专利名称：可扩充样本储存器的储存器测试设备的制作方法
技术领域：
本发明是关于一种可扩充样本储存器的储存器测试设备，尤其指一种适用于测试 挥发性或非挥发性储存器的半导体测试设备。
背景技术：
由于目前电子多媒体产品日趋普及，对于储存媒体的需求日益增加。此外，也随着 技术不断的发展，储存媒体的容量成倍数增加，例如Flash/Flash Card/EEPROM/XROM等非 挥发性储存器从早期256MB、512MB、IGB……，到现在的8GB、16GB、32GB等大容量不断的被 开发出来。然而，以现有储存器的测试设备而言，在面对更大容量的测试规格时，往往捉襟 见肘不敷使用，仅能不断扩充设备或组件，耗费大量成本。详言之，请参阅图1，图1是公知储存器测试设备的系统架构示意图。公知储存 器测试设备主要包括一自测控制器9、一样式储存器板91 (PatternMemory Board,简称PM Board)、以及复数测试装置(图中未示)。其中，每一测试装置电性连接有一储存器92，而 样式储存器板91则储存有欲进行测试的数据。进行测试时，自测控制器9控制将样式储存 器板91内的数据，写入/刻录至测试装置内的储存器92。接着，自测控制器9再逐一比对 储存器92、与样式储存器板91内的数据是否一致。然而，现有技术中，储存器测试设备的样式储存器板91的容量是固定的。当欲进 行测试储存器的容量大于样式储存器板91的容量时，除非升级测试设备的规格，否则将无 法进行测试。据此，依据现今储存器测试设备的现有技术而言，一但面临待测储存器容量大 于测试设备的规格时，只有靠不断的扩充设备规格，别无他法。然而，扩充或升级测试设备 的规格，需延滞整个产线，费时费工影响产能，又需耗费惊人的升级成本。
发明内容
本发明的目的在于提供一种可扩充样本储存器的储存器测试设备，以改进公知技 术中存在的缺陷。为实现上述目的，本发明提供的可扩充样本储存器的储存器测试设备，包括复数 测试座、一控制模块、及一主控制器。其中，复数测试座(DUT，Device Under Test)容设有 复数待测储存器。而控制模块电性耦接有一样本储存器。另外，主控制器分别电性连接至 复数测试座、及控制模块。其中，主控制器控制该控制模块储存一样本数据至样本储存器， 且主控制器控制该控制模块读取样本储存器的样本数据并将其存入复数待测储存器内为 待测数据。又，主控制器控制该控制模块读取样本储存器内储存的样本数据并逐一比对复 数待测储存器内储存的待测数据。因此，本发明由控制模块及样本储存器的设置，可视实际 需求扩充测试规格及样本储存器容量，并可通过控制模块的控制存取，任意变更欲进行测 试比对的样本数据。其中，本发明的样本储存器的储存容量可大于等于复数待测储存器的储存容量。 据此，方可提供完整的测试数据，而取得更准确的测试结果。较佳的是，样本储存器与复数待测储存器具有相同规格，主要是因使用与待测储存器的储存容量、颗粒规格、运作频率、 及数据频宽等相同规格的样本储存器，将可获得更准确的检测结果。而样本储存器可为厂 商提供的已刻录有特定内容的样本储存器、抑或是较待测储存器储存容量大的非挥发性储 存器(如Flash/EEPROM等)、或挥发性储存器(如SRAM/DRAM等)。再者，本发明可还包括有一测试接口装置(Hi-Fix)，其包括有复数测试座及控制 模块。亦即，测试接口装置不仅设置有复数测试座，而测试接口装置内部可容置控制模块及 样本储存器。据此，由控制模块及样本储存器容置于测试接口装置内，以方便进行变更或扩 充。此外，本发明可还包括有一测试头(Test Head)，其电性连接测试接口装置及主控制器。 其中，本发明测试头主要用以提供控制讯号及电源供给的电性连接。另外，本发明的主控制器可控制控制模块读取样本储存器内储存的样本数据并 逐一比对复数待测储存器内储存的待测数据，比对不符合时，便输出对应的警示讯号。当 然，若比对结果为符合的情况下，亦可输出一正常讯号。而警示讯号可以是一声光电的警 示讯号，也可以是一比对结果旗标，如PASS/FAIL。此外，本发明可还包括有一分料装置 (Handler)，其电性连接主控制器。分料装置是用以取放复数待测储存器于复数测试座内， 亦即用以提供取放、进料及测试后的分料等。再且，本发明的控制模块可包括有一复杂可程序逻辑装置(ComplexProgrammable Logic Device，缩写CPLD)、组件可程序逻辑门阵列(FieldProgrammable Gate Array，缩 写FPGA)、或其它等效装置。据此，本发明的控制模块可视实际需求，弹性设定或变更测试 规格。其中，控制模块主要用以执行样本储存器与主控制器间协调运作及控制存取等工作。较佳的是，本发明可还包括有一中央服务器，其通过一网络与主控制器电性连接。 其中，样本数据是由中央服务器通过网络提供给样本储存器。据此，可通过近端网络或因特 网直接下载储存样本数据，无须因为不同测试规格而替换样本储存器或移除样本储存器至 另外机器进行刻录不同数据等多余程序，可大幅减少人力及时间成本。本发明另一态样为一种可扩充样本储存器的储存器测试设备，包括复数测试座、 一控制模块及一主控制器。其中复数测试座其容设有复数待测储存器。而控制模块电性耦 接有一可替换式储存器。可替换式储存器储存有一样本数据。且主控制器分别电性连接至 复数测试座及控制模块。其中，主控制器控制控制模块读取可替换式储存器的样本数据并 将的存入复数待测储存器内为待测数据。又，主控制器控制控制模块读取可替换式储存器 内储存的样本数据并逐一比对复数待测储存器内储存的待测数据。据此，本发明由控制模 块及可替换式储存器的设置，可视实际测试规格的需求，而直接替换或采用提供样本数据 的可替换式储存器，而达到可弹性变更或设定及扩充的功效。较佳的是，本发明的可替换式储存器较佳为可直接插拔替换，其于变更测试规格 时，方便直接进行替换。此外，本发明的可替换式储存器的储存容量可以是等于或大于复数 待测储存器的储存容量，当然与复数待测储存器具有相同规格为佳。其中，可替换式储存器 可为厂商提供的已刻录有特定内容的样本储存器。
图1是公知储存器测试设备的系统架构示意图。图2是本发明一较佳实施例储存器测试设备的立体图。
图3是本发明一较佳实施例测试接口装置的立体图。图4是本发明一较佳实施例的系统架构图。附图中主要组件符号说明1测试接口装置，10中央服务器，2测试座，3待测储存器，31待测资料，4控制模 块，5样本储存器，50可替换式储存器，51样本数据，6主控制器，7测试头，8分料装置，9自 测控制器，91样式储存器板，92储存器，I网络。
具体实施例方式请同时参阅图2，图2是本发明一较佳实施例储存器测试设备的立体图。如图2中 所示的储存器测试设备，其中测试头7(Test Head)上电性连接有一测试接口装置1，测试 头7主要用以提供控制讯号及电源供给的电性连接。而测试接口装置1上又设置有复数测 试座2(DUT，Device Under Test)，其用以容设有复数待测储存器3，以进行测试。此外，于 测试接口装置1上方有设置有一分料装置S(Handler)，是用以取放复数待测储存器3于复 数测试座2内，亦即负责待测储存器3的取放、进料及测试后的分料等任务。再请一并参阅图3及图4，图3是本发明可扩充样本储存器的储存器测试设备一较 佳实施例测试接口装置的立体图，图4是本发明一较佳实施例的系统架构图。图中于测试 接口装置1内另显示有一控制模块4，其电性耦接有一样本储存器5。在本实施例中，控制 模块4为一复杂可程序逻辑装置(CPLD，Complex Programmable Logic Device)，其亦可为 组件可程序逻辑门阵列(FPGA，Field Programmable Gate Array)、或其它等效装置。再者，本实施例的控制模块4采用复杂可程序逻辑装置主要是因不论其软件、硬 件或固件皆可轻易进行变更或设定，具弹性、可扩充等优点。其中，控制模块4主要用以执 行样本储存器5与主控制器6间协调运作、控制存取等工作。而样本储存器5的储存容量 大于或等于复数待测储存器3的储存容量。据此，才可提供完整的测试数据，而取得更准确 的测试结果。其中，样本储存器5与复数待测储存器3具有相同规格，例如待测储存器3的储存 容量、颗粒规格、运作频率及数据频宽等规格皆与样本储存器5相同，如此将可获得更准确 的检测结果。其中，样本储存器5可为厂商提供的以刻录有特定内容的储存器、抑或是较 待测储存器3储存容量大的非挥发性储存器(如Flash/EEPROM等)、或挥发性储存器(如 SRAM/DRAM)。另外，图中显示有一主控制器6，分别电性连接至复数测试座2、分料装置8及控制 模块4。其中，主控制器6控制该控制模块4储存一样本数据51至样本储存器5内。接着， 主控制器6控制控制模块4读取样本储存器5的样本数据51并将其存入复数待测储存器 3内为待测数据31。最后，主控制器6控制该控制模块4读取样本储存器5内储存的样本 数据51并逐一比对复数待测储存器3内储存的待测数据31。当比对符合或不符合时，皆输 出对应的警示讯号。本实施例的警示讯号为比对结果着卷标，如I^ass/Fail等比对验证结 果，并将其储存。当然，警示讯号也可以是一声光电的警示讯号。此外，图中又显示有一中央服务器10，是通过一网络I与主控制器6电性连接。本 实施例的样本数据51可由中央服务器10通过网络I以提供给样本储存器5。据此，本实 施例可通过近端网络或因特网直接下载储存样本数据51，无须因为不同测试规格而替换样本储存器5，或移除样本储存器5至另外机器进行刻录不同数据等多余程序，可大幅减少人 力、及时间成本。再且，本发明可扩充样本储存器的储存器测试设备另一实施例同样包括有复数测 试座2、控制模块4及主控制器6等。其中，复数测试座2容设有复数待测储存器3 ；而控制 模块4电性耦接有一可替换式储存器50，其储存有一样本数据51。本实施例中，可替换式 储存器50为可直接插拔替换，其于变更测试规格时，方便直接进行替换。此外，本实施例的 可替换式储存器50的储存容量可以是等于复数待测储存器3的储存容量，其中又与复数待 测储存器3具有相同规格，且为待测厂商提供的已刻录有特定内容的样本数据51的储存器 为佳。至于，主控制器6则同样分别电性连接至复数测试座2及控制模块4。其中，主控 制器6控制该控制模块4读取可替换式储存器50的样本数据51并将的存入复数待测储存 器3内为待测数据31。接着，主控制器6控制控制模块4读取可替换式储存器50内储存的 样本数据51并逐一比对复数待测储存器3内储存的待测数据31。最后，比对结果如同前 述实施例，同样输出比对结果旗标，如Pass/i^il等，并将其储存。据此，本实施例由控制模 块4及可替换式储存器50的设置，可视实际测试规格的需求，而直接替换或采用提供样本 数据51的可替换式储存器50，而达到可弹性变更或设定、扩充、及节省成本的功效。上述实施例仅是为了方便说明而举例而已，本发明所主张的权利范围自应以申请 的权利要求范围所述为准，而非仅限于上述实施例。
权利要求
1.一种可扩充样本储存器的储存器测试设备，包括复数测试座，其容设有复数待测储存器；一控制模块，其电性耦接有一样本储存器；以及一主控制器，分别电性连接至该复数测试座、及该控制模块，其中，该主控制器控制该 控制模块储存一样本数据至该样本储存器，该主控制器控制该控制模块读取该样本储存器 的该样本数据并将其存入该复数待测储存器内为一待测数据，该主控制器控制该控制模块 读取该样本储存器内储存的该样本数据并逐一比对该复数待测储存器内储存的该待测数 据。
2.如权利要求1所述可扩充样本储存器的储存器测试设备，其中，该样本储存器的储 存容量大于或等于该复数待测储存器的储存容量。
3.如权利要求1所述可扩充样本储存器的储存器测试设备，其中，包括有一测试接口 装置，其包括有该复数测试座及该控制模块。
4.如权利要求3所述可扩充样本储存器的储存器测试设备，其中，包括有一测试头，电 性连接该测试接口装置及该主控制器。
5.如权利要求1所述可扩充样本储存器的储存器测试设备，其中，该主控制器控制该 控制模块读取该样本储存器内储存的该样本数据并逐一比对该复数待测储存器内储存的 该待测数据，比对不符合时，便输出对应的警示讯号。
6.如权利要求1所述可扩充样本储存器的储存器测试设备，其中，该控制模块包括有 一复杂可程序逻辑装置。
7.如权利要求1所述可扩充样本储存器的储存器测试设备，其中，包括有一中央服务 器通过一网络与该主控制器电性连接，其中，该样本数据由该中央服务器通过该网络以提 供给该样本储存器。
8.如权利要求1所述可扩充样本储存器的储存器测试设备，其中，包括有一分料装置， 电性连接该主控制器，该分料装置用以取放该复数待测储存器于该复数测试座内。
9.一种可扩充样本储存器的储存器测试设备，包括复数测试座，其容设有复数待测储存器；一控制模块，其电性耦接有一可替换式储存器，该可替换式储存器储存有一样本数据；以及一主控制器，分别电性连接至该复数测试座及该控制模块，其中，该主控制器控制该控 制模块读取该可替换式储存器的该样本数据并将其存入该复数待测储存器内为一待测数 据，该主控制器控制该控制模块读取该可替换式储存器内储存的该样本数据并逐一比对该 复数待测储存器内储存的该待测数据。
10.如权利要求9所述可扩充样本储存器的储存器测试设备，其中，该可替换式储存器 的储存容量等于或大于该复数待测储存器的储存容量。
全文摘要
一种可扩充样本储存器的储存器测试设备，包括有复数测试座、一控制模块、及一主控制器。其中，复数测试座容设有复数待测储存器，而控制模块电性耦接有一样本储存器。其中，主控制器控制该控制模块储存一样本数据至样本储存器，接着读取样本储存器的样本数据并将其存入复数待测储存器内为待测数据。又，控制读取样本数据并逐一比对复数待测储存器内储存的待测数据。因此，本发明可视实际需求扩充测试规格、及样本储存器容量，并可通过控制模块的控制存取，任意变更欲进行测试比对的样本数据。
文档编号G11C29/56GK102142284SQ20101010639
公开日2011年8月3日 申请日期2010年1月29日 优先权日2010年1月29日
发明者刘大纲, 柯文煌, 解国安, 郑振辉 申请人:京元电子股份有限公司