一种FLASH芯片的测试系统的制作方法

本发明涉及半导体器件测试领域，尤其涉及FLASH芯片的测试系统。

背景技术：

FLASH芯片的测试环节是FLASH芯片生产中非常重要的环节，测功能测试、高温老化测试和等级筛选是其中几个重要测试环节。目前业界主要依托先进的设备单独对这几个测试环节进行测试。这些测试设备主要依靠的是国外半导体设备厂家提供，价格昂贵，且这些环节都是独立设置，需要单独安排工位，因此整个测试周期较长，效率低的问题，无法实现自动化控制。

技术实现要素：

针对以上缺陷，本发明目的在于如何提升FLASH芯片测试的效率和可靠性。

为了实现上述目的，本发明提供了一种FLASH芯片的测试系统，其特征在于包括主控服务器、老化柜和测试控制板，所述主控服务器与测试控制板相连接，所述老化柜上设有测试架，所述测试架上设有多个测试插口，待测试FLASH放置到测试板上后，将测试板插入测试插口，所述测试插口上设有与所述测试板相匹配的电连接触点；测试系统可分时对待测试FLASH进行功能测试、老化测试和筛选测试；所述的功能测试过程如下：所述主控服务器将预先设置好的测试指令下发到测试控制板，测试控制板根据接收到的测试指令再下发控制命令到各个测试板，控制测试板按照主控服务器的要求控制对待测试FLASH进行功能测试；所述老化测试具体为：所述主控服务器根据测试要求，控制老化柜的温控系统，控制老化柜按照要求的温度曲线控制老化柜的温度，对待测试FLASH进行老化测试；所述筛选测试，在功能测试和老化测试过程中同时采集测试过程的测试数据，并将该数据反馈给到主控服务器，同时将待测试FLASH的各个电气参数数据反馈给到主控服务器，主控服务器根据反馈的数据对待测试FLASH进行自动筛选和标识。

所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于所述的主控服务器上还设有图形化状态显示模块和操作模块，所述图形化状态显示模块与老化柜的测试架相匹配，实时根据老化架中的待测试FLASH进行更新，通过操作图形化状态显示模块中的图像模块可达到操作图像模块显示的实际待测试FLASH所在的测试板。

所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于主控服务器通过有线或无线数据线与测试控制板相连；所述测试控制板通过I2C或串口协议与测试板相连。

根据权利要求3所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于所述测试板上设有多个待测试FLASH的放置座。

本发明通过对现有测试系统进行优化合并，提高了FLASH测试的效率，减少了测试过程中对FLASH测试的移动，并提供了图形化的操作界面和结果显示界面。

附图说明

图1是一种FLASH芯片的测试系统框图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1是一种FLASH芯片的测试系统框图，FLASH芯片的测试系统，其特征在于包括主控服务器、老化柜和测试控制板，主控服务器与测试控制板通过数据转接器相连接，数据转接器可以是交换机、hub。老化柜上设有测试架，测试架上设有多个测试插口，待测试FLASH放置到测试板上后，将测试板插入测试插口，测试插口上设有与所述测试板相匹配的电连接触点；测试系统可分时对待测试FLASH进行功能测试、老化测试和筛选测试；功能测试过程如下：主控服务器将预先设置好的测试指令或测试用例集下发到测试控制板，测试用例集可以是单独设置，也可以是直接设置在主控服务器中。测试人员可以通过PC终端通过网络连接到主控服务器，操控主控服务器，配置测试指令或查看测试结果。测试控制板根据接收到的测试指令再下发控制命令到各个测试板，控制测试板按照主控服务器的要求控制对待测试FLASH进行功能测试；老化测试具体为：主控服务器根据测试要求，控制老化柜的温控系统，控制老化柜按照要求的温度曲线控制老化柜的温度，对待测试FLASH进行老化测试，测试架上的测试插口由供电模块进行功能，供电模块为各个测试插口单独提供可单独控制开关的供电线路，主控服务器可实现分别控制各个测试板的通断电；筛选测试，在功能测试和老化测试过程中同时采集测试过程的测试数据，并将该数据反馈给到主控服务器，同时将待测试FLASH的各个电气参数数据反馈给到主控服务器，主控服务器根据反馈的数据对待测试FLASH进行自动筛选和标识。

以上所揭露的仅为本发明一种实施例而已，当然不能以此来限定本之权利范围，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程，并依本发明权利要求所作的等同变化，仍属于本发明所涵盖的范围。