此外，该实施例也能够应用于自电容方式。
[0169] 对W上进行总结，对触摸面板的驱动电极进行驱动的触摸面板驱动电路，进行与 液晶显示装置等显示装置的水平同步信号同步的分时驱动，除了上述显示装置的子像素的 源极线充电初始期间（导通的期间）W外进行触摸面板的驱动。
[0170] 图13表示与水平同步信号同步地驱动触摸面板的又一个例子。图13的（a)是触 摸面板驱动的时序图，图13的化）表示触摸面板驱动电路的一个例子。此外，该触摸面板 驱动电路的例子，与图12的化）相同，因此，为了使得容易明白稍微进行了变更，但是与使 用图15说明的触摸面板驱动电路是相同的，附图中使用的编号也采用相同的编号，在此省 略对动作的详细说明。
[0171] 在图13中，采样开关401在完全包含福射噪声波形的定时（timing)、即将福射噪 声完全跨越（overlap)的定时（timing)使采样开关401接通。通过该样设定，即，通过确 保至检测电极104返回受到福射噪声的影响之前的初始电位为止的期间，能够使得蓄积电 容402的蓄积电荷不受噪声的影响，能够实现触摸面板的检测精度提高。此外，该实施例也 能够应用于自电容方式。
[0172] 图7至图13所示的触摸面板驱动电路和驱动方法，通过液晶显示装置等显示装置 侧的TFT也与触摸面板驱动电路的TFT同样，由InGaZnO类氧化物半导体TFT构成，能够更 适当地实施。
[0173] 目P，当液晶显示装置等显示装置侧的TFT由InGaZnO类氧化物半导体TFT构成时， 能够进行向显示装置的高速写入，例如，在图7?图9所示的IV同步驱动（与垂直同步信 号同步的驱动）中，在1垂直信号期间能够使停止期间变宽，能够使触摸面板检测电路中的 蓄积电容的蓄积次数增加，能够得到SNR特性优异的触摸面板。
[0174] 另外，InGaZnO类氧化物半导体TFT，漏泄电流低，因此，能够如图8所示W低频率 进行液晶显示装置的驱动，同样能够使停止期间变长。
[01巧]通过由InGa化0类氧化物半导体TFT构成触摸面板驱动电路250,能够在窄边框的 同时大幅削减配线根数，能够降低配线电阻，而且能够施加高电压，从而能够实现触摸面板 的高SNR化。
[0176] 另外，通过使用InGaZnO类氧化物半导体能够应对大画面化。另外，对InGa化0 类氧化物半导体TFT能够施加高电压，因此，能够使显示装置等中使用的高电压与触摸 面板共用。通过该样的电源的共用能够降低成本，另外，能够提高触摸面板的检测信号 (signal)，能够实现触摸面板的高性能化。
[0177] 对W上进行总结，对触摸面板的驱动电极进行驱动的触摸面板驱动电路，进行与 液晶显示装置等显示装置的水平同步信号同步的分时驱动，跨越（overlap)子像素的源极 线充电初始期间的产生福射噪声的期间来进行触摸面板的驱动。
[0178] 本发明的方式1的触摸面板具备：
[0179] 基板；设置在上述基板的同一面或不同面上的用于触摸位置检测的检测电极和驱 动电极；对上述驱动电极进行驱动的触摸面板驱动电路；和接收来自上述检测电极的检测 输出来检测触摸位置的触摸位置检测电路，上述触摸面板的特征在于：
[0180] 上述触摸面板驱动电路由TFT形成，该TFT由氧化物半导体构成。
[0181] 由此，触摸面板驱动电路由与Si相比为宽带隙的金属氧化物半导体形成的TFT构 成，因此，能够使光漏泄电流与Si类的TFT相比特别低，能够使由漏泄电流导致的消耗电力 减少。另外，与Si类的TFT相比能够施加高电压，因此，例如，能够利用液晶显示装置使用 的高电压，能够不增加成本地使信号增加，能够使触摸面板的性能提高。
[0182] 本发明的方式2的触摸面板的特征在于，在上述方式1中，上述触摸面板驱动电路 设置在与形成有上述检测电极和驱动电极的触摸电极区域相邻的边框区域。
[0183] 由此，将小面积的触摸面板驱动电路设置在与触摸电极区域相邻的边框区域部 分，因此，不需要在边框区域部分设置与各个驱动电极连接的连接线。因此，即使触摸面板 变得大面积，驱动电极的数量增加，也不需要使边框区域部分的宽度增加，能够W小边框实 现大画面的显示装置。另外，不需要使设置在边框区域部分的配线的配线宽度变窄，因此， 也能够抑制由边框区域的配线部的电阻增加导致的触摸面板特性的劣化。
[0184] 本发明的方式3的触摸面板的特征在于，在上述方式1或2中，形成上述触摸面板 驱动电路的上述氧化物半导体为InGaZnO类氧化物半导体。
[0185] 由此，InGaZnO类氧化物半导体与Si相比为宽带隙，光漏泄电流与非晶Si和多晶 Si相比特别低，因此，能够使由漏泄电流导致的消耗电力大幅减少。另外，由InGaZnO类氧 化物半导体形成TFT，因此，能够W小面积构成TFT本身，能够W小面积实现触摸面板驱动 电路本身。
[0186] 本发明的方式4的触摸面板的特征在于，在上述方式2或3中，上述检测电极、上 述驱动电极和上述触摸面板驱动电路设置在上述基板的同一面上。
[0187] 由此，检测电极的形成、驱动电极的形成和触摸面板驱动电路的形成均为在同一 基板的同一面上的形成，制造变得容易，能够实现低成本化。
[0188] 本发明的方式5的触摸面板的特征在于，在上述方式1至4中的任一方式中，上述 基板上组装有彩色滤光片，该彩色滤光片组装到显示装置中使得该显示装置能够进行多色 显示。
[0189] 由此，能够得到组装有彩色滤光片的窄边框的触摸面板，通过与液晶显示装置等 各种显示装置组合，能够容易地构成极其紧凑的成本低的、并且窄边框的能够进行多色显 示的带触摸面板的显示装置。
[0190] 本发明的方式6的触摸面板的特征在于，在上述方式1至5中的任一方式中，上述 触摸面板驱动电路为对上述驱动电极进行逐次驱动的逐次驱动电路。
[0191] 由此，能够使驱动电路、触摸位置检测电路的结构比较简单的进行逐次驱动的触 摸面板的边框部分变窄等，能够与各种显示装置组合而实现窄边框的、性价比高的、设计 优异的显示装置。另外，目前逐次驱动方式为主流，因此，能够沿用已有的读出电路1C和 TP (触摸面板）用控制器1C。
[0192] 本发明的方式7的触摸面板的特征在于，在上述方式1至5中的任一方式中，上述 触摸面板驱动电路为对上述驱动电极进行并行驱动的并行驱动电路。
[0193] 由此，作为触摸面板的驱动采用并行驱动，因此，能够使触摸面板的传感期间大幅 缩短，因此，能够使触摸位置检测的时间间隔缩短，能够进行响应性更优异的触摸位置的检 。另外，如果传感时间为一定时间，则能够使触摸位置检测电路中的蓄积电容的积分次数 增加，能够使S/N比提高。因此，也能够进行重视响应性的设计、或者重视S/N比的设计等， 按照用途进行最佳的设计，能够实现优异的触摸面板。
[0194] 另外，与组装使用的显示装置的驱动同步驱动变为最佳，能够实现难W受到组装 使用的显示装置的噪声的影响的触摸面板。而且，能够使进行并行驱动的触摸面板的边框 部分变窄，能够得到与各种显示装置组合时的自由度变大，另外，设计上的自由度也变大的 效果。
[0195] 本发明的方式8的触摸面板的特征在于，在上述方式6或7中，上述触摸面板驱动 电路进行与组装使用的显示装置的垂直同步信号同步的分时驱动，在垂直同步信号的停止 期间进行触摸面板的驱动。
[0196] 由此，在避开对组装使用的液晶显示装置等显示装置进行驱动时产生的福射噪声 的"垂直同步信号的停止期间"驱动触摸面板，能够实现难W受到显示装置的噪声影响的触 摸面板。
[0197] 另外，在组装使用的液晶显示装置等的驱动电路由InGaZnO类氧化物半导体的 TFT形成的情况下，根据InGa化0类氧化物半导体的特性，也能够W极低的频率驱动液晶显 示装置，其结果，能够相当自由地设定在液晶显示装置的驱动停止期间进行驱动的触摸面 板的工作频率，能够使积分次数增加等，能够使触摸面板的S/N比提高。
[0198] 本发明的方式9的触摸面板的特征在于，在上述方式6或7中，上述触摸面板驱动 电路进行与组装使用的显示装置的水平同步信号同步的分时驱动，除了上述显示装置的子 像素的源极线充电初始期间W外进行触摸面板的驱动。
[0199] 由此，进行避开了对组装使用的液晶显示装置等显示装置进行驱动时产生的福射 噪声的驱动，能够将福射噪声的影响抑制到最小限度，能够使触摸面板的检测精度提高等， 能够实现难W受到显示装置的噪声影响的优异特性的触摸面板。另外，为与水平同步信号 同步的驱动，与垂直同步信号相比能够使触摸面板的工作频率更高速化，能够进行高速的 触摸位置检测。
[0200] 本发明的方式10的触摸面板的特征在于，在上述方式6或7中，上述触摸面板驱 动电路进行与组装使用的显示装置的水平同步信号同步的分时驱动，跨越组装使用的显示 装置的子像素的源极线充电初始期间的产生福射噪声的期间来进行触摸面板的驱动。
[0201] 由此，在完全跨越驱动液晶显示装置时产生的福射噪声的状态下使触摸面板进行 驱动（电荷传送），因此，能够确保至检测电极返回受到福射噪声的影响之前的初始电位为 止的期间，能够使得积分电容的电荷不受噪声的影响。因此，作为结果，能够实现难W受到 组装使用的液晶显示装置等显示装置产生的噪声的影响的触摸面板。另外，为与水平同步 信号同步的驱动，与垂直同步信号相比能够使触摸面板的工作频率更高速化，能够进行高 速的触摸位置检测。另外，能够不在1H消隐期间而是与显示器（显示装置）的写入同时驱 动TP (触摸面板），因此，能够使积分次数增加，能够实现高性能的触摸面板。
[0202] 本发明的方式11的显示装置具备触摸面板，该触摸面板具备；基板；设置在上述 基板上的用于触摸位置检测的检测电极和驱动电极；对上述驱动电极进行驱动的触摸面板 驱动电路；和接收来自上述检测电极的检测输出来检测触摸位置的触摸位置检测电路，上 述触摸面板驱动电路设置在上述基板上的与形成有上述检测电极和驱动电极的触摸电极 区域相邻的边框区域，并且，上述触摸面板驱动电路由TFT形成，该TFT由InGaZnO类氧化 物半导体构成，上述显示装置的特征在于：
[0203] 用于上述触摸位置检测的检测电极、驱动电极和触摸面板驱动电路，设置在上述 基板的观察者侧的面上。
[0204] 本发明的方式12的显示装置具备触摸面板，该触摸面板具备；基板；设置在上述 基板上的用于触摸位置检测的检测电极和驱动电极；对上述驱动电极进行驱动的触摸面板 驱动电路；和接收来自上述检测电极的检测输出来检测触摸位置的触摸位置检测电路，上 述触摸面板驱动电路设置在上述基板上的与形成有上述检测电极和驱动电极的触摸电极 区域相邻的边框区域，并且，上述触摸面板驱动电路由TFT形成，该TFT由InGaZnO类氧化 物半导体构成，上述显示装置的特征在于：
[0205] 用于上述触摸位置检测的检测电极、驱动电极和触摸面板驱动电路，设置在上述 基板的与观察者侧相反的一侧的面上。
[0206] 由此，与分体形成触摸面板本身并与显示装置等组合而成的带触摸面板的显示装 置相比，能够紧凑地构成带触摸面板的显示装置。另外，构成触摸面板的驱动电极、检测电 极、触摸面板驱动电路不会直接露出在装置外，因此，不需要特别的保护膜等，能够抑制成 本的增加。
[0207] 另外，在触摸面板位于显示装置上的形式的内置的n-Cell)构造的触摸面板的情 况下，存在如下问题；（1)需要在由玻璃等构成的基板的两面形成电极，而且，单面被支承 在制造装置内，因此，与制造装置物理接触，会由于颗粒的附着等导致成品率降低；（2)在 液晶显示装置的情况下，滴下注入液晶，但是在滴下注入后形成触摸面板的情况下，在真空 装置内容易发生玻璃等基板彼此的剥落，因此，在各个显示装置中在分割后W小片注入液 晶，无法避免工序数量的增加，导致成本上升；（3)存在由向玻璃等基板上表面的FPC(柔性 印刷电路板）连接导致的成本上升；等。
[0208] 对此，在本发明的方式12的内嵌（In-Cell)构造的显示装置中，如上所述，特别是 将"用于触摸位置检测的检测电极、驱动电极和触摸面板驱动电路"设置在"基板的与观察 者侧相反的一侧的面上"从而仅在基板的一面上设置电极，因此，能够解决上述（1)?（3) 的技术问题。
[0209] 本发明的方式13的显示装置具备触摸面板，该触摸面板具备；基板；设置在上述 基板上的用于触摸位置检测的检测电极和驱动电极；对上述驱动电极进行驱动的触摸面板 驱动电路；和接收来自上述检测电极的检测输出来检测触摸位置的触摸位置检测电路，上 述触摸面板驱动电路设置在与形成有上述检测电极和驱动电极的触摸电极区域相邻的边 框区域，并且，上述触摸面板驱动电路由TFT形成，该TFT由InGa化0类氧化物半导体构成， 上述显示装置的特征在于：
[0210] 上述基板上形成有；使得该显示装置能够进行多色显示的彩色滤光片；和用于显 示装置的像素驱动的对置共用电极，上述触摸面板驱动电路形成在显示装置的形成有像素 驱动电极的TFT基板上。
[0211] 由此，能够仅通过对由IT0等形成的透明导电膜自身进行图案化来构成触摸面板 的检测电极、驱动电极自身，能够在形成液晶显示装置等的像素