1.一种缺陷测试信息处理方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的缺陷测试信息处理方法，其特征在于，所述根据所述开始时间、所述结束时间以及所述目标测试人员的标识，从所述缺陷文件中确定由所述目标测试人员创建的第一缺陷数据集合以及由所述目标测试人员执行回归测试的第二缺陷数据集合，包括：
3.根据权利要求2所述的缺陷测试信息处理方法，其特征在于，所述根据所述开始时间、所述结束时间、所述目标测试人员的标识以及所述缺陷文件中各条缺陷数据的缺陷创建时间和缺陷创建人员的标识，从所述缺陷文件中确定所述第一缺陷数据集合，包括：
4.根据权利要求2所述的缺陷测试信息处理方法，其特征在于，所述根据所述开始时间、所述结束时间、所述目标测试人员的标识以及所述缺陷文件中各条缺陷数据的回归测试人员的标识以及回归测试时间，从所述缺陷文件中确定所述第二缺陷数据集合，包括：
5.根据权利要求4所述的缺陷测试信息处理方法，其特征在于，根据所述缺陷创建人员的标识确定所述目标测试人员是否为回归他人缺陷，包括：
6.根据权利要求1-5任一项所述的缺陷测试信息处理方法，其特征在于，根据所述第一缺陷数据集合，确定所述目标测试人员的创建缺陷的工作量，包括：
7.根据权利要求1-5任一项所述的缺陷测试信息处理方法，其特征在于，根据所述第二缺陷数据集合，确定所述目标测试人员的回归测试的工作量，包括：
8.一种缺陷测试信息处理装置，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器存储有所述处理器可执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述权利要求1-7任一项所述的缺陷测试信息处理方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1-7任一项所述的缺陷测试信息处理方法的步骤。