流程图；以及图14是示出根据本示例实施例的液晶手写板的误接触中所使用的表格示例的示意图。
具体实施例方式下面将参考附图对实施本发明的示例性实施例的示例进行具体描述。图1是示出根据本示例实施例的液晶手写板10的外部的示意透视图。如图1所示，液晶手写板10配置为包括记录显示装置14和用作笔型输入装置的手写笔16，其中记录显示装置14包括触摸板显示器12。图2是示出根据本示例实施例的记录显示装置14的电气系统的主要部分的构造的框图。如图2所示，记录显示装置14被配置为包括触摸板显示器12、系统控制器18、存储器20、和控制器22。
触摸板显示器12包括触摸板12A和液晶显示器(IXD) 12B。具体地，触摸板显示器12被设置为具有叠加于IXD 12B上的透射型触摸板12A。触摸板12A由用户触摸，从而接收来自用户的指令。IXD 12B在其显示表面(屏幕)上显示各种信息。根据本示例实施例的触摸板12A是静电电容式触摸板，其通过获取静电电容的变化来检测接触和未接触。触摸板12A包括在触摸板12A的预定表面(比如，前表面或后表面)上的二维构造(比如，矩阵构造)中被布置为彼此相关的多个静电电容元件(比如，电容器)24 (其作为多个检测元件布置的示例)，以对应于液晶显示器12B的各像素的位置。在静电电容元件24中，由于物体(比如手写笔16，手指或手)的靠近而造成电容耦合，因此物体与触摸板12A的接触被检测到。静电电容式触摸板仅为一个示例，触摸板12A还可以为电磁感应式触摸板、红外式触摸板、表面声波式触摸板、电阻膜式触摸板等等，并且可以为能够检测到接触点的任何触摸板。系统控制器18被配置为包括中央处理单元(CPU)，并通过执行预定的控制程序来控制记录显示装置14的整体操作。存储器20被配置为包括随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、和辅助存储器(比如，闪存)。RAM是一种易失性存储器用作执行各种程序时的工作区等。ROM预先存储了后面描述的误接触特征信息、各种程序、各种参数、各种表格信息等等。辅助存储器是非易失性储存介质，用于存储即使在液晶手写板10的供电开关关掉的情况下也需要保留的各种信息。控制器22被配置为包括CPU (此CPU不同于系统控制器18中所包括的CPU)，且与触摸板12A、IXD 12B、系统控制器18、和存储器20连接。因此，在来自系统控制器18的指令下以及根据读取自存储器20的各种程序、各种参数、各种表格信息等等，控制器22执行从用户到触摸板12A的指令内容的获取、在IXD 12B上显示读取自储存器20 (包括代表图像、字符、图案、符号等的信息)的信息、以及在IXD 12B上显示依照从用户到触摸板12A的指令内容(包括代表图像、字符、图案、符号等的信息)的各种信息。液晶手写板10被如上配置，当基于触摸板12A所检测到的接触在触摸板12A上绘制轨迹(接触标记(笔划))时，用来识别对应于所绘制轨迹的构成要素的接触点的坐标信息(比如，代表着用于识别静电电容元件24位置的二维坐标值的信息，其中将触摸板12A上的一个预定点设为坐标原点)被存储于存储器20中预定的存储区域α中，并且由存储于存储区域α中的坐标信息所识别的轨迹(对应于触摸板12Α上绘制的轨迹的轨迹)通过控制器22显示于IXD 12Β的屏幕上。同时，触摸板12Α所检测到的接触大致上分为用于输入将被液晶手写板10记录的信息的接触(正确接触)和导致不正确地输入了不应被液晶手写板10记录的信息的接触(误接触)。然而，过去由于缺乏高精度地区分正确接触和误接触的技术，所以会出现将误接触认定为正确接触或者将正确接触认定为误接触的情况。因此，在某些情况下，出现了在液晶显示器12Β的屏幕上显示了非预期的信息或者不能显示预期信息的情况。因此，根据本发明示例性实施例的液晶手写板10，执行了检测物体与触摸板12Α的接触以及高精度地识别误接触的接触检测处理。根据本发明示例性实施例的液晶手写板10，用于实现接触检测处理的各种处理由软件配置实现。其中的一个例子是利用计算机执行程序的配置。然而，无需多言，上述处理的实现并不限于通过这样一种软件配置的实现，而且上述处理的实现还可通过硬件配置或者软件配置与硬件配置的结合来实现。接下来，将对以下情况进行说明:其中，根据本示例性实施例的液晶手写板10的控制器22执行接触检测处理程序从而实现接触检测处理。此种情况下适用的配置包括匕如，预先已于存储器20的ROM区域储存有接触检测处理程序的配置；通过将其内容保存于计算机可读记录介质中以提供接触检测处理程序的配置；和通过有线或无线通讯单元分发接触检测处理程序的配置。图3是示出根据本示例实施例的接触检测处理程序的处理流程的一个示例的流程图。为了避免混淆，作为一个示例，以下将描述其中控制单元22每隔预定时间(比如，本文中为20ms)执行接触检测处理程序的情形。此外，为了避免混淆，此处将描述其中手写笔16与触摸板12A的接触被判定为正确接触、而除了手写笔16与触摸板12A的接触以外的其它任何与触摸板12A的接触(比如，手指或手的接触)都被判定为误接触的情形。此外，本发明说明书中所用的单词“轨迹”指当物体触及触摸板12A时所获得的接触点序列。此单词包含通过与触摸板12A的持续接触而获得的二维坐标平面上的一组多个连续坐标点的概念、以及还包含与触摸板12A上的一个点接触而获的一个接触点的概念。此外，此处“连续”的概念包括“时间上连续”的概念还有“同时”的概念。如果一物体同时触及触摸板12A的二维坐标平面上的一组多个连续的点，则这些点被获取为一个轨迹单位的构成要素。在图3的步骤100，做出是否已经检测到物体与触摸板12A的接触的判定。如果判定为肯定的，程序进行至步骤102。在步骤100的处理中检测到的接触点被判定为一个轨迹单位的一个构成要素。比如，在此示例实施例中此接触检测处理程序每隔20ms就被执行一次。因此，如果利用手写笔16以单笔划在触摸板12A上写字母“Z”以在触摸板显示器12上显示字母“Z”，如图4A所示，则以20ms的间隔检测手写笔16的笔尖的接触。图4B所示的示例示意性示出了其中在绘制字母“Z”期间在五个点除检测到接触的一个示例性实施例。这些点以预定的时间间隔(20ms)被检测到。此外，如果在步骤100中检测到多个接触点，则这些接触点将被作为各自形成独立的轨迹单位的构成要素来处理。在步骤102，获取用于识别上述步骤100的处理中所检测到的接触点的位置的坐标信息，且此后程序进行至步骤104。在步骤104，判定是否存在其中已检测到物体相对于触摸板12A并无接触的轨迹。如果判定为否定的，程序进行至步骤106。也就是说，在当前的步骤104，如果存在与触摸板12A的持续接触，且此接触在当前接触检测处理程序执行之前就已开始，则对接触是否已被取消(该轨迹是否根据物体与触摸板12A分离而已被切断)做出判定。如果判定为否定的(包括在接触检测处理程序的当前执行之前与触摸板12A无持续接触的情况)，则程序进行至步骤106。在步骤106，对接触检测处理程序的当前执行是否已检测到新的接触而做出判定。如果判定为肯定的，程序进行至步骤108。同时，如果判定为否定的，程序进行至步骤110。在此，“新的接触”被检测到的状态(步骤106所做出判定为肯定的情况)意味着其中接触点的迁移速度高于预定迁移速度的状态。例如，如果物体首次与接触点接触，则认为接触点的迁移速度高于预定迁移速度。相反的，“新的接触”未被检测到的状态(步骤106所做出判定为否定的情况)意味着接触点的迁移速度等于或者低于预定迁移速度的状态。比如，如果与触摸板12A持续接触，则认为与接触点的迁移速度等于或者低于预定迁移速度。
在步骤108，基于上述步骤100的处理中所检测到的接触，将作为唯一识别信息的一个示例的指针标识符(ID)施加给在触摸板12A上所绘制的轨迹。此后，程序进行至步骤110。例如，在此情况下，将一个指针ID施加给通过上述步骤100的处理首先检测到的接触而识别出的轨迹。如果存在各自基于上述步骤100的处理首次检测到的接触而被识别出的多条条轨迹，则每一条轨迹都被施加以一个对其唯一设定的指针标识符。即使多个物体同时触及触摸板12A上的多个位置，也可以通过各自的指针ID识别出基于各自接触的轨迹。在步骤110，在上述步骤102的处理中获取的坐标信息按时间顺序与施加给各轨迹的指针ID相关联地被存入存储器20中的存储区域α中。例如，坐标信息和指明坐标信息的获取时间的时间信息被以指针ID为单位存入存储区域α中，其中坐标信息和时间信息彼此关联。在接下来的步骤112，针对各指针ID获取当前存储于存储区域α中的坐标信息。接着，从针对各指针ID所获取的坐标信息针对各指针ID导出代表轨迹特征的特征信息，所导出的特征信息被针对各指针ID按时间顺序而存入存储区域α中。特征信息包括匕如，代表当前轨迹幅度的幅度信息、代表当前轨迹幅度变化程度的程度信息、以及基于用于绘制当前轨迹的接触的持时间而导出的基于持续时间的信息。比如，幅度信息包括轨迹的面积，其中该轨迹的构成要素对应于当前触摸板12A所包括的各接触点，幅度信息还包括轨迹的长度(比如，从此处的二维坐标值得到的各接触点之间的移动距离)。程度信息包括轨迹的面积方差，其中该轨迹的构成要素对应于当前触摸板12A所包括的各接触点，以及程度信息还包括轨迹的长度方差。基于持续时间的信息包括轨迹(一个笔划)中的接触点数目，其中该轨迹的构成要素对应于当前触摸板12A所包括的各接触点。作为一个示例，本示例实施例采用轨迹的面积作为幅度信息，采用轨迹的面积方差和轨迹的长度方差作为程度信息，以及采用轨迹中的接触点数目作为基于持续时间的信息。在此，对于轨迹中的接触点数目，每隔20ms将与一个点的接触计为I次接触。此外，发明人已证明手写笔16的接触(正确接触)中的轨迹的面积方差和轨迹的长度方差大于除了手写笔16之外的其它物体(t匕如手指或手)的误接触。这被认为是因为正确接触的移动距离大于误接触的移动距离。另外，在上述步骤112，本示例实施例根据利用指针ID所识别的轨迹中的接触点数目对该指针ID施加权值。具体地，轨迹中接触点的数目越多，施加给指针ID的权值就越大。此过程基于已证实的下列事实:轨迹中接触点的数目越多，用于导出特征信息的坐标信息项的数目就越多，从而判定的精度就越高。每次更新轨迹中的接触点数目时，就对权值进行更新。本示例实施例中通过使用例如图14所示的表来施加权值。根据图14所示的表格，当轨迹中的接触点数目处于从I至39的范围时，采用数值1.0作为权值。当轨迹中的接触点数目处于40至79的范围时，采用数值1.2作为权值。当轨迹中的接触点数目处于80至119的范围时，采用数值1.4作为权值。当轨迹中的接触点数目等于或大于120时，采用数值1.6作为权值。施加权值的方法并不只限于使用表格的方法。除了此方法，还可以采用使用例如其解对应于权值的运算方程式的方法。在执行上述步骤112的处理之后，程序进行至步骤114以执行误接触判定处理程序。图5示出了误接触判定处理程序的处理流程的一个示例。如图中所示，在步骤114A，从存储器20获取预先登记的误接触特征信息。本示例实施例采用预先登记的信息作为误接触特征信息，其中预先登记的信息代表着基于物体与触摸板12A误接触的轨迹的特征。具体地，如图6至图8所示的第一误接触区域信息至第三误接触区域信息为误接触特征信息的示例。图6所示的示例示出了代表误接触区域的信息(第一误接触区域信息)，代表正确接触区域的信息(第一正确接触区域信息)，和代表还未被判定为误接触区域或正确接触区域且有待于进一步判定的区域的信息(第一未判定区域信息)，各区域由表明代表误接触的轨迹的长度方差范围与代表正确接触的轨迹的长度方差之间范围之间边界的阈值(长度方差阈值)和表明代表误接触的轨迹的面积(接触面积)范围与代表正确接触的轨迹的面积(接触面积)范围之间的边界值的阈值共同限定。此外，图7所示的示例示出了代表误接触区域的信息(第二误接触区域信息)和代表还未被判定为误接触区域或正确接触区域且有待于进一步判定的区域的信息(第二未判定区域信息)，各区域由表明代表误接触的轨迹的面积方差范围与代表正确接触的轨迹的面积方差范围之间的边界的阈值(面积方差阈值)和长度方差阈值共同限定。此外，图8所示的示例示出了代表误接触区域的信息(第三误接触区域信息)和代表正确接触区域的信息(第二正确接触区域信息)，各区域由表明代表误接触的轨迹中接触点数目的范围与代表正确接触的轨迹中接触点数目的范围之间的边界的阈值(数目阈值)和长度方差阈值共同限定。在随后的步骤114B中，待进行判定处理的轨迹的指针ID (当前指针ID)从施加给各轨迹的指针ID中获取，各轨迹的构成要素对应于物体与触摸板12A的当前接触点。此后，程序进行至步骤114C。在步骤114C中，在上述步骤114B过程中获取的当前指针ID所对应的轨迹中，获取未进行该处理的接触点的特征信息。接着，将获取的特征信息与在上述步骤114A的处理中获取的误接触特征信息进行比较。在步骤114C，将施加给作为特征信息的轨迹中的接触点数目的权值与预定权值(此处为1.4)进行进一步的比较。在接下来的步骤114D中，作为上述步骤114C的处理中将施加给作为特征信息的轨迹中的接触点数目的权值与预定权值进行比较的结果，对施加给作为特征信息的轨迹中的接触点数目的权值是否小于预定权值做出判定。在此，如果判定结果为否定的，程序进行至步骤114F。如果判定结果为肯定的，则对特征信息是否对应于误接触特征信息做出判定来作为特征信息与上述步骤114C的处理中的误接触特征信息进行比较的结果。在此，如果判定结果为肯定的，程序进行至步骤114E。同时，如果判定结果为否定的，程序进行至步骤114F。在本示例实施例中，步骤114D的处理包括关于权值比较结果做出判定的处理。但是，此过程可被省略。这样，可减少用于误接触判定处理所用的总处理时间。然而，为了高精度判定误接触，包括关于权值比较结果做出判定的处理是可取的，如本示例实施例的步骤114D所示。因此，在当前处理中，描述了执行包括关于权值判定的处理的示例。在步骤114D中，根据包括误接触信息的决策树判定特征信息是否对应于误接触特征信息。比如，根据采用如图6所示的轨迹的长度方差和轨迹的面积的决策树、采用如图7所示的轨迹的面积方差和轨迹的长度方差的决策树、以及采用如图8所示的轨迹的接触点数目和轨迹的长度方差的决策树来判定特征信息是否对应于误接触特征信息。具体地，作为一个示例，对作为在上述步骤114C的处理中获取的特征信息的轨迹的长度方差和轨迹的面积是否包括于图6所示由第一误接触区域信息表示的区域中进行判定。如果轨迹的长度方差和轨迹的面积包括在所述区域中，则判定为此特征信息对应于误接触特征信息(步骤114D中的肯定判定)。如果判定为此特征信息不对应于误接触特征信息，则对作为特征信息的轨迹的长度方差和轨迹的面积是否包括在图6中由第一正确接触区域信息表示的区域中进行判定。如果轨迹的长度方差和轨迹的面积包括在此区域中，则判定为此特征信息不对应于误接触特征信息(步骤114D中的否定判定)。在此，如果特征信息既不包括在由第一误接触区域信息所代表的区域中也不包括在第一正确接触区域信息所代表的区域中，则判定特征信息包括在由第一未判定区域信息代表的区域中。之后，作为一个示例，对作为在上述步骤114C的处理中获取的特征信息的轨迹的面积方差和轨迹的长度方差是否包括在图7所示的由第二误接触区域信息代表的区域中进行判定。如果轨迹的面积方差和轨迹的长度方差都包括在此区域中，则判定为此特征信息对应于误接触特征信息(步骤114D中的肯定判定)。在此，如果特征信息未包括在由第二误接触区域信息代表的区域中，则判定该特征信息包括在由第二未判定区域信息代表的区域中。随后，作为一个示例，对作为在上述步骤114C的处理中获取的特征信息的轨迹中的接触点数目和轨迹的长度方差是否包括在图8所示的由第三误接触区域信息代表的区域中进行判定。如果轨迹中的接触点数目和轨迹的长度方差包括在此区域中，则判定此特征信息对应于误接触特征信息(步骤114D中的肯定判定)。如果轨迹中的接触点数目和轨迹的长度方差不包括在此区域中(如果轨迹中的接触点数目和轨迹的长度方差包括在由第二正确接触区域信息代表的区域中)，则判定此特征信息不对应于误接触特征信息(步骤114D中的否定判定)。图9示出了基于根据本示例实施例的液晶手写板10所采用的决策树来判定轨迹单元是否基于误接触的方法的示例。图9中，“size”表示轨迹的面积，该轨迹的构成要素对应于当前包括在触摸板12A中的接触点，“points_stroke”表示轨迹中的接触点数目，该轨迹的构成要素对应于当前包括在触摸板12A中的接触点。此外,“variance_length_trajectory”表示轨迹的长度方差，该轨迹的构成要素对应于当前包括在触摸板12A中的接触点，“variance_size”表示轨迹的面积方差,该轨迹的构成要素对应于当前包括在触摸板12A中的接触点。另外，图9中，“pen”表示手写笔16的接触(正确接触)，“hand”表示除了手写笔16之外的例如手或手指等的接触(误接触)。在根据本示例实施例的液晶手写板10中，如果根据决策树来判定轨迹是否基于误接触，则最终在决策树的分支末端得到结果“pen”或者“hand”，例如如图9所示。在图9所示示例中，首先判定轨迹的面积是否等于或者小于面积阈值SI，接着通过使用各阈值以分支方式进行判定。具体地，如果轨迹的面积被判定为等于或者小于面积阈值SI，则对轨迹的长度方差是否等于或者小于长度方差阈值Tl进行判定。如果轨迹的长度方差被判定为等于或者小于长度方差阈值Tl，则对轨迹中的接触点数目是否等于或者小于数目阈值Pl进行判定。此处，如果轨迹中的接触点数目被判定为等于或者小于数目阈值P1，则判定此轨迹基于正确接触。如果轨迹中的接触点数目被判定为并非等于或者小于数目阈值P1，则对轨迹的长度方差是否等于或者小于长度方差阈值T3进行判定。此处，如果轨迹的长度方差等于或者小于长度方差阈值T3，则判定此轨迹基于误接触。如果轨迹的长度方差并非等于或者小于长度方差阈值T3，则对轨迹中接触点数目是否等于或者小于数目阈值P2进行判定。此处，如果轨迹中的接触点数目等于或者小于数目阈值P2，则判定此轨迹基于正确接触。如果轨迹中的接触点数目并非等于或者小于数目阈值P2，则判定此轨迹基于误接触。同时，如果轨迹的面积被判定为等于或者小于面积阈值SI而且轨迹的长度方差并非等于或者小于长度方差阈值Tl，则对轨迹的面积方差是否等于或者小于面积方差阈值VSl进行判定。此处，如果轨迹的面积方差等于或者小于面积方差阈值VS1，则判定此轨迹基于正确接触。如果轨迹的面积方差并非等于或者小于面积方差阈值VS1，则对轨迹的长度方差是否等于或者小于长度方差阈值T4进行判定。此处，如果轨迹的长度方差等于或者小于长度方差阈值T4，则判定此轨迹基于误接触。如果轨迹的长度方差并非等于或者小于长度方差阈值T4，则判定此轨迹基于正确接触。同时，如果轨迹的面积被判定为并非等于或者小于面积阈值SI，则对轨迹的长度方差是否等于或者小于长度方差阈值T2进行判定。如果轨迹的长度方差被判定为等于或者小于长度方差阈值T2，则对轨迹中的接触点数目是否等于或者小于数目阈值P3进行判定。如果轨迹中的接触点数目等于或者小于数目阈值P3，则对轨迹的面积是否等于或者小于面积阈值S2进行判定。如果轨迹的面积等于或者小于面积阈值S2，则对轨迹中的接触点数目是否等于或者小于数目阈值P4进行判定。此处，如果轨迹中的接触点数目等于或者小于数目阈值P4，则判定此轨迹基于正确接触。如果轨迹中的接触点数目并非等于或者小于数目阈值P4，则判定此轨迹基于误接触。如果轨迹的面积并非等于或者小于面积阈值S2，则判定此轨迹基于误接触。如果轨迹中的接触点数目并非等于或者小于数目阈值P3，则判定此轨迹基于误接触。如果轨迹的长度方差被判定为并非等于或者小于长度方差阈值T2，则对轨迹的面积是否等于或者小于面积阈值S3进行判定。如果轨迹的面积等于或者小于面积阈值S3，则判定此轨迹基于正确接触。如果轨迹的面积并非等于或者小于面积阈值S3，则判定此轨迹基于误接触。
在步骤114E，以当前指针ID所识别的轨迹中已进行了判定的接触点为单位设置标记。此后，程序进行至步骤114F。在本示例实施例中，以接触点为单位获取时间信息和坐标信息。因此，步骤114E的处理还包括一配置实例，其将所述标记设置为与对应于已进行了判定的接触点的时间信息和坐标信息--对应地相关联。在步骤114F，对是否已对组成以在上述步骤114B的处理中获取的当前指针ID所识别的轨迹的所有接触点都进行了特征信息与误接触特征信息之间的比较做出判定。如果判定为否定的，则程序返回至上述步骤114C。此时，如果判定为肯定的，则程序进行至步骤114G。在步骤114G，对是否存在与基于当前检测到的接触的轨迹对应的任何其他指针ID进行判定。如果判定为肯定的，则程序返回至上述步骤114B。同时，如果判定为否定的，则程序进行至步骤114H。步骤114H，获取当前指针ID。此后，程序进行至步骤1141，对当前已设置的标记的数目是否大于没设置标记的接触点数目(当前已设置标记的数目是否大于组成进行了判定的轨迹的接触点的数目的一半)进行判定。如果判定为肯定的，则程序进行至步骤114J，且对用于识别此轨迹的指针ID施加以误接触信息以表明此轨迹为基于误接触而绘制，其中在该轨迹中，标记数目已被判定为大于所有接触点数目的一半。此后，程序进行至步骤114K。同时，如果步骤1141的判定为否定的，则程序进行至步骤114L，对当前获取的当前指针ID是否被施加以误接触信息进行判定。如果判定为否定的，则程序进行至步骤114K。同时，如果判定为肯定的，则程序进行至步骤114M，从当前指针ID中删除此误接触信息。此后，程序进行至步骤114K。在步骤114K，对是否存在与基于当前检测到的接触的轨迹对应任何其他指针ID进行判定。如果判定为肯定的，则程序返回至上述步骤114H。同时，如果判定为否定的，则此误接触判定处理程序结束。同时，如果在图3所示的步骤100或步骤104中的判定为否定的，则程序进行至步骤116。在步骤116，对当前存储于存储区域α中的各指针ID中是否包括被施加以误接触信息的指针ID进行判定，从而识别代表误接触的轨迹。如果当前步骤116中的判定为否定的，则此接触检测处理程序结束。同时，如果判定为肯定的，则程序进行至步骤118。在步骤118，获取被施加了误接触信息的指针ID，并对LCD 12Β的屏幕上的对应于利用所获取指针ID所识别的轨迹的位置的图像(比如，对应于基于误接触而绘制在触摸板12Α上的轨迹的轨迹，或者表明其中包括在已显示在触摸板12Α上的屏幕(例如菜单屏幕)中的一个按钮由于误接触所致的无意按压而被接通的状态的图像)进行预定处理。之后，此接触检测处理程序结束。所述预定处理包括:比如，删除基于误接触而显示于IXD 12Β的屏幕上的图像的处理，如图10所示，以及将基于误接触而显示于IXD 12Β的屏幕上的图像的颜色改变为特定颜色(被预定为表明图像基于误接触而显示的颜色)的处理，如图11所示。此外，如果基于误接触而显示于IXD 12Β的屏幕上的图像是对应于在触摸板12Α上绘制的轨迹的轨迹，则所述预定处理包括改变轨迹的粗度或者线条类型的处理。在根据本示例实施例的液晶手写板10中，通过控制器22执行上述接触检测处理程序，可以容易且高精度地判定根据与触摸板12Α的接触所绘制轨迹是否基于误接触。此夕卜，坐标信息利用指针ID进行管理。因此，如果从储存区域α中删除基于误接触而绘制的轨迹的信息而在储存区域α中仅留下基于正确接触而绘制的轨迹的信息(比如，指针ID和坐标信息)，则处理器22将根据基于正确接触而绘制的轨迹的信息在IXD 12Β上显示该轨迹。因此，通过不显示基于误接触的不必要的轨迹(图像)，提高了可读性。此外，用户无需再考虑IXD 12Β上所显示的图像是基于误接触还是正确接触。此外，根据本示例实施例的液晶手写板10，即使存在多条轨迹，也可以容易且高精度的判定各轨迹是否基于误接触。比如，如果存在被分别施加了指针ID I和指针ID 2的轨迹，如图12所示，则每隔预定时间对各轨迹单独(并行地)判定轨迹是否基于误接触。之后，当对应于轨迹的接触被取消时，基于误接触的轨迹的识别将针对指针ID I和指针ID 2分别进行。在上述示例实施例中，已描述了当检测到非接触时(当与触摸板12Α的触摸被取消时)对轨迹是否基于误接触进行最终判定的配置示例。然而，该配置并非仅限于此，可每隔预定时间(20ms)做出轨迹是否基于误接触的最终判定，其中该预定时间对应于接触检测处理程序执行一次所用的执行时间。在此情况下，在每次执行误接触判定处理时执行上述步骤116和步骤118的处理，例如如图13所示。在此情况下，相比于前述实施例中描述的示例，可快速获得轨迹是否基于误接触的判定结论。由于误接触的快速判定，因此，此配置在比如用液晶手写板10签署其中不允许出现输入错误的重要签名时特别有效。图13所示的流程图与图3所示的流程图不同之处在于去除了步骤104，将步骤116和118移至步骤114之后的位置，而且当步骤100的判定为否定时，接触检测处理程序结束。此外，可提示用户指定是选用图3所示流程图的处理(接触检测处理)还是图13所示流程图的处理。此配置提高了方便性。此外，在上述实施例中，已描述了将预定时间设置为20ms的示例。然而，预定时间并非仅限于此。预定时间可为任何其它的时间，还可由用户指定。然而，如果采用5ms作为预定时间，则相比于采用20ms作为预定时间的情况，每隔预定时间(5ms)执行上述接触检测处理程序是困难的。因此当检测到非接触(non-contact)时，可根据到那时所累积的数据对轨迹是否基于误接触做出最终判定。如果接触检测处理程序因此每5ms执行一次，则最好在前面程序执行时积累(准备)用于后续程序的数据(比如，坐标信息和特征信息)以防止后续程序(比如，后续的接触检测处理)的延迟。此外，在上述示例实施例中，已描述了采用轨迹的面积作为幅度信息、采用轨迹的面积方差和轨迹的长度方差作为程度信息、采用轨迹中的接触点数目作为基于持续时间的信息的配置示例。然而，轨迹的面积可由轨迹的长度代替，轨迹的面积方差和轨迹的长度方差可分别由轨迹的面积标准偏差和轨迹的长度标准偏差代替。此外，轨迹中的接触点数目可由接触的持续时间代替。另外，轨迹的面积和轨迹的长度可分别由面积的最大值、最小值或者平均值和长度的最大值、最小值或者平均值代替。此外，在上述示例实施例中，已描述了使用决策树来判定轨迹是否基于误接触的配置示例。然而，可采用模版匹配法、K-最近邻分类法、神经网络、支持向量机、隐马尔可夫模型、Boosting方法等代替决策树进行判定。并且在采用这些方法其中之一的情况下，被收集用于学习的特征信息和判定结果作为学习数据被反馈并被再次使用。此外，在上述示例实施例中，已描述了对基于误接触而显示于IXD 12B的屏幕上的图像强制执行预定处理(删除或改变颜色)的配置示例。然而，可以采用允许用户预先对液晶手写板10提供如下指令的配置:是否对基于误接触而显示的图像执行预定处理，并且如果已预先提供了不执行预定处理的指令，将不对基于误接触而显示的图像执行预定处理；如果已预先提供了执行预定处理的指令，将对基于误接触而显示的图像执行预定处理。这些指令可通过触摸板显示器12或者依照单独对液晶手写板10提供的指令开关的“0N”和“OFF”来提供。此外，这些指令还可通过远程控制而利用有线或无线通讯提供给液晶手写板10。此外，在上述示例实施例中，已描述了将手写笔16的接触作为正确接触进行处理的配置示例。然而，这仅是为了方便起见而采用的示例。判定一接触是否为误接触归根结底取决于从与触摸板12A接触而获得的特征信息是否对应于预先已登记的数据(比如，误接触特征信息)的判定。因此，无需多言，判定结果并非依赖于与触摸板12A接触的物体(指令物体)的类型。此外，在上述示例实施例中，已描述了其中针对利用指针ID所识别的各轨迹判定该轨迹是否基于误接触的配置示例。然而，如果在预定时间内依照上述多数规则判定一条轨迹是基于误接触，则判定在此时间段内在触摸板12A上绘制的各轨迹都是基于误接触的配置也可被采用。此外，上述示例实施例中根据特征信息是否包括于第一至第三误接触区域之一中的判定来判定轨迹是否基于误接触。然而，并不限于此配置。还可根据特征信息是否对应于预先已作为误接触特征信息而被登记的信息的判定来判定轨迹是否基于误接触，其中所述误接触特征信息代表基于误接触的轨迹的特征。此外，可以登记多个误接触特征信息项。在此情况下，可采用如下配置:如果特征信息对应于误接触特征信息项之一，则判定此轨迹基于误接触。此外，在上述示例实施例中，已描述了通过使用多数规则来判定轨迹是否基于误接触的配置示例。然而，并不限于此配置。轨迹是否基于误接触可根据判定为误接触的接触点数目是否等于或者大于预定数目的判定进行判定。此外，在上述示例实施例中，已描述了直接判定与触摸板12A的误接触以根据判定结果区别正确接触和误接触的配置示例。然而，相反地，也可直接判定与触摸板12A的正确接触以根据判定结果区别正确接触和误接触。在此情况下，判定的做出基于比如特征信息是否包括在由图8所示的第二正确接触区域信息代表的区域中。如果特征信息被判定为包括在此区域中，则设置标记。之后，对已标记的数目是否大于所有接触点数目的一半进行判定。如果已标记的数目被判定为大于所有接触点数目的一半，则对识别此轨迹(该轨迹中的标记的数目被判定为大于所有接触点数目的一半)的指针ID施加以表明此轨迹基于正确接触绘制的正确接触信息，从而识别出基于正确接触的轨迹以及识别出作为基于误接触的轨迹的其它轨迹。无需多说，轨迹是否基于正确接触的最终结论可每隔预定时间(比如，20ms)得到，并且在这种情况下无需判定标记的数目是否大于所有接触点的数目的一半。通过这种特征信息是否对应于预先已登记的代表着基于与触摸板12A的特定接触(判定为与触摸板12A的正确接触的正确接触或者判定为与触摸板12A误确接触的误接触)而绘制的轨迹的特征的特定接触特征信息(正确接触特征信息或误接触特征信息)的判定，可以高精度地判定正确接触与误接触。前文已经出于例示和说明的目的提供了对本发明示例性实施例的说明。该描述并非排他性的或者将本发明限制为所公开的精确形式。显然，各种修改和变型对于本领域技术人员来说是显而易见的。这些实施例的选择和描述是为了对本发明的原理及其实际应用进行最佳的阐述，以使得本领域的其他技术人员能够理解本发明的各种实施例以及适用于具体应用场合的各种变型。本发明的范围应当由所附权利要求及其等价物限定。
权利要求
1.一种接触检测装置，包括: 多个检测元件，其在预定接触面上的二维构造中彼此相关，并各自检测物体与所述接触面的接触； 生成单元，其基于所述多个检测元件的检测结果生成特征信息，所述特征信息代表基于物体与所述接触面的接触所绘制轨迹的特征；和 判定单元，其判定所述生成单元所生成的特征信息是否对应于预先登记的特定接触特征信息，所述特定接触特征信息代表基于物体与所述接触面的特定接触所绘制的轨迹的特征。
2.根据权利要求1所述的接触检测装置，其中所述特定接触对应于被预定为与所述接触面正确接触的正确接触或者被预定为与所述接触面误接触的误接触。
3.根据权利要求1或2所述的接触检测装置，还包括: 关联单元，其关联用以识别所述轨迹的识别信息和所述轨迹， 其中，对于所述识别信息所识别的各轨迹，所述判定单元判定所述生成单元所生成的特征信息是否对应于所述特定接触特征信息。
4.根据权利要求1或2所述的接触检测装置，还包括: 识别单元，其基于所述判定单元所做出的判定结果识别代表与所述接触面的特定接触的轨迹。
5.根据权利要求3所述的接触检测装置，还包括: 识别单元，其基于所述判定单 元所做出的判定结果识别代表与所述接触面的特定接触的轨迹。
6.根据权利要求4所述的接触检测装置，其中，根据所述判定单元在预定期间内做出的所述生成单元所生成的特征信息对应于所述特定接触特征信息的判定次数，所述识别单元识别出代表与所述接触面的特定接触的轨迹。
7.根据权利要求5所述的接触检测装置，其中，根据所述判定单元在预定期间内做出的所述生成单元所生成的特征信息对应于所述特定接触特征信息的判定次数，所述识别单元识别出代表与所述接触面的特定接触的轨迹。
8.根据权利要求6所述的接触检测装置，其中，如果所述判定单元在所述预定期间内做出的所述生成单元所生成的特征信息对应于所述特定接触特征信息的判定次数大于所述判定单元在所述预定期间内做出的所述生成单元所生成的特征信息不对应于所述特定接触特征信息的判定次数，则所述识别单元将在所述预定期间内在所述接触面上所绘制的轨迹识别为代表所述特定接触的轨迹。
9.根据权利要求7所述的接触检测装置，其中，如果所述判定单元在所述预定期间内做出的所述生成单元所生成的特征信息对应于所述特定接触特征信息的判定次数大于所述判定单元在所述预定期间内做出的所述生成单元所生成的特征信息不对应于所述特定接触特征信息的判定次数，则所述识别单元将在所述预定期间内在所述接触面上所绘制的轨迹识别为代表所述特定接触的轨迹。
10.根据权利要求6所述的接触检测装置，其中，所述预定期间对应于自物体与所述接触面接触至所述物体与所述接触面分开之间的时间段。
11.根据权利要求7所述的接触检测装置，其中，所述预定期间对应于自物体与所述接触面接触至所述物体与所述接触面分开之间的时间段。
12.根据权利要求8所述的接触检测装置，其中，所述预定期间对应于自物体与所述接触面接触至所述物体与所述接触面分开之间的时间段。
13.根据权利要求9所述的接触检测装置，其中，所述预定期间对应于自物体与所述接触面接触至所述物体与所述接触面分开之间的时间段。
14.根据权利要求1或2所述的接触检测装置，其中，所述特征信息对应于表示轨迹幅度的幅度信息、表示轨迹幅度变化程度的程度信息、以及根据物体与所述接触面持续接触的时间而获得的基于持续时间的信息中的至少一项。
15.根据权利要求1或2所述的接触检测装置，其中，所述幅度信息对应于代表轨迹的面积和轨迹的长度中的至少一项的信息， 其中，所述程度信息对应于代表所述轨迹的面积方差或标准偏差的轨迹面积统计信息和代表所述轨迹的长度方差或标准偏差的轨迹长度统计信息中的至少一项，而且 其中，所述基于持续时间的信息对应于代表所述轨迹中的接触点数目的轨迹数目信肩、O
16.根据权利要求1或2所述的接触检测装置，其中，所述判定单元利用被配置为包括所述特定接触特征信息的决策树来判定所述生成单元所生成的特征信息是否对应于所述特定接触特征信息。
17.根据权利要求1或2所述的接触检测装置，还包括: 施加单元，其根 据接触时间将权值施加给所述轨迹， 其中，所述判定单元进一步判定所述施加单元所施加的权值是否等于或者大于预定权值。
18.一种接触检测装置，包括: 多个检测元件，其在预定接触面上的二维构造中彼此相关，并各自检测物体与所述接触面的接触； 生成单元，其根据所述多个检测单元的检测结果生成特征信息，所述特征信息代表基于物体与所述接触面的接触所绘制的轨迹的特征；和 判定单元，其判定所述生成单元所生成的特征信息是否包括在预先登记的特定接触特征区域内，所述特定接触特征区域代表基于物体与所述接触面的特定接触所绘制的轨迹的特征。
19.一种记录显示装置,包括: 根据权利要求1或2所述的接触检测装置；和 显示器，其具有叠加于其屏幕上所述接触检测装置，且所述显示器根据所述接触检测装置的检测结果在屏幕上显示图像。
20.根据权利要求19所述的记录显示装置，还包括: 删除单元，其从屏幕上删除与根据所述判定单元的判定结果而识别出的轨迹的对应的位置上显示的图像。
21.一种接触检测方法，包括: 控制接触检测设备来分别检测物体与预定接触面的接触，所述接触检测设备包括在所述接触面上的二维构造中彼此相关的多个检测元件；根据检测结果生成特征信息，所述特征信息代表基于物体与所述接触面的接触所绘制的轨迹的特征；以及 判定所生成的特征信息是否对应于预先登记的特定接触特征信息，所述特定接触特征信息代表基于物体与所述接触面的特定接触所绘制的轨迹的特征。
22.一种接触检测方法，包括: 控制接触检测设备来分别检测物体与预定接触面的接触，所述接触检测设备包括在所述接触面上的二维构造中彼此相关的多个检测元件； 根据检测结果生成特征信息，所述特征信息代表基于物体与所述接触面的接触所绘制的轨迹的特征；以及 判定所生成的特征信息是否包括在预先登记的特定接触特征区域内，所述特定接触特征区域代表基于物体与所述接 触面的特定接触所绘制的轨迹的特征。
全文摘要
本发明公开了接触检测装置、记录显示装置和接触检测方法。该接触检测装置包括多个检测元件、生成单元和判定单元。多个检测元件在预定接触面上的二维构造中彼此相关，并各自检测物体与接触面的接触。生成单元根据多个检测单元的检测结果生成特征信息，该特征信息代表基于物体与接触面的接触所绘制的轨迹的特征。判定单元判定生成单元所生成的特征信息是否对应于预先登记的特定接触特征信息，该特定接触特征信息代表基于物体与接触面的特定接触所绘制的轨迹的特征。
文档编号G06F3/041GK103092392SQ201210188880
公开日2013年5月8日 申请日期2012年6月8日 优先权日2011年10月12日
发明者一星彰, 石井努, 竹内孝行, 佐佐木茂彦, 佐藤政宽, 友田恭太郎, 内藤孝雄, 三井实 申请人:富士施乐株式会社