专利名称：能够重新播放具有高双折射性的光学载体的光学驱动器的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于从相关联的光学载体上读取信息的光学驱动 器，其能够重新播放具有高双折射性的光学载体。本发明还涉及一种对 应的用于操作光学驱动器的方法和一种对应的用于控制光学驱动器的
处理装置。
背景技术：
在光学载体(比如CD (密致盘)、DVD (数字通用光盘)或BD (蓝光盘)格式的光盘)上进行光学记录和重新播放通常可以利用具有
— 具有非偏;展光学元件的光学驱动器具有相;;简;的设计，并且因此 它们性能稳定。这种光学驱动器例如不受来自光盘的双折射的影响。然 而，对于具有非偏振光学元件的光学驱动器来说，更难控制传递到光盘 并且又反射到检测光电二极管的功率。如果信息被写到光盘上，这个问 题尤为严重，因为功率控制对于在光盘上进行可靠的记录是必需的。为 此，大多数光学驱动器应用偏振光学元件，以便于在由光学驱动器和光 学载体组成的光学系统中进行更有效的功率控制。
以激光器作为辐射源的光学驱动器必然具有偏振光源，并且于是需 要提供合适的光学元件来限定和控制偏振光的光路。光学元件包括偏振 分束器、半波片、四分之一波片等。光学载体或者盘片本身能够对入射 到光盘上的偏振光具有负面影响，如果盘片的双折射在所讨论的光盘的 规定水平之上。因此所述光盘的双折射可能会在从该光盘中反射的带有 偏振的光中引入不能接受的严重失真，这可能会导致在朝着光学驱动器 的光电探测器装置的返程中发生光功率损失。因而，从光盘中读出的信 号的质量可能会下降，甚至不能解码该读出信号，从而导致光学驱动器 完全失效。
光盘的双折射性典型地来源于生产工艺，其中在模制工艺中短的循 环时间和/或快的冷却时间可能会在所模制的光盘的光学参数(即折射 率)中引入各向异性。正常地，光盘是在聚碳酸酯(PC)中注入模制的，
5该注入模制能够在基板中引入收缩、流线(flow line)和夹杂物。通常， 双折射性在外径附近更为严重。在光盘的记录/重新播放期间，光学驱动 器的快速旋转也能够增加光盘的张力，其又加重了光盘的双折射性。
光盘的令人不能接受的高双折射性的问题在本领域是众所周知的， 可以适用很多种技术方案。应该提到的是，总体而言，由于面向低成本 光盘的激烈竟争趋势，光盘的高双折射值超出适当的规定值(即所谓"超 出规定值"的盘片)的问题通常呈现增加的现象。
美国专利申请2005/259553公开了一种技术方案，在该方案中，为 了校正光盘的双折射性，在光学驱动器的光路中插进一个双折射校正元 件(参见图1和图14中的元件5a)。该校正元件包括一种具有单轴折 射率各向异性的材料，并且该校正元件位于光学驱动器的物镜之前。在
一个实施例中，由通过光轴并以直角相交的两条直线将所述校正元件分
为四个区域。所述四个区域中的每一个区域#:以光轴为中心的三个圆径 向地分为四个子区域。通过这种光学设计，光经该双折射盘片反射时所
然而，为了提供完整或者接近完整的校正结果，必须具有相当多的区域。 因此，对于所述光驱的大规模生产而言，这是一个昂贵的方案。
因此，改进的光学驱动器将具有优势，并且特别是更有效和/或更可 靠的光学驱动器将具有优势。
发明内容
因而，本发明优选地设法单个地或以任意组合的方式减轻、緩和或 消除上述缺陷中的一个或多个。特别地，可以作本发明的目的的是，提 供一种光学驱动器，所述光学驱动器解决了关于具有相对较高双折射值 的光学载体的现有技术的上述问题。
在本发明的第一方面，通过提供一种用于从相关联的光学载体中读 取信息的光学驱动器来实现这个目的和其它几个目的，该光学驱动器包
括
辐射源，其能够发射具有用第一调制频率(Fl)调制过的读取功率 电平的辐射光束，所述辐射光束被光学地布置为入射到所述相关联的光 学载体上，
偏振分束装置(PBS),其被布置为用于将来自该载体的反射光束朝着光电探测装置引导，所述光电探测装置能够输出光响应信号(RS),
和
处理装置，其用于将从该光电探测装置接收到的所述光响应信号
(RS)处理成一个或者多个光响应参数(RP)，所述处理装置包括被 布置成用于监视光响应参数(RP )与预定的光响应参数基准值(RP—ref) 是否存在偏差的比较装置，所述偏差指示从该分束装置(PBS)到该辐 射源的光反馈，该处理装置进一步适合于将该辐射光束的第一调制频率
(Fl)改变成第二调制频率(F2),以减少所述光反馈。
本发明特别但不排他地有利于获得一种光学驱动器，其提供一种相 对简单却有效的对从中重新播放信息的光学载体的相对较高的双折射 值进行补偿的方法。该光学驱动器将一个或者多个光响应参数(RP)与 基准值进行比较，从而获得被重新播放的光学载体的双折射的指示，并 且因此该光学驱动器能够修改用于读取该光学载体的辐射光束的频率， 从而减小由被读取的光学载体的双折射所引起的光反馈。
此外，本发明在现有的光学驱动器技术中相对容易实现，因为大多 数光学驱动器已经具有用固定频率调制的读取激光光束。为了电磁屏蔽
(EMC)的目的，至今这个频率在光学驱动器的操作期间保持不变，即 光学驱动器被设计为某一固定的调制频率。因光学载体的巨大的双折射 带来的技术问题已经通过例如在光学驱动器中安插校正光学元件而获 得解决(如美国专利申请2005/259553中的一样)，或者通过本领域已 知的其它的校正装置或者方法来解决。由申请人所执行的初步的测试表 明大多数商业上可用的现有技术方案还不能处理比本发明更大的双折 射值。
应当理解，在本发明上下文中，术语"偏差"的含义(即光响应参数 (RP)与预定的光响应参数基准值(RP_ref)之间的偏差)可以包括位 于测量不确定性内的绝对偏差以及位于测量不确定性内的相对偏差。该 偏差也可以被理解为超出某 一 阈值的偏差，优选地以时间平均为基础， 以区別随机噪音和离散错误或者事件。
在一个实施例中，该光响应信号(RS)可以代表从该光学载体中读 出的信息，例如，该光响应信号(RS)可以是高频(HF)信号。由此， 用于读取信息的照射源被应用于测量正在读取的光学载体的双折射。于 是，该光响应参数(RP)可以选自由用于定位该光学载体上位置的地址、从该光学载体中读出的信息序列中的不可校正的错误、以及从来自该光 学载体的光响应信号(RS)中测得的不对称值(卩)构成的组。优点是 这些参数已经可用于其它目的，并且因而本发明可以相对容易地实现。 此外，不对称值(或者其等价物)是正在重新播放的光学载体的双折射 的相对较好的量度。
在可替代实施例中，光学驱动器可以包括适于发射辅助辐射光束的 辅助辐射源，所述光束被光学地布置为入射到该光学载体上并且形成朝 向该光电探测装置反射光束。在这个实施例中，光学载体的双折射可以 在不使用用于读取信息的照射源的情况下被评测。因而，可以在该光学 驱动器中安装用于测量双折射的专用光源。因此，在这个特定实施例中， 有可能不使用光电探测装置从光学载体中读取信息，并且因而光学驱动 器就可以进一步包括用于对代表从光学载体中读取的信息的反射辐射 进行探测的辅助光电探测装置。
在一个经常实现的实施例中，第二调制频率(F2)可以比第一调制 频率(Fl)大。因而，第一调制频率(Fl)能够按所选的5%、 10%、 15%或者20%的台级来增加。可替代地，可以采用绝对增量，比如5、 10、 15、 20或者25MHz。应当注意，通常，对增大的调制频率来说， 功率消耗因半导体激光器的电容性耦合而增大。因此，这个实施例从功
率的角度来说不是最优的选择。
此外或可替代地，可将处理装置布置为用于增加反馈环路中的调制 频率(Fl; F2),从而将光响应参数(RP)与预定的光响应参数基准值 (RP—ref)之间的偏差最小化。由此提供了一种迭代补偿双折射值的更 大的间隔的非常有效的方法。
为了操控辐射光束的功率，该光束可以基本上具有方波的功率分 布。由于频率很高，因此在实际的实现中会出现一些偏离方波的偏差。 本发明的教导不限于该功率分布，而是可以包括各种功率分布，诸如正 弦曲线、多级分段曲线等。然而，至关重要的是，要周期性地有效地关 闭该功率以减少光反馈，这将在下面更详细地被阐述。
在一个实施例中，可将辐射光束光学地布置成朝向光学载体穿过光 路上的偏振分束装置(PBS),因为这为光学驱动器提供了一种简单的 光路。
在第二方面，本发明涉及用于控制相关联的光学驱动器的处理装置，该光学驱动器用于从相关联的光学载体读取信息，该光学驱动器包
括
-辐射源，其能够发射具有用第一调制频率(Fl)调制过的读取功 率电平的辐射光束，所述辐射光束被光学地布置为入射到所述相关联的 光学载体上，和
-偏振分束装置(PBS),其被布置为用于将来自该载体的反射光 束朝着光电探测装置引导，所述光电探测装置能够输出光响应信号 (RS),
该处理装置适合于将从该光电探测装置接收到的所述光响应信号 (RS)处理成一个或者多个光响应参数(RP),所述处理装置包括被 布置成用于监视光响应参数(RP )与预定的光响应参数基准值(RP—ref) 是否存在偏差的比较装置，所述偏差指示从该分束装置(PBS)到该辐 射源的光反馈，该处理装置进一步适合于将该辐射光束的第一调制频率 (Fl)改变成第二调制频率(F2),从而减少所述光反馈。
在第三方面，本发明涉及一种用于操作用于从光学载体中读取信息 的光学驱动器的方法，该方法包括以下步骤
-发射具有用第一调制频率(Fl)调制过的读取功率电平的辐射光 束，所述辐射光束被光学地布置为入射到该光学载体上，
-通过偏振分束装置(PBS)将来自该载体的反射光束朝着光电探 测装置引导，所述光电探测装置能够输出光响应信号(RS), 和
-将从该光电探测装置中接收的所述光响应信号(RS)处理为一个 或者多个光响应参数(RP),
-监视光响应参数(RP)与预定的光响应参数基准值(RP—ref)是 否有偏差，所述偏差指示从该分束装置(PBS)到该辐射源的光反馈， 以及
-将该辐射光束的该第一调制频率(F1 )改变成第二调制频率(F2)， /人而减少所述光反々赍。
在第四方面，本发明涉及一种计算机程序产品，其适合于使得包括 至少一个具有与之关联的数据存储装置的计算机的计算机系统能够根 据本发明第三方面来操作光学驱动器。
本发明的这个方面特别但不排他的优点在于，本发明可以通过一个 计算机程序产品来实现，该计算机程序产品使计算机系统能够执行本发
9明第二方面的操作。因而，已经考虑到，通过在用于控制所述光学记录 装置的计算机系统上安装计算机程序产品，可以改变 一 些已知的光学驱 动器以根据本发明操作。可以在任意一种计算机可读介质(例如磁或者 光介质)上来提供这种计算机程序产品，或者通过基于网络的计算机(例 如因特网)提供这种计算机程序产品。
本发明的第一、第二、第三和第四方面中的每一方面都可以与其它 任一方面组合。本发明的这些和其它方面将参照下面描述的实施例来加 以阐述并且变得清楚。
现在，将仅通过示例的方式并参照附图来阐述本发明，其* 图1是根据本发明的光学驱动器的示意图，
图2是光学驱动器中光反馈的示意图，
图3是根据本发明的光学驱动器的简化图，
图4是用于显示照射源的功率输出的简化曲线图，
图5是用于读取没有双折射的光学载体的光学驱动器的光路的示意
图，
图6是用于读取具有双折射的光学载体的光学驱动器中的光路的示
意图，
图7是用于显示横跨光学载体的双折射的曲线图， 图8是根据本发明的方法的流程图。
具体实施例方式
图1示出光学重新播放/记录装置或者光学驱动器和光信息载体1。 该载体1由保持装置30固定和旋转。
光学载体1包括一种适于通过辐射光束5来记录信息的材料。该记 录材料例如可以是磁光型、相变型、染料型、合金(如Cu/Si)或者其 它任何合适的材料。信息可以以光探测结果的形式(对于可重写介质也 称为"标记"，对一次写入介质则称为"凹坑"的形式)记录在光学载体1 上。
光学装置(即光学驱动器)包括光学头20,有时称光学头为光学拾 取器(OPU),光学头20可由致动装置21 (例如步进马达、线形马达、或者DC马达)来移动位置。光学头20包括光电探测系统10、激光器 驱动设备(LDD)、辐射源4、分束器6、物镜7、和能够在载体l的径 向以及在聚焦方向上移动透镜7的透镜移位装置9。
光电探测系统10的功能是将从载体1反射来的辐射8转换为电信 号。因而，光电探测系统10包括几个能够产生一个或者多个电输出信 号的光电探测器，例如光电二极管、电荷耦合器件(CCD)等。光电探 测器在空间上彼此隔开排列并且使之具有足够的时间分辨率，从而能够 探测到误差信号，即聚焦误差FE和径向跟踪误差TE。聚焦误差FE和 径向跟踪误差TE信号被输送到处理装置50，在那里，使用一种通过使 用PID控制装置(比例积分微分)来操作的公知的伺服机构来控制辐射 光束5在载体1上的径向位置和聚焦位置。
用于发出辐射光束或者说光束5的辐射源4例如可以是具有可变功 率的、可能也具有可变辐射波长的半导体激光器。可替代地，辐射源4 可以包括多于一个的激光器。在本发明的上下文中，术语"光"被认为包 括任意一种适于光记录和/或再现的电磁辐射，比如可见光、紫外线 (UV)、红外线(IR)等。辐射源4由被安排用于为辐射源4提供适当 的时变电流的激光驱动设备(LDD) 22控制。而驱动设备22由处理装 置50控制。处理装置50控制驱动设备22，以发射具有调制频率Fl或 者F2的辐射光束5，如图1所示。
处理装置50还接收和分析来自光电探测装置10的信号，特别是光 响应信号RS。处理装置50还能够输出控制信号给致动装置21、辐射源 4、透镜移位装置9、和旋转装置30,如图l中示意性示出的。类似地， 处理装置50能够接收要写入的数据(用61标出)，并且处理装置50 可以从读取处理中输出数据(用60标出)。尽管在图1中处理装置50 被描述为单个的单元(即处理器)，但是应当理解处理装置50等价地 可以是被置于光学记录装置内的多个互连的处理单元，这些单元中的一 些也可以被置于光学头20内。
图2是具有光学载体1的光学驱动器内的光反馈的示意图，其仅仅 示出了几个选出的光学元件，却仍然示出了光反馈的基本原理。辐射源 4 (即激光器)可以看作是具有特定的电磁(EM)驻波模式的盒子。该 波5的一部分朝着载体1前进并且被载体1反射回去，作为辐射8。辐 射5和8的这个路径也可以看作是特定的电；兹(EM)驻波才莫式。在光存储中，这是在辐射源4的界面INT上所不希望有的成分，并且应该尽
可能通过光路减少它，例如通过引入分束器来减少它。因而，当在辐射
源4的界面INT上反射光8具有非消失成分时，就要采取相当复杂的处 理。这被称为光反々赍。
当在载体1上存在一种数据模式时，在界面INT上将存在信号电平 的瞬时非线性漂移，这在光存储领域中是众所周知的。这意味着在EFM 模式内将存在更短的游程的漂移。这也被称为不对称(或卩)漂移。因 而，在极端情形下，非线性乘法处理的结果是所述短游程(2T、 3T 等，这取决于载体格式)实际上将消失，这使得很难或者不可能对光学 载体1上存储的信息进行解码。在真实条件下，光反馈总会存在，并且 将引起界面INT上的相干处理。
图3是光学驱动器的简化图，该光学驱动器包括能够发射辐射光束 5的辐射源4，该辐射光束5具有以第一调制频率Fl调制的读取功率电 平。该辐射光束5被光学上布置以入射到光学载体1上，载体l具有显 著的双折射性，即An^)。
偏振分束装置(PBS) 6被布置成用于将来自载体1的反射光束8 引导到光电探测装置10。光电探测装置10能够从光学载体1输出光响 应信号RS到处理装置50。
处理装置50适于通过子处理器53将从光电探测装置10接收到的 光响应信号RS处理成一个或者多个光响应参数RP。处理装置50还包 括比较装置51，其被布置成用于监视光响应参数RP与预定的光响应参 数基准值RP—ref是否存在偏差。该偏差指示从分束装置(PBS) 6到辐 射源4的光反馈。如果该偏差(用希腊符号A表示)具有足够的大小和 /或特征，那么处理装置50进一步适合于通过用于控制激光器驱动设备 22的子处理器52将辐射光束的第一调制频率Fl改变为第二调制频率 F2。因此，处理器50能够通过将调制频率从F1改变到F2 (正常情况通 过增加调制频率，即F2大于Fl )来减小光反馈。
光响应信号RS可以代表从所述光学载体读出的信息，例如在一个 实施例中光响应信号可能是高频(HF)信号。于是，光响应参数RP可 以是例如用于确定光学载体1上位置的地址。如果该地址是错误格式或 不可读，那么在本发明的环境内可能存在偏差。可替代地，可以对这种 地址错误的频率进行监视，并且如果它超过某一预定的水平，那么在本发明的环境内就会存在偏差。
可替代地，光响应参数RP可以是从光学载体1读出的信息序列中 的不可校正的错误。对来自光学载体1的编码数据进行信息解码通常包
括错误校正步骤(ECC),但是对于严重的错误，即使是该校正步骤也 不能校正该错误，并且在本发明的环境内可能会存在偏差。可替代地， 可以对这种不可校正错误的频率进行监视，如果它超过某一预定的水 平，在本发明的环境内就会存在偏差。
可替代地，该光响应参数RP可以是从来自光学载体1的光响应信 号(RS)(即HF信号)中测得的不对称值(经常用术语卩表示)。如 果该不对称值超过某一水平(优选地基于时间平均)，那么在本发明的 环境内可能存在偏差。
在一个实施例中，光响应信号RS可以直接与用于光响应信号本身 的基准值来进行比较。因而，在该实施例中，该光响应信号RS等于光 响应参数RP,并且因此不需要子处理器53的功能。然而，子处理器53 会使得比较基准值变得更容易、更不复杂，从而获得双折射水平高得不 可接受的指示。特别地，该HF信号的不对称值对于光学载体1的双折 射水平是有用的指示符。
图4是用于显示从照射源4发出的辐射光束5的调制功率输出Plaser 的简化图。光束5的功率被按照方波模式周期性地调制。它包括多个脉 冲80,每个脉冲都具有一个周期，其为调制频率的倒数，即1/F1。在图 4中，每个脉冲都具有一个高常数电平81和一个其辐射功率是O或者接 近于0的低电平82。通过在低电平82将辐射功率完全关闭并改变调制 频率Fl,在本发明的教导下，就可以大幅减小光学驱动器中的光反馈。
应当注意，调制频率F1和F2具有下限和上限。调制频率不能选择 得太低，否则从奈奎斯特抽样定理可知，所述数据解码不可能实施。另 一方面，调制频率不可以选择得太高，因为在离散的调制器或者驱动设 备22和辐射源4之间存在布线。因而，应该考虑一定量的寄生电感(黄 金规则，10nH/cm),并且因此例如以越来越高的频率Fl和F2切换激 光器4在50mA时导通以及在OmA时关闭变得越来越困难。最后，存 在相对于光学驱动器的其余部分以及周围环境的电磁屏蔽(EMC )的限 制。因而，光发射通常不能超过特定的水平。实际上，所实施的调制频 率F1和F2在从400MHz到500MHz范围内。然而，只要实现了本发明的 一般原理，本发明就能够容易地在该频率间隔之外实施。
图5是针对从不具备双折射性(即An = 0 )的载体1进行读取的光 学驱动器的光路的示意图。在真实条件下，双折射通常不会恰好为零， 但是在某些情形下它接近于零，或可替代地对于实际考虑来说等效于 零。除了在载体1之前插进一个四分之一波片(QWP) 16之外，所述 光路类似于图1,并且为清楚起见，图中未示出聚焦透镜7。在图5中， 在辐射光束5入射到光学载体1之前和之后在所选位置标出了偏振状态 (线偏振或者圆偏振)和相对方向(垂直或者水平)。在通过偏振分束 器(PBS)6后，辐射5成为垂直方向的线偏振。在穿过QWP17之后， 光束5成为圆偏振，同样，在从载体l反射后，在反旋转方向上成为圓 偏振。在该反射辐射光束8通过QWP 16后，偏振再次成为线性，但是 现在是水平方向上的，以使光束在偏振分束器(PBS) 6中分离。在通 过分束器6之后，该反射辐射光束8朝着光电探测装置IO被完全反射。
图6是针对从具备双折射性(即An邦)的光学载体1进行读取的 光学驱动器的光路的示意图。所述光路与图5中的光路类似，但是由于 光学载体1具有双折射性，因此相对于图5所示的理想情形反射辐射8 的偏振会产生失真。这种失真可能是偏振状态的额外旋转。通常，双折 射引入波前误差(通常以纳米表示)。进一步的影响是所谓的光功率泄 漏到光学载体1的基板中，即反射率降低。在偏振分束器(PBS) 6上 看见光学载体1的双折射性的影响，在那里分束器6不能完全地将辐射 8反射到光电探测装置10。相反，辐射8被分成两个方向， 一个方向朝 着光电探测装置，而另一个方向回到辐射源4。后一成分代表着由于如 参照图2所解释的从辐射源4发出的辐射5的负面影响而不想要的光反 馈15。此外，光反馈15表示功率损失，因为该成分当然不能被光电探 测装置IO测量，并且因此这导致在光电探测装置10中的信号强度更低。
图7是用于显示横跨DVD格式的光学载体1的双折射的曲线图。 该双折射是以纳米(nm)测得的相对双折射，如图7的曲线图的纵轴上 所示，并且在横轴上示出载体1的径向位置(mm)在23mm和58mm 之间。根据用于BD盘的ECMA标准，该双折射的上曲线和下曲线分别 表示测得的最大值和最小值。对于低于大约52mm的半径，该双折射大 于00nm。 100nm是规定上限(USL),在图中用水平线标出。因而， 该光学载体l中有一大部分载体超出了关于双折射的规定。这种超出规定值的载体或者盘片(在本领域也被称为"可怕的盘片"(horror disc)) 很可能引起致命的读取错误，除非光学驱动器为此装备有补偿机构。事 实上，本发明提供了一种光学驱动器，其使光学驱动器能够以非常有效 和成本有效的方式补偿光学载体1上的这种双折射。
图8是一种根据本发明的用于操作光学驱动器从光学载体1读取信 息的方法的流程图，该方法包括以下步骤
-发射具有用第一调制频率(Fl)调制过的读取功率电平80和81 的辐射光束5，所述辐射光束被光学地布置为入射到该光学载体1上，
-通过偏振分束装置(PBS ) 6将来自该载体1的反射光束8朝着光 电探测装置10引导，所述光电探测装置10能够输出光响应信号RS, 前面这两个步骤作为该流程图的START框的 一部分，
-将从该光电探测装置中接收的所述光响应信号RS处理为一个或 者多个光响应参数RP，如第二个框"RS, RP"中所示，
-监视光响应参数RP与预定的光响应参数基准值RP—ref是否有偏 差，如确认框"RP—ref "所示，所述偏差指示从该分束装置(PBS; 6) 到该辐射源4的光反馈15,以及
并且如果出现一个偏差(用希腊符号A标记)，那么将该辐射光束 5的该第一调制频率Fl改变成第二调制频率F2(用框"F1 -〉F2"表示)， 以减少该光反馈15，如图3和图6所示。将所述封闭环路反馈限制在某 一数量的环路，以保证该环路能够停下来。
最后，如果在光响应参数RP和预定的光响应参数基准值RP—ref之 间没有偏差，那么该方法可以前进到READ框。
尽管已经参照特定的实施例对本发明进行了描述，但是本发明并不 限于这里所阐述的特定形式。相反，本发明的范围仅仅由所附权利要求 限制。在权利要求中，术语"包括"不排除其它元件或者步骤的存在。另 外，尽管单独的特征可以包含于不同的权利要求中，但是这些特征可以
有利地组合起来，并且不同权利要求的包含并不意味各特征的组合不可 行和/或没有益处。此外，单数引用并不排除复数。因而，"一个"、"第 一"、"第二"等的引用并不排除复数。此外，权利要求中的附图标记不应 被解释为限制所述范围。
权利要求
1. 一种用于从相关联的光学载体(1)中读取信息的光学驱动器，该光学驱动器包括-辐射源(4)，其能够发射具有用第一调制频率(F1)调制过的读取功率电平(80，81)的辐射光束(5)，所述辐射光束被光学地布置为入射到该相关联的光学载体(1)上，-偏振分束装置(PBS；6)，其被布置为用于将来自所述载体(1)的反射光束(8)朝着光电探测装置(10)引导，所述光电探测装置能够输出光响应信号(RS)，和-处理装置(50，51，52，53)，其用于将从光电探测装置(10)接收到的所述光响应信号(RS)处理成一个或者多个光响应参数(RP)，所述处理装置包括被布置成用于监视光响应参数(RP)与预定的光响应参数基准值(RP_ref)是否存在偏差的比较装置(51)，所述偏差指示从分束装置(PBS；6)到辐射源(4)的光反馈(15)，该处理装置(52)进一步能够将辐射光束(5)的第一调制频率(F1)改变成第二调制频率(F2)，以减少光反馈(15)。
2. 如权利要求1所述的光学驱动器，其中该光响应信号(RS)代 表从光学载体(1 )读出的信息。
3. 如权利要求2所述的光学驱动器，其中光响应参数(RP)选自 由用于定位光学载体(1 )上位置的地址、从光学载体(1 )中读出的信 息序列中的不可校正的错误、以及从来自光学载体(1)的光响应信号(RS)中测得的不对称值(卩)构成的组。
4. 如权利要求1所述的光学驱动器，进一步包括适于发射出辅助 辐射光束的辅助辐射源，所述光束被光学地布置为入射到光学载体(1 ) 上并且产生朝向光电探测装置(10)的反射光束。
5. 如权利要求1所述的光学驱动器，进一步包括用于对代表从光 学载体(l )读出的信息的反射辐射进行探测的辅助光电探测装置。
6. 如权利要求1所述的光学驱动器，其中第二调制频率(F2)比 第一调制频率(Fl )大。
7. 如权利要求6所述的光学驱动器，其中处理装置(50)被布置 为用于增加反馈环路上的调制频率(Fl; F2),以使光响应参数(RP) 与预定的光响应参数基准值(RP—ref)之间的该偏差最小化。
8. 如权利要求1所述的光学驱动器，其中辐射光束(5)基本具有方波功率分布。
9. 如权利要求1所述的光学驱动器，其中辐射光束(5)被光学地 布置为穿过所述光路上的偏振分束装置(PBS; 6)朝着光学载体(1)前进。
10. —种用于控制相关联的光学驱动器的处理(50， 51， 52, 53 ) 装置，该相关联的光学驱动器用于从相关联的光学载体(1 )中读取信 息，该相关联的光学驱动器包括-辐射源(4),其能够发射具有用第一调制频率(Fl)调制过的读 取功率电平(80, 81)的辐射光束(5),所述辐射光束被光学地布置 为入射到该相关联的光学载体(1 )上，和-偏振分束装置(PBS; 6),其被布置为用于将来自所述载体的反 射光束(8)朝着光电探测装置(10)引导，所述光电探测装置能够输 出光响应信号(RS),该处理装置适合于将从该光电探测装置接收到的所述光响应信号 (RS)处理成一个或者多个光响应参数(RP),所述处理装置包括被 布置成用于监视光响应参数(RP )与预定的光响应参数基准值(RP一ref) 是否存在偏差的比较装置(51 ),所述偏差指示从该分束装置(PBS; 6) 到该辐射源(4)的光反馈(15),该处理装置(52)进一步适合于将 辐射光束(5)的第一调制频率(Fl)改变成第二调制频率(F2),以 减少光反馈(15)。
11. 一种用于操作用于从光学载体(1 )中读取信息的光学驱动器 的方法，该方法包括以下步骤发射具有用第一调制频率(Fl )调制过的读取功率电平(80， 81) 的辐射光束(5 ),所述辐射光束被光学地布置为入射到该光学载体(1 ) 上，通过偏振分束装置(PBS; 6 )将来自载体(1 )的反射光束(8 )朝 着光电探测装置(10)引导，所述光电探测装置能够输出光响应信号 (RS),将从光电探测装置(10)中接收的所述光响应信号(RS)处理为一 个或者多个光响应参数(RP),监视光响应参数(RP)与预定的光响应参数基准值(RP ref)之间是否存在偏差，所述偏差指示从该分束装置(PBS; 6)到该辐射源(4) 的光反馈(15),以及将该辐射光束(5 )的第一调制频率(Fl )改变成第二调制频率(F2 ), 以减少光反馈(15)。
12. —种计算机程序产品，其适合于使得包括至少一个计算机的计 算机系统能够根据权利要求11所述来操作光学驱动器，该计算机具有 与之相联的数据存储装置。
全文摘要
本发明涉及一种用于从具有高双折射性的光盘(1)中读取信息的光学驱动器。辐射光束(5)具有频率为F1的调制读取功率电平。偏振分束器(PBS；6)将来自光盘(1)的反射光束(8)朝着光电探测器(10)引导，所述光电探测器输出光响应信号(RS)。将光响应信号(RS)被转换成光响应参数(RP)，将这些光响应参数与一个预定的光响应参数基准值(RP_ref)进行比较。如果存在一个足够大的偏差(Δ)，那么其指示从分束装置(PBS；6)到辐射源(4)的光反馈。然后，处理装置(52)能够将辐射光束(5)的第一调制频率(F1)改变为第二调制频率(F2)，以减小该光反馈。本发明提供了一种对从中重新播放信息的光学载体上的高双折射值进行补偿的相对简单却有效的方法。
文档编号G11B7/125GK101490756SQ200780027360
公开日2009年7月22日 申请日期2007年7月5日 优先权日2006年7月17日
发明者J·P·H·范德文 申请人:皇家飞利浦电子股份有限公司