太阳能电池的PID特性测试方法、测试用薄片及其制造方法与流程

本发明涉及一种太阳能电池的PID特性测试方法、太阳能电池PID特性测试用薄片及其制造方法，尤其涉及一种能够简化PID特性测试过程、提高成本方面的经济性、缩短PID特性测试所需要时间、且可以可靠地测试PID特性的太阳能电池的PID特性测试方法、测试用薄片及其制造方法。
背景技术：
：最近，有报道指出了设置在外部的太阳能电池模组中的输出急剧减少的现象。这种形态的输出减少产生于模组彼此串联的太阳光发电系统中。在产生高电压的系统中的无法用现有的劣化现象说明的新形态的输出的急剧降低被称为高电压应力(highvoltagestress)或者PID(PotentialInducedDegradation，电势诱导衰减)。在太阳能电池模组串联的情况下，太阳光系统的发电电压与太阳能电池模组的数正比。另外，在将太阳能电池模组设置在外部时，为了操作的稳定性和发电过程中的事故的预防，太阳能电池模组的框架被接地。通过太阳光发电而产生的电压被留在太阳能电池，因为支撑太阳能电池模块的外部的框架被接地，所以相对基准电势恒被固定在接地电势，所以产生太阳能电池和框架之间的电势差。因此，在串联多个太阳能电池模组的阵列(array)中，随着靠近末端，太阳能电池和接地的模组框架之间的电压逐渐增加，并且对于最后的模组而言，其电压差相当于系统的发电电压。已知接地的框架和太阳能电池之间的电势差是产生PID的最主要的原因，并且PID受到设置太阳光发电系统的场所的温度、湿度等的影响。以下，参照图1而对产生于太阳能电池模组中的PID(PotentialInducedDegradation，电势诱导衰减)的发展过程进行说明。参照图1，对于由太阳能电池模组组成的太阳光发电系统而言，随着设置场所的温度和湿度的上升，封固剂(encapsulant)的体积电阻降低，并产 生太阳能电池单元和框架之间的电势差。并且，导致水分附着在玻璃而降低绝缘性，并且作为玻璃成分的Na+或者K+等阳离子的被分离而向太阳能电池单元表面移动并贴附。此时，封固剂的体积电阻越低，阳离子的移动速度越高。当移动的阳离子贴附在太阳能电池单元表面时，太阳能电池单元内部的电子和阳离子之间的再结合被固化，从而减少太阳能电池单元内部的空穴。如果空穴减少，则太阳能电池单元内部的电子移动也减少，因此会减少太阳光发电量。如此，可以认为随着设置太阳能电池模组的场所的温度和湿度，必然产生太阳能电池模组的电势诱导衰减(PID)。所以，现有的模组制造公司等会在产品上市之前，测试太阳能电池模组是否满足预定水准以上的PID特性。图2是用于说明对太阳能电池模组进行PID测试的现有方式的图。参照图2，在将太阳能电池模组投入测试腔室内的状态下，在预定的测试条件下，进行对PID特性的测试。测试条件在2012年6月1日由NREL的Hacke发起的IEC62804Ed.1被承认为标准，其具体内容如下。[表1]腔室内部温度60℃±2℃腔室内周相对湿度85％±5％R.H.测试时长96h测试电压模块的额定系统电压和极性对于电压条件而言，美国的标准为600V、欧洲为1000V，并且都实行±电压施加。在96个小时后的太阳能电池模组的输出负荷在5％以下的情况下为合格。但是，根据现有的上述对太阳能电池模组的PID特性测试方法，为了制造用于测试PID特性的样品，需要大面积的模块过程，因此在费用方面存在不经济的问题。并且，为了进行PID特性测试，需要在维持指定的测试温度和湿度的测试腔室内投入大面积的太阳能电池模组的状态下，在指定的测试时间内施加测试电压，因此存在PID测试所需要的时间较长的问题。技术实现要素：本发明为了解决上述问题而提出，本发明的目的在于提供如下的太阳能电池的PID特性测试方法、太阳能电池PID特性测试用薄片及其制造方法：能够简化PID测试过程、提高费用方面的经济性、缩短PID特性测试所需要时间、且可以可靠地测试PID特性。为了达到上述目的，根据本发明之一方面的一种太阳能电池PID(PotentialInducedDegradation，电势诱导衰减)特性测试方法，包括：太阳能电池劣化步骤，在太阳能电池中沉积用于推算PID的污染物质而使所述太阳能电池劣化；第一导电膜形成步骤，在沉积有所述污染物质的太阳能电池的一面形成第一导电膜；第二导电膜形成步骤，在沉积有所述污染物质的太阳能电池的另一面形成第二导电膜；PID特性提取步骤，将所述第一导电膜和所述第二导电膜作为介质而向沉积有所述污染物质的太阳能电池施加测试电压而提取PID特性。所述污染物质可包括钠离子(Na+)或者钾离子(K+)。在执行所述太阳能电池劣化步骤以后，在执行所述第一导电膜形成步骤之前，还可以包括以下步骤：封固剂(encapsulant)形成步骤，在沉积有所述污染物质的太阳能电池的一面形成封固剂。所述第一导电膜和所述第二导电膜可通过层叠铜箔而形成。所述封固剂可包括乙烯醋酸乙烯酯(EVA；EthyleneVinylAcetate)。所述太阳能电池可以是晶体硅系太阳能电池。根据本发明之另一方面的一种太阳能电池PID特性测试用薄片，包括：高分子树脂层；太阳能电池PID特性诱发粒子，被包含于所述高分子树脂层的至少一面或者所述高分子树脂层内。所述高分子树脂层可包括乙烯醋酸乙烯酯。所述太阳能电池PID特性诱发粒子可以是从玻璃中产生的阳离子。所述太阳能电池PID特性诱发粒子可以是钠阳离子(Na+)和钾阳离子(K+)中的至少一个。所述太阳能电池PID特性诱发粒子可部分性地凝聚在所述高分子树脂层内。太阳能电池PID特性诱发粒子在所述高分子树脂层的一面可以以太阳能电池PID特性诱发粒子层的形态形成。所述太阳能电池PID特性诱发粒子层可由包括互不相同的太阳能电池PID特性诱发粒子的2个以上的层构成。根据本发明之又一方面的一种太阳能电池PID特性测试用薄片的制造方法，包括：准备高分子树脂层的步骤；太阳能电池PID特性诱发粒子添加步骤，在所述高分子树脂层中添加太阳能电池PID特性诱发粒子。所述太阳能电池PID特性诱发粒子添加步骤可通过以下方式执行：在所述高分子树脂层中沉积所述太阳能电池PID特性诱发粒子而形成太阳能电池PID特性诱发粒子层。或者，所述太阳能电池PID特性诱发粒子添加步骤可通过以下方式执行：在所述高分子树脂层中掺杂所述太阳能电池PID特性诱发粒子。根据本发明之另外的又一方面的一种太阳能电池PID特性测试方法，包括：将太阳能电池PID特性测试用薄片贴附在太阳能电池而制造测试对象太阳能电池的步骤，所述太阳能电池PID特性测试用薄片包括高分子树脂层以及太阳能电池PID特性诱发粒子，所述太阳能电池PID特性诱发粒子被包含于所述高分子树脂层的至少一面或者所述高分子树脂层内；PID特性提取步骤，对所述测试对象太阳能电池施加电压而提取所述测试对象太阳能电池的PID特性。根据本发明之其他又一方面的一种高分子树脂薄片，包括：高分子树脂层；钠阳离子，被包含于所述高分子树脂层的至少一面或者所述高分子树脂层内。根据上述本发明的实施例，具有以下技术效果：通过对太阳能电池本身而不是太阳能电池模组进行PID特性测试，可以简化PID测试过程、提高费用方面的经济性、缩短PID特性测试所需要时间、且可以可靠地测试PID特性。并且，在这种PID特性测试中，可以利用薄片形态的测试物质而简单地贴附在太阳能电池或者形成于太阳能电池上，因此具有测试过程简单并能够最小化测试时间的技术效果。附图说明图1是用于说明产生于太阳能电池模组的PID的发展过程的图。图2是用于说明对太阳能电池模组进行PID测试的现有方式的图。图3是示出根据本发明的一实施例的太阳能电池PID特性测试方法的图。图4是示出本发明的一实施例中，对沉积有污染物质的太阳能电池施加测试电压而提取PID特性的方式的示例的图。图5是用于比较说明根据本发明的一实施例的太阳能电池PID特性测试方法的特征和现有方式的图。图6是根据本发明的一实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片的剖视图。图7是根据本发明的一实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片与作为测试对象的太阳能电池接触的状态图。图8是根据本发明的另一实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片与作为测试对象的太阳能电池接触的状态图。图9是根据本发明的又一实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片与作为测试对象的太阳能电池接触的状态图。图10是根据本发明的又一实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片与作为测试对象的太阳能电池接触的状态图。图11是根据本发明的又一实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片与作为测试对象的太阳能电池接触的状态图。图12是根据本发明的又一实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片与作为测试对象的太阳能电池接触的状态图。图13是示出利用根据本发明的又一实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片的PID测试结果的曲线图。图14是示出利用根据现有太阳能PID特性测试方法的PID测试结果的曲线图。附图符号10：太阳能电池20：封固剂30：第一导电膜40：第二导电膜S20：太阳能电池劣化步骤S30：封固剂形成步骤S40：第一导电膜形成步骤S50：第二导电膜形成步骤S60：PID特性提取步骤100、200、300、400、500：太阳能电池PID特性测试用薄片110、210、310、410、510：高分子树脂层120、220、320：太阳能电池PID特性诱发粒子421、521：第一太阳能电池PID特性诱发粒子层422、522：第二太阳能电池PID特性诱发粒子层1000、2000、3000、4000、5000：测试对象太阳能电池具体实施方式以下，参照附图而对本发明的实施形态进行说明。但是，本发明的实施形态可以变形成多种其他形态，并且本发明的范围不限于以下说明的实施形态。为了给在本领域具有基础知识的人员更完整地说明本发明而提供本发明的实施形态。附图中，可能有具有特定图案或者具有预定厚度的构成要素，但其目的仅在于使说明或者区分便利，即使具有特定图案以及预定的厚度，本发明不限于图示出的构成要素所对应的特征。图3是示出根据本发明的一实施例的太阳能电池PID特性测试方法的图，图4是示出本发明的一实施例中，给沉积污染物质的太阳能电池施加测试电压而提取PID特性的方式的示例的图。参照图3和图4，根据本发明的一实施例的太阳能电池PID特性测试方法包括：太阳能电池劣化步骤S20、封固剂形成步骤S30、第一导电膜形成步骤S40、第二导电膜形成步骤S50以及PID特性提取步骤S60。本发明提供如下的PID特性测试方法：通过对太阳能电池10本身，而不是对太阳能电池模组进行PID特性测试，从而在成本方面提高经济性，并且在大幅缩短PID特性测试所需要的时间的同时，能够可靠地测试PID特性。更具体地，本发明人为地在太阳能电池10上沉积钠离子(Na+)或者钾离子(K+)后，测试PID特性，因此可以与现有方式相同地，模拟产生于在特定温度、湿度、测试时间、测试电压条件下太阳能电池模组表现出的PID特性。首先，在S10步骤中，进行将太阳能电池10投入到真空腔室的过程。所述真空腔室用于在太阳能电池10的表面沉积后述的污染物质。在太阳能电池劣化步骤S20中，执行在太阳能电池10中沉积用于推算PID的污染物质以使太阳能电池10得到人为劣化的过程。例如，太阳能电池10可以是硅基太阳能电池，并且污染物质可以包括钠离子(Na+)或者钾离子(K+)。在太阳能电池10的表面人为地沉积包括钠离子(Na+)或者钾离子(K+)的污染物质的原因如下。通常，为了保护硅太阳能电池模组的前表面而使用 的玻璃中，因制造工序中添加的Na2O而含有大量的钠离子(Na+)。例如，P-type晶体硅太阳能电池模组的PID产生于模组的框架具有相对正电势的情况下，并且泄露电流的方向和钠离子(Na+)的移动方向相同，因此钠离子(Na+)因泄露电流而移动至太阳能电池的表面。本发明为了模拟这种现象，在制造太阳能模组之前的步骤，即在太阳能电池水平下，在太阳能电池10的表面人为地沉积包括钠离子(Na+)或者钾离子(K+)的污染物质。例如，污染物质的沉积方式可以采用物理沉积方式，并可以通过调节包括沉积时间的真空腔室内部的沉积环境而调节污染物质的沉积程度。在封固剂形成步骤S30中，执行如下的过程：在沉积有污染物质的太阳能电池10的一面形成封固剂(encapsulant)20。例如，封固剂20可以包括EVA(EthyleneVinylAcetate，乙烯醋酸乙烯酯)。在第一导电膜形成步骤S40中，执行在封固剂20上形成第一导电膜30的过程。在第二导电膜形成步骤S50中，执行在沉积有污染物质的太阳能电池10的另一面形成第二导电膜40的过程。例如，第一导电膜30和第二导电膜40可以通过沉积铜(Cu)箔的方式简便地形成。图4中示出了在太阳能电池10形成有封固剂20、第一导电膜30及第二导电膜40的结构的简略的剖视图。附图中，构成太阳能电池10的电极与第一导电膜30及第二导电膜40的电连接结构未被公开，但是太阳能电池10的上部电极和第一导电膜30之间的电连接，以及太阳能电池10的下部电极和第二导电膜40的电连接是显然存在的。再次参照图4，其中示出了在沉积有污染物质的太阳能电池10施加测试电压而提取PID特性的方法之例，在PID特性提取步骤S60中，将第一导电膜30和第二导电膜40作为介质而给沉积有污染物质的太阳能电池10施加测试电压，从而执行对沉积有污染物质的太阳能电池10的PID特征提取过程。例如，在PID特性提取步骤S60中，测试者可以调整施加的测试电压的大小和施加时间等测试条件，并在特定测试调节下的测试完毕之后，可以采用测量产生于太阳能电池10的输出电荷量的方式提取太阳能电池10的PID特性。图5是用于比较说明根据本发明的一实施例的太阳能电池PID特性测试 方法的特征和现有方式的图。图5的(a)中，公开了钠离子(Na+)根据现有方式而从构成太阳能电池模组的玻璃移动至太阳能电池表面的状态，图5的(b)中，公开了根据本发明的一实施例的钠离子(Na+)人为地沉积在太阳能电池表面的状态。如图5所示，本发明的一实施例中使沉积在太阳能电池表面的钠离子(Na+)因电压而容易漂移(drift)至太阳能电池，而不是钠离子(Na+)从玻璃因电压而移动，因此可以在短时间内判断单元的PID脆弱特性，并且可以使封固剂以层叠的形态形成而不层压(lamination)，然后施加电压，从而可以在PID测试后用单元测量设备(L-IV、Suns-Voc、D-IV等)进行定量分析。如上文的详细说明，根据本发明，提供具有以下技术效果的太阳能电池PID特性测试方法：通过对太阳能电池本身而非太阳能电池模组进行PID特性测试，从而可以简化PID测试过程，并且可以在成本方面提高经济高效性。并且，本发明还具有如下技术效果：可提供一种太阳能电池PID特性测试方法，这种方法既能够显著缩短为了进行PID特性测试而耗用的时间，还能够可靠地测试PID特性。图6是根据本发明的一实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片的剖视图。根据本实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片100包括：高分子树脂层110；太阳能电池PID特性诱发粒子，被包含于高分子树脂层110的至少一个面或者高分子树脂层110内。根据本发明的太阳能电池PID特性测试用薄片100是用于测试PID特性的薄片，其由高分子树脂构成，并且以在高分子树脂层的某一面形成太阳能电池PID特性诱发粒子层120，或者在高分子树脂层内分布太阳能电池PID特性诱发粒子的形态形成。使上述太阳能电池PID特性测试用薄片100布置在与要测试PID特性的太阳能电池接触的位置，并测量PID特性。高分子树脂层是由高分子树脂构成的基材层，参照示出太阳能电池模组的图1，这种基材层可以包括与在太阳能电池模组围绕太阳能电池的封固剂(Encapsulant)的构成相同或者类似种类的高分子树脂。如果高分子树脂层110包括与作为测试对象的用在太阳能电池的封固剂相同的高分子树脂，其PID特性可以更准确，因此更优。本发明中可使用的高分子树脂例如有乙烯- 醋酸乙烯酯(Ethylene-VinylAcetate，EVA)。太阳能电池PID特性诱发粒子指诱发太阳能电池的PID特性的成分物质。太阳能电池受使用场所的温度变化及高湿度的影响而导致封固剂的体积电阻降低，并产生太阳能电池单元和框架之间的电势差。并且，水分贴附在盖玻璃(Glass)而导致绝缘性降低，玻璃中的钠离子(Na+)和钾离子(K+)等阳离子分离并漂移(drift)至太阳能电池单元表面。当移动的阳离子贴附在太阳能电池单元表面时，太阳能电池单元内部的电子和阳离子之间的再结合被固化而减少太阳能电池单元内部的空穴。如果空穴减少，则太阳能电池单元内部的电子移动也减少，因此会减少太阳光发电量而表现出PID特性。因此，太阳能电池PID特性诱发粒子可以是从玻璃中产生的阳离子。玻璃尤其可以是用于太阳能电池模组的玻璃。尤其，可以是玻璃中的钠阳离子或者钾阳离子。但是，太阳能电池PID特性诱发粒子无需限于此，可以是从包含于太阳能电池模组的其他构成要素流入的其他粒子。如图6所示，这种太阳能电池PID特性诱发粒子可以在高分子树脂层110的一面以层的形态形成。太阳能PID特性诱发粒子层120可以沉积在高分子树脂层110的一面而形成层。图7是根据本发明的一实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片与作为测试对象的太阳能电池接触的状态图。如图7所示，形成的所述太阳能电池PID特性测试用薄片100可以与作为测试对象的太阳能电池(以下称为测试对象太阳能电池)1000接触。参照图7，太阳能电池PID特性测试用薄片100和测试对象太阳能电池1000可以隔着太阳能电池PID特性诱发粒子层120而接触。据此，太阳能电池PID特性诱发粒子从太阳能电池PID特性诱发粒子层120移动至测试对象太阳能电池1000侧，并且可以据此检测被诱发的PID特性。图8是根据本发明的另一实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片与测试对象太阳能电池接触的状态图。图7中，太阳能电池PID特性测试用薄片100和测试对象太阳能电池1000隔着太阳能电池PID特性诱发粒子层120而接触，但是与此不同地，图8中，太阳能电池PID特性测试用薄片100和测试对象太阳能电池1000可以隔着高分子树脂层110而接触。本实施例中，太阳能电池PID特性诱发粒子经过高分子树脂层110而移动至测试对象太阳能电池1000。本实施例中，太阳能电池PID特性诱发粒子 经过高分子树脂层110而移动至测试对象太阳能电池1000，所以太阳能电池PID特性诱发粒子到达测试对象太阳能电池1000的时间比图7更长，且到达概率更低。但是，参照图1，在太阳能电池模组中，盖玻璃中包含的阳离子经过封固剂而移动至太阳能电池，因此在图8所示地构成的情况下，可以构成与太阳能电池模组相似的环境条件，因此可以获得更准确的PID特性测试结果。图9是根据本发明的又一实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片与测试对象太阳能电池接触的状态图。本实施例中，太阳能电池PID特性诱发粒子220均匀地分散在高分子树脂层210内。将移动至测试对象太阳能电池2000的太阳能电池PID特性诱发粒子中的2个彼此不同的粒子称为第一诱发粒子P1和第二诱发粒子P2。第一诱发粒子P1相比第二诱发粒子P2，到测试对象太阳能电池2000的距离更远。假设太阳能电池PID特性诱发粒子为相同的例子，则第一诱发粒子P1和第二诱发粒子P2在相同的时间内移动至测试对象太阳能电池2000的距离相同。因此，第一诱发粒子P1相比第二诱发粒子P2，在测试对象太阳能电池2000内移动的距离更短。在太阳能电池PID特性测试用薄片200内的太阳能电池PID特性诱发粒子220与测试对象太阳能电池2000之间的相对距离较远的情况下，也可以并不到达至测试对象太阳能电池2000。如图7所示，在太阳能电池PID特性诱发粒子与测试对象太阳能电池1000直接接触的情况下，移动距离没有问题，但是如图9所示，在太阳能电池PID特性诱发粒子分散在高分子树脂层210内的情况下，与测试对象太阳能电池2000的距离不同，因此既有可能在测试对象太阳能电池2000诱发PID特性，也有可能无法诱发。因此，可以预测到在本实施例中，为了表现出与图7中的太阳能电池PID特性诱发粒子类似的太阳能电池劣化效果，需要更长的时间。但是，太阳能电池模组内的盖玻璃中包含的阳离子整体上会表现出分散的形态，因此在如图9所示地构成的情况下，可以构成与太阳能电池模组中的环境条件类似的条件，因此可以得到更准确的PID特性测试结果。图10是根据本发明的又一实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片与测试对象太阳能电池接触的状态图。本实施例中，太阳能电池PID特性诱发粒子320可以部分性地凝聚在高分子树脂层310内。据此，太阳能电池PID 特性诱发粒子320可以部分性地流入到测试对象太阳能电池3000。玻璃内的阳离子朝向测试对象太阳能电池2000的移动受到温度变化或者高湿度等太阳能电池外部环境条件的影响，所以可能只在盖玻璃的局部产生缺陷而只在产生缺陷的部分集中产生阳离子的移动。因此，在图10所示地构成的情况下，可以构成与太阳能电池模组中的环境条件类似的条件，因此可以得到更准确的PID特性测试结果。图11是根据本发明的又一实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片与测试对象太阳能电池接触的状态图。根据本实施例的太阳能电池PID特性诱发粒子由两个层形成而被包含于太阳能电池PID特性测试用薄片400。太阳能电池PID特性诱发粒子层可以由第一太阳能电池PID特性诱发粒子层421及第二太阳能电池PID特性诱发粒子层422构成。第一太阳能电池PID特性诱发粒子层421和第二太阳能电池PID特性诱发粒子层422可以包括相同的太阳能电池PID特性诱发粒子。在此情况下，第一太阳能电池PID特性诱发粒子层421和第二太阳能电池PID特性诱发粒子层422中可以包括不同浓度的太阳能电池PID特性诱发粒子。第一太阳能电池PID特性诱发粒子层421和第二太阳能电池PID特性诱发粒子层422中包含的太阳能电池PID特性诱发粒子的浓度等可以根据测试对象太阳能电池400的特性而调节。或者，太阳能电池PID特性诱发粒子层可以由包括互不相同的太阳能电池PID特性诱发粒子的第一太阳能电池PID特性诱发粒子层421和第二太阳能电池PID特性诱发粒子层422构成。例如可以构成为，第一太阳能电池PID特性诱发粒子层421包括钠阳离子，第二太阳能电池PID特性诱发粒子层422包括钾阳离子。本实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片400中包含的太阳能电池PID特性诱发粒子可以根据盖玻璃的种类或者构成成分而不同。如此，由2个以上的层构成的太阳能电池PID特性诱发粒子层可以如图12所示，被置于高分子树脂层510的上表面而与测试对象太阳能电池5000相隔。太阳能电池PID特性测试用薄片在与测试对象太阳能电池接触时，可以在中间夹设粘合层而粘接。或者，太阳能电池PID特性测试用薄片可通过调节高分子树脂层的固化度而与测试对象太阳能电池粘接。即，可以在高分子树脂层没有完全固化的情况下与太阳能电池接触，然后完成高分子树脂层的固化而使太阳能电池PID特性测试用薄片贴附在测试对象太阳能电池。根据本发明的另一方面，提供一种包括以下步骤的太阳能电池PID特性测试用薄片制造方法：准备高分子树脂层的步骤；太阳能电池PID特性诱发粒子添加步骤，在高分子树脂层中添加太阳能电池PID特性诱发粒子。如上所述，太阳能电池PID特性诱发粒子可以以层的形态添加到高分子树脂层的一个面，或者分散在高分子树脂层内。太阳能电池PID特性诱发粒子添加步骤可以通过以下方式执行：在高分子树脂层中沉积太阳能电池PID特性诱发粒子而形成太阳能电池PID特性诱发粒子层。或者，太阳能电池PID特性诱发粒子添加步骤可以通过在高分子树脂层中掺杂太阳能电池PID特性诱发粒子而执行。太阳能电池PID特性诱发粒子层可以在与测试对象太阳能电池接触的面添加，或者在其相反面添加。并且，太阳能电池PID特性诱发粒子可以均匀地分散在高分子树脂层，或者凝聚在局部。根据本发明的又一方面，提供包括以下步骤的太阳能电池PID特性测试方法：将太阳能电池PID特性测试用薄片贴附在测试对象太阳能电池的步骤，所述太阳能电池PID特性测试用薄片包括高分子树脂层以及太阳能电池PID特性诱发粒子，所述太阳能电池PID特性诱发粒子被包含于所述高分子树脂层的至少一面或者所述高分子树脂层内；PID特性提取步骤，对所述测试对象太阳能电池施加电压而提取所述测试对象太阳能电池的PID特性。如果将太阳能电池PID特性测试用薄片贴附在测试对象太阳能电池，还可以形成用于施加电压的电极。测试对象太阳能电池可以测量贴附太阳能电池PID特性测试用薄片前后的输出电荷量，从而能够测量PID特性。根据本发明的又一方面，提供一种高分子树脂薄片，包括：高分子树脂层；钠阳离子，被包含于高分子树脂层的至少一面或者高分子树脂层内。以下，通过实施例而对本发明进行更详细的说明。<实施例>[实施例1至8]将8个晶体硅太阳能电池样品放入真空腔室内，利用真空沉积设备并利用NaF源而在1050℃下，通过1小时以内的真空热沉积(thermalevaporation)而形成了钠阳离子层。在钠阳离子层上形成EVA层之后，在两面形成了利用铜箔的电极。连接 电极和电源之后，在60℃、85％湿度条件下施加1000V的测试电压而在12个小时内以2个小时的间隔测量了饱和电流密度，并将其示于图13的曲线图中。[比较例1至8]用EVA封固8个晶体硅太阳能电池样品，并在一面放置作为盖板的玻璃基板，并利用铜箔而在玻璃基板上形成电极。在相反面形成背板后，连接电极和电源，然后放入测试腔室内，并在60℃、85％湿度条件下施加1000V的测试电压而在96个小时内以24小时的间隔测量了饱和电流密度，并将其示于图14中的曲线图中。[结果]比较例1至8中，由于制造太阳能电池模组并测试了PID特性，所以测试经历了96个小时。但是，利用根据本发明的太阳能电池PID特性测试用薄片而简单地贴附在样品太阳能电池的一面，并贴附电极而进行相同的PID特性测试，其结果可以在12个小时内获得PID特性测试结果。在双二极管模型中，J02值为饱和电流密度，通过D-IV测量得到的J02值是与PID的劣化现象相关的测量从太阳能电池的PN结合部位向表面产生的泄露电流的值。因此，图13和图14中的J02值是测量泄露电流的值，所以JO2值随着时间的推移而变大，这可以判断为产生了PID现象。如果JO2值在10-4A/cm2左右，则产生5％的输出减少，因此如IEC62804Ed.1标准，可以知道在输出减少为5％的情况下，没有通过PID测试。即，利用根据本发明的太阳能电池PID特性测试用薄片的实施例1至实施8中，可以在大约经过12个小时后确认实施例的PID测试通过与否，但是在根据现有方式的比较例1至8中，只能在经过大约96个小时后方可确认PID测试的通过与否。实施例3至实施例5以及比较例3至比较例5通过了PID测试。因此，如果利用根据本发明的实施例的太阳能电池PID特性测试用薄片，则可以对太阳能电池本身而不是太阳能电池模组进行PID特性测试，因此相比现有PID测试，可以简化测试过程，并在时间以及成本方面表现出高效率。并且，在进行这种PID特性测试时，可以将薄片形态的测试物质简单地贴附 在太阳能电池或者形成于太阳能电池上而进行测试，因此测试过程简单，并且可以最小化测试时间。以上，对本发明的实施例进行了说明，在本
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