专利名称：显示装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及显示装置领域，特别涉及一种具有检查装置的显示装置。
背景技术：
显示装置具备轻薄、节能、无辐射等诸多优点，因此已经逐渐取代传统的阴极射线 管(CRT)显示器。目前显示装置广泛应用于高清晰数字电视、台式计算机、个人数字助理 (PDA)、笔记本电脑、移动电话、数码相机等电子设备中。显示装置具有矩阵状的显示像素构成的有效显示部分。该有效显示部分具有沿显 示像素的行方向延伸的多条扫描线和沿显示像素的列方向延伸的多条数据线。在扫描线和 数据线相交叉的地方设置开关元件，例如薄膜晶体管(TFT)，以及与开关元件连接的像素电 极等。各扫描线和数据线引出到有效显示部分的外围部分，例如将引出的扫描线和数据线 与驱动电路电连接。这些扫描线、数据线以及其它的电路连接线统称为信号线。由于随着显示像素的增加，在有效显示部分及其外围部分的扫描线和数据线等各 种信号线的线宽越来越细，而且间隔越来越小，因此断线、短路等各种布线不良的情况也越 来越多，因此为了及时发现布线不良的情况，防止大规模不良发生以及不良品流入下一工 序造成浪费，在布线之后需要对扫描线、数据线及其它的信号线进行检查，从而判断是否存 在布线不良的情况。如图1所示的一种设置检查装置的显示装置的结构示意图，有效显示部分11通过 信号线1005与外围驱动电路(图未示)相连，所述信号线1005连接有检查装置20。所述检 查装置 20 由 4 根短路棒(shorting bar) 1001、1002、1003、1004 构成，各短路棒 1001、1002、 1003、1004分别与信号线1005-1、1005-2、1005-3相连，所述信号线可以是扫描线、数据线 或者其它信号线。各短路棒1001、1002、1003、1004与信号线1005-1、1005-2、1005-3的连 接位置为过孔区。所述过孔区具有接触孔1000和连接导电层1006，部分连接导电层1006 填充在接触孔1000内用于将短路棒和信号线相电连接，连接导电层1006 —般为氧化铟锡 (IT0)或者氧化铟锌(IZ0)层。在短路棒的一端连接有测试衬垫(visual test pad) 1007, 通过给测试衬垫1007加上电压信号，就能进行电性测试。图2为图1所示的显示装置的有 效显示部分和检查装置连接位置的放大图，其中虚线框10a所示的为短路棒与信号线的连 接位置的过孔区。由于在制造过程中，容易产生静电，从而容易因为静电引起过孔区的被烧毁。图3 为图2所示的显示装置中过孔区被烧毁部位的放大图，其中虚线框10b所示为被烧毁部位。 尤其因为静电电荷容易聚集在过孔区，因此在过孔区容易产生较大的静电从而使接触孔被 烧毁。通常，由于整个图1的结构表面被一层或者两层透明的绝缘层覆盖(图中未标出)， 一般为氮化硅或氧化硅。如果在制造工艺过程中，例如制盒工序的取向膜涂布以及取向膜 摩擦工序，由于静电过大，会将过孔区的连接导电层1006烧毁，导致接触孔被烧毁，从而电 性测试不能进行，就会出现不良现象。
发明内容
本发明的目的是提供一种显示装置，从而解决由于静电引起的过孔区容易被烧毁 的问题。本发明提供的一种显示装置，包括由显示像素构成的有效显示部分，与有效显示 部分电连接的信号线以及检查装置，所述检查装置包括间隔排放的短路棒；所述各短路棒 分别通过过孔区与不同的信号线电连接，并且所述短路棒的一端具有测试衬垫，所述检查 装置还包括与短路棒电连接的尖峰凸起。优选的，所述尖峰凸起位于所述短路棒的不具有测试衬垫的一端。优选的，同一所述短路棒的不具有测试衬垫的一端具有一个所述尖峰凸起。优选的，连接不同信号线的所述短路棒的不具有测试衬垫的一端的尖峰凸起的尖 端相对。优选的，所述尖峰凸起位于所述短路棒的测试衬垫上。优选的，连接不同信号线的所述短路棒的测试衬垫上的尖峰凸起的尖端相对。优选的，在所述短路棒的测试衬垫上具有所述尖峰凸起。优选的，连接不同信号线的所述短路棒的不具有测试衬垫的一端的尖峰凸起的尖 端相对。优选的，连接不同信号线的所述短路棒的测试衬垫上的尖峰凸起的尖端相对。优选的，连接不同信号线的所述短路棒的测试衬垫上的尖峰凸起的尖端相对。优选的，所述尖峰凸起位于所述过孔区旁。优选的，在所述短路棒靠近相邻的两侧短路棒的侧面上分别具有所述尖峰凸起， 并且相邻的短路棒上的尖峰凸起的尖端相对。优选的，所述尖峰凸起的尖部为角状或锥状。优选的，所述短路棒与所述尖峰凸起位于同一层。优选的，所述尖峰凸起的材料为铝、铝钕合金、钼、钼钕合金中的一种或者多种。优选的，所述尖峰凸起的材料为氧化铟锡。优选的，所述信号线靠近相邻的两侧信号线的侧面上均设置有所述尖峰凸起，且 相邻的所述信号线上的所述尖峰凸起均相对设置。优选的，所述尖峰凸起的相对侧另外设置有一附属尖端区，所述附属尖端区位于 所述有效显示部分外，且具有一个或者多个尖端与所述尖峰凸起相对应。优选的，所述附属尖端区设置在公共电极上。优选的，所述信号线与所述尖峰凸起位于同一层。优选的，所述过孔区旁的尖峰凸起为与短路棒连接的信号线向该短路棒外侧的延 伸部分。优选的，在所述过孔区旁还具有与所述短路棒位于同一层的尖峰凸起，与信号线 位于同一层的尖峰凸起和与短路棒位于同一层的尖峰凸起的尖端相对。优选的，所述尖峰凸起的尖部为角状或锥状。本发明的显示装置具有检查装置，所述检查装置包括间隔排放的短路棒；所述各 短路棒分别通过过孔区与不同的信号线电连接，并且所述短路棒的一端具有测试衬垫，所 述检查装置还包括与短路棒电连接的尖峰凸起。。在制造过程中，一旦静电过大，过孔区积累的电荷就会立即往尖峰凸起移动，在尖峰凸起尖端形成尖端放电，大大降低了静电对过 孔的损坏，使得电性测试正常进行，因此和现有技术相比本发明降低了由于静电引起过孔 区容易被烧毁的可能性。
通过附图中所示的本发明的优选实施例的更具体说明，本发明的上述及其它目 的、特征和优势将更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分。并未刻意按 实际尺寸等比例缩放绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。图1为一种现有的设置检查装置的显示装置的结构示意图；
图2为图1所示的显示装置的有效显示部分和检查装置连接位置的放大图；图3为图2所示的显示装置中过孔区被烧毁部位的放大图；图4为本发明的显示装置实施例一的结构示意图；图5为本发明的显示装置实施例二中检测装置及信号线的结构示意图；图6为本发明的显示装置实施例三中检测装置及信号线的结构示意图；图7为本发明的显示装置实施例四中检测装置及信号线的结构示意图；图8为本发明的显示装置实施例五中检测装置及信号线的结构示意图；图9为本发明的显示装置实施例六中检测装置及信号线的结构示意图；图10为本发明的显示装置实施例七中检测装置及信号线的结构示意图；图11为本发明的显示装置实施例八中检测装置及信号线的结构示意图；图12为本发明的显示装置实施例九中检测装置及信号线的结构示意图；图13为本发明的显示装置实施例十中检测装置及信号线的结构示意图；图14为本发明的显示装置实施例十一中检测装置及信号线的结构示意图。
具体实施例方式为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明 的具体实施方式
做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以 很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况 下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。其次，本发明利用示意图进行详细描述，在详述本发明实施例时，为便于说明，表 示器件结构的剖面图会不依一般比例作局部放大，而且所述示意图只是实例，其在此不应 限制本发明保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。本发明提供的一种显示装置，包括由显示像素构成的有效显示部分，与有效显示 部分电连接的信号线以及检查装置，所述检查装置包括间隔排放的短路棒；所述各短路棒 分别通过过孔区与不同的信号线电连接，并且所述短路棒的一端具有测试衬垫，所述检查 装置还包括与短路棒电连接的尖峰凸起。优选的，所述尖峰凸起位于所述短路棒的不具有测试衬垫的一端。优选的，同一根所述短路棒的不具有测试衬垫的一端具有一个所述尖峰凸起。优选的，连接不同信号线的所述短路棒的不具有测试衬垫的一端的尖峰凸起的尖端相对。优选的，所述尖峰凸起位于所述短路棒的测试衬垫上。优选的，连接不同信号线的所述短路棒的测试衬垫上的尖峰凸起的尖端相对。优选的，在所述短路棒的测试衬垫上具有所述尖峰凸起。优选的，连接不同信号线的所述短路棒的不具有测试衬垫的一端的尖峰凸起的尖端相对。优选的，连接不同信号线的所述短路棒的测试衬垫上的尖峰凸起的尖端相对。优选的，连接不同信号线的所述短路棒的测试衬垫上的尖峰凸起的尖端相对。优选的，所述尖峰凸起位于所述过孔区旁。优选的，在所述短路棒靠近相邻的两侧短路棒的侧面上分别具有所述尖峰凸起， 并且相邻的短路棒上的尖峰凸起的尖端相对。优选的，所述尖峰凸起的尖部为角状或锥状。优选的，所述短路棒与所述尖峰凸起位于同一层。优选的，所述尖峰凸起的材料为铝、铝钕合金、氧化铟锡、钼、钼钕合金中的一种或 者多种。优选的，所述尖峰凸起的材料为氧化铟锡。优选的，所述信号线靠近相邻的两侧信号线的侧面上均设置有所述尖峰凸起，且 相邻的所述信号线上的所述尖峰凸起均相对设置。优选的，所述尖峰凸起的相对侧另外设置有一附属尖端区，所述附属尖端区位于 所述有效显示部分外，且具有一个或者多个尖端与所述尖峰凸起相对应。优选的，所述附属尖端区设置在公共电极上。优选的，所述信号线与所述尖峰凸起位于同一层。优选的，所述过孔区旁的尖峰凸起为与短路棒连接的信号线向该短路棒外侧的延 伸部分。优选的，在所述过孔区旁还具有与所述短路棒位于同一层的尖峰凸起，与信号线 位于同一层的尖峰凸起和与短路棒位于同一层的尖峰凸起的尖端相对。优选的，所述尖峰凸起的尖部为角状或锥状。在制造过程中一旦静电过大，在短路棒上以及短路棒与信号线的连接部位，例如 过孔区处积累的电荷就会立即往尖峰凸起移动，在尖峰凸起尖端形成尖端放电，大大降低 了静电对过孔的损坏，使得电性测试正常进行，因此和现有技术相比本发明降低了由于静 电引起的过孔区被烧毁的可能性。实施例一图4为本发明的显示装置实施例一的结构示意图。下面结合图4对本发明的显示 装置进行说明。本实施例中显示装置包括显示像素构成的有效显示部分10 ；与有效显示部分10 电连接的信号线1005和检查装置20，其中信号线1005可以为数据线、扫描线、栅极线等连 接线，具体地，在本实施例子中以数据线为例进行介绍。如图4所示，所述检查装置20包括间隔排放的短路棒，例如图4示出了 4根短路 棒分别为短路棒101-104，短路棒101-103分别与数据线1005-1、1005-2、1005-3通过过孔区电连接，短路棒104和栅极线或者扫描线(图中未标出)通过过孔区电连接。其中，过孔 区具有接触孔106和连接导电层107，部分连接导电层107填充在接触孔106内用于将短路 棒和信号线相电连接。在短路棒101-104的一端具有用于电性测试的测试衬垫109，在本 实施方式中，测试衬垫109可以为方块形状。其中所述测试衬垫109的宽度大于所述短路 棒104的宽度，以便于电性测试。当然，所述测试衬垫的形状可以为圆形、梯形、五边形、六 边形等其他任意可等同的形状。 在本发明的某些其他的具体实施方式
中，所述信号线上还可具有开关元件以便在 检查装置检测完成后将信号线与短路棒断开。但优选地，本实施方式中信号线上不具有开 关元件。这主要是因为，如果在所述信号线上制造所述开关元件，则在制造工艺过程中，可 能会造成电荷在所述开关元件区或者所述过孔区的大量积聚，从而使得所述开关元件或者 所述过孔区烧毁，造成所述信号线与所述短路棒不能电连接，最终影响电性测试。所述检查装置20还包括与短路棒101-104电连接的尖峰凸起108。优选的，尖峰凸起108位于短路棒101-104的不具有测试衬垫109的一端。优选地，本发明的所述短路棒101-104可以位于同一层中，也可以位于不同层中。 具体地，当所述短路棒位于同一层时，所述短路棒可以与扫描线或者数据线一同制造，并与 所述扫描线或者数据线位于同一层；当所述短路棒位于不同层时，其中部分短路棒可以与 数据线一同制造，并与所述数据线位于同一层中，其余部分短路棒可以与扫描线一同制造， 并与扫描线位于同一层中。但是，当所述短路棒位于不同层时，在形成所述短路棒与所述信 号线的过孔区时工艺较复杂，因此最佳地，在本实施方式中所述短路棒在同一层中。优选的，尖峰凸起108和短路棒101-104位于同一层。具体的，尖峰凸起108为短 路棒101-104的延伸部分，也就是将短路棒101-104的一端设计成角状或锥状的尖峰凸起 108。当然，在其他的实施例中，尖峰凸起108也可以和短路棒位于不同层。优选地，所述每一短路棒101-104均仅有一个尖端为角状或锥状尖峰凸起。这是 因为，在每一短路棒101-104均仅有一个尖峰凸起相较于同一短路棒的尖端具有多个角状 或锥状的尖峰凸起可以降低制程精度；而且短路棒不需要做的太宽，特别适合于现在的面 板设计中的高密度排版；而且可以提高玻璃的利用率；同时这样设置使得在制作过程中对 曝光掩模板的图形精度要求不高。优选的，尖峰凸起的尖端部位没有绝缘层，也或是尖端部分的绝缘层在制造过程 中被刻蚀掉，这样可进一步提高放电的效率，降低过孔区被烧毁的风险。如图4所示，尖峰凸起108直接暴露在空气中，因此一旦制造过程中静电过大，在 短路棒101-104上以及接触孔106处积累的电荷就会立即往尖峰凸起108部位移动，在其 尖端直接对空气放电，大大降低了静电对过孔区，尤其是接触孔106的损坏，使得电性测试 正常进行。此外，在本发明中，还可以在所述尖峰凸起108的相对侧另外设置有一附属尖端 区(图未示)，所述附属尖端区位于所述有效显示部分外，且具有一个或者多个尖端与所述 尖峰凸起108相对应，以利于尖端对尖端放电，增强放电效果。所述附属尖端区不与短路棒 电连接，且优选地，所述附属尖端区可以设置在公共电极上(图未示)。实施例二图5为本发明的显示装置实施例二中检测装置及信号线的结构示意图。下面结合图5所示的检测装置及信号线的结构，对本发明的显示装置进行说明。第二实施例和第一实施例的相同部分不再赘述，在本实施方式中如图5所示，在短路棒201-204不具有测试衬垫209的一端没有尖峰凸起，而在测 试衬垫209上具有尖峰凸起100。优选的，尖峰凸起100和测试衬垫209位于同一层。具体的，尖峰凸起100为测试 衬垫209的延伸部分，也就是将测试衬垫209的一端设计成角状或锥状的尖峰凸起100。当 然，在其他的实施例中，尖峰凸起100也可以和测试衬垫209位于不同层。实施例三图6为本发明的显示装置实施例三中检测装置及信号线的结构示意图。下面结合 图6所示的检测装置及信号线的结构，对本发明的显示装置进行说明。
第三实施例和第一实施例的相同部分不再赘述，在本实施方式中如图6所示，不仅在短路棒301-304不具有测试衬垫309的一端具有尖峰凸起，另 外在测试衬垫309上也具有尖峰凸起300。由于短路棒两端均有尖峰凸起，静电荷可以快速 向两尖峰凸起端移动，大大降低了过孔区被烧毁的风险。优选的，同一根所述短路棒的不具有测试衬垫的一端具有一个所述尖峰凸起。优选的，尖峰凸起300和测试衬垫309位于同一层，具体的，尖峰凸起300为测试 衬垫309的延伸部分，也就是将测试衬垫309的一端设计成尖部为角状或锥状的尖峰凸起 300。当然，在其他的实施例中，尖峰凸起300也可以和测试衬垫309位于不同层。实施例四图7为本发明的显示装置实施例四中检测装置及信号线的结构示意图。下面结合 图7所示的检测装置及信号线的结构，对本发明的显示装置进行说明。第四实施例和第一实施例的相同部分不再赘述，在本实施方式中如图7所示，短路棒401-404不具有测试衬垫409的一端具有尖峰凸起408。并 且，位于连接不同信号线的短路棒上的尖峰凸起408的尖端相对设置。其中，所述尖峰凸起 可以位于同一层中也可以位于不同层中。当所述尖峰凸起位于不同层时，所述尖峰凸起之 间除了相对设置外，还可允许有部分交叠。优选的，同一根所述短路棒的不具有测试衬垫的一端具有一个所述尖峰凸起。当然，在其他的实施例中，也可以尖峰凸起408中的两个或者三个形成尖端与尖 端相对的结构，例如尖峰凸起408-1、408-3的尖端相对设置，尖峰凸起408-1、408-2、408-3 的尖端相对设置。具体的，在尖峰凸起408表面可以没有绝缘层，从而提高了放电的效率，降低了静 电对过孔区的损坏。如图7所示，因为尖峰凸起408的尖端相对设置，因此制造过程中即使静电过大， 在短路棒401-404上以及过孔区处积累的电荷都会立即往尖峰凸起408部位移动，因此使 得尖端对尖端放电，大大降低了静电对过孔区的损坏，使得电性测试正常进行。实施例五图8为本发明的显示装置实施例五中检测装置及信号线的结构示意图。下面结合 图8所示的检测装置及信号线的结构，对本发明的显示装置进行说明。第五实施例和第四实施例的相同部分不再赘述，在本实施方式中
在短路棒501-504的一端具有用来电性测试的测试衬垫509，并且测试衬垫509上 具有尖峰凸起500。
优选的，同一根所述短路棒的不具有测试衬垫的一端具有一个所述尖峰凸起。由于在短路棒的不具有测试衬垫一端，以及测试衬垫上都设置尖峰凸起，因此静 电荷可以快速向两端尖峰凸起端移动，大大降低了过孔区被烧毁的风险。实施例六图9为本发明的显示装置实施例六中检测装置及信号线的结构示意图。下面结合 图9所示的检测装置及信号线的结构，对本发明的显示装置进行说明。第六实施例和第五实施例的相同部分不再赘述，在本实施方式中在短路棒601-604的一端具有用来电性测试的测试衬垫609，并且测试衬垫609 上具有尖峰凸起600，具体的将测试衬垫609的一端设计成尖部为角状或锥状的尖峰凸起 600。并且，连接不同信号线的短路棒上的所述各尖峰凸起600的尖端也相对设置，例如尖 峰凸起609-1，609-2，609-3，609-4相对设置，也可以其中的两个或3个尖峰凸起相对设置。当然，在其他的实施例中，也可以仅将测试衬垫上的尖峰凸起尖端相对设置，而短 路棒的不具有测试衬垫409 —端不设置尖端相对的尖峰凸起，或者不设置尖峰凸起。由于在本实施例子中的短路棒两端均有尖峰凸起，静电荷可以快速向两尖峰凸起 端移动，而且两端的尖峰凸起都设置为尖端相对的结构，从而通过尖端对尖端放电，加快了 静电荷的释放，因此大大降低了过孔区被烧毁的风险。实施例七图10为本发明的显示装置实施例七中检测装置及信号线的结构示意图。下面结 合图10所示的检测装置及信号线的结构，对本发明的显示装置进行说明。第七实施例和上述实施例的相同部分不再赘述，在本实施方式中如图10所示，短路棒701-704靠近与信号线电连接的位置，例如短路棒701-704 与信号线通过过孔区电连接，在过孔区旁，也即在接触孔106旁具有一个或者多个尖峰凸 起708，所述尖峰凸起708可以位于短路棒上，也可以位于信号线上。所述尖峰凸起708可以 如图10所示的位于短路棒的同一侧，也可以位于短路棒的不同侧，或者在每一短路棒靠近 相邻的两侧短路棒的侧面上均设置有尖峰凸起，且各短路棒之间的尖峰凸起均相对设置。优选的，尖峰凸起708和短路棒701-704位于同一层，具体的，尖峰凸起708的尖 部为角状或锥状。具体的，在短路棒701-704的测试衬垫709的部分，以及短路棒701-704的尖峰凸 起708的尖端部分的表面不具有绝缘层。当然，在其他实施例中，所述测试衬垫709上也可以具有上述实施例中的尖峰凸起。如图10所示，因为尖峰凸起708设置在过孔区旁，并且尖峰凸起708直接暴露在 空气中，因此一旦工艺过程中静电过大，在过孔区处积累的电荷就会立即往尖峰凸起708 部位移动，在其尖端直接对空气放电，大大降低了静电对过孔区的损坏，使得电性测试正常 进行，因为过孔区容易因为静电被损坏影响电性测试，因此优选的将尖峰凸起708设置在 过孔区旁可以有效的防止静电对过孔区造成的损坏。实施例八
图11为本发明的显示装置实施例八中检测装置及信号线的结构示意图。下面结 合图11所示的检测装置及信号线的结构，对本发明的显示装置进行说明。第八实施例和第七实施例的相同部分不再赘述，在本实施方式中所述尖峰凸起808与信号线位于相同的层，例如与数据线位于相同的层，并且位 于数据线的顶端，为数据线向短路棒外侧的延伸部分。本实施例中尖峰凸起808与信号线 位于相同的层，从而使得刻蚀形成尖峰凸起的工艺步骤更简单。此外，在每一所述信号线靠 近相邻的两侧信号线的侧面上均设置有所述尖峰凸起，且相邻的所述信号线的所述尖峰凸 起均相对设置。实施例九图12为本发明的显示装置实施例九中检测装置及信号线的结构示意图。下面结 合图12所示的检测装置及信号线的结构，对本发明的显示装置进行说明。第九实施例和第八实施例的相同部分不再赘述，在本实施方式中 在短路棒上，除了位于信号线顶端的尖峰凸起808之外，在过孔区旁还具有另一 尖峰凸起711，尖峰凸起711和短路棒位于同一层，并且尖峰凸起711为角状或锥状。实施例十图13为本发明的显示装置实施例十中检测装置及信号线的结构示意图。下面结 合图13所示的检测装置及信号线的结构，对本发明的显示装置进行说明。第十实施例和第九实施例的相同部分不再赘述，在本实施方式中同一短路棒上的尖峰凸起808和尖峰凸起711的尖端部分设计成尖端相对的结 构。因为尖峰凸起808的尖端和尖峰凸起711的尖端相对设置，因此制造过程中静电过大， 积累的电荷就会立即往尖峰凸起808和711上移动，从而尖端对尖端放电。实施例i^一图14为本发明的显示装置实施例十一中检测装置及信号线的结构示意图。下面 结合图14所示的检测装置及信号线的结构，对本发明的显示装置进行说明。第十一实施例和上述实施例的相同部分不再赘述，在本实施方式中 如图14所示，所述短路棒和信号线连接位置旁设置有尖峰凸起713和714，尖峰凸 起713和714分别位于短路棒靠近相邻的两侧短路棒的两侧面上，并且短路棒的尖峰凸起 713和其相邻的短路棒上的尖峰凸起714的尖端相对设置。另外在每个实施例中尖峰凸起的设置可以任意组合。在此不再一一列出。所以上 述实施例中，一旦制造过程中静电过大，在短路棒上和接触孔处积累的电荷就会立即往尖 端部位移动，在尖端形成尖端放电，大大降低了静电对过孔区的损坏，使得电性测试正常进 行。本发明的图10-14的尖峰凸起设计在过孔区旁边，可以快速放电。本发明的尖端 上面没有绝缘层，以及尖端与尖端之间没有绝缘层，提高了放电的效率；静电放电效果明 显。此外，本发明的所述尖峰凸起的材料可以为铝、铝钕合金、氧化铟锡、钼、钼钕合金等中 的一种或者多种，优先的，本发明中的所述尖峰凸起的材料为氧化铟锡，因其具有较强的抗 腐蚀性。以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制。虽然本发明已以较佳实施例披露如上，然而并非用以限定本发明。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内 容对本发明技术方案作出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单 修改、等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。
权利要求
一种显示装置，包括由显示像素构成的有效显示部分，与有效显示部分电连接的信号线以及检查装置，所述检查装置包括间隔排放的短路棒；其特征在于，所述各短路棒分别通过过孔区与不同的信号线电连接，并且所述短路棒的一端具有测试衬垫，所述检查装置还包括与短路棒电连接的尖峰凸起。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述尖峰凸起位于所述短路棒的不 具有测试衬垫的一端。
3.根据权利要求2所述的显示装置，其特征在于，同一所述短路棒的不具有测试衬垫 的一端具有一个所述尖峰凸起。
4.根据权利要求3所述的显示装置，其特征在于，连接不同信号线的所述短路棒的不 具有测试衬垫的一端的尖峰凸起的尖端相对。
5.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述尖峰凸起位于所述短路棒的测 试衬垫上。
6.根据权利要求5所述的显示装置，其特征在于，连接不同信号线的所述短路棒的测 试衬垫上的尖峰凸起的尖端相对。
7.根据权利要求3所述的显示装置，其特征在于，在所述短路棒的测试衬垫上具有所 述尖峰凸起。
8.根据权利要求7所述的显示装置，其特征在于，连接不同信号线的所述短路棒的不 具有测试衬垫的一端的尖峰凸起的尖端相对。
9.根据权利要求8所述的显示装置，其特征在于，连接不同信号线的所述短路棒的测 试衬垫上的尖峰凸起的尖端相对。
10.根据权利要求7所述的显示装置，其特征在于，连接不同信号线的所述短路棒的测 试衬垫上的尖峰凸起的尖端相对。
11.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述尖峰凸起位于所述过孔区旁。
12.根据权利要求11所述的显示装置，其特征在于，在所述短路棒靠近相邻的两侧短 路棒的侧面上分别具有所述尖峰凸起，并且相邻的所述短路棒上的所述尖峰凸起的尖端相 对。
13.根据权利要求1至12任意一项所述的显示装置，其特征在于，所述尖峰凸起的尖部 为角状或锥状。
14.根据权利要求1至12任意一项所述的显示装置，其特征在于，所述短路棒与所述尖 峰凸起位于同一层。
15.根据权利要求1至12任意一项所述的显示装置，其特征在于，所述尖峰凸起的材料 为铝、铝钕合金、钼、钼钕合金中的一种或者多种。
16.根据权利要求1至12任意一项所述的显示装置，其特征在于，所述尖峰凸起的材料 为氧化铟锡。
17.根据权利要求12所述的显示装置，其特征在于，所述信号线靠近相邻的两侧信号 线的侧面上均设置有所述尖峰凸起，且相邻的所述信号线上的所述尖峰凸起均相对设置。
18.根据权利要求1或17所述的显示装置，其特征在于，所述尖峰凸起的相对侧另外设 置有一附属尖端区，所述附属尖端区位于所述有效显示部分外，且具有一个或者多个尖端 与所述尖峰凸起相对应。
19.根据权利要求18所述的显示装置，其特征在于，所述附属尖端区设置在公共电极上。
20.根据权利要求11所述的显示装置，其特征在于，所述信号线与所述尖峰凸起位于同一层。
21.根据权利要求20所述的显示装置，其特征在于，所述过孔区旁的尖峰凸起为与短 路棒连接的信号线向该短路棒外侧的延伸部分。
22.根据权利要求21所述的显示装置，其特征在于，在所述过孔区旁还具有与所述短 路棒位于同一层的尖峰凸起，与信号线位于同一层的尖峰凸起和与短路棒位于同一层的尖 峰凸起的尖端相对。
23.根据权利要求20-22任意一项所述的显示装置，其特征在于，所述尖峰凸起的尖部 为角状或锥状。
全文摘要
本发明提供了一种显示装置，包括由显示像素构成的有效显示部分，与有效显示部分电连接的信号线以及检查装置，所述检查装置包括间隔排放的短路棒，所述各短路棒分别与不同的信号线电连接，并且所述短路棒的一端具有测试衬垫，所述检查装置还包括分别与短路棒电连接的尖峰凸起，从而解决了由于静电引起的短路棒与信号线的连接位置的过孔区容易被烧毁的问题。
文档编号H01L23/52GK101847628SQ200910048490
公开日2010年9月29日 申请日期2009年3月27日 优先权日2009年3月27日
发明者黄贤军 申请人:上海天马微电子有限公司