技术总结
本发明公开一种太阳能电池的PID特性测试方法、测试用薄片及其制造方法，其能够简化PID测试过程、提高费用方面的经济性、缩短PID特性测试所需要时间、且可以可靠地测试PID特性。根据本发明的太阳能电池PID特性测试方法包括：太阳能电池劣化步骤，在太阳能电池沉积用于推算PID的污染物质而使所述太阳能电池劣化；第一导电膜形成步骤，在沉积有所述污染物质的太阳能电池的一面形成第一导电膜；第二导电膜形成步骤，在沉积有所述污染物质的太阳能电池的另一面形成第二导电膜；以及PID特性提取步骤，将所述第一导电膜和所述第二导电膜作为介质而向沉积有所述污染物质的太阳能电池施加测试电压而提取PID特性。
技术研发人员：千圣日;朴鲁賶;吴原旭;金东奂;裴守贤;孙裕胜
受保护的技术使用者：电子部品研究院
文档号码：201610341737
技术研发日：2016.05.20
技术公布日：2017.03.08