一种不良半导体芯片去除装置制造方法

文档序号:7097854阅读:231来源:国知局
一种不良半导体芯片去除装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种不良半导体芯片去除装置,它包括机架(17),机架(17)底座(9)上连接有一下模板(10),下模板(10)上设置有导柱(7),下模板(10)中心安装有凹模(8),凹模(8)中心开设有一落料孔(18),在落料孔(18)周边设置有四个对称的定位孔A(21),定位孔A(21)内安装定位针(19),导柱(7)上套有上模板(11),上模板(11)上连接有凸模(12),凸模(12)上安装有刀具(22),刀具四周设置有与定位孔A(21)相对应的定位孔B(23),上模板(11)连接一升降机构。本发明的有益效果是:它具有工作效率高、减少报废、降低成本和操作简单的优点。
【专利说明】一种不良半导体芯片去除装置

【技术领域】
[0001]本发明涉及半导体芯片,特别是一种不良半导体芯片去除装置。

【背景技术】
[0002]半导体芯片在加工过程中,为节约空间,也便于储存运输,通常将半导体芯片均匀分布在一芯片条上,由于加工出来的半导体芯片有不良品,当检测出不良品后,需要对不良品进行去除,传动的不良半导体芯片是通过人工裁剪,效率低下,而且在裁剪时,需要将不良芯片四周完全剪断,劳动强度较大,人力成本较高,当不良品较多时,一张芯片条将会被分隔成多段,不利于芯片的储存运输,而且通过人工裁剪,还容易导致良品芯片破损,增加生产成本。


【发明内容】

[0003]本发明的目的在于克服现有技术的缺点,提供一种工作效率高、降低成本和操作方便的不良半导体芯片去除装置。
[0004]本发明的目的通过以下技术方案来实现:一种不良半导体芯片去除装置,它包括机架,所述的机架的立柱下端设置有一底座,底座上连接有一下模板,所述的下模板上表面上设置有导柱,下模板中心开设有一方形盲孔,方形盲孔内安装有凹模,所述的凹模中心开设有一落料孔,在落料孔周边设置有四个对称的定位孔A,所述的定位孔A内安装有带有弹簧的定位针,所述的导柱上套有上模板,上模板上连接有一凸模,凸模中心位置连接有一刀具,刀具位于落料孔正上方,且刀具四周设置有与定位孔A相对应的定位孔B,所述的上模板连接一升降机构,所述的升降机构套在机架的立柱上,并可沿立柱上下移动。
[0005]所述的升降装置包括升降台、直齿条、齿轮,所述的升降台内部为中空结构,升降台内部架设有一旋转轴,旋转轴上套装齿轮,所述的升降台前端面上开设有一滑槽,滑槽内滑动配合有一直齿条,且升降台前端面上通过盖板封盖,所述的直齿条的齿条和齿轮的齿条相配合。
[0006]所述的旋转轴一端伸出升降台,在旋转轴伸出端设置有一摇杆。
[0007]所述的直齿条上端连接有一弹簧,弹簧的另一端与机架连接。
[0008]所述的升降台后端部开设有一通孔,升降台的通孔与立柱滑动配合,且在升降台的左侧壁上设置有一锁紧螺栓。
[0009]所述的凹模上表面上开设有多个方形槽,在凹模上开设有四个螺纹孔,螺纹孔分布在凹模的对角线上。
[0010]所述的凸模下表面开设有与凹模相对应的方形槽,且在凸模上表面开设有两个对称的螺纹孔。
[0011]所述的上模板下表面上设置有套筒,套筒套在立柱上本发明具有以下优点:本发明的不良半导体芯片去除装置,将不良芯片放置落料孔上,且通过定位针定位,用手往下摇动摇杆,刀具完成不良芯片的去除,然后刀具在弹簧力和齿轮的作用下上行,不需将芯片条裁剪成多段就可完成不良芯片的去除,提高了生产效率,减少了报废,降低了成本,而且操作方便、劳动强度低。

【专利附图】

【附图说明】
[0012]图1为本发明的结构示意图图2为凹t旲的结构不意图
图3为图2中A-A尚]视不意图图4为凸模的结构示意图
图中,1-升降台,2-齿轮,3-旋转轴,4-锁紧螺栓,5-立柱,6-套筒,7-导柱,8-凹模,
9-底座,10-下模板,11-上模板,12-凸模,13-盖板,14-摇杆,15-直齿条,16-弹簧,17-机架,18-落料孔,19-定位针,20-方形槽,21-定位孔A,22-刀具,23-定位孔B。

【具体实施方式】
[0013]下面结合附图对本发明做进一步的描述,本发明的保护围不局限于以下所述: 如图1所示,一种不良半导体芯片去除装置,它包括机架17,所述的机架17的立柱5下端设置有一底座9,底座9上连接有一下模板10,所述的下模板10上表面上设置有导柱7,下模板10中心开设有一方形盲孔,方形盲孔内安装有凹模8,如图2所示,所述的凹模8中心开设有一落料孔18,如图3所示,在落料孔18周边设置有四个对称的定位孔A21,所述的定位孔A21内安装有带有弹簧的定位针19,所述的导柱7上套有上模板11,上模板11上连接有一凸模12,如图4所示,凸模12中心位置连接有一刀具22,刀具22位于落料孔18正上方,且刀具四周设置有与定位孔A21相对应的定位孔B23,所述的上模板11连接一升降机构,所述的升降机构套在机架17的立柱5上,并可沿立柱5上下移动。
[0014]在本实施例中,如图1所示,所述的升降装置包括升降台1、直齿条15、齿轮2,所述的升降台I内部为中空结构,升降台I内部架设有一旋转轴3,旋转轴3上套装齿轮2,所述的升降台I前端面上开设有一滑槽,滑槽内滑动配合有一直齿条15,且升降台I前端面上通过盖板13封盖,所述的直齿条15的齿条和齿轮2的齿条相配合,进一步的旋转轴3 —端伸出升降台I,在旋转轴3伸出端设置有一摇杆14,摇动摇杆14,齿轮2发生转动,从而带动直齿条15上下移动,进而带动凸模12上下移动。
[0015]在本实施例中,直齿条15上端连接有一弹簧16,弹簧16的另一端与机架17连接,直齿条15下行时,需克服弹簧16的拉力,从而减小了刀具22对芯片条的冲击力,避免了芯片条因冲击力过大而导致损坏的现象,而且在半导体不良芯片去除后,直齿条15在弹簧16的拉力作用下上行,降低了劳动强度。
[0016]在本实施例中,升降台I后端部开设有一通孔,升降台I的通孔与立柱5滑动配合,且在升降台I的左侧壁上设置有一锁紧螺栓4,通过调节锁紧螺栓4可以预设升降台I的初始高度。
[0017]在本适合例中,凹模8上表面上开设有多个方形槽20,在凹模8上开设有四个螺纹孔,螺纹孔分布在凹模8的对角线上,已确保凹模8固定安装在下模板10上10,凸模12下表面开设有与凹模8相对应的方形槽20,且在凸模12上表面开设有两个对称的螺纹孔,方形槽20的大小与芯片条上的芯片大小相稳合。
[0018]在本实施中,所述的上模板11下表面上设置有套筒6,套筒6套在立柱5上,套筒6可以增加上模板下行的垂直精度,而且套筒6还可起到限位的作用。
[0019]本发明的工作过程如下:将芯片条上的不良芯片放置在落料孔18上,定位针19与芯片条上的通孔相配合,实现芯片条的定位,然后向下转动摇杆14,上模板11下行,凸模12与凹模8接触,凸模12上的刀具22完成不良芯片的去除,然后向上转动摇杆14,上模板11在弹簧力以及齿轮2的带动下往上移动,然后进行下一个不良芯片的去除。
【权利要求】
1.一种不良半导体芯片去除装置,其特征在于:它包括机架(17),所述的机架(17)的立柱(5)下端设置有一底座(9),底座(9)上连接有一下模板(10),所述的下模板(10)上表面上设置有导柱(7),下模板(10)中心开设有一方形盲孔,方形盲孔内安装有凹模(8),所述的凹模(8)中心开设有一落料孔(18),在落料孔(18)周边设置有四个对称的定位孔A(21),所述的定位孔A (21)内安装有带有弹簧的定位针(19),所述的导柱(7)上套有上模板(11),上模板(11)上连接有一凸模(12),凸模(12)中心位置连接有一刀具(22),刀具(22)位于落料孔(18)正上方,且刀具四周设置有与定位孔A (21)相对应的定位孔B (23),所述的上模板(11)连接一升降机构,所述的升降机构套在机架(17)的立柱(5)上,并可沿立柱(5)上下移动。
2.根据权利要求1所述的一种不良半导体芯片去除装置,其特征在于:所述的升降装置包括升降台(1)、直齿条(15)、齿轮(2),所述的升降台(I)内部为中空结构,升降台(I)内部架设有一旋转轴(3),旋转轴(3)上套装齿轮(2),所述的升降台(I)前端面上开设有一滑槽,滑槽内滑动配合有一直齿条(15),且升降台(I)前端面上通过盖板(13)封盖,所述的直齿条(15)的齿条和齿轮(2)的齿条相配合。
3.根据权利要求2所述的一种不良半导体芯片去除装置,其特征在于:所述的旋转轴(3)—端伸出升降台(1),在旋转轴(3)伸出端设置有一摇杆(14)。
4.根据权利要求2所述的一种不良半导体芯片去除装置,其特征在于:所述的直齿条(15)上端连接有一弹簧(16),弹簧(16)的另一端与机架(17)连接。
5.根据权利要求2所述的一种不良半导体芯片去除装置,其特征在于:所述的升降台(I)后端部开设有一通孔,升降台(I)的通孔与立柱(5)滑动配合,且在升降台(I)的左侧壁上设置有一锁紧螺栓(4)。
6.根据权利要求1所述的一种不良半导体芯片去除装置,其特征在于:所述的凹模(8)上表面上开设有多个方形槽(20),在凹模(8)上开设有四个螺纹孔,螺纹孔分布在凹模(8)的对角线上。
7.根据权利要求6所述的一种不良半导体芯片去除装置,其特征在于:所述的凸模(12)下表面开设有与凹模(8)相对应的方形槽(20),且在凸模(12)上表面开设有两个对称的螺纹孔。
8.根据权利要求1所述的一种不良半导体芯片去除装置,其特征在于:所述的上模板(II)下表面上设置有套筒(6),套筒(6)套在立柱(5)上。
【文档编号】H01L21/67GK104505357SQ201510019865
【公开日】2015年4月8日 申请日期:2015年1月15日 优先权日:2015年1月15日
【发明者】何伟, 李宗华, 王利华 申请人:成都先进功率半导体股份有限公司
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