专利名称：光盘设备和光学拾取单元的制作方法
技术领域：
本发明涉及光盘设备和光学拾取单元。
背景技术：
近来，作为用于记录/再现信息的记录介质，光盘(例如CD(光盘)、DVD(数字通用光盘))正在流行。随着光盘的流行，用于针对光盘记录/再现信息的光盘设备也在流行。光盘设备通常包含光学拾取单元、ASP(模拟信号处理器)、DSP(数字信号处理器)、电机驱动器等等。光学拾取单元包含用于向光盘辐射激光束的半导体激光器、用于从光盘接收激光束的反射光束的光电检测器等等。
如此配置的光盘设备基于对应于反射光束的水平、从光电检测器输出的光电转换信号产生分别用于各种伺服控制的信号，以便准确地将激光束辐射到光盘。这个的例子可以是一个光盘设备，该光盘设备产生聚焦误差信号和循轨误差信号以分别执行用于将激光束聚焦在光盘信号层上的聚焦伺服和用于使激光束跟踪光盘上的轨道的循轨伺服，所述聚焦误差信号和循轨误差信号均具有这样的特性，即参考DC值等于最大幅值的一半(后面的″相对参考值的S形特性″，参见图9A)。通过基于聚焦误差信号和循轨误差信号驱动光学拾取单元的致动器以执行光轴方向的控制(聚焦伺服)和径向的控制(循轨伺服)，激光束被准确地辐射到光盘上。因此，从光电检测器输出的光电转换信号是这类伺服控制中的聚焦误差信号和循轨误差信号的基础，并且要求是对应于反射光束的水平的准确信号。
然而，光电检测器输出的光电转换信号可能包含因每个光电检测器的特性和每个光学拾取单元的特性而导致的离差(dispersion)。因此，可能产生受离差影响的聚焦误差信号或循轨误差信号，或受离差影响的聚焦误差信号和循轨误差信号。例如，如图9B所示，可能产生这样的聚焦误差信号和循轨误差信号，所述聚焦误差信号和循轨误差信号均具有在参考DC值和最大幅值的一半之间产生差异(偏差)的特性(相对参考DC值的S形特性的平衡的变化、水平的位移等等)。在这种情况下，在常规光盘设备中，应用了调整过程(平衡调整、水平调整等等)，其中通过例如在执行于ASP的产生聚焦误差信号和循轨误差信号的计算过程中叠加用于校正参考DC值和最大幅值的一半之间的差值的DC值，校正聚焦误差信号和循轨误差信号中产生的偏差。
以高精度定位的方式将光电检测器安装在光学拾取单元的光学外壳上，以向光盘输出对应于激光束的辐射状态的准确光电转换信号。参照图10，下面将详细描述光电检测器的定位。光电检测器例如具有通过分割整个光接收面而形成的4个光接收面A到D，以接收从光盘反射的光束。指定如上所述将整个光接收面分割成光接收面A到D的分割线″O″和″P″，使得线O和P彼此以直角交叉，每个均与当象散(astigmatism)方法、差动象散(differential astigmatism)方法等等被用于聚焦伺服时产生的象散方向成近似45度的角度。指定分割线″P″的方向，使得当推挽方法、差动推挽方法、3光束方法等等被用于循轨伺服时，这个方向指示轨道的正切线的方向。
具有这样4个光接收面A到D的光电检测器被安装在光学外壳上，其被如此定位，使得例如当激光束被准确辐射到光盘上时，激光束的反射光束被近似均匀地辐射到光接收面A到D上(参见图10的部分(a))。即，当激光束被准确辐射到光盘上时，光电检测器的定位使得分割线O和P的交点与反射光束的中心彼此近似一致。通过以这种方式定位光电检测器并且执行以下计算过程{(对应于光接收面A处反射光束的水平的光电转换信号)+(对应于光接收面C处反射光束的水平的光电转换信号)}-{(对应于光接收面B处反射光束的水平的光电转换信号)+(对应于光接收面D处反射光束的水平的光电转换信号)}，能够产生准确的聚焦误差信号。通过执行以下计算过程{(对应于光接收面A处反射光束的水平的光电转换信号)+(对应于光接收面D处反射光束的水平的光电转换信号)}-{(对应于光接收面B处反射光束的水平的光电转换信号)+(对应于光接收面C处反射光束的水平的光电转换信号)}，能够产生准确的循轨误差信号。
在例如日本专利申请待审公开2002-32924和2005-71458中公开了这种常规光盘设备。
然而当在光学外壳上安装光电检测器时，光电检测器相对要定位的光电检测器位置的位移可能因以下原因而发生安装期间的误差、安装期间保持的压力、被涂敷以固定光电检测器到外壳的粘合剂的量的误差等等，即使在安装之后暂时能够将光电检测器保持安装在光电检测器要定位的位置，然而由于随时间发生的变化(例如温度变化、湿度变化、冲击、振动)，可能发生光电检测器的位移。因此，即使激光束被准确施加到光盘，从光盘反射的光束仍然可能如例如图10的部分(b)所示的那样被辐射。即，反射光束可能不是近似均匀地辐射到4个光接收面A到D。光电检测器输出具有这种辐射状态的光电转换信号，并且即使最初不必执行例如聚焦伺服和循轨伺服的类型的伺服控制，仍然可能产生聚焦误差信号和循轨误差信号。因为分别基于聚焦误差信号和循轨误差信号执行聚焦伺服和循轨伺服，激光束没有被准确地辐射到光盘，并且可能无法针对光盘记录/再现信息。另外，可能没有执行针对光盘的准确信息记录/再现。
解决上述问题的手段可以被认为是例如在ASP的上述计算过程中对当发生光电检测器位移时产生的聚焦误差信号和循轨误差信号执行调整过程的方法。然而，根据光电检测器的位移量，位移可能超过ASP中的可调节范围。光电检测器的位移调整过程具有保证最初被ASP满足的性能的限制。
发明内容
为了解决以上问题，根据本发明的一个方面，提供一种光盘设备，包括光学拾取单元，具有辐射被施加到光盘的激光束的半导体激光器，光电检测器，其具有彼此相邻布置的多个光接收面，每个光接收面从该多个光接收面中所有光接收面的中心按相同径向角度径向布置，并且当该多个光接收面接收施加到光盘的激光束的反射光束时，输出光电转换信号，每个光电转换信号对应于该多个光接收面的每个上的反射光束的水平，多个运算放大器，其基于光电转换信号分别输出用于对光盘的聚焦伺服或循轨伺服的控制信号，和致动器，其基于控制信号执行聚焦伺服或循轨伺服；驱动单元，其基于控制信号驱动致动器来执行聚焦伺服或循轨伺服；其中存储增益数据的存储单元，该增益数据是用于设置该多个运算放大器的增益的数据；和增益设置单元，其基于从存储单元读取的增益数据调整该多个运算放大器的增益，使得增益具有相当于反射光束被均匀施加到该多个光接收面的值。
为了解决以上问题，根据本发明的另一个方面，提供一种光盘设备，包括光学拾取单元，具有辐射被施加到光盘的激光束的半导体激光器，光电检测器，其具有彼此相邻布置的多个光接收面，每个光接收面从该多个光接收面中所有光接收面的中心按相同径向角度径向布置，并且当该多个光接收面接收施加到光盘的激光束的反射光束时，输出光电转换信号，每个光电转换信号对应于该多个光接收面的每个上的反射光束的水平；多个运算放大器，其基于光电转换信号分别输出用于对光盘的聚焦伺服或循轨伺服的控制信号，和致动器，其基于控制信号执行聚焦伺服或循轨伺服；驱动单元，其基于控制信号驱动致动器来执行聚焦伺服或循轨伺服；光学拾取单元内的存储初始增益数据的第一存储单元，该初始增益数据是用于设置该多个运算放大器的初始增益的数据；光学拾取单元外的存储调整增益数据的第二存储单元，该调整增益数据是用于调整该多个运算放大器的增益的数据；和增益设置单元，其基于当使用从第一存储单元读取的初始增益数据设置该多个运算放大器的初始增益时获得的控制信号，使用从第二存储单元读取的调整增益数据调整该多个运算放大器的增益，使得增益具有相当于反射光束被均匀施加到该多个光接收面的值。
为了解决以上问题，根据本发明的另一个方面，提供一种光盘设备，包括光学拾取单元，具有辐射被施加到光盘的激光束的半导体激光器，光电检测器，其具有彼此相邻布置的多个光接收面，每个光接收面从该多个光接收面中所有光接收面的中心按相同径向角度径向布置，并且当该多个光接收面接收施加到光盘的激光束的反射光束时，输出光电转换信号，每个光电转换信号对应于该多个光接收面的每个上的反射光束的水平，和致动器，其对光盘执行聚焦伺服或循轨伺服；多个运算放大器，其基于光电转换信号分别输出使得致动器执行聚焦伺服或循轨伺服的控制信号；驱动单元，其基于控制信号驱动致动器来执行聚焦伺服或循轨伺服；其中存储增益数据的存储单元，该增益数据是用于设置该多个运算放大器的增益的数据；和增益设置单元，其基于从存储单元读取的增益数据调整该多个运算放大器的增益，使得增益具有相当于反射光束被均匀施加到该多个光接收面的值。
为了解决以上问题，根据本发明的另一个方面，提供一种光学拾取单元，包括辐射被施加到光盘的激光束的半导体激光器；光电检测器，其具有彼此相邻布置的多个光接收面，每个光接收面从该多个光接收面中所有光接收面的中心按相同径向角度径向布置，并且当该多个光接收面接收施加到光盘的激光束的反射光束时，输出光电转换信号，每个光电转换信号对应于该多个光接收面的每个上的反射光束的水平；多个运算放大器，其基于光电转换信号分别输出用于对光盘的聚焦伺服或循轨伺服的控制信号；致动器，其基于控制信号执行聚焦伺服或循轨伺服；和其中存储初始增益数据的存储单元，该初始增益数据是用于基于控制信号调整该多个运算放大器的增益，使得增益具有相当于反射光束被均匀施加到该多个光接收面的值的数据。
根据本发明，能够提供这样的光盘设备和光学拾取单元，其能够输出用于聚焦伺服和循轨伺服的准确信号，即使发生了光电检测器的位移。根据附图和这里的描述将能够明白本发明的其它特性。
为了更加完整地理解本发明及其优点，读取下面参照附图进行的描述，其中图1是根据本发明的光盘设备的整个配置的模块图；图2是光电检测器的电路图；图3是根据本发明的光盘设备的操作的流程图；图4示出了4分割光电检测器上激光束和反射光束的成斑光束；图5是根据本发明的光盘设备的第二实施例的模块图；图6是根据本发明的光盘设备的第三实施例的模块图；图7是第三实施例中根据本发明的光盘设备的操作的例子的流程图；图8是根据本发明的光盘设备的第四实施例的模块图；图9A和9B示出了聚焦误差信号或循轨误差信号；而图10示出了激光束到光电检测器的辐射。
具体实施例方式
<第一实施例>
光盘设备1的整个配置参照图1和2描述根据本发明的光盘设备1的整个配置。图1是根据本发明的光盘设备1的整个配置的例子的功能模块图。图2是图1示出的光电检测器11的配置的例子的功能模块图。下面示出的光盘设备1将被描述为使用例如象散方法作为针对光盘9的聚焦伺服并且使用例如推挽方法作为循轨伺服的光盘设备。
参照图1描述光盘设备1的部件。光盘设备1包含光学拾取单元2、主轴电机3、信号处理单元4、CPU(中央处理单元)5、存储器(存储单元)6、增益设置单元7和驱动器(驱动单元)8。
光学拾取单元2具有半导体激光器10、光电检测器11和致动器12。然而，光学拾取单元2具有普通光学拾取设备拥有的各种光学系统(准直透镜、分光器、物镜、变形透镜等等)、前端监视二极管(frontmonitoring diode)等等，这些部件因为不涉及本发明的主题而未示出。
通过基于来自信号处理单元4的信号从激光驱动电路(未示出)施加控制电压，半导体激光器10辐射基于光盘9的标准的波长的激光束(当光盘9遵循CD标准时780到790nm，当遵循DVD标准时650到660nm)。半导体激光器10辐射的激光束的强度对应于光盘9的介质类型(例如，CD-R(可记录)/RW(可重写)、DVD-R/+RW、DVD-RAM(随机访问存储器))，并且被进行伺服控制以将强度调整到对应于接收激光束的前端监视二极管的记录/再现处理的强度。
光电检测器11接收来自光盘9的激光束的反射光束。参照图2详细描述光电检测器11的配置。光电检测器11具有用于接收反射光束的4个光接收面A到D(多个光接收面)，第一运算放大器17A到17D(多个运算放大器)和第二运算放大器18A到18D。指定将整个光接收面分割成光接收面A到D的分割线O和P，使得线O和P彼此以直角交叉，每个均与当象散方法被用于聚焦伺服时产生的象散方向成近似45度的角度。指定分割线P的方向，使得当推挽方法被用于循轨伺服时，这个方向指示轨道的正切线的方向。结果，指定光接收面A到D，使得各面从整个光接收面的中心(分割线O和P的交点)按相同径向角度彼此相邻布置。
第一运算放大器17A产生对应于在光接收面A接收的反射光束的水平的光电转换信号，并且向第二运算放大器18A输出用基于来自增益设置单元7的信号设置的增益放大的控制信号。针对第一运算放大器17A(如此后详细描述的针对DSP14)设置的增益被设置成校正光电检测器11在轨道方向(此后称为″X方向″)或径向(此后称为″Y方向″)的位移的值。类似地，提供对应于光接收面B的第一运算放大器17B，提供对应于光接收面C的第一运算放大器17C，并且提供对应于光接收面D的第一运算放大器17D。这些第一运算放大器17B到17D的操作均与第一运算放大器17A类似，因此省略其描述。后面会描述第一运算放大器17A到17D的详细结构。
第二运算放大器18A向信号处理单元4输出控制信号A′，其中通过用基于来自增益设置单元7的信号设置的增益放大来自第一运算放大器17A的控制信号，从而形成该控制信号A’。针对第二运算放大器18A设置的增益被设置成对应于光盘9的介质类型的值。类似地，提供对应于第一运算放大器17B的第二运算放大器18B，提供对应于第一运算放大器17C的第二运算放大器18C，并且提供对应于第一运算放大器17D的第二运算放大器18D。这些第二运算放大器18B到18D的操作均与第二运算放大器18A类似，因此省略其描述。包括这些部件的光电检测器11通过半导体集成电路(所谓的″PDIC(光电检测器集成电路)″)来构造，并且被安装定位在光学拾取单元的光学外壳上。尽管这里将上述光电检测器11描述为具有第一运算放大器17A到17D和第二运算放大器18A到18D的光电检测器，然而光电检测器11并不限于此。例如，可以将排除第一运算放大器17A到17D和第二运算放大器18A到18D的光电检测器11，以及第一运算放大器17A到17D和第二运算放大器18A到18D作为分立集成电路提供给光学拾取单元2。
再次参照图1描述光盘设备1的每个部件。主轴电机3基于例如对应于光盘9的标准的CAV(固定角速度)模式或CLV(固定线速度)模式进行转动，使得光盘9旋转。例如，通过从驱动器8施加基于由主轴电机3的转动而产生的脉冲信号的控制电压，主轴电机3使得光盘9基于CAV模式旋转。另外，通过使用在信号处理单元4上从记录在光盘9上的信号中提取的同步信号和位时钟，主轴电机3使得光盘9基于CLV模式旋转。
信号处理单元4具有ASP 13和DSP 14(分别为增益设置单元和写入单元)。ASP 13由来自第二运算放大器18A到18D的控制信号A’到D’产生RF信号(射频信号)，并且将增益控制到最优水平。ASP 13通过对RF信号应用均衡处理来将RF信号转换成二进制数据。ASP 13基于来自第二运算放大器18A到18D的控制信号A到D产生聚焦误差信号{＝(A’+C’)-(B’+D’)}和循轨误差信号{＝(A’+D’)-(B’+C’)}。此时，例如如图9B所示，ASP 13检测由于光电检测器11的位移和光电检测器11的特性、光学拾取单元2的特性等等而产生的相对于参考DC值的聚焦误差信号和循轨误差信号的偏差。ASP 13计算相对于参考DC值的DC值，该DC值被叠加在聚焦误差信号和循轨误差信号上以将具有产生的偏差的聚焦误差信号和循轨误差信号的每个转换成具有相对于参考DC值的S形特性的信号(参见图9A)。通过执行调整过程，例如通过叠加计算的DC值来执行聚焦误差信号和循轨误差信号的平衡调整和水平调整，ASP将聚焦误差信号和循轨误差信号的每个转换成具有S形特性的信号。此时由ASP 13计算的DC值被模/数转换电路(未示出)数字化，并且被发送到DSP 14。
CPU 5管理光盘设备1的各种控制，并且使用基于已知盘判断方法进行处理的盘判断单元15来判断光盘9的介质的类型。例如，通过基于当电源电压被接通时被施加以检测光盘9的信号层的激光束的反射光束来判断ASP 13产生的聚焦误差信号的峰值是否超过基于光盘9的介质类型而确定的阈值，CPU 5(盘判断单元15)判断出光盘9的介质类型(此后称为″焦点搜索″)。另外，在焦点搜索中，通过判断ASP 13产生的聚焦误差信号的单位时间变化量最大值是否超过基于光盘9的介质类型而确定的参考值，CPU 5(盘判断单元15)判断光盘9的介质类型。CPU 5向信号处理单元4传送通过判断光盘9的介质类型而获得的判断结果。
当DSP 14检测到光盘设备1的电源电压的接通时，DSP 14此时读取存储器6中存储的用于设置第一运算放大器17A到17D的增益(初始增益)的数据(此后称为″第一增益数据″，即初始增益数据)，并且传送该数据到增益设置单元7。第一增益数据的例子可以是当光盘设备1第一次操作时将第一运算放大器17A到17D的增益取为0dB的数据。另外，光学拾取单元2和光盘设备1的相应厂商可能是不同的。在这种情况下，光学拾取单元2的制造商可以将光学拾取单元2包括在与光盘设备1具有相同配置的光盘设备中，以在制造过程中检测光学拾取单元2的性能特性。分别基于此时检测的控制信号A’到D’而针对第一运算放大器17A到17D设置的增益可以是第一增益数据。通过实施例中以后描述的光盘设备1的操作，第一增益数据被更新为对于光电检测器11相对反射光束的定位状态最优的数据。在焦点搜索期间，为将第二运算放大器18A到18D的增益设置为例如0dB，DSP 14向增益设置单元7传送指示0dB的数据(此后称为″初始数据″)。为基于来自CPU 5的有关光盘9的介质类型的判断结果来设置第二运算放大器18A到18D的增益，DSP 14从存储器6中读取对应于判断结果的数据(此后称为″第二增益数据″)，并且传送该数据到增益设置单元7。
DSP 14对来自ASP 13的二进制数字化信号应用基于光盘9的标准的解码处理，并且通过接口(I/F)输出结果到主机计算机等等。例如，当光盘9为CD时，EFM(8-14调制)被用作调制编码，并且CIRC(交叉交插里德-索罗蒙调制)被用作CD标准中的纠错码。因此，DSP 14基于调制编码和纠错码执行解码处理。另外，当光盘9为DVD时，EFM-Plus(8-16)被用作调制编码，并且RS(里德-索罗蒙)乘积码被用作DVD标准中的纠错码。因此，DSP 14基于调制编码和纠错码执行解码处理。结果，记录在光盘9上的信息被再现。
DSP 14对通过接口输入的输入数据应用基于光盘9的标准的编码处理。根据上述基于光盘9的标准的调制编码和纠错码来应用DSP 14的编码处理。DSP 14向光策略电路(light-strategy circuit)(未示出)输出应用了编码处理的信号。通过由于光策略电路的处理而控制激光驱动电路施加到半导体激光器10的控制电压，对光盘9执行信息记录。
DSP 14例如基于来自ASP 13的指示DC值的数字信号来判断DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅度(参见图9B)的百分比是否超过±25(％)。值±25(％)表示DC值的最大值的例子，其允许不导致性能退化(例如降低处理速度和处理结果精度退化)的对偏差的调整处理，以执行不同于当ASP 13对偏差执行调整处理时的调整处理(例如上述均衡、到二进制数据的转换)的处理。即，在实施例中，将继续假定当DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅度的百分比超过±25(％)时，执行不同于ASP 13的调整处理的处理的性能会退化。例如当ASP 13具有高性能时，可以设置超过±25(％)的值，当希望降低ASP 13对偏差的调整处理的负载时，可以设置小于±25(％)的值。
当DSP 14判断DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅度的百分比超过±25(％)时，DSP 14通过模/数转换电路(未示出)检测来自第二运算放大器18A到18D的控制信号A’到D’，并且计算各个量以分别校正基于第一增益数据设置的第一运算放大器17A到17D的增益。更具体地，DSP 14计算100*{(A’+B’)-(C’+D’)}，并且判断是否存在光电检测器11(光接收面A到D)在X方向的位移(参见图2)。DSP 14计算100*{(A’+D’)-(B’+C′)}，并且判断是否存在光电检测器11(光接收面A到D)在Y方向的位移(参见图2)。在这些计算过程中，执行″100″的相乘以更加准确和更加安全地检测光电检测器11的位移。当DSP 14判断出X方向或Y方向的位移(计算结果≠零)时，DSP 14分别计算控制信号A′到D′和控制信号A′到D′的平均值((A′+B′+C′+D′)/4)之间的差值。DSP14计算分别对应于所述差值、针对第一运算放大器17A到17D的增益的校正数值。更具体地，DSP 14根据(平均值-控制信号A′)的计算结果计算第一运算放大器17A的增益，以将控制信号A′调整为当反射光束被均匀辐射到光接收面A到D时获得的控制信号A′。类似地，DSP 14根据(平均值-控制信号B′)的计算结果计算第一运算放大器17B的增益，以将控制信号B′调整为当反射光束被均匀辐射到光接收面A到D时获得的控制信号B′。类似地，DSP 14根据(平均值-控制信号C’)的计算结果计算第一运算放大器17C的增益，以将控制信号C’调整为当反射光束被均匀辐射到光接收面A到D时获得的控制信号C’。类似地，DSP 14根据(平均值-控制信号D′)的计算结果计算第一运算放大器17D的增益，以将控制信号D′调整为当反射光束被均匀辐射到光接收面A到D时获得的控制信号D′。结果，DSP 14计算第一运算放大器17A到17D的增益，其实现相当于反射光束被均匀辐射到光接收面A到D的效果。也就是说，计算的增益具有相当于反射光束被均匀辐射到光接收面A到D的值。这些值指示反射光束被均匀辐射到光接收面A到D的状态。DSP 14向增益设置单元7传送指示第一运算放大器17A到17D的增益的校正数值(此后称为″增益校正数据″，即增益数据)的数据。DSP 14更新存储器6中存储的第一增益数据以将增益校正数据更新到第一增益数据。尽管在实施例中该设备被配置成将增益校正数据更新为第一增益数据，然而其配置不限于此。例如，可以提供存储器6，使得在与存储第一增益数据的存储器6的地址不同的地址处增加增益校正数据。在这种情况下，DSP 14在光盘设备1的下一操作的开始时，从存储器6中存储最后增益校正数据的地址读取增益校正数据。
存储器6存储第一增益数据。存储器6存储如上所述对应于光盘9的介质类型的第二增益数据。存储器6包括例如EEPROM(电子可擦除可编程只读存储器)的非易失存储器件，包含快擦写ROM(只读存储器)，其能够通过例如电擦除来重复读和写数据。
当电源电压被接通(即加电)时，增益设置单元7基于来自DSP 14的第一增益数据将由第一增益数据指示的增益设置到第一运算放大器17A到17D。增益设置单元7基于来自DSP 14的初始数据将由初始数据指示的增益(0dB)设置到第二运算放大器18A到18D。增益设置单元7基于来自DSP 14的第二增益数据将由第二增益数据指示的增益设置到第二运算放大器18A到18D。增益设置单元7基于来自DSP 14的增益校正数据将由增益校正数据指示的增益设置到第一运算放大器17A到17D。
致动器12具有例如用于聚焦伺服的聚焦驱动线圈(未示出)、用于循轨伺服的循轨驱动线圈(未示出)的磁路单元。通过基于来自信号处理单元4的聚焦误差信号和循轨误差信号对致动器12具有的这些控制线圈施加来自驱动器8的控制电压，执行分别在光轴方向(此后称为″Z方向″，参见图2)或Y方向上移动物镜的聚焦伺服和循轨伺服。即，来自光学拾取单元2的激光束能够被聚焦在光盘9的信号层上，并且可以使其跟踪轨道。因此，能够准确辐射用于记录/再现信息的激光束。尽管因为不涉及本发明的主题而没有详细描述，然而致动器12执行作为普通伺服控制的倾斜控制、螺线控制等等。
上述光盘设备1具有例如在其上放置光盘9的盘托(未示出)，并且当盘托被从光盘设备1拉出时执行光盘9的放入和移除。当盘托被抽入到盘托面对光盘设备1中的光学拾取单元2的位置时，盘托被锁定以防止盘托跳出。下面针对被配置用于例如通过操作弹出机构而解除锁定以便拉出的盘托的设备来进行描述。
第一运算放大器17A到17D的细节下面将参照图3描述第一运算放大器17A到17D的详细结构。图3是例如第一运算放大器17A到17D中的第一运算放大器17A的配置的电路图，假定第一运算放大器17B到17D的每个均具有相同配置，因此省略其描述。
光电二极管16A构成光接收面A的一部分(参见图2)，并且其阳极接地，其阴极与第一运算放大器17A的反相输入端(负端)连接。对应于在光接收面A处接收的反射光束的水平的电流流过光电二极管16A。
在第一运算放大器17A中，非反相输入端(正端)与参考电压Vref连接，反相输入端与光电二极管16A的阴极和开关电路19AA到19AN的每个的端子连接，并且输出端与第二运算放大器18A和反馈电阻器20AA到20AN的每个的端子连接。
开关电路19AA到19AN以一一对应的方式被提供给反馈电阻器20AA到20AN，并且与反馈电阻器20AA到20AN一起在非反相输入端和输出端之间并联连接。基于来自增益设置单元7的信号有选择地接通开关电路19AA到19AN的每个。开关电路19AA到19AN的每个包括晶体管，例如通过向其控制电极施加由来自增益设置单元7的信号指示的高电压而接通该晶体管，并且通过向其控制电极施加由来自增益设置单元7的信号指示的低电压而断开该晶体管。
在反馈电阻器20AA到20AN的每个中，其一端与输出端连接，并且其另一端与开关电路19AA到19AN的每个的另一端连接。通过基于来自增益设置单元7的信号有选择地接通开关电路19AA到19AN的每个，根据与有选择地接通的开关电路19AA到19AN连接的反馈电阻器20AA到20AN的电阻值确定的电阻值被设置成第一运算放大器17A的增益(此后称为″反馈电阻器20AA到20AN的选择性电阻值″)。例如，假定反馈电阻器20AA的电阻值为20AAR并且反馈电阻器20AC的电阻值为20ACR，则当开关电路19AA和19AC被接通时获得的电阻值＝(20AAR*20ACR/(20AAR+20ACR))。即，通过由增益设置单元7基于第一增益数据和增益校正数据有选择地接通开关电路19AA到19AN，第一增益数据和增益校正数据指示的增益能够被设置到第一运算放大器17A。根据流过光电二极管16A的电流与反馈电阻器20AA到20AN的选择性电阻值的乘积，产生对应于电流(光电转换信号)的电压。第一运算放大器17A向第二运算放大器18A输出控制信号，其中通过用反馈电阻器20AA到20AN的选择性电阻值确定的增益来放大非反相输入端的参考电压Vref和反相输入端的光电转换信号之间的差，形成该控制信号。
下面将描述与上述第一运算放大器17A相同的第一运算放大器17B的配置，其被表示为光电二极管16B、开关电路19BA到19BN和反馈电阻器20BA到20BN。下面将描述第一运算放大器17C的配置，其被表示为光电二极管16C、开关电路19CA到19CN和反馈电阻器20CA到20CN。下面将描述第一运算放大器17D的配置，其被表示为光电二极管16D、开关电路19DA到19DN和反馈电阻器20DA到20DN。
光盘设备1的操作参照图1到4描述基于本发明的光盘设备的操作。图4是光盘设备1的操作的例子的流程图。在该实施例中，假定由于随时间发生的变化等等而产生相对光电检测器11被定位在的位置的位移，并且光接收面A到D以例如如图2所示(实线)的方式接收从光盘9反射的光束。
当DSP14检测到光盘设备1的电源电压的接通时(S101-″是″)，DSP14从存储器6读取第一增益数据(S102)并且向增益设置单元7传送该数据。增益设置单元7向开关电路19AA到19AN传送信号以将由第一增益数据指示的增益设置到第一运算放大器17A。类似地，增益设置单元7向开关电路19BA到19BN传送信号以将由第一增益数据指示的增益设置到第一运算放大器17B。类似地，增益设置单元7向开关电路19CA到19CN传送信号以将由第一增益数据指示的增益设置到第一运算放大器17C。类似地，增益设置单元7向开关电路19DA到19DN传送信号以将由第一增益数据指示的增益设置到第一运算放大器17D。接通基于来自增益设置单元7的信号选择的开关电路19AA到19AN。类似地，接通基于来自增益设置单元7的信号选择的开关电路19BA到19BN。类似地，接通基于来自增益设置单元7的信号选择的开关电路19CA到19CN。类似地，接通基于来自增益设置单元7的信号选择的开关电路19DA到19DN。结果，与有选择地接通的开关电路19AA到19AN连接的反馈电阻器20AA到20AN的选择性电阻值被设置成第一运算放大器17A的增益。即，由第一增益数据指示的增益被设置到第一运算放大器17A。类似地，与有选择地接通的开关电路19BA到19BN连接的反馈电阻器20BA到20BN的选择性电阻值被设置成第一运算放大器17B的增益。即，由第一增益数据指示的增益被设置到第一运算放大器17B。类似地，与有选择地接通的开关电路19CA到19CN连接的反馈电阻器20CA到20CN的选择性电阻值被设置成第一运算放大器17C的增益。即，由第一增益数据指示的增益被设置到第一运算放大器17C。类似地，与有选择地接通的开关电路19DA到19DN连接的反馈电阻器20DA到20DN的选择性电阻值被设置成第一运算放大器17D的增益。即，由第一增益数据指示的增益被设置到第一运算放大器17D(S103)。DSP 14向增益设置单元7传送初始数据以将第二运算放大器18A到18D的增益设置为0dB。基于该初始数据，增益设置单元7将由该初始数据指示的增益(0dB)设置到第二运算放大器18A到18D(S104)。
当CPU 5检测到例如在其上放入光盘9的盘托的抽入时(S105)，CPU 5向驱动器8传送信号以转动主轴电机3。基于来自CPU 5的信号，驱动器8向主轴电机3施加控制电压以在例如CAV模式下转动主轴电机。结果，主轴电机3以固定角速度转动并且光盘9被旋转(S106)。CPU5向信号处理单元4传送信号，使半导体激光器10从其辐射激光束，以执行焦点搜索。基于来自CPU 5的信号，信号处理单元4向激光驱动电路传送信号。通过向半导体激光器10施加来自激光驱动电路的控制电压，来自半导体激光器10的激光束被施加到光盘9(S107)。
光电检测器11的光接收面A到D接收来自光盘9的激光束的反射光束。分别对应于反射光束的水平的电流分别流过对应于光接收面A到D的光电二极管16A到16D。结果，第一运算放大器17A基于流过光电二极管16A的电流与反馈电阻器20AA到20AN的选择性电阻值的乘积产生光电转换信号。第一运算放大器17A从其输出端输出控制信号，其中通过用所设置的增益来放大非反相输入端的参考电压Vref和反相输入端的光电转换信号之间的差，形成该控制信号。第二运算放大器18A用设置的增益0dB放大来自第一运算放大器17A的控制信号，并且将控制信号A′输出到信号处理单元4。类似地，第一运算放大器17B基于流过光电二极管16B的电流与反馈电阻器20BA到20BN的选择性电阻值的乘积产生光电转换信号。第一运算放大器17B从其输出端输出控制信号，其中通过用所设置的增益来放大非反相输入端的参考电压Vref和反相输入端的光电转换信号之间的差，形成该控制信号。第二运算放大器18B用设置的增益0dB放大来自第一运算放大器17B的控制信号，并且将控制信号B′输出到信号处理单元4。类似地，第一运算放大器17C基于流过光电二极管16C的电流与反馈电阻器20CA到20CN的选择性电阻值的乘积产生光电转换信号。第一运算放大器17C从其输出端输出控制信号，其中通过用所设置的增益来放大非反相输入端的参考电压Vref和反相输入端的光电转换信号之间的差，形成该控制信号。第二运算放大器18C用设置的增益0dB放大来自第一运算放大器17C的控制信号，并且将控制信号C输出到信号处理单元4。类似地，第一运算放大器17D基于流过光电二极管16D的电流与反馈电阻器20DA到20DN的选择性电阻值的乘积产生光电转换信号。第一运算放大器17D从其输出端输出控制信号，其中通过用所设置的增益来放大非反相输入端的参考电压Vref和反相输入端的光电转换信号之间的差，形成该控制信号。第二运算放大器18D用设置的增益0dB放大来自第一运算放大器17D的控制信号，并且将控制信号D输出到信号处理单元4。ASP 13基于分别来自第二运算放大器18A到18D的控制信号A′到D’产生聚焦误差信号{＝(A′+C′)-(B′+D′)}。例如，通过判断ASP 13产生的聚焦误差信号的峰值是否超过针对光盘9的每个介质类型确定的阈值，CPU 5判断光盘9的介质类型(S108，S109)。CPU 5向信号处理单元4传送判断光盘9的介质类型的判断结果。
为基于来自CPU 5的判断光盘9的介质类型的判断结果来设置第二运算放大器18A到18D的增益，DSP 14从存储器6中读取对应于判断结果的第二增益数据，并且传送该数据到增益设置单元7。增益设置单元7基于第二增益数据将由第二增益数据指示的增益设置到第二运算放大器18A到18D(S110)。结果，对应于光盘9的介质类型的增益被分别设置到第二运算放大器18A到18D。第二运算放大器18A用第二增益数据指示的增益放大来自第一运算放大器17A的控制信号，并且将控制信号A′输出到信号处理单元4。类似地，第二运算放大器18B用第二增益数据指示的增益放大来自第一运算放大器17B的控制信号，并且将控制信号B′输出到信号处理单元4。类似地，第二运算放大器18C用第二增益数据指示的增益放大来自第一运算放大器17C的控制信号，并且将控制信号C’输出到信号处理单元4。类似地，第二运算放大器18D用第二增益数据指示的增益放大来自第一运算放大器17D的控制信号，并且将控制信号D’输出到信号处理单元4。
ASP 13基于来自第二运算放大器18A到18D的控制信号A′到D’产生聚焦误差信号{＝(A′+C′)-(B′+D′)}和循轨误差信号{＝(A′+D′)-(B′+C′)}。此时，因为光接收面A到D以如图2所示(实线)的方式接收从光盘9反射的光束，ASP 13产生的聚焦误差信号和循轨误差信号是如例如图9B所示均具有相对参考DC值产生的偏差的信号。ASP 13计算DC值，DC值将分别被叠加到聚焦误差信号和循轨误差信号上以便将这些信号分别转换成具有相对参考DC值的S形特性的信号(S111)。由ASP 13计算的DC值被数字化，并且被发送到DSP 14。DSP14基于来自ASP 13的指示DC值的数字信号来判断DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅值(参见图9B)的百分比是否超过±25(％)(S112)。
当DSP 14判断DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅值超过±25(％)时(S112-″是″)，DSP 14检测来自第二运算放大器18A到18D的控制信号A′到D’(S113)。DSP 14计算100*{(A′+B′)-(C′+D′)}，并且判断是否存在光电检测器11(光接收面A到D)在X方向的位移(参见图2)(S114)。当DSP 14判断存在光电检测器11(光接收面A到D)在X方向的位移(S114-″否″)时，过程前进到以后描述的S116。当DSP 14判断不存在光电检测器11(光接收面A到D)在X方向的位移(S114-″是″)时，DSP 14计算100*{(A′+D′)-(B′+C′)}，并且判断是否存在光电检测器11(光接收面A到D)在Y方向的位移(参见图2)(S115)。当DSP 14判断存在光电检测器11(光接收面A到D)在Y方向的位移(S115-″否″)时，DSP14计算控制信号A′到D’的平均值{(A′+B′+C′+D′)/4}。DSP 14基于平均值和控制信号A′之间的差来计算第一运算放大器17A的增益的校正数值(S116)。类似地，DSP 14基于平均值和控制信号B′之间的差来计算第一运算放大器17B的增益的校正数值(S117)。类似地，DSP 14基于平均值和控制信号C′之间的差来计算第一运算放大器17C的增益的校正数值(S118)。类似地，DSP 14基于平均值和控制信号D′之间的差来计算第一运算放大器17D的增益的校正数值(S119)。DSP 14产生指示第一运算放大器17A到17D的增益的校正数值的增益校正数据。DSP 14向激光驱动电路传送信号以停止激光束从半导体激光器10的辐射。通过从激光驱动电路施加控制电压(例如0[V])，停止从半导体激光器10到光盘9的激光束辐射(S120)。DSP 14向增益设置单元7传送增益校正数据。
增益设置单元7向开关电路19AA到19AN传送信号以将由增益校正数据指示的增益设置到第一运算放大器17A。类似地，增益设置单元7向开关电路19BA到19BN传送信号以将由增益校正数据指示的增益设置到第一运算放大器17B。类似地，增益设置单元7向开关电路19CA到19CN传送信号以将由增益校正数据指示的增益设置到第一运算放大器17C。类似地，增益设置单元7向开关电路19DA到19DN传送信号以将由增益校正数据指示的增益设置到第一运算放大器17D。接通基于来自增益设置单元7的信号选择的开关电路19AA到19AN。类似地，接通基于来自增益设置单元7的信号选择的开关电路19BA到19BN。类似地，接通基于来自增益设置单元7的信号选择的开关电路19CA到19CN。类似地，接通基于来自增益设置单元7的信号选择的开关电路19DA到19DN。结果，与有选择地接通的开关电路19AA到19AN连接的反馈电阻器20AA到20AN的选择性电阻值被设置成第一运算放大器17A的增益。即，由增益校正数据指示的增益被设置到第一运算放大器17A。类似地，与有选择地接通的开关电路19BA到19BN连接的反馈电阻器20BA到20BN的选择性电阻值被设置成第一运算放大器17B的增益。即，由增益校正数据指示的增益被设置到第一运算放大器17B。类似地，与有选择地接通的开关电路19CA到19CN连接的反馈电阻器20CA到20CN的选择性电阻值被设置成第一运算放大器17C的增益。即，由增益校正数据指示的增益被设置到第一运算放大器17C。类似地，与有选择地接通的开关电路19DA到19DN连接的反馈电阻器20DA到20DN的选择性电阻值被设置成第一运算放大器17D的增益。即，由增益校正数据指示的增益被设置到第一运算放大器17D(S121)。DSP 14更新存储器6中存储的第一增益数据以将增益校正数据转换成第一增益数据(S122)。过程返回到上述S107。结果，设置第一运算放大器17A到17D的增益，使得增益具有相当于光接收面A到D接收如图2中虚线所示的反射光束的值，虽然光接收面A到D接收如图2中实线所示的实际反射光束。从输出端输出来自设置了增益的第一运算放大器17A到17D的控制信号。结果，ASP 13产生的聚焦误差信号和循轨误差信号是均具有相对参考DC值的S形特性的信号。
当DSP 14判断DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅值的百分比不超过±25(％)(S112-″否″)时，分别叠加DC值之后的聚焦误差信号和循轨误差信号(然而当相对参考DC值没有产生偏差时，不叠加DC值)被发送到驱动器8。当聚焦误差信号是指示误聚焦到光盘9的信号层的信号或循轨误差信号是指示误循轨到光盘9的轨道的信号时(即，当聚焦误差信号或循轨误差信号或二者不为零时)，驱动器8分别向聚焦驱动线圈和循轨驱动线圈施加控制电压(S123)。通过基于控制电压使用聚焦驱动线圈和循轨驱动线圈驱动物镜，物镜沿Z方向或X方向移动，因此执行聚焦伺服和循轨伺服(S124)。结果，激光束被准确施加到光盘9，并且准确执行针对光盘9的信息再现/记录(S125)。
基于以上所述，执行基于控制信号A′到D′的计算过程(平均值-每个控制信号A′到D′的差)，以校正第一运算放大器17A到17D的增益，然而该处理不限于以上所述。例如，可以在存储器6中预先存储多个增益校正数据，其分别指示具有要分别针对第一运算放大器17A到17D设置的不同值的增益。更具体地，当DSP 14判断DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅值的百分比超过±25(％)时(S112-″是″)，DSP 14从存储器6中读取多个增益校正数据中的一个增益校正数据，并且将该数据传送到增益设置单元7。结果，由该一个增益校正数据指示的增益被设置到第一运算放大器17A到17D。DSP 14再次判断DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅值的百分比是否超过±25(％)(S112)。当DSP 14再次判断DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅值的百分比超过±25(％)时(S112-″是″)，DSP 14从存储器6中读取该多个增益校正数据中不同于上述一个增益校正数据的一个增益校正数据，并且将该数据传送到增益设置单元7。以这种方式，存储器6中存储的该多个增益校正数据的每个可以被顺序读取，并且可以被设置成第一运算放大器17A到17D的增益，直到DSP 14判断DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅值的百分比不超过±25(％)(S112-″否″)。另外，当多个增益校正数据指示的所有增益被设置成第一运算放大器17A到17D的增益并且DSP 14判断DC值相对最大幅值的百分比最小时(或者DC值相对最大幅值的百分比为零)，由其DC值相对最大幅值的百分比为最少的增益校正数据所指示的增益可以被设置成第一运算放大器17A到17D的增益。
基于以上所述，当DSP 14判断DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅值的百分比超过±25(％)(S112-″是″)时，执行处理以校正第一运算放大器17A到17D的增益，然而该处理不限于此。例如，当S114和S115处的处理在图4的S110和S111之间执行，并且作为结果判断出光电检测器11(光接收面A到D)在X方向或Y方向的位移时(S114-″否″，S115-″否″)，可以规定过程执行S116之后的处理。结果，不必判断DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅值的百分比是否超过±25(％)(S112)，因此能够降低DSP 14中的处理负载。
基于以上所述，假定象散方法被用于聚焦伺服，推挽方法被用于循轨伺服，并且来自半导体激光器10的激光束没有被衍射，然而假设不限于此。例如，当差动象散方法被用于聚焦伺服并且差动推挽方法或3光束方法被用于循轨伺服时，可以提供衍射栅，其对光学拾取单元2的光学系统中的激光束进行衍射，并且可以提供3个光电检测器11，以接收经过衍射栅衍射的激光束的零阶衍射光束和±1阶光束的反射光束。可以分别为光电检测器11提供4个光接收面A到D(或为±1阶光束的反射光束提供2个光接收面)，并且可以产生差动象散方法的聚焦误差信号等等，和差动推挽方法的循轨误差信号等等。
因为上述第二运算放大器18A到18D的配置不涉及本发明的主题，因此对其进行省略。然而，例如，该配置可以与图3所示的第一运算放大器17A到17D的配置相同。通过基于对应于来自增益设置单元7的第二增益数据的信号闭合开关电路19AA到19AN，对应于光盘9的介质类型的增益可以被设置到第二运算放大器18A到18D。
基于以上所述，描述了第一运算放大器17A到17D的第一增益数据，第二运算放大器18A到18D的第二增益数据和初始数据全部存储在存储器6中的情况。然而存储不限于此。例如，存储器6可以专用于存储第一增益数据。结果，例如，存储器6包括EEPROM等等，因为需要将第一增益数据更新为增益校正数据，因此能够重复针对EEPROM进行读和写。然而，存储程序数据等等以便CPU 5执行处理的ROM等等可以存储该数据，因为不需要同时更新第二增益数据和初始数据二者。即，能够降低存储器6的存储容量，并且能够利于降低光盘设备1的成本和简化电路结构。
基于上述实施例，可以基于从存储器6读取的第一增益数据(或更新增益校正数据之后的第一增益数据)来将第一运算放大器17A到17D的增益调整为相当于反射光束被光接收面A到D均匀接收的值。结果，能够将来自第一运算放大器17A到17D的控制信号调整为防止(或降低)光电检测器11(光接收面A到D)的位移的影响的信号。基于控制信号能够成功执行聚焦伺服和循轨伺服。光电检测器11的定位精度不需要是严格的，并且其可以通过光学拾取单元2的制造过程中的粗略调整来实现。因为在光盘设备1中通过这样的计算过程获得增益，即使得来自第一运算放大器17A到17D的控制信号与当反射光束被均匀辐射到光接收面A到D时获得的控制信号等同。结果，在光学拾取单元2的制造中，能够利于降低成本和光电检测器11定位的复杂度。
通过在光盘设备1中将存储器6提供在光学拾取单元2之外，能够利于降低成本，并且使光学拾取单元2的电路结构更加容易实现。
能够基于当在第一运算放大器17A到17D中设置由提前存储在存储器6中的第一增益数据指示的增益时获得的控制信号A′到D′来计算增益校正数据。结果，即使预先存储的第一增益数据没有指示能够准确校正光电检测器11(光接收面A到D)的位移的增益，仍能够将第一运算放大器17A到17D的增益调整到相当于反射光束被均匀辐射到光接收面A到D的值。
当DSP 14判断DC值相对最大幅值的百分比超过±25(％)时，能够计算增益校正数据。结果，当在常规技术中通过叠加ASP 13的DC值能够将聚焦误差信号和循轨误差信号校正到均具有S形特性的信号时，能够降低计算增益校正数据的处理负载。因为当DSP 14判断DC值相对最大幅值的百分比超过±25(％)时能够不经ASP 13的任何处理而计算增益校正数据，所以能够防止ASP 13的性能的退化。
因为增益校正数据被存储在存储器6中，在下一次执行的光盘设备1的操作中，像在光电检测器11(光接收面A到D)被移位的状态中那样，在第一运算放大器17A到17D中设置最后的增益，因此可不必始终执行增益校正数据的计算。结果，能够降低光盘设备1的处理负载，并且能够迅速执行针对光盘9的信息记录/再现。
因为通过检测光盘设备1的电源电压的接通来设置第一运算放大器17A到17D的增益，能够迅速产生极好的聚焦误差信号和循轨误差信号。结果，能够迅速执行针对光盘9的信息记录/再现。
<第二实施例>
光盘设备23的整个配置参照图5描述基于本发明的光盘设备23的配置。在图5示出的光盘设备23中，分别为与图1示出的光盘设备1相同的部件提供相同的附图标记，并且省略其描述。
图5示出的光盘设备23被配置成具有光学拾取单元24内的存储器6。通过以这种方式在光学拾取单元24内提供存储器6，当例如分别制造光学拾取单元24和具有排除光学拾取单元24的配置的光盘设备23时，能够利于降低光盘设备23的成本和使电路结构更易于制造。光电检测器11的定位精度不需要是严格的，并且其可以通过光学拾取单元24的制造过程中的粗略调整来实现。因为在光盘设备23中通过这样的计算过程获得增益，即使得来自第一运算放大器17A到17D的控制信号与当反射光束被均匀辐射到光接收面A到D时获得的控制信号等同。结果，在光学拾取单元24的制造中，能够利于降低成本和光电检测器11定位的复杂度。光盘设备23的操作与上述第一实施例的相同。
<第三实施例>
光盘设备25的整个配置参照图6描述基于本发明的光盘设备25的配置。在图6示出的光盘设备25中，分别为与图1示出的光盘设备1相同的部件提供相同的附图标记，并且省略其描述。
光学拾取单元26具有存储器21(第一存储单元)。例如，存在光学拾取单元26和光盘设备25的相应厂商不相同的情况。在这种情况下，光学拾取单元26的制造商可以将光学拾取单元26包括在与光盘设备25(或光盘设备1)具有相同配置的光盘设备中，以在制造过程中检测光学拾取单元26的性能特性。存储器21存储初始增益数据，初始增益数据指示基于在制造光学拾取单元26的制造商一方检测的控制信号A′到D′要在第一运算放大器17A和17D中设置的增益。
光盘设备25具有存储器22(第二存储单元)。存储器22预先存储在第一实施例中描述的初始数据和第二增益数据，以及多个增益校正数据，所述增益校正数据指示均具有不同值、要在第一运算放大器17A到17D中设置的多个增益。下面将描述该实施例，假定存储器22预先存储第一增益校正数据和第二增益校正数据。参照图2描述存储在存储器21中的第一增益校正数据，第二增益校正数据和初始增益数据。假定初始增益数据指示要在第一运算放大器17A到17D中设置以将来自第一运算放大器17A到17D的控制信号调整到当反射光束被均匀施加到光接收面A到D时获得的控制信号的增益，其中当在光学拾取单元26的制造过程中应当如虚线所示辐射的反射光束在X方向或Y方向被略微移位时(然而这个位移明显小于实线指示的反射光束的位移)，获得所述来自第一运算放大器17A到17D的控制信号。假定第一增益校正数据指示要在第一运算放大器17A到17D中设置以将来自第一运算放大器17A到17D的控制信号调整到当反射光束被均匀施加到光接收面A到D时获得的控制信号的增益，其中当反射光束在X方向或Y方向的位移大于上述初始增益数据中的位移并且小于实线指示的反射光束的位移时，获得所述来自第一运算放大器17A到17D的控制信号。假定第二增益校正数据指示要在第一运算放大器17A到17D中设置以将来自第一运算放大器17A到17D的控制信号调整到当反射光束被均匀施加到光接收面A到D时获得的控制信号的增益，其中当反射光束在X方向或Y方向的位移是实线指示的反射光束的位移时，获得所述来自第一运算放大器17A到17D的控制信号。
光盘设备25的操作参照图7描述基于本发明的光盘设备25的操作。图7是基于本发明的光盘设备25的操作的例子的流程图。因为S201、S204到S215和S227到S229分别与图4和第一实施例中描述的S101、S104到S115和S123到S125相同，因此省略其详细描述。
当DSP 27检测到光盘设备25的电源电压的接通时(S201-″是″)，DSP 27从存储器21读取初始增益数据(S202)并且向增益设置单元7传送该数据。增益设置单元7向开关电路19AA到19AN传送信号以将由初始增益数据指示的增益设置到第一运算放大器17A。类似地，增益设置单元7向开关电路19BA到19BN传送信号以将由初始增益数据指示的增益设置到第一运算放大器17B。类似地，增益设置单元7向开关电路19CA到19CN传送信号以将由初始增益数据指示的增益设置到第一运算放大器17C。类似地，增益设置单元7向开关电路19DA到19DN传送信号以将由初始增益数据指示的增益设置到第一运算放大器17D。接通基于来自增益设置单元7的信号选择的开关电路19AA到19AN。类似地，接通基于来自增益设置单元7的信号选择的开关电路19BA到19BN。类似地，接通基于来自增益设置单元7的信号选择的开关电路19CA到19CN。类似地，接通基于来自增益设置单元7的信号选择的开关电路19DA到19DN。结果，与有选择地接通的开关电路19AA到19AN连接的反馈电阻器20AA到20AN的选择性电阻值被设置成第一运算放大器17A的增益。即，由初始增益数据指示的增益被设置到第一运算放大器17A。类似地，与有选择地接通的开关电路19BA到19BN连接的反馈电阻器20BA到20BN的选择性电阻值被设置成第一运算放大器17B的增益。即，由初始增益数据指示的增益被设置到第一运算放大器17B。类似地，与有选择地接通的开关电路19CA到19CN连接的反馈电阻器20CA到20CN的选择性电阻值被设置成第一运算放大器17C的增益。即，由初始增益数据指示的增益被设置到第一运算放大器17C。类似地，与有选择地接通的开关电路19DA到19DN连接的反馈电阻器20DA到20DN的选择性电阻值被设置成第一运算放大器17D的增益。即，由初始增益数据指示的增益被设置到第一运算放大器17D(S203)。即，基于由光学拾取单元26的制造商提供的初始增益数据设置第一运算放大器17A到17D的增益。
当DSP 27判断DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅值的百分比超过±25(％)(S212-″是″)并且检测到光电检测器11(光接收面A到D)在X方向或Y方向的位移(S214-″否″，S215-″否″)时，DSP 27从存储器22中读取第一增益校正数据(S216)。在S212处DSP 27判断DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅值的百分比超过±25(％)意味着由于随时间发生的变化，当光学拾取单元26已经被引入光盘设备25之后光电检测器11(光接收面A到D)的位移大于在光学拾取单元26的制造过程期间光电检测器11(光接收面A到D)的位移。停止半导体激光器10的激光束的辐射(S217)，并且由增益设置单元7向第一运算放大器17A到17D设置由第一增益校正数据指示的增益(S218)。再次从半导体激光器10向光盘9辐射激光束(S219)并且计算DC值(S220)。
当第一增益校正数据指示的增益被设置到第一运算放大器17A到17D时，DSP 27判断DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅值的百分比是否超过±25(％)(S221)。当DSP 27判断DC值相对最大幅值的百分比超过±25(％)时(S221-″是″)，DSP 27从存储器22读取第二增益校正数据(S222)。停止半导体激光器10的激光束的辐射(S223)，并且由增益设置单元7向第一运算放大器17A到17D设置由第二增益校正数据指示的增益(S224)。再次从半导体激光器10向光盘9辐射激光束(S225)并且计算DC值(S226)。过程前进到S212处的处理。如上所述，第二增益校正数据指示要在第一运算放大器17A到17D中设置以将来自第一运算放大器17A到17D的控制信号调整到当反射光束被均匀辐射到光接收面A到D时获得的控制信号的增益，其中当反射光束在X方向或Y方向的位移是图2的实线指示的反射光束的位移时，获得所述来自第一运算放大器17A到17D的控制信号。结果，DSP 27判断DC值相对聚焦误差信号和循轨误差信号的最大幅值的百分比不超过±25(％)(S212-″否″)，过程前进到S227。
基于以上所述，使用作为第一增益校正数据和第二增益校正数据的2个增益校正数据设置第一运算放大器17A到17D的增益以将控制信号调整到当反射光束被均匀辐射到光接收面A到D时获得的控制信号，然而该调整不限于此。可以提供存储器22，其存储更多增益校正数据以处理反射光束相对光接收面A到D发生更大位移的情况。
基于以上所述，光盘设备25根据第一增益校正数据逐个设置第一运算放大器17A到17D的增益，然而该设置不限于此。例如，在光盘设备25的前面的处理中，检测到当过程前进到S227时获得的增益校正数据，并且在光盘设备25的下一处理中，可以提供增益校正数据指示的增益以首先设置到第一运算放大器17A到17D。结果，能够降低光盘设备25的处理负载，并且能够迅速执行针对光盘9的信息记录/再现。
基于上述实施例，例如当光学拾取单元26和光盘设备25的相应厂商不相同时，光盘设备25的制造商能够通过存储器21获得有关在制造光学拾取单元26时要设置到第一运算放大器17A到17D的增益的信息。结果，当在光学拾取单元26被引入光盘设备25之后光电检测器11(光接收面A到D)没有产生位移时，能够迅速执行光盘设备25中针对光盘9的信息记录/再现。能够降低光盘设备25的制造商一方检测光电检测器11(光接收面A到D)的位移的负担。光电检测器11的定位精度不需要是严格的，并且其可以通过光学拾取单元26的制造过程中的粗略调整来实现。因为在光盘设备1中通过这样的计算过程获得增益，即使得来自第一运算放大器17A到17D的控制信号与当反射光束被均匀辐射到光接收面A到D时获得的控制信号等同。结果，在光学拾取单元26的制造中，能够利于降低成本和光电检测器11定位的复杂度。
基于上述第二实施例和第三实施例，提供光学拾取单元24(26)，其中基于从存储器6(21)读取的第一增益数据(例如由提供光学拾取单元24(26)的制造商检测的初始增益数据)提供第一运算放大器17A到17D的增益，使得第一运算放大器17A到17D的增益的值等同于当反射光束被均匀辐射到光接收面A到D时获得的值。结果，能够将来自第一运算放大器17A到17D的控制信号调整为防止(或降低)光电检测器11(光接收面A到D)的位移的影响的信号。基于控制信号能够成功执行聚焦伺服和循轨伺服。光电检测器11的定位精度不需要是严格的，并且其可以通过光学拾取单元24(26)的制造过程中的粗略调整来实现。因为在适用于光学拾取单元24(26)的光盘设备23(25)中通过这样的计算过程获得增益，即使得来自第一运算放大器17A到17D的控制信号与当反射光束被均匀辐射到光接收面A到D时获得的控制信号等同。结果，在光学拾取单元24(26)的制造中，能够利于降低成本和光电检测器11定位的复杂度。
<第四实施例>
参照图8描述基于本发明的光盘设备28的配置。在图8示出的光盘设备28中，分别为与图1示出的光盘设备1相同的部件提供相同的附图标记，并且省略其描述。
在第一实施例到第三实施例中，在光学拾取单元2(24，26)内提供运算放大器11′(第一运算放大器17A到17D和第二运算放大器18A到18D)，然而该配置不限于此。运算放大器11′可以被配置成在光学拾取单元之外提供。一个例子可以是图8示出的光盘设备28，其中以与信号处理单元31的ASP 32集成的方式为光盘设备28提供运算放大器32′(第一运算放大器17A到17D和第二运算放大器18A到18D)。即，提供第一运算放大器17A到17D和第二运算放大器18A到18D的位置可以是光电检测器11(30)的输出和ASP 13(32)的输入之间的任何位置。在图8示出的光盘设备28中，电流(光电转换信号)被提供给ASP 32，其分别对应于由上述构成光电检测器30的光电二极管16A到16D产生的反射光束的水平。ASP 32的第一运算放大电路17A到17D基于来自光电检测器30的电流和选择性电阻值的乘积产生分别对应于电流的电压。第一运算放大器17A到17D向第二运算放大器18A到18D输出控制信号，其中通过用选择性电阻值确定的增益来放大非反相输入端的参考电压Vref和反相输入端的电压之间的差，形成该控制信号。之后的操作与上述实施例中的相同。
基于该实施例，当例如分别制造光学拾取单元29和具有排除光学拾取单元29的配置的光盘设备28时，能够利于降低光学拾取单元29的制造商的成本和使电路结构更易于制造。光电检测器30的定位精度不需要是严格的，并且其可以通过光学拾取单元29的制造过程中的粗略调整来实现。因为在光盘设备28中通过这样的计算过程获得增益，即使得基于来自光电检测器30的电流的第一运算放大器17A到17D的控制信号与当反射光束被均匀辐射到光接收面A到D时获得的控制信号等同。结果，在光学拾取单元29的制造中，能够利于降低成本和光电检测器30定位的复杂度。
尽管已经描述了本发明的实施例，然而上述实施例只是为了便于理解本发明，并不是对本发明范围的限制。在不偏离本发明的范围的情况下，可以改变/修改本发明，并且本发明包括其等同方案。
权利要求
1.一种光盘设备，包括光学拾取单元，具有辐射被施加到光盘的激光束的半导体激光器，光电检测器，其具有彼此相邻布置的多个光接收面，每个光接收面从该多个光接收面中所有光接收面的中心按相同径向角度径向布置，并且当该多个光接收面接收施加到光盘的激光束的反射光束时，输出光电转换信号，每个光电转换信号对应于该多个光接收面的每个上的反射光束的水平，多个运算放大器，其基于光电转换信号分别输出用于对光盘的聚焦伺服或循轨伺服的控制信号，和致动器，其基于控制信号执行聚焦伺服或循轨伺服；驱动单元，其基于控制信号驱动致动器来执行聚焦伺服或循轨伺服；其中存储增益数据的存储单元，该增益数据是用于设置该多个运算放大器的增益的数据；和增益设置单元，其基于从存储单元读取的增益数据调整该多个运算放大器的增益，使得增益具有相当于反射光束被均匀施加到该多个光接收面的值。
2.如权利要求1所述的光盘设备，其中存储单元被提供在光学拾取单元之外。
3.如权利要求1所述的光盘设备，其中初始增益数据被存储在存储单元中，该初始增益数据是用于设置该多个运算放大器的初始增益的数据，并且增益设置单元基于当为该多个运算放大器设置初始增益时获得的控制信号来计算该多个运算放大器的增益，使得该多个运算放大器的增益具有相当于反射光束被均匀施加到该多个光接收面的值。
4.如权利要求3所述的光盘设备，其中当叠加在控制信号上的DC值和参考DC值之间的差值等于或大于预定值时，增益设置单元计算该多个运算放大器的增益数据。
5.如权利要求3所述的光盘设备，包括写入单元，其使得该多个运算放大器的由增益设置单元计算的增益数据作为初始增益数据被存储在存储单元中。
6.如权利要求3所述的光盘设备，其中当启动光学设备时，增益设置单元计算该多个运算放大器的增益数据。
7.一种光盘设备，包括光学拾取单元，具有辐射被施加到光盘的激光束的半导体激光器，光电检测器，其具有彼此相邻布置的多个光接收面，每个光接收面从该多个光接收面中所有光接收面的中心按相同径向角度径向布置，并且当该多个光接收面接收施加到光盘的激光束的反射光束时，输出光电转换信号，每个光电转换信号对应于该多个光接收面的每个上的反射光束的水平；多个运算放大器，其基于光电转换信号分别输出用于对光盘的聚焦伺服或循轨伺服的控制信号，和致动器，其基于控制信号执行聚焦伺服或循轨伺服；驱动单元，其基于控制信号驱动致动器来执行聚焦伺服或循轨伺服；光学拾取单元内的存储初始增益数据的第一存储单元，该初始增益数据是用于设置该多个运算放大器的初始增益的数据；光学拾取单元外的存储调整增益数据的第二存储单元，该调整增益数据是用于调整该多个运算放大器的增益的数据；和增益设置单元，其基于当使用从第一存储单元读取的初始增益数据设置该多个运算放大器的初始增益时获得的控制信号，使用从第二存储单元读取的调整增益数据调整该多个运算放大器的增益，使得增益具有相当于反射光束被均匀施加到该多个光接收面的值。
8.一种光盘设备，包括光学拾取单元，具有辐射被施加到光盘的激光束的半导体激光器，光电检测器，其具有彼此相邻布置的多个光接收面，每个光接收面从该多个光接收面中所有光接收面的中心按相同径向角度径向布置，并且当该多个光接收面接收施加到光盘的激光束的反射光束时，输出光电转换信号，每个光电转换信号对应于该多个光接收面的每个上的反射光束的水平，和致动器，其对光盘执行聚焦伺服或循轨伺服；多个运算放大器，其基于光电转换信号分别输出使得致动器执行聚焦伺服或循轨伺服的控制信号；驱动单元，其基于控制信号驱动致动器来执行聚焦伺服或循轨伺服；其中存储增益数据的存储单元，该增益数据是用于设置该多个运算放大器的增益的数据；和增益设置单元，其基于从存储单元读取的增益数据调整该多个运算放大器的增益，使得增益具有相当于反射光束被均匀施加到该多个光接收面的值。
9.一种光学拾取单元，包括辐射被施加到光盘的激光束的半导体激光器；光电检测器，其具有彼此相邻布置的多个光接收面，每个光接收面从该多个光接收面中所有光接收面的中心按相同径向角度径向布置，并且当该多个光接收面接收施加到光盘的激光束的反射光束时，输出光电转换信号，每个光电转换信号对应于该多个光接收面的每个上的反射光束的水平；多个运算放大器，其基于光电转换信号分别输出用于对光盘的聚焦伺服或循轨伺服的控制信号；致动器，其基于控制信号执行聚焦伺服或循轨伺服；和其中存储初始增益数据的存储单元，该初始增益数据是用于基于控制信号调整该多个运算放大器的增益，使得增益具有相当于反射光束被均匀施加到该多个光接收面的值的数据。
全文摘要
一种光盘设备，包括光学拾取单元，具有辐射被施加到光盘的激光束的半导体激光器，光电检测器，其具有彼此相邻布置的多个光接收面，每个光接收面从该多个光接收面中所有光接收面的中心按相同径向角度径向布置，并且当该多个光接收面接收施加到光盘的激光束的反射光束时，输出光电转换信号，每个光电转换信号对应于该多个光接收面的每个上的反射光束的水平，多个运算放大器，其基于光电转换信号分别输出用于对光盘的聚焦伺服或循轨伺服的控制信号，和致动器，其基于控制信号执行聚焦伺服或循轨伺服；驱动单元，其基于控制信号驱动致动器来执行聚焦伺服或循轨伺服；其中存储增益数据的存储单元，该增益数据是用于设置该多个运算放大器的增益的数据；和增益设置单元，其基于从存储单元读取的增益数据调整该多个运算放大器的增益，使得增益具有相当于反射光束被均匀施加到该多个光接收面的值。
文档编号G11B7/22GK1979656SQ20061016417
公开日2007年6月13日 申请日期2006年12月8日 优先权日2005年12月9日
发明者泽田三千义 申请人:三洋电机株式会社