专利名称：光学拾取器和光盘装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及执行诸如记录和复制光盘上的信号之类的操作的光盘装置以及涉及在LCD设备中使用的光学拾取器。
背景技术：
光学拾取器通过将光束照射在例如CD(高密光盘)和DVD(数字万能光盘)上来执行记录或复制信号的操作或执行记录和复制信号的操作。
这种类型的光学拾取器包含支承物镜的透镜架。该透镜架包含聚焦线圈和跟踪线圈，聚焦线圈被设置用于在聚焦方向上移动透镜架，而跟踪线圈被设置用于在跟踪方向上移动透镜架。
近年来，随着这种光盘的记录密度的增强，正在进行技术开发以便产生更短波长的光束并且增大NA(光圈数)。另外，越来越多地使用塑料透镜作为物镜，其原因在于与玻璃透镜的情况相比，塑料透镜成形容易并且可以因此降低成本。
塑料透镜易于因温度变化而变形。当塑料透镜的温度分布出现偏差时，或换句话说，当温度梯度出现时，透镜发生变形，由此往往会出现各种光学像差。
同样地，在塑料透镜被用作物镜的情况下，流向聚焦线圈和跟踪线圈的电流导致线圈产生热量。当热量通过透镜架传递到物镜时，由于温度梯度导致光学像差，这会在就例如光学拾取器中的伺服特性和复制信号而言的质量方面出现恶化问题。
为了防止这种问题，已提出一种光学拾取器，其中由具有高导热性的材料构成的环形部件被插入物镜和透镜架之间，并且透镜架的热量通过该环形部件来均衡，从而将该热量传递到物镜，借此抑制在物镜中出现温度梯度(例如，参见日本未审查的专利申请公开NO.1999-176009)。
发明内容
然而，在上述的拾取器中，由于给透镜架配备了环形部件，所以元件/部件的数目增加，因而在实现光学拾取器的尺寸减小以及因此实现成本降低时产生缺点。另外，由于环形部件被插入透镜架和物镜之间，因此环形部件精确度的不均匀性使得难以保证物镜光轴的位置精确度。这产生的缺点是增加了制造成本。
鉴于上述情况获得本发明。因此，本发明将提供一种光学拾取器和一种光盘装置，它们允许实现尺寸的减小和成本的降低，并且有利地防止由于温度梯度而出现光学像差，而不牺牲响应特性。
为了实现上述内容，根据本发明的一个实施例，光学拾取器包含支承物镜的透镜架；被设置在该透镜架中并且用于沿聚焦方向移动的聚焦线圈，该聚焦方向是透镜架的物镜的光轴；以及被设置在透镜架中并且用于沿与透镜架的聚焦方向垂直的跟踪方向移动的跟踪线圈。物镜包含在中心具有物镜光轴的外圆周表面，以及在光轴方向上的物镜两侧的透镜表面；透镜架包含承纳物镜的承纳凹槽部分；该承纳凹槽部分包含具有对应于物镜的外圆周表面的直径的内圆周表面，以及对应于接近两侧透镜表面中的一侧透镜表面的外圆周的部分的环形底盘；具有导热性的层被设置在透镜架的内圆周表面和物镜的外圆周表面之间以及透镜架的底盘和一侧透镜表面之间；并且在所述层被单独地插入透镜架的内圆周表面和物镜的外圆周表面之间以及透镜架的底盘和一侧透镜表面之间的情况下安装物镜。
根据本发明的另一个实施例，光盘装置包含支承和旋转驱动光盘的驱动装置；以及光学拾取器，该光学拾取器在由驱动装置旋转驱动的光盘上照射记录和/或复制光束以及根据光盘上的照射光束的反射光来检测反射光束。该光学拾取器包含支承物镜的透镜架；被设置在透镜架中并且用于沿聚焦方向移动的聚焦线圈，该聚焦方向是透镜架的物镜的光轴；以及被设置在透镜架中并且用于沿与透镜架的聚焦方向垂直的跟踪方向移动的跟踪线圈。物镜包含在中心具有物镜光轴的外圆周表面，以及在光轴方向上物镜两侧的透镜表面；透镜架包含承纳物镜的承纳凹槽部分；承纳凹槽部分包含具有对应于物镜的外圆周表面的直径的内圆周表面，以及对应于接近两侧透镜表面中的一侧透镜表面的外圆周的部分的环形底盘；具有导热性的层被设置在透镜架的内圆周表面和物镜的外圆周表面之间以及透镜架的底盘和一侧透镜表面之间；以及在所述层被单独地插入透镜架的内圆周表面和物镜的外圆周表面之间以及透镜架的底盘和一侧透镜表面之间的情况下安装物镜。
根据本发明的该实施例，在具有导热性的层被插入透镜架的内圆周表面和物镜的外圆周表面之间以及该层被插入透镜架的底盘和一侧透镜表面之间的情况下，将物镜安装在承纳凹槽部分中。
因此，在热量通过层40扩散的情况下由流向跟踪线圈和聚焦线圈的电流所产生的热量通过2传递到层40以及传递到物镜的外圆周表面和其一侧的透镜表面。
因而，通过该层传递到物镜的外圆周表面和其透镜表面的热量可以基本上均匀地分布在外圆周表面和一侧透镜表面7004的整个区域中。
同样地，位于具有与在中心的物镜光轴相同半径的圆周上的物镜部分的温度根据在物镜的整个圆周上的温度梯度各自类似地在径向方向上向外变化。因此，可使位于具有与物镜7相同半径的圆周上的物镜部分的温度梯度基本上变为零。
假定位于具有相同半径的圆周上的物镜部分中的温度梯度基本上是零，如上所述。在这种情况下，出现在物镜中的作为光学像差的慧形像差、像散等很小以致可以忽略。因此，仅仅考虑球面像差就足够了。通过光学拾取器的光学系统可以轻易地校正球面像差。
因此，不同于过去的情况，可以抑制物镜中温度梯度的出现，而无需将由具有高导热性的材料构成的环形部件插入物镜和透镜架之间。因而，可以减少元件/部件的数目，从而有利地实现光学拾取器的尺寸减小和成本降低。另外，由于插入透镜架和物镜之间的层的重量是可忽略，所以可以实现透镜架的重量减少，由此有利地实现光学拾取器的响应特性的增强。
另外，插入透镜架和物镜之间的层与透镜架被整体地构成，因此不同于过去的情况、即环形部件被插入透镜架和物镜之间，可以容易地保证物镜光轴的位置精确度，由此有利地减少制造成本。
从结合附图的本发明示例性实施例的以下描述中，本发明的上述和其他目的、特性和优点将变得更显而易见，其中图1是显示了根据本发明一个实施例的光盘装置的配置的方块图，该光盘装置包含装配在其中的光学拾取器；图2是显示了根据本发明的该实施例的光学拾取器的透视图；图3是显示了在将轭基座从光学拾取器中移出的情况下的分解透视图；以及图4是显示了在以垂直于物镜光轴的平面来切开物镜和透镜架的情况下温度分布的示意图。
具体实施例方式
在本发明中，目的是实现尺寸减小和成本降低，以及在不牺牲响应特性的情况下防止由于物镜中的温度梯度而出现光学像差。这通过在透镜架的内圆周表面和物镜的外圆周表面之间以及在透镜架的底盘和物镜的透镜表面之间设置具有导热性的层来实现。
在下文中将参照附图来描述光学拾取器以及记录和复制装置的实施例。
图1是显示了根据本发明一个实施例的光盘装置的配置的方块图，该光盘装置包含装配在其中的光学拾取器。
参照图1，光盘装置101包含主轴马达103，该主轴马达103充当旋转驱动光盘102的驱动装置，该光盘102充当光学存储介质、例如CD-R、DVD±R、DVD-RAM或Blu-ray；光学拾取器104；以及进给马达105，该进给马达105充当在径向方向上驱动光学拾取器104的驱动装置。主轴马达103具有这样一个结构，该结构由系统控制器107和伺服控制部分109驱动和控制以提供预定的转速。
信号调制器/解调器和ECC块108对从信号处理器部分120输出的信号进行调制、解调和增加BCC(纠错码)。光学拾取器104将光束照射在光盘102的信号记录表面上，该光盘102根据由系统控制器107和伺服控制部分109产生的指令来旋转。通过光束照射，在光盘120上执行光信号的记录或复制。
另外，光学拾取器104被配置用于根据来自光盘102的信号记录表面的反射光来检测下述各种类型的光束以及为信号处理器部分120提供对应于相应光束的信号。
信号处理器部分120能够产生伺服控制信号，即聚焦误差信号、跟踪误差信号、RF信号和ATIP信号，这些信号对于在记录过程中例如根据对应于相应光束的检测信号来执行对光盘102的旋转控制来说是必要的。另外，根据信号的诸如调制之类的处理以及纠错处理例如由对应于被用作记录对象的存储介质的类型的伺服控制部分109和信号调制器/解调器和ECC块108来执行。
在该装置的配置中，如果由信号调制器/解调器和ECC块108解调的记录信号被指定用于例如计算机数据存储，则信号通过接口111被传输到例如外部计算机130。同样地，外部计算机130或类似的被指定能够接收记录在光盘102上的信号作为复制信号。
如果由信号调制器/解调器和ECC块108解调的记录信号被指定用于音频/视频目的，则由数/模、模/数转换器112的数/模转换器对信号进行数模转换，并且所转换的信号被提供给音频/视频处理器部分113。在音频/视频处理器部分113中，信号经历音频/视频信号处理并且通过音频/视频信号输入/输出部分114传输到外部图像捕获/显示设备。
在该装置的配置中，光学拾取器104与进给马达105连接，并且通过进给马达105的旋转而移动到光盘102上的预定的记录轨道上。伺服控制部分109控制主轴马达103，控制进给马达105以及控制支承光学拾取器104的物镜的致动器以便在聚焦和跟踪方向上移动。
也就是说伺服控制部分109根据ATI P信号来控制主轴马达103，以及根据聚焦误差信号和跟踪误差信号来控制致动器。
另外，伺服控制部分109被配置用于例如根据聚焦误差信号、跟踪误差信号和RF信号来产生提供给一个下述的聚焦线圈20(见图2)的聚焦驱动信号S1和产生提供给两个跟踪线圈30(见图2)的跟踪驱动信号S2(驱动电流)。
激光控制部分121控制光学拾取器104中的激光源。
如图2所示，聚焦方向Z是指物镜7的光轴方向。跟踪方向X是指与聚焦方向Z垂直的光盘装置101的径向方向。切线方向Y是指与聚焦方向Z和跟踪方向X都垂直的方向(光盘装置101的圆周的切线方向)。
下面将更详细地描述光学拾取器104。
图2是根据本发明的第一实施例的光学拾取器104的透视图，以及图3是显示在将轭基座从光学拾取器104中移出的情况下的分解透视图。
光学拾取器104包含充当发光的光源的半导体激光器；光电二极管，该光电二极管充当检测来自光盘102的信号记录表面的反射光束的光检测器；和光学系统，该光学系统将来自半导体激光器的光引导到光盘102以及将反射光束引导到光检测器。
如图2所示，光学拾取器104被设置在安装部件60上，该安装部件60被设置成在光盘装置101的壳体中的光盘102的径向方向上是可移动的。
光学拾取器104包含透镜架2、支承块3和吊线80。透镜架2支承物镜7，该物镜7聚焦从光源发出的光束并将聚焦光束照射在光盘102上。支承块3被布置成在切线方向Y上与透镜架2隔开，并且连接在安装部件60上。吊线80连接在透镜架2和支承块3之间。物镜7构成光学拾取器104的光学系统的一部分。
如图2所示，支承块3具有沿跟踪方向X的长度和沿聚焦方向Z的高度。
在沿跟踪方向X的支承块3的两侧，两个线支承部分14分别被隔开地设置在聚焦方向上。
总体来说，设置四条吊线80。通过两条吊线80来连接两条线的支承部分8和两条线的支承部分14，其中两条线的支承部分8在透镜架2的跟踪方向X上的两侧中的每一侧上，而两条线的支承部分14在支承块3的跟踪方向X上的两侧中的每一侧上。
两条吊线80被设置成彼此平行，同时在其间有一间隔，从而支承透镜架2，使其在聚焦和跟踪方向Z和X上相对于支承块3可移动。
吊线80是由具有导电性和弹性的材料构成的。
在该配置中，在支承块3一侧的相应吊线80的端部通过线部件(未示出)连接到伺服控制部分109上，借此从伺服控制部分109提供聚焦驱动信号S1和跟踪驱动信号S2给该吊线。
如图2所示，轭基座18被安装在安装部件60上，支承块3被安装在轭基座18上，透镜架2被布置在轭基座18之上，并且轭基座18在一部分中具有一个孔(未示出)，物镜7的光轴通过该孔延伸。
一对彼此相对的轭元件18a被立设在切线方向Y上轭基座18两侧。单片矩形平面磁铁19以这样的方式连接到轭元件18a的彼此相对的表面中的每个表面上，以致磁铁19在切线方向Y上面向透镜架2的两端中的每一端并且在切线方向Y上上引导其厚度方向。
另外，两个轭元件18b以在其间留有间隔的方式成形在切线方向Y上。在跟踪方向X上两侧的轭元件18b分别面向在跟踪方向X上的透镜架2的两端。
如图2和图3所示，聚焦线圈20被绕在透镜架2的外圆周上。
聚焦线圈20具有构成聚焦线圈20并且与线圈绕轴垂直的线圈面，聚焦线圈20被这样设置，以致线圈面面向聚焦方向Z。
跟踪线圈30被分别连接到在跟踪方向X上的透镜架2的两端面上。总体来说，因而设置了两个跟踪线圈30。
相应的跟踪线圈30具有构成跟踪线圈30并且与线圈绕轴垂直的线圈面。跟踪线圈30被这样设置，以致线圈面面向跟踪方向X。
聚焦线圈20和各个跟踪线圈30被电连接到透镜架2一侧的四条吊线80的端部。通过吊线80给聚焦线圈20提供聚焦驱动信号S1，以及通过吊线80给两个跟踪线圈30提供跟踪驱动信号S2。
在本实施例中，如图3所示，物镜7被这样配置，以致在光轴方向上层叠的两个塑料透镜被结合成像平圆柱一样的整体形状。物镜7具有在中心的物镜7的光轴的外圆周表面7002，以及具有位于在光轴方向上的物镜7的两侧的透镜表面7004和7006。
在本实施例中，物镜7的NA例如是对应于BLU-RAY(蓝光)盘片的0.805，以及NA对应于405nm波长的光束。
如图3所示，透镜架2通过使用模将合成树脂成型为整体单元，并且该透镜架2具有例如矩形板的形状。在中心处，透镜架2具有用于承纳物镜7的承纳凹槽部分2002，以及在一部分中有一个孔2004，物镜7的光轴通过该孔在承纳凹槽部分2002的底部部分中延伸。
承纳凹槽部分2002包含对应于物镜7的外圆周表面7002的内圆周表面2006，以及对应于接近一侧透镜表面7004的外圆周的一部分的环形底盘2008，该一侧透镜表面是两个透镜表面7004和7006的其中之一。环形底盘2008沿孔2004的外圆周延伸。
具有导热性的层40被设置在透镜架2的内圆周表面2006和物镜7的外圆周表面7002之间以及在透镜架2的底盘2008和一侧透镜表面7004之间。在本实施例中，所述层40以相对于在中心的物镜7的光轴旋转对称的形状被设置。
在所述层40被插入透镜架2的内圆周表面2006和物镜7的外圆周表面7002之间以及透镜架2的底盘2008和一侧透镜表面7004之间的情况下，物镜7通过粘合剂与承纳凹槽部分2002结合。
在本实施例中，所述层40是由金属层形成的并且被设置在单独的承纳凹槽部分2002和透镜架2的底盘2008上。通过使用注射成型电路部件(Injection-molding circuit parts)技术、即MID(模互连器件)将层40与透镜架2整体成形。更具体而言，通过使用冲模在承纳凹槽部分2002的表面上和透镜架2的模压产品的孔2004上形成金属层。该金属层不仅可以通过MID形成，而且可以通过电镀或镶嵌成形来形成。
现在下面将描述光学拾取器104的操作。
参照透镜架2沿聚焦方向Z和跟踪方向X移动的情况来进行描述。
当将来自伺服控制部分109的聚焦驱动信号S1提供给聚焦线圈20时，通过聚焦线圈20中所产生的磁场和各个磁铁19的磁场之间的磁相互作用产生在聚焦方向Z上的力。在将该力施加在透镜架2上时，透镜架2沿聚焦方向Z移动。
当将来自伺服控制部分109的跟踪驱动信号S2提供给跟踪线圈30时，通过跟踪线圈30中所产生的磁场和由各个磁铁19给出的磁场之间的磁相互作用产生在跟踪方向X上的力。在将该力施加在透镜架2上时，透镜架2沿跟踪方向X移动。
在不向聚焦线圈20提供聚焦驱动信号S1的情况下，透镜架2根据吊线80的弹力被保持在聚焦方向Z上的中立位置。在不向跟踪线圈30提供跟踪驱动信号S2的情况下，透镜架2根据吊线80的弹力被保持在跟踪方向X上的中立位置。
现在下面将描述在聚焦驱动信号S1已被提供给聚焦线圈20、跟踪驱动信号S2已被提供给跟踪线圈30并且线圈已变成放热的情况下透镜架2和物镜7中的温度分布的模拟结果。
图4是显示了在以与物镜7的光轴垂直的平面切开物镜7和透镜架2的情况下温度分布的示意图。
在聚焦驱动信号S1已被提供给聚焦线圈20、跟踪驱动信号S2已被提供给跟踪线圈30并且线圈已变成放热的情况下，与在切线方向Y上的透镜架2的两个端部中的温度相比，在跟踪方向X上的透镜架2的两个端侧的温度将更高。因此，透镜架2中的温度分布出现偏差。
在本实施例中，如图2到图4所示，在导热层40被插入透镜架2的内圆周表面2006和物镜7的外圆周表面7002之间以及所述层40被插入透镜架2的底盘2008和物镜7的一侧透镜表面7004之间的情况下，物镜7被安装在承纳凹槽部分2002中。
因此，在热量通过所述层40扩散的情况下由流向聚焦线圈20和两个跟踪线圈30的电流所产生的热量通过2传递到所述层40以及传递到物镜7的外圆周表面7002和物镜7一侧的透镜表面7004。
因此，通过所述层40传递到物镜7的外圆周表面7002和其一侧的透镜表面7004的热量可以基本上均匀地分布在外圆周表面7002和一侧透镜表面7004的整个区域中。
在图4中，符号T1至T6表示温度，其中各个温度之间的关系是T1＜T2＜T3＜T4＜T5＜T6，以及T1、T2、T3、T4、T5和T6中相邻温度之间的温度差是常量。若进行模拟，则设定光学拾取器104的环境温度以及分析光学拾取器104的轭基座18中的温度分布。然而，在下面给出的描述中忽略了这种详细信息。
同样地，从图4可清楚看到，位于具有与在中心的物镜7光轴相同半径的圆周上的物镜7部分的温度T1到T6根据在物镜7的整个圆周上的温度梯度各自类似地在径向方向上向外变化。因此，可使位于具有与物镜7相同半径的圆周上的物镜7部分的温度梯度基本上变为零。
假定位于具有与物镜7相同半径的圆周上的物镜7部分的温度梯度基本上是零，如上所述。在这种情况下，出现在物镜7中的作为光学像差的慧形像差、像散等很小以致可以忽略。因此，仅仅考虑球面像差就已足够了。通过光学拾取器104的光学系统可以轻易地校正球面像差。
因此，根据本实施例，不同于过去的情况，可以抑制物镜7中温度梯度的出现，而无需将由具有高导热性的材料构成的环形部件插入物镜7和透镜架2之间。因而，可以减少元件/部件的数目，从而有利地实现光学拾取器104的尺寸减小和成本降低。另外，由于插入透镜架2和物镜7之间的层40的重量是可忽略的，所以可以实现透镜架2的重量减少，由此有利地实现光学拾取器104的响应特性的增强。
另外，插入透镜架2和物镜7之间的层40与透镜架2一起被整体成形，因此不同于过去的情况、即环形部件被插入透镜架和物镜之间，可以容易地保证物镜7的光轴的位置精确度，由此有利地降低制造成本。
该实施例已经参照在透镜架2上设置所述层40的情况进行了描述。然而，所述层40当然也可以被设置在物镜7的外圆周表面7002上和接近物镜7一侧的透镜表面7004的外圆周的部分上。
另外，该实施例已经参照以相对于在中心的物镜7的光轴旋转对称的形状来设置所述层40的情况进行了描述。然而，所述层40的形状当然也可以是这样的，根据模拟结果，位于具有与物镜7相同半径的圆周上的物镜7部分中的温度梯度基本上变为零。
另外，尽管已参照物镜7由塑料透镜构成的情况来描述了该实施例，但是本发明当然也可以应用于物镜7由玻璃透镜构成的情况。
另外，已参照物镜7的NA是0.85的情况来描述了该实施例。然而，本发明特别适合于和光学拾取器一起使用，需要光学拾取器来最终防止慧形像差、像散等的出现，并因此使用具有0.8或更高的NA的物镜。
然而，本发明当然也可以应用于包含具有低于0.8的NA的物镜的光学拾取器。
另外，在本实施例中，只有聚焦线圈和跟踪线圈被安装在支承物镜的透镜架中。然而，本发明当然也可以应用于这样一种配置，其中安装用于在不同于所述方向的方向上执行驱动的线圈、例如倾斜线圈。
虽然已经如上描述了本发明，然而应理解的是在不脱离所附权利要求的精髓或范围的情况下可以做出其他改变和变化。
权利要求
1.一种光学拾取器，包含支承物镜的透镜架；聚焦线圈，被设置在所述透镜架中并且用于沿聚焦方向移动，该聚焦方向是所述透镜架的物镜的光轴；以及跟踪线圈，被设置在所述透镜架中并且用于沿与所述透镜架的聚焦方向垂直的跟踪方向移动，其中，所述物镜包含在中心具有物镜的光轴的外圆周表面以及在光轴方向上物镜两侧的透镜表面；所述透镜架包含承纳物镜的承纳凹槽部分；所述承纳凹槽部分包含具有对应于物镜的外圆周表面的直径的内圆周表面以及对应于接近两侧透镜表面中的一侧的透镜表面的外圆周的部分的环形底盘；具有导热性的层被设置在透镜架的内圆周表面和物镜的外圆周表面之间以及在透镜架的底盘和一侧的透镜表面之间；以及在所述层被单独地插入透镜架的内圆周表面和物镜的外圆周表面之间以及透镜架的底盘和一侧的透镜表面之间的情况下，所述物镜被安装。
2.根据权利要求1的光学拾取器，其中所述层被单独设置在透镜架的内圆周表面和其底盘之间。
3.根据权利要求1的光学拾取器，其中所述层被单独设置在物镜的外圆周表面和其一侧的透镜表面之间。
4.根据权利要求1的光学拾取器，其中所述层是金属层，以及通过使用注射成型电路部件技术、即MID(模互连器件)技术，所述层、与透镜架和物镜中的任何一个被整体成形。
5.根据权利要求1的光学拾取器，其中支承块以与透镜架隔开的方式被设置在切线方向上，所述切线方向是与聚焦方向和跟踪方向都垂直的方向；以及所述透镜架由支承块支承，以便可以通过多个吊线沿聚焦方向和跟踪方向移动。
6.根据权利要求1的光学拾取器，其中所述物镜由塑料透镜构成。
7.根据权利要求1的光学拾取器，其中所述物镜的光圈数是0.8或更高。
8.一种光盘装置，包含驱动装置，所述驱动装置支承和旋转驱动光盘；以及光学拾取器，所述光学拾取器将记录和/或复制光束照射在由所述驱动装置旋转驱动的光盘上以及根据所述光盘上的照射光束的反射光来检测反射光束，所述光学拾取器包含支承物镜的透镜架；聚焦线圈，被设置在所述透镜架中并且用于沿聚焦方向移动，所述聚焦方向是所述透镜架的物镜的光轴；以及跟踪线圈，被设置在所述透镜架中并且用于沿与所述透镜架的聚焦方向垂直的跟踪方向移动，其中所述物镜包含在中心具有物镜的光轴的外圆周表面以及在光轴方向上物镜两侧的透镜表面；所述透镜架包含承纳物镜的承纳凹槽部分；所述承纳凹槽部分包含具有对应于物镜的外圆周表面的直径的内圆周表面，以及对应于接近两侧透镜表面中的一侧透镜表面的外圆周的部分的环形底盘；具有导热性的层被设置在透镜架的内圆周表面和物镜的外圆周表面之间以及在透镜架的底盘和一侧的透镜表面之间；以及在所述层被单独地插入透镜架的内圆周表面和物镜的外圆周表面之间以及透镜架的底盘和一侧的透镜表面之间的情况下，所述物镜被安装。
9.根据权利要求8的光盘装置，其中所述层被单独设置在透镜架的内圆周表面和其底盘之间。
10.根据权利要求8的光盘装置，其中所述层被单独设置在物镜的外圆周表面和其一侧的透镜表面之间。
11.根据权利要求8的光盘装置，其中所述层是金属层，以及通过使用注射成型电路部件技术、即MID(模互连器件)技术，所述层、与透镜架和物镜中的任何一个被整体构成。
12.根据权利要求8的光盘装置，其中支承块以与透镜架隔开的方式被设置在切线方向上，所述切线方向是与聚焦方向和跟踪方向都垂直的方向；以及所述透镜架由支承块支承，以便可以通过多个吊线沿聚焦方向和跟踪方向移动。
13.根据权利要求8的光盘装置，其中所述物镜由塑料透镜构成。
14.根据权利要求8的光盘装置，其中所述物镜的光圈数是0.8或更高。
全文摘要
透镜架具有一个聚焦线圈和两个跟踪线圈。该透镜架具有承纳物镜的承纳凹槽部分。具有导热性的层被设置在该透镜架的内圆周表面和物镜的外圆周表面之间以及在该透镜架的底盘和一侧透镜表面之间。物镜通过粘合剂被结合，从而在所述层被单独插入透镜架的内圆周表面和物镜的外圆周表面之间以及透镜架的底盘和一侧透镜表面之间的情况下被安装。
文档编号G11B3/44GK1716405SQ20051007856
公开日2006年1月4日 申请日期2005年6月17日 优先权日2004年6月17日
发明者山岸将人 申请人:索尼株式会社