其中一个实施例中，所述失效率预测模块700具体包括:
[0069]判据识别单元720，用于分析待预测纯锡镀层元器件预设失效判据等级，其中，所述预设失效判据包括一般和严酷两个等级，所述一般等级为当锡须的锡须长度数据Lw大于或等于待预测纯锡镀层元器件中引脚间间距Ls时，即判定该锡须引起短路失效，所述严酷等级为当锡须的锡须长度数据Lw大于或等于待预测纯锡镀层元器件中引脚间间距Ls—半时，即判定该锡须引起短路失效；
[0070]预测单元740，用于计数每组面密度中引起短路失效的锡须根数Nf，根据Fi= Nf/Mk计算每组面密度下的锡须生长失效率，当预设失效判据为一般等级时，F1= mean (F J，当预设失效判据为严酷等级时，F1= max (F ^。
[0071]如图8所示，在其中一个实施例中，所述纯锡镀层元器件锡须生长失效预测系统还包括:
[0072]子系统失效预测模块800，用于计算子系统的锡须生长失效率Fj,其中，Fj =1-(1-F1)11，所述子系统包括η个引脚对，且各引脚对之间采用串联模型，η为正整数。
[0073]如图8所示，在其中一个实施例中，所述纯锡镀层元器件锡须生长失效预测系统还包括:
[0074]系统失效预测模块900，计算系统的锡须生长失效率Fs，其中，FS= 1-Π J = 1m(1-Fj)n，所述系统包括m个所述子系统，且各所述子系统之间采用串联模型，m为正整数。
[0075]在其中一个实施例中，所述不同环境条件包括不同温度和不同湿度条件。
[0076]以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【主权项】
1.一种纯锡镀层元器件锡须生长失效预测方法，其特征在于，包括步骤: 获取纯锡镀层元器件在不同环境条件下的锡须生长长度对数均值、锡须生长长度对数标准差、锡须生长面密度均值以及锡须生长面密度标准差数据； 采用多项式拟合方法拟合出多项式拟合公式，其中，所述多项式拟合公式包括时间-面密度均值、时间-面密度标准方差、时间-长度对数均值以及时间-长度对数标准差; 对获得的多项式拟合公式进行插值外推计算，获得预设预测时间段内锡须面密度均值、锡须面密度标准差、锡须生长长度对数均值以及锡须生长长度对数标准差； 根据锡须面密度均值、锡须面密度标准差和正态分布，进行第一次蒙特卡罗运算分析，随机获得Nk个锡须面密度值； 根据每个锡须面密度值和待预测纯锡镀层元器件中引脚的面积与引脚的涂层覆盖率，计算每个锡须面密度值下生长锡须的根数Mk; 根据锡须生长长度对数均值、锡须生长长度对数标准差以及正态分布，进行第二次蒙特卡罗运算分析，得到Nk组面密度下的锡须长度数据Lw; 根据锡须长度数据LdP预设失效判据，计数每组面密度中引起短路失效的锡须根数Nf，计算待预测纯锡镀层元器件中引脚对的锡须生长失效率F1。2.根据权利要求1所述的纯锡镀层元器件锡须生长失效预测方法，其特征在于，所述根据锡须长度数据LdP预设失效判据，计数每组面密度中引起短路失效的锡须根数N f，计算待预测纯锡镀层元器件中引脚对的锡须生长失效率F1具体包括步骤: 分析待预测纯锡镀层元器件预设失效判据等级，其中，所述预设失效判据包括一般和严酷两个等级，所述一般等级为当锡须的锡须长度数据Lw大于或等于待预测纯锡镀层元器件中引脚间间距Ls时，即判定该锡须引起短路失效，所述严酷等级为当锡须的锡须长度数据1^大于或等于待预测纯锡镀层元器件中引脚间间距Ls—半时，即判定该锡须引起短路失效； 计数每组面密度中引起短路失效的锡须根数Nf，根据Fi= N f/Mk计算每组面密度下的锡须生长失效率，当预设失效判据为一般等级时，F1= mean(F ,)，当预设失效判据为严酷等级时，F1= max (F ) 03.根据权利要求1或2所述的纯锡镀层元器件锡须生长失效预测方法，其特征在于，所述根据锡须长度数据LdP预设失效判据，计数每组面密度中引起短路失效的锡须根数N f，计算待预测纯锡镀层元器件中引脚对的锡须生长失效率F1之后还有步骤: 计算子系统的锡须生长失效率？」，其中，Fj= 1-(1-F1)11，所述子系统包括η个引脚对，且各引脚对之间采用串联模型，η为正整数。4.根据权利要求3所述的纯锡镀层元器件锡须生长失效预测方法，其特征在于，所述计算子系统的锡须生长失效率匕之后还有步骤: 计算系统的锡须生长失效率Fs，其中，FS= 1-Π pra-Fjr，所述系统包括m个所述子系统，且各所述子系统之间采用串联模型，m为正整数。5.根据权利要求1或2所述的纯锡镀层元器件锡须生长失效预测方法，其特征在于，所述不同环境条件包括不同温度和不同湿度条件。6.一种纯锡镀层元器件锡须生长失效预测系统，其特征在于，包括: 基础数据获取模块，用于获取纯锡镀层元器件在不同环境条件下的锡须生长长度对数均值、锡须生长长度对数标准差、锡须生长面密度均值以及锡须生长面密度标准差数据； 多项式拟合模块，用于采用多项式拟合方法拟合出多项式拟合公式，其中，所述多项式拟合公式包括时间-面密度均值、时间-面密度标准方差、时间-长度对数均值以及时间-长度对数标准差； 计算模块，用于对获得的多项式拟合公式进行插值外推计算，获得预设预测时间段内锡须面密度均值、锡须面密度标准差、锡须生长长度对数均值以及锡须生长长度对数标准差; 第一次蒙特卡罗运算模块，用于根据锡须面密度均值、锡须面密度标准差和正态分布，进行第一次蒙特卡罗运算分析，随机获得Nk个锡须面密度值； 锡须根计数模块，用于根据每个锡须面密度值和待预测纯锡镀层元器件中引脚的面积与引脚的涂层覆盖率，计算每个锡须面密度值下生长锡须的根数Mk; 第二次蒙特卡罗运算模块，根据锡须生长长度对数均值、锡须生长长度对数标准差以及正态分布，进行第二次蒙特卡罗运算分析，得到Nk组面密度下的锡须长度数据Lw; 失效率预测模块，用于根据锡须长度数据LdP预设失效判据，计数每组面密度中引起短路失效的锡须根数Nf，计算待预测纯锡镀层元器件中引脚对的锡须生长失效率Fp7.根据权利要求6所述的纯锡镀层元器件锡须生长失效预测系统，其特征在于，所述失效率预测模块具体包括: 判据识别单元，用于分析待预测纯锡镀层元器件预设失效判据等级，其中，所述预设失效判据包括一般和严酷两个等级，所述一般等级为当锡须的锡须长度数据Lw大于或等于待预测纯锡镀层元器件中引脚间间距Ls时，即判定该锡须引起短路失效，所述严酷等级为当锡须的锡须长度数据Lw大于或等于待预测纯锡镀层元器件中引脚间间距Ls—半时，即判定该锡须引起短路失效； 预测单元，用于计数每组面密度中引起短路失效的锡须根数Nf，根据Fi= Nf/Mk计算每组面密度下的锡须生长失效率，当预设失效判据为一般等级时，F1= mean(F ,)，当预设失效判据为严酷等级时，F1= max (F ^。8.根据权利要求6或7所述的纯锡镀层元器件锡须生长失效预测系统，其特征在于，还包括: 子系统失效预测模块，用于计算子系统的锡须生长失效率Fp其中，Fj= 1-(1-F1)11，所述子系统包括η个引脚对，且各引脚对之间采用串联模型，η为正整数。9.根据权利要求8所述的纯锡镀层元器件锡须生长失效预测系统，其特征在于，还包括: 系统失效预测模块，计算系统的锡须生长失效率匕，其中，Fs= 1-π，所述系统包括m个所述子系统，且各所述子系统之间采用串联模型，m为正整数。10.根据权利要求6或7所述的纯锡镀层元器件锡须生长失效预测系统，其特征在于，所述不同环境条件包括不同温度和不同湿度条件。
【专利摘要】本发明提供一种纯锡镀层元器件锡须生长失效预测方法与系统，获取纯锡镀层元器件中锡须生长长度对数均值、对数标准差、锡须生长面密度均值以及面密度标准差数据，拟合出多项式拟合公式，计算锡须面密度均值、标准差、锡须生长长度对数均值以及对数标准差，分别进行第一次和第二次蒙特卡罗运算分析，得到锡须长度数据，根据锡须长度数据和预设失效判据，计数每组面密度中引起短路失效的锡须根数，计算待预测纯锡镀层元器件中引脚对的锡须生长失效率。整个过程中，从失效物理的角度，分别考虑锡须生长的面密度和长度值，并基于蒙特卡罗算法，分别进行迭代运算，兼顾锡须生长的失效物理因素，能对各类纯锡镀层元器件中锡须生长失效进行快速、准确预测。
【IPC分类】G06F17/50
【公开号】CN104991995
【申请号】CN201510314250
【发明人】周斌, 何春华, 恩云飞, 何小琦, 李勋平
【申请人】工业和信息化部电子第五研究所
【公开日】2015年10月21日
【申请日】2015年6月9日