缺陷测试信息处理方法、装置、电子设备及存储介质与流程

本技术涉及测试，具体而言，涉及一种缺陷测试信息处理方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、在软件项目的开发和实施过程中，不可避免的会出现大量的缺陷(bug)，需要测试人员进行测试回归，为了对软件项目的整体质量进行管控，项目经理和相关负责人需要对一定周期内不同软件项目的不同问题等级以及项目测试人员的工作量进行统计和展示。

2、现有技术中，项目测试的工作量的统计是根据缺陷状态来统计创建该缺陷的创建人在一定周期内的工作量。

3、但是，如果一个缺陷的创建、回归测试并关闭属于同一个创建人时，该创建人的工作量统计是正常的；如果一个缺陷有多个人参与回归测试，最终才会关闭时，也就是说一个缺陷的回归测试人员与创建人不同时，现有技术则仅仅是能够根据缺陷的状态来统计缺陷的创建人的工作量，并不能统计到针对该缺陷只做回归测试的测试人员的工作量，因此，现有技术不能对该缺陷的相关测试技术人员的工作量进行准确的统计。

技术实现思路

1、本技术的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种缺陷数据遍历的方法、装置、电子设备及存储介质，提高测试人员工作量统计的准确性。

2、为实现上述目的，本技术实施例采用的技术方案如下：

3、第一方面，本技术实施例提供了一种缺陷数据遍历方法，所述方法包括：

4、获取用户输入的开始日期、结束日期、至少一个目标测试人员的标识以及缺陷文件，所述缺陷文件中包括至少一条缺陷数据，所述缺陷数据包括缺陷创建时间、缺陷创建人员的标识、回归测试人员的标识、回归测试时间、缺陷严重级别以及缺陷评分；

5、根据所述开始日期、所述结束日期以及所述目标测试人员的标识，从所述缺陷文件中确定由所述目标测试人员创建的第一缺陷数据集合以及由所述目标测试人员执行回归测试的第二缺陷数据集合；

6、根据所述第一缺陷数据集合，确定所述目标测试人员创建缺陷的工作量；

7、根据所述第二缺陷数据集合，确定所述目标测试人员回归测试的工作量。

8、可选的，所述根据所述开始日期、所述结束日期以及所述目标测试人员的标识，从所述缺陷文件中确定由所述目标测试人员创建的第一缺陷数据集合以及由所述目标测试人员执行回归测试的第二缺陷数据集合，包括：

9、根据所述开始日期、所述结束日期、所述目标测试人员的标识以及所述缺陷文件中各条缺陷数据的缺陷创建时间和缺陷创建人员的标识，从所述缺陷文件中确定所述第一缺陷数据集合；

10、根据所述开始日期、所述结束日期、所述目标测试人员的标识以及所述缺陷文件中各条缺陷数据的回归测试人员的标识以及回归测试时间，从所述缺陷文件中确定所述第二缺陷数据集合。

11、可选的，所述根据所述开始日期、所述结束日期、所述目标测试人员的标识以及所述缺陷文件中各条缺陷数据的缺陷创建时间和缺陷创建人员的标识，从所述缺陷文件中确定所述第一缺陷数据集合，包括：

12、遍历所述缺陷文件中的缺陷数据；

13、针对遍历到的当前缺陷数据，判断所述缺陷创建人员的标识是否与所述目标测试人员的标识一致，若是，则判断所述缺陷创建时间是否处于所述开始日期和所述结束日期之间，若是，则将所述当前缺陷数据作为所述第一缺陷数据集合中的一条缺陷数据。

14、可选的，所述根据所述开始日期、所述结束日期、所述目标测试人员的标识以及所述缺陷文件中各条缺陷数据的回归测试人员的标识以及回归测试时间，从所述缺陷文件中确定所述第二缺陷数据集合，包括：

15、遍历所述缺陷文件中的缺陷数据；

16、针对遍历到的当前缺陷数据，判断所述回归测试人员的标识是否与所述目标测试人员的标识一致，若是，则判断所述回归测试时间是否处于所述开始日期和所述结束日期之间，若是，则将所述当前缺陷数据作为所述第二缺陷数据集合中的一条缺陷数据，并根据所述缺陷创建人员的标识确定所述目标测试人员是否为回归他人缺陷。

17、可选的，所述根据所述缺陷创建人员的标识确定所述目标测试人员是否为回归他人缺陷，包括：

18、若所述缺陷创建人员的标识与所述回归测试人员的标识一致，则确定所述目标测试人员为回归本人缺陷，否则，确定所述目标测试人员回归他人缺陷。

19、可选的，所述根据所述第一缺陷数据集合，确定所述目标测试人员的创建缺陷的工作量，包括：

20、根据所述第一缺陷数据集合中缺陷数据的数量以及各条缺陷数据的缺陷严重级别，确定所述目标测试人员创建的每种缺陷级别的缺陷的数量；

21、根据所述第一缺陷数据集合中缺陷数据的数量以及各条缺陷数据的缺陷评分，确定所述目标测试人员在所述开始日期和所述结束日期之间所创建的缺陷的平均分。

22、可选的，所述根据所述第二缺陷数据集合，确定所述目标测试人员的回归测试的工作量，包括：

23、根据所述第二缺陷数据集合中缺陷数据的数量以及各条缺陷数据的缺陷严重级别，确定所述目标测试人员回归的每种缺陷级别的缺陷的数量；

24、根据所述目标测试人员回归的每种缺陷级别的缺陷的数量，确定所述目标测试人员在所述开始日期和所述结束日期之间所回归的缺陷的总数量。

25、第二方面，本技术实施例还提供了一种缺陷数据遍历的装置，所述装置包括：

26、获取模块，用于获取用户输入的开始日期、结束日期、至少一个目标测试人员的标识以及缺陷文件，所述缺陷文件中包括至少一条缺陷数据，所述缺陷数据包括缺陷创建时间、缺陷创建人员的标识、回归测试人员的标识、回归测试时间、缺陷严重级别以及缺陷评分；

27、确定模块，用于根据所述开始日期、所述结束日期以及所述目标测试人员的标识，从所述缺陷文件中确定由所述目标测试人员创建的第一缺陷数据集合以及由所述目标测试人员执行回归测试的第二缺陷数据集合；

28、确定模块，用于根据所述第一缺陷数据集合，确定所述目标测试人员创建缺陷的工作量；

29、确定模块，用于根据所述第二缺陷数据集合，确定所述目标测试人员回归测试的工作量。

30、可选的，所述确定模块具体用于：

31、根据所述开始日期、所述结束日期、所述目标测试人员的标识以及所述缺陷文件中各条缺陷数据的缺陷创建时间和缺陷创建人员的标识，从所述缺陷文件中确定所述第一缺陷数据集合；

32、根据所述开始日期、所述结束日期、所述目标测试人员的标识以及所述缺陷文件中各条缺陷数据的回归测试人员的标识以及回归测试时间，从所述缺陷文件中确定所述第二缺陷数据集合。

33、可选的，所述确定模块具体用于：

34、遍历所述缺陷文件中的缺陷数据；

35、针对遍历到的当前缺陷数据，判断所述缺陷创建人员的标识是否与所述目标测试人员的标识一致，若是，则判断所述缺陷创建时间是否处于所述开始日期和所述结束日期之间，若是，则将所述当前缺陷数据作为所述第一缺陷数据集合中的一条缺陷数据。

36、可选的，所述确定模块具体用于：

37、遍历所述缺陷文件中的缺陷数据；

38、针对遍历到的当前缺陷数据，判断所述回归测试人员的标识是否与所述目标测试人员的标识一致，若是，则判断所述回归测试时间是否处于所述开始日期和所述结束日期之间，若是，则将所述当前缺陷数据作为所述第二缺陷数据集合中的一条缺陷数据，并根据所述缺陷创建人员的标识确定所述目标测试人员是否为回归他人缺陷。

39、可选的，所述确定模块具体用于：

40、若所述缺陷创建人员的标识与所述回归测试人员的标识一致，则确定所述目标测试人员为回归本人缺陷，否则，确定所述目标测试人员回归他人缺陷。

41、可选的，所述确定模块具体用于：

42、根据所述第一缺陷数据集合中缺陷数据的数量以及各条缺陷数据的缺陷严重级别，确定所述目标测试人员创建的每种缺陷级别的缺陷的数量；

43、根据所述第一缺陷数据集合中缺陷数据的数量以及各条缺陷数据的缺陷评分，确定所述目标测试人员在所述开始日期和所述结束日期之间所创建的缺陷的平均分。

44、可选的，所述确定模块具体用于：

45、根据所述第二缺陷数据集合中缺陷数据的数量以及各条缺陷数据的缺陷严重级别，确定所述目标测试人员回归的每种缺陷级别的缺陷的数量；

46、根据所述目标测试人员回归的每种缺陷级别的缺陷的数量，确定所述目标测试人员在所述开始日期和所述结束日期之间所回归的缺陷的总数量。

47、第三方面，本技术实施例还提供了一种电子设备，包括：处理器、存储介质和总线，所述存储介质存储有所述处理器可执行的程序指令，当应用程序运行时，所述处理器与所述存储介质之间通过总线通信，所述处理器执行所述程序指令，以执行上述第一方面所述的缺陷数据遍历方法的步骤。

48、第四方面，本技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被读取并执行上述第一方面所述的缺陷数据遍历的方法的步骤。

49、本技术的有益效果是：

50、本技术提供的一种缺陷数据遍历方法、装置、电子设备及存储介质，通过获取用户输入的开始日期、结束日期、至少一个目标测试人员的标识以及缺陷文件，并根据所述开始日期、所述结束日期以及所述目标测试人员的标识，从所述缺陷文件中确定由所述目标测试人员创建的第一缺陷数据集合以及由所述目标测试人员执行回归测试的第二缺陷数据集合，从而确定所述目标测试人员创建缺陷的工作量以及回归测试的工作量。通过目标测试人员的标识来统计目标测试人员的工作量，可以准确的统计到新建的缺陷以及回归测试的缺陷，从而准确的统计到目标测试人员的工作量，避免因为缺陷的创建人员和回归测试人员的不同，导致测试人员回归测试工作量的漏记。